Để xác định hàm lợng kẽm trong một mẫu thực tế bao giờ cũng có các yếu tố ảnh hởng đi kèm với nó. Trong phơng pháp trắc quang có rất nhiều kim loại tạo đợc phức màu với thuốc thử MTX và nó gây cản trở cho phép xác định kẽm. Do vậy, để có thể xác định kẽm trong mẫu thật, chúng tôi nghiên cứu ảnh hởng của các ion thờng có mặt cùng với kẽm và thuộc cùng nhóm với kẽm. Để đánh giá hàm lợng gây cản có thể coi nồng độ ion là gây cản nếu sai số khi đo mật độ quang vợt quá 5%.
ảnh hởng của các ion Cd2+, Hg2+, Cu2+, Co2+, Ni2+:
Cách tiến hành: Chúng tôi khảo sát ảnh hởng của các ion Cd2+, Hg2+, Cu2+, Co2+, Ni2+ đến phức Zn2+- MTX bằng cách thêm lần lợt vào dung dịch phức từng ion cản với nồng độ khác nhau. Đo mật độ quang của phức ở các điều kiện tối u, dung dịch so sánh là H2O. Xác định tỷ lệ giới hạn không cản của các ion đối với hệ phức Zn2+- MTX (đó chính là tỷ lệ CMn+/CZn2+ mà bắt đầu có sự thay đổi mật độ quang của phức). Kết quả xác định nồng độ gây ảnh hởng của một số ion cản đợc trình bày ở bảng 3.23.
Bảng 3.23. Giới hạn không cản của một số ion đối với phép xác định kẽm
trong hệ Zn2+-MTX bằng phơng pháp trắc quang
CMn+/CZn2+ CCd2+/CZn2+ CHg2+/CZn2+ CCu2+/CZn2+ CCo2+/CZn2+ CNi2+/CZn2+
Tỷ lệ 0,066 0,080 0,405 0,140 1,100
Từ kết quả trên ta thấy các ion Cu2+, Co2+, Ni2+, Cd2+, Hg2+ đều cản trở phép xác định kẽm bằng phơng pháp trắc quang dùng thuốc thử MTX.