Phương tiện nghiên cứu và đo đạc 107 

Một phần của tài liệu Hình thái nền tựa của phục hình toàn hàm và ứng dụng thiết kế khay lấy dấu (Trang 121 - 124)

4. CHƯƠNG 4: BÀN LUẬN 100 

4.1.3. Phương tiện nghiên cứu và đo đạc 107 

Để cĩ thể dễ dàng nghiên cứu hình thái nền tựa của phục hình tồn hàm, trước hết phải ghi dấu bề mặt tựa này, rồi chuyển thành dạng dương bản tức là các mẫu hàm. Sau đĩ, tiến hành phân tích định lượng mẫu hàm (chẳng hạn như kích thước và vị trí liên quan của các cấu trúc giải phẫu nằm trên đĩ, kích thước của vịm khẩu cái, torus v.v…). Các kích thước của nền tựa phục hình cĩ thể được đo đạc trực tiếp hay gián tiếp bằng những phương pháp và phương tiện sau:

- Phương pháp đo trực tiếp trên mẫu hàm với các thước trượt cĩ thang chia phụ [54], com pa cĩ thanh điều chỉnh (Malejewska) [53], palatometer (Richardson) [61], com pa Korkhaus [22]; đo trực tiếp bằng cách ghi biên dạng với symetrograph, pantograph (Lebret, Johnson) [45], [50], với thước đo biên dạng (Howell) [39].

- Phương pháp đo gián tiếp với nhiều cơng cụ từ thơ sơ đến hiện đại :

̇ Cưa các mẫu hàm, sau đĩ dùng comparator để phĩng đại và chẩn đốn toạ độ của vật (Piétrokovski) [58].

̇ Số hĩa hai chiều hình chụp hay vẽ: mẫu hàm cũng được phân tích gián tiếp qua những bản sao chép biên dạng, hình chiếu X quang và ảnh chụp trong khơng gian hai chiều (Tsai) [66]. Các điểm mốc được đánh dấu trên hình vẽ, ảnh chụp và cĩ thể được số hố với một bảng điện từ (electromagnetic tablet). Các điểm mốc trên ảnh cũng cĩ thể được số hố bằng phần mềm phù hợp (Ferrario) [33].

̇ Tiên tiến hơn là những phương pháp phân tích hình ảnh ba chiều của mẫu hàm bằng kỹ thuật số. Các phương pháp này sử dụng thiết bị để tạo ảnh ba chiều trong khơng gian của mẫu hàm, chẳng hạn như phép đo ảnh nổi (Berkowitz) [25], chụp cắt lớp gián tiếp (Kilpeläinen) [49], (Sugie) [63], quét hình ảnh bằng tia laser (Kawahata, Hayashi) [46], [47], [48], hay kỹ thuật điện từ (Ferrario) [33].

Với những phương pháp đo đạc ngày càng hiện đại hơn, người ta đã xác định ngày càng đầy đủ hơn những đặc điểm đo đạc của nền tựa ph c hình. Các kích thước của nền tựa phục hình được thể hiện đầy đủ trên mặt phẳng hai chiều, nay được tái tạo trong khơng gian ba chiều và các hình ảnh này cĩ thể được sắp xếp để quan sát mối tương quan giữa nền tựa hàm trên và hàm dưới. Tuy vậy, một số nghiên cứu đã đi đến kết luận là khơng cĩ sự khác biệt cĩ ý nghĩa trong

kết quả đo các kích thước giữa hai phương pháp “đo trực tiếp trên mẫu hàm” và phương pháp kỹ thuật số phân tích hình ảnh ba chiều của mẫu hàm” (Bell, Ayoub, 2003) [23]. Ngồi ra, khi so sánh kết quả đo đạc giữa hai phương pháp “đo trực tiếp” và “đo trên ảnh kỹ thuật số”, một số nghiên cứu trong nước (Trần Thị Anh Tú, Ngơ Thị Quỳnh Lan, Nguyễn Hữu Nhân)[18], [8] cũng đã cho thấy là sự khác biệt khơng cĩ ý nghĩa thống kê .

Trong nghiên cứu này tác giả đã sử dụng phương pháp đo trên ảnh bằng phần mềm đo đạc AutoCAD. Ảnh được chuyển vào máy tính sau khi chụp hoặc vẽ với biên dạng ký và scan. Biến rộng giữa và rộng sau cùng cung hàm hàm trên đã được ghi nhận hình ảnh bằng hai phương pháp: chụp và chép biên dạng. Kết quả so sánh cho thấy sự chính xác cho dù dùng phương pháp chụp với máy ảnh hay vẽ với biên dạng ký (bảng 4.51):

Bảng 4.51: So sánh một số kết quả đo đạc bằng hai phương pháp ghi nhận hình ảnh trong nghiên cứu

TÊN BIẾN PHƯƠNG PHÁP GHI NHẬN HÌNH ẢNH TRUNG BÌNH ĐỘ LỆCH CHUẨN HỆ SỐ TIN CẬY Rộng sau cùng CHHT (mm) Chụp hình 44,76 2,75 0,9938 Chép hình 44,63 2,77 Rộng giữa CHHT(mm) Chụp hình 43,38 3,40 0,9962 Chép hình 43,21 3,37

Phương pháp đo trên ảnh so với các phương pháp cơ học khác :

So với phương pháp cưa mẫu hàm [58], việc sử dụng biên dạng ký để vẽ lại hình dạng sống hàm ngồi việc tiết kiệm được thời gian và cơng sức, cịn giúp giữ mẫu hàm khơng bị hỏng sau khi nghiên cứu để cĩ thể sử dụng lại mẫu hàm này khi cần. Ngồi ra, cĩ thể vẽ lại hình dạng vịm khẩu cái theo mặt phẳng đứng

ngang và mặt phẳng đứng dọc, điều khơng thể đạt được nếu phải cưa hay cắt mẫu hàm.

Phương pháp đo đạc trực tiếp với thước trượt thường mất thời gian vì mỗi khi đo phải đo trực tiếp trên mẫu, và phải đánh dấu cùng các điểm mốc ấy nhiều lần, làm gia tăng các lỗi cĩ thể mắc phải. Hơn nữa, các toạ độ điểm mốc khơng thể được số hố và khơng thể cĩ được ngân hàng dữ liệu dùng cho việc đo tiếp tục trong tương lai hay để làm dữ liệu gốc [29], [33].

Một phần của tài liệu Hình thái nền tựa của phục hình toàn hàm và ứng dụng thiết kế khay lấy dấu (Trang 121 - 124)