Độ lệch chuẩn, sX, là phép đo độ phân tán của các phép đo mẫu. Các phép đo tốt nhất cần được giảm đến giá trị trung bình và độ lệch chuẩn được tính trước khi tính toán hiệu suất và độ không đảm bảo đo, có thể được thực hiện bằng cách sử dụng độ lệch chuẩn mẫu.Đối với một kết quả, R, được tính từ nhiều tham số đo, có độ không đảm bảo đo chuẩn kết hợp với kết quả, sR, cho các tham số đo kết hợp qua:
(a) Trung bình mẫu. Giá trị trung bình của mẫu được tính từ
7-8-1
Trong đó
N = số lần đọc cho mỗi bộ
Xi = bộ bài đọc cho i = 1 đến N
X = giá trị trung bình cho tập đo k
(b) Tính trung bình gộp. Đối với các tham số được đo nhiều lần trong khoảng thời gian thử nghiệm có M bộ đo với N lần đọc cho mỗi bộ, giá trị trung bình cho bộ đo k như sau:
(7-8-2)
Trong đó
M = số lượng bộ đo
X = tập hợp mẫu trung bình gộp
Xk = giá trị trung bình cho tập đo k
(c) Độ lệch chuẩn mẫu. Đối với các phép đo không thể hiện các biến thể không gian, độ lệch chuẩn, sx, của phép đo trung bình, X, dựa trên
phân tích thống kê được tính từ N nhiều phép đo X theo phương trình:
(7-8-6) Trong đó l = số lần chạy thử
R = kết quả đã sửa, như được định nghĩa trong biểu thức (7-6-1)
Ø= hệ số độ nhạy tuyệt đối
Ø'= hệ số độ nhạy tương đối
7-9 ĐỘ TƯƠNG QUAN ĐỘ KHÔNG ĐẢM BẢO ĐO HỆ THỐNG.
Đối với nhiều phép đo trong đó các lỗi đo lường hệ thống không độc lập, các lỗi hệ thống
có tương quan. Các mẫu bao gồm các phép đo của các tham số khác nhau được thực hiện với cùng một công cụ hoặc nhiều dụng cụ được hiệu chuẩn với cùng một tiêu chuẩn. Đối với các trường hợp này, nên tham khảo ASME PTC 19.1 phương pháp thích hợp để tính toán độ không đảm bảo đo. Phương trình tổng quát để tính độ tương quan độ không đảm bảo đo hệ thống: