Ph ng pháp nghiênc uc utrúcbằngti aX hay tiaR ngen

Một phần của tài liệu Đánh giá sự thay đổi cấu trúc kim loại (thép c45) khi mỏi bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x trên máy xpert pro (Trang 53)

Ngoài ra, theo công th c đ nh lu t Bragg, nhi u x b c 1 có d ng: = 2 (4-2) K t h p hai ph ng trình trên ta đ c: 1 2 = 2+ 2+ 2 2 = 4 2 2 (4-3) 2 = 2 4 2 2 + 2 + 2 (4-4) Do 2

4 2 là hằng s trong m i tinh th nên sin2 tỷ l v i 2 + 2 + 2. Khi góc tăng thì các mặt Miller có ch s cao s nhi u x . Từ ph ng trình (4-4) áp d ng cho hai mặt phẳng nguyên t khác nhau ta có:

2 1 2 2 = 1 2+ 12+ 12 22+ 22+ 22 (4-5) Xác đ nh hằng s m ng từph ng trình (4-4), ta có: = 2 2 + 2 + 2 (4-6) Giá tr 2 + 2 + 2 nh n các giá tr sau:

 L p ph ng đ n gi nμ 1, β, γ, 4, η, θ, 8, λ, 10, 11, 1β, 1γ, 14, 1θ…  L p ph ng tơm kh i: 2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16.

 L p ph ng tơm mặtμ γ, 4, 8, 11, 1β, 1θ, 1λ, β0, β4, β7, γβ… Giá tr h k l tuân theo quy t c:

 L p ph ng đ n gi n: h, k, l là b t kỳ.

 L p ph ng tơm kh i: h + k + l = s chẵn.

 L p ph ng tơm mặt: h, k, l cùng chẵn hoặc cùng lẻ.

V y,từgóccựcđ inhi u x tacóth xácđnhchínhxáccácmặtMillerc acác đnh ph nhi ux ,kho ngcác gi a cácmặt nguyênt và hằng s m ngc a tinh th cầnkh osát.

4.6.2 Nh ng thông tin từ ph nhi u x XRD.

Từ v trí c a đ nh tr s góc β ta xác đ nh đ c b các v ch đặc tr ng c a m t pha tinh th . Nghĩa lƠ xác đ nh pha đnh tính (ít nh t có m t b g m 3 v ch m nh nh t không trùng nhau), cũng nh xác đnh đ c mặt tinh th nào gây ra ph n x (hkl) và kho ng cách gi a các mặt đó theo đ nh lu t Bragg.

Hình 4. 8: Phổ nhi u x đặc tr ng.

ng d ng có th phơn tích đ nh tính m u nhi u x n u k t h p v i d li u theo chuẩn (PDF hoặc th vi n chuẩn ICDD-2008). Bằng cách so sánh ph m u v i th vi n gi ng nh tay tìm d u vân tay.

 Đ r ng c a m t n a đnh ph nhi u x

M c đ m r ng c a đ ng nhi u x đ c đánh giá theo đ r ng m t n a đnh ph nhi u x . Có hai cách xác đ nh đ r ng m t n a đ nh ph nhi u x :

Đ r ng Scherrer (g i t t là b r ng trung bình), lƠ đ r ng c a đ ng nhi u x t i v trí 50% c a chi u cao c ng đ cực đ i (sau khi đƣ hi u ch nh n n).

Hình 4. 9: Độ rộng của một nữa đ nh phổ nhi u x . [11]

Đ r ng Laue (integral breadth ) là tỷ s c a c ng đ tích phơn vƠ c ng đ nhi u x t i đa. Tuy nhiên c ng đ tích phân ph thu c r t m nh vào ph m vi góc nhi u x , nên có đ chính xác r t th p.

Sự m r ng c a đ ng nhi u x là do hai nhóm nguyên nhân chính gây nên:

 Tr ng thái c u trúc g m kích th c h t bé, ng su t d t vi, khuy t t t x p, sai l ch m ng... Sự m r ng do tr ng thái c u trúc c a b n thân m u nghiên c u g i là sự m r ng v t lỦ, còn đ r ng g i lƠ đ r ng v t lý.

 Đi u ki n thực nghi m g mμ đ r ng c a b c sóng b c x , đ phân kỳ c a chùm tia và các y u t hình h c khác c a s đ ch p. Sự m r ng do đi u ki n thực nghi m g i là sự m r ng d ng c t ng ng v i đ r ng d ng c .

Trong ph ng pháp nhi u x b t Debye ậ Scherrer, sự m r ng c a v ch nhi u x có nhi u nguyên nhân gây ra: do nhi t đ , do sai s thi t b đo,do ng su t bên trong m u vƠ đặc bi t do sự thay đ i kích th c các tinh th . Sau khi lo i trừ các y u t làm m r ng v ch nhi u x đnh ph ta có th xác đ nh đ c kích th c tinh th theo công th c Scherrer theo đ r ng c a m t n a đ nh ph nhi u x .

