Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình

Sau khi học xong Bài giảng 6sigma: Phân tích năng lực quá trình sẽ giúp bạn hiểu được khái niệm về năng lực quá trình Hiểu được metric đối với năng lực quá trình 6 Sigma; quyết định phương pháp phân tích phù