Nh ngthông tin từ ph nhi ux XRD

Một phần của tài liệu Đánh giá sự thay đổi cấu trúc kim loại (thép c45) khi mỏi bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x trên máy xpert pro (Trang 54)

Từ v trí c a đ nh tr s góc β ta xác đ nh đ c b các v ch đặc tr ng c a m t pha tinh th . Nghĩa lƠ xác đ nh pha đnh tính (ít nh t có m t b g m 3 v ch m nh nh t không trùng nhau), cũng nh xác đnh đ c mặt tinh th nào gây ra ph n x (hkl) và kho ng cách gi a các mặt đó theo đ nh lu t Bragg.

Hình 4. 8: Phổ nhi u x đặc tr ng.

ng d ng có th phơn tích đ nh tính m u nhi u x n u k t h p v i d li u theo chuẩn (PDF hoặc th vi n chuẩn ICDD-2008). Bằng cách so sánh ph m u v i th vi n gi ng nh tay tìm d u vân tay.

 Đ r ng c a m t n a đnh ph nhi u x

M c đ m r ng c a đ ng nhi u x đ c đánh giá theo đ r ng m t n a đnh ph nhi u x . Có hai cách xác đ nh đ r ng m t n a đ nh ph nhi u x :

Đ r ng Scherrer (g i t t là b r ng trung bình), lƠ đ r ng c a đ ng nhi u x t i v trí 50% c a chi u cao c ng đ cực đ i (sau khi đƣ hi u ch nh n n).

Hình 4. 9: Độ rộng của một nữa đ nh phổ nhi u x . [11]

Đ r ng Laue (integral breadth ) là tỷ s c a c ng đ tích phơn vƠ c ng đ nhi u x t i đa. Tuy nhiên c ng đ tích phân ph thu c r t m nh vào ph m vi góc nhi u x , nên có đ chính xác r t th p.

Sự m r ng c a đ ng nhi u x là do hai nhóm nguyên nhân chính gây nên:

 Tr ng thái c u trúc g m kích th c h t bé, ng su t d t vi, khuy t t t x p, sai l ch m ng... Sự m r ng do tr ng thái c u trúc c a b n thân m u nghiên c u g i là sự m r ng v t lỦ, còn đ r ng g i lƠ đ r ng v t lý.

 Đi u ki n thực nghi m g mμ đ r ng c a b c sóng b c x , đ phân kỳ c a chùm tia và các y u t hình h c khác c a s đ ch p. Sự m r ng do đi u ki n thực nghi m g i là sự m r ng d ng c t ng ng v i đ r ng d ng c .

Trong ph ng pháp nhi u x b t Debye ậ Scherrer, sự m r ng c a v ch nhi u x có nhi u nguyên nhân gây ra: do nhi t đ , do sai s thi t b đo,do ng su t bên trong m u vƠ đặc bi t do sự thay đ i kích th c các tinh th . Sau khi lo i trừ các y u t làm m r ng v ch nhi u x đnh ph ta có th xác đ nh đ c kích th c tinh th theo công th c Scherrer theo đ r ng c a m t n a đ nh ph nhi u x .

Công th c Scherrer.

2 =

BμĐ r ng m t n ađ nh ph (FWHM).

Lμ Kích th ctrung bình c a tinh th (crystallite size). :b csóng tia X.

μ góc cựcđ inhi ux . K= 0.λ ÷ 1μ hằngs v tli u.  C ng đ c a đ nh nhi u x .

C ng đ c a đnh nhi u x ph n nh sự tán x t ng c ng từ mỗi mặt phẳng trong c u trúc tinh th c a pha có mặt trong m u, và ph thu c trực ti p vào phân b các nguyên t c th trong c u trúc đó. Vì v y c ng đ peak nhi u x r t ph thu c vào c c u trúc và thành phần c a pha tinh th .

= ( , , , , …)

μ chi u dài sóng tia X μ góc nhi u x

hkl: h s Miller μ Th tích ô c s

μ h s h p th c a m u v t li u…

Các h s trên có th đ c đ nh nghĩa bằng các hằng s thực nghi m khi đó c ng đ c a đ nh nhi u x c a m t pha α t i v trí β đ c vi t l i đ n gi n h nμ

( ) = ( ) �

( )

Trong đó Ke là các hằng s thực nghi m, K(hkl)α là thừa s c u trúc pha α, ρα là m t đ pha α, /ρ là h s h p th c a m u thực nghi m.

M t ng d ng c a c ng đ đnh nhi u x dùng đ nh l ng pha có mặt trong m u đ c xác đ nh thông qua đo c ng đ tích phân c a v ch nhi u x , so sánh v i c ng tích phân c a m u chuẩn đ tính c ng đ t ng đ i, từ đó rút ra tỷ l thành phần pha có mặt trong m u.

Một phần của tài liệu Đánh giá sự thay đổi cấu trúc kim loại (thép c45) khi mỏi bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x trên máy xpert pro (Trang 54)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(93 trang)