Công th c Scherrer.

2 =

BμĐ r ng m t n ađ nh ph (FWHM).

Lμ Kích th ctrung bình c a tinh th (crystallite size). :b csóng tia X.

μ góc cựcđ inhi ux . K= 0.λ ÷ 1μ hằngs v tli u.  C ng đ c a đ nh nhi u x .

C ng đ c a đnh nhi u x ph n nh sự tán x t ng c ng từ mỗi mặt phẳng trong c u trúc tinh th c a pha có mặt trong m u, và ph thu c trực ti p vào phân b các nguyên t c th trong c u trúc đó. Vì v y c ng đ peak nhi u x r t ph thu c vào c c u trúc và thành phần c a pha tinh th .

= ( , , , , …)

μ chi u dài sóng tia X μ góc nhi u x

hkl: h s Miller μ Th tích ô c s

μ h s h p th c a m u v t li u…

Các h s trên có th đ c đ nh nghĩa bằng các hằng s thực nghi m khi đó c ng đ c a đ nh nhi u x c a m t pha α t i v trí β đ c vi t l i đ n gi n h nμ

( ) = ( ) �

( )

Trong đó Ke là các hằng s thực nghi m, K(hkl)α là thừa s c u trúc pha α, ρα là m t đ pha α, /ρ là h s h p th c a m u thực nghi m.

M t ng d ng c a c ng đ đnh nhi u x dùng đ nh l ng pha có mặt trong m u đ c xác đ nh thông qua đo c ng đ tích phân c a v ch nhi u x , so sánh v i c ng tích phân c a m u chuẩn đ tính c ng đ t ng đ i, từ đó rút ra tỷ l thành phần pha có mặt trong m u.

4.6.3 Đánh giá sựthay đ i c u trúc c a m u.

Khi m u b tác đ ng c a m i, c u trúc m ng tinh th b thay đ i và làm cho ph nhi u x tia X c a m u không nh ph nhi u x c a tinh th hoàn h o. Kh o sát m u m i, ta th y có các y u t khoa h c quan tr ng:

 Sự d ch chuy n đnh ph

Sự d ch chuy n đ nh ph (peak shift) c a ph nhi u x tia X là k t qu c a quá trình sai h ng m ng c a m u d i tác đ ng c a ng su t tuần hoàn v i chu kỳ cao. Khi có tác đ ng c a ng su t, m ng tinh th xu t hi n sự xê d ch, bi n d ng; t i biên gi i các h t xu t hi n sựtr t trên các mặt c a h t.

Hình 4. 10: Sựthay đổi phổ nhi u x tác động của ng suất.[11]

Đ m r ng đnh ph nhi u x

Thực nghi m kh o sát v t li u cho th y, khi m ng tinh th không còn hoàn h o thì có sự m r ng ph (peak broadening) c a đ nh ph nhi u x . Các đ i l ng kh o sát bao g m đ r ng m t n a đnh ph (FWHM), đ r ng tích phơn đ ng nhi u x (integral breadth - ). Sự m r ng đ ng nhi u x khi có sự bi n d ng

trong m ng tinh th c a m u d i tác đ ng c a ng su t chu kỳ là có sự xu t hi n c a các tác nhân làm m r ng v phía đuôi c a đ ng nhi u x . Các thực nghi m cho th y, khi có sự sai h ng v c u trúc t vi c a m ng tinh th thì sự m r ng đnh ph nhi u x cƠng tăng.

4.7 Các phư ng pháp xác đ nh độ rộng một n ađ nh ph (FWHM).

4.7.1 Các phư ng pháp lƠm kh p ph nhi u x

Ph nhi u x nh n đ c trong quá trình đo ch u nh h ng c a r t nhi u y u t nh tr ng thái c u trúc g m kích th c h t, ng su t d t vi, khuy t t t, sai l ch m ng… có th g i là các y u t v t lý.

Ngoài ra còn ph thu c đi u ki n thực nghi mμ b c sóng tia X, các đi u ki n thực nghi m nh ph ng pháp đo, nhi t đ , đ chính xác… có th g i các y u t thực nghi m.

Tr l i công th c Scherrer.

2 =

Đ tính đ c L( Kích th c trung bình c a tinh th (crystallite size)) t i v trí đnh ph nhi u x 2 , trong đó đƣ xác đnh theo thi t b đo, K =0,λ h s v t li u.

Do đó ch còn ph thu c vƠo B( Đ r ng m t n a đ nh ph (FWHM)).

Hình 4. 11: Phổ nhi u x thực nghi m lƠ đi m rời r c

Đ tính đ c B ng i ta ti n hành làm kh p ph bằng m t hàm toán h c. Các hàm toán h c th ng dùng làm kh p ph là hàm , hàm Lorentzian, hàm Pseudo-Voigt.

, = 0 1 2 1 � − 0(2 −2 )2 2 Hình 4. 12 Đồ th hàm d ng Gaussian Hàm Lorentzian có d ng : , = 2 1 + 4 2 −2 2 2 −1 Hình 4. 13: Đồ th hàm d ng Lorentzian.

Hàm Pseudo-voigt có th coi là t h p tuy n tính c a 2 hàm Gaussian và hàm Lorentzian:

= ( + 1− ( )

Trong đó C0 =4 ln2. 2 i: góc quét

Hh: Đ r ng m t n a đ nh ph nhi u x (FWHM). V i μ lƠ tham s k t h p hai hàm

Khi =1 d ng ph là c a hàm Lorentzian Khi = 0 d ng ph là c a hàm Gaussian

4.7.2 Lý thuy t hàm Gaussian và FWHM.

M t cách t ng quát, hàm m t đ xác xu t ng u nhiên (Gauss) có công th c: 2 2( ) 2 1 2 1 ) (      e w x w x g (4-7)

Trong đóμ µ lƠ giá tr trung bình(mean) hay là kỳ v ng c a hàm Gauss, và w là sai l ch chuẩn, cho th y m c đ phân tán c a hƠm. Tr ng h p chuy n tr c tung v giá tr µ, ta có: 2 ) ( ax Ae x g   (4-8)

Trong đó các tham s A (đặc tr ng cho giá tr cực đ i) vƠ w đặc tr ng cho đ m r ng c a đ ng nhi u x , lần l t đ c xác đnh bằng:  a A (4-9) a w 2 1  (4-10) Tham s a đ c xác đnh bằng ph ng pháp bình ph ng nh nh t từ n đi m d li u thực nghi m (xi,yi) (i=1.. n) cách đ u nhau b c nhi u x .

B r ng B( Đ r ng m t n a đnh ph (FWHM)) tình theo ph ng pháp Gaussian là :

w w

B2 2ln2 2,36 (4-11)

Mặt khác, b r ng tích phân trong ph ng pháp đ ng cong Gauss đ c tính bằng:

w w A A dx x g BI 1 2 2,51 ) (         (4-12)

4.7.3 Làm kh p ph nhi u x dùng phần m m.

Hi n nay cùng v i sự phát tri n c a các thi t b X-ray ngày càng hi n đ i, ng i ta vi t các phần m m ng d ng đi kèm theo thi t b đ giúp đ cho vi c nghiên c u đ c d dƠng vƠ chính xác h n.

Khi nh n đ c ph nhi u x v nguyên t c lƠ đƣ đ các thông tin cần thi t đ tính toán các thông s còn l i c a m u thực nghi m. Đ thực hi n vi c tính toán này có th dùng các phần m m ph bi n nh Microosoft Excel, Matlab, Mathematica…

Ngoài ra còn nhi u phần m m chuyên dùng đ phân tích ph nhi u x XRD nh MDI Jade, HighScore, Match, Crystal Impact, Powder…các phần m m giá thành r t đ t. Hi n nay đƣ có r t nhi u phiên b n m i c a các phần m m này ví d : MDI Jade đƣ có t i phiên b n 11 cho năm β01β, HighScore đƣ có phiên b n Vγ.γ…

Do đó có m t s phiên b n c đƣ đ c m t s tr ng đ i h c cho phép s d ng mi n phí nh ng không có c s d li u kèm theo.

Chư ng 5

THI T B NHI U X &PHÂN TÍCH PH NHI U X

5.1 Thi t b nhi u x X’Pert Pro.

H máy nhi u x tia X X’Pert Pro do hƣng Panalytical ậ Hà Lan s n xu t năm 2005 r t thích h p cho vi c nghiên c u v t li u v i nhi u ng d ng nh sauμ xác đnh c u trúc tinh th , phơn tích hƠm l ng nguyên t , xác đ nh kích th c vƠ đ bi n d ng c a m ng tinh th ... h máy đ c s d ng trong phân tích c u trúc v t r n bằng tia X. H máy bao g m các b ph n chính sau:

ng phát tia X trong h th ng nhi u x k là b ph n quan tr ng c a h máy, dùng đ t o ra chùm tia X song song, có c ng đ cao vƠ năng l ng l n. ng đ c n i v i ngu n đi n th cao tần đ gia t c chùm electron đ p vào bia anôt làm phát sinh tia X.

Hình 5. 1: ng phát tia X

H th ng làm mát ng phát tia X: M t h th ng b m n c trong bình ch a luân chuy n đ lƠm mát anode. Đ làm mát ng phát tia X ng i ta s d ng n c c t pha v i natricacbonat và natrihidrocacbonat theo m t t l thích h p, nhi t đ

n c bên trong h th ng duy trì trong kho ng 170 ÷ 210C. Khi nhi t đ c a n c lên đ n 210C, h th ng làm mát b t qu t đ gi m nhi t đ c a n c trong bình ch a.

H giác k (Goniometer) đ c c khí chính xác vƠ đi u khi n b i phần m m đo nhi u x X’Pert Collector Data. Ng i dùng có th tùy ch n góc quét, th i gian quét vƠ b c quét (step size) trên máy tính k t n i v i h máy.

Hình 5. 2: H giác kế của máy X’Pert Pro.

H th ng thu nh n chùm tia nhi u x (Detector) là thi t b đ m s photon tia X b nhi u x trên m u. Dectector là m t bu ng hình tr bên trong ch a hỗn h p xenon và mêtan, c a s beryllium c a detector có kích th c 20 mm x 24mm. Detector và ng phát tia X cùng nằm trên vòng tròn đ ng tâm trong h giác k .

Toàn b thi t b (ngo i trừ h th ng b m lƠm mát) đ c thi t k trong v b c bằng thép và chì ,v i c a lùa đ c lót chì đ h th ng an toàn v mặt b c x . Di n tích bên trong r ng rãi v i h th ng chi u sáng cho phép quan sát d dàng ho t đ ng c a h th ng. C a s quan sát đ c làm bằng kính pha chì đặc bi t, ngăn không cho tia X thoát ra ngoài mà v n quan sát rõ bên trong máy.

X’Pert Pro lƠ thi t b nhi u x tia X hi n đ i dùng đ nghiên c u v t li u hi u qu vƠ an toƠn. Đ an toàn cho thi t b , sau khi m máy tăng dần hi u đi n th và dòng, mỗi b c tăng ta ph i ch kho ng γphút, tr c khi t t máy ta ph i h dòng

đi n và hi u đi n th , mỗi b c h ta ph i ch trong kho ng 3phút. H máy ho t đ ng hi u đi n th 45 KV và dòng 40 mA.

5.2 Máy t o m i. 5.2.1 C u t o chính. 5.2.1 C u t o chính.

 Kích th y lực : t o t i tr ng tác đ ng lên m u th

 C m bi n lực ( Load ậcell) bi u th lực tác đ ng lên h th ng m u th qua đ ng h loadcell.

Hình 5. 3: Cảm biến đo lực vƠ đếm s vòng

 B đ m (counter): hi n th s vòng quay đƣ thực hi n trên m u th , b counter đ c n i v i b ph n đ m s vòng quay.

 B kẹp m u là bầu khoan có kích th c kẹp t i đa 18mm

Hình 5. 4: S đồ nguyên lý và máy t o m i .

5.3 Chuẩn b m u, đo đ c m u. 5.3.1 Chuẩn b m u.

Trong khuôn kh c a đ tài, các m u thép C45 - đƣ đ c ch n cho nghiên c u. Các m u đ c thi t k theo d ng th t gi a thơn đ đi u khi n sự t p trung ng su t vào vùng quan tâm trên m u trong quá trình t o m i. Thi t k này cho phép xác đ nh đ c vùng m i nhi u nh t đ i v i c các m u có hình d ng nh nhau.

M u nghiên c u là thép C45 theo kí hi u trong phân lo i thép c a Vi t Nam (TCVN) v i các đặc tính c h c nh sau: Thép C45 có m ng l p ph ng tơm kh i (Feα) v i hằng s m ng a = 2.8665 Å. Thành phần hoá h c của thép Các bon chất l ng C45 Mác thép C Si Mn P S Cr Ni Cu 45 0,420,50 0,170,37 0,500,80 0,035 0,04  0,25  0,25  0,25 Hình 5. 6: Bộ chi tiết mẫu thép C45.

C tính thép C4η c ng ch c, đ dẻo cao, nhi t nóng ch y cao (15390C ), nhi t đ sôi (28610C ), ng su t đƠn h i l n (> 290.895 Mpa), ch ng bào mòn, thích h p trong các ch t o chi ti t máy. Thép C45 có tính ng d ng cao, thích h p lƠ đ i t ng nghiên c u v đ b n v t li u ph c v trong công nghi p vƠ đ i s ng.

5.3.2 X lý m u.

Các m u đ c gia công trên máy CNC đ b o đ m kích th c vƠ đ nhám b mặt theo yêu cầu, x lý b mặt bằng đánh bóng. Các m u thép đ c đ a vƠo máy t o m i đ làm m i v i nh ng chu kỳ ng su t khác nhau, theo h ng tăng dần chu

Một phần của tài liệu Đánh giá sự thay đổi cấu trúc kim loại (thép c45) khi mỏi bằng phân tích đỉnh nhiễu xạ tia x trên máy xpert pro (Trang 53)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(93 trang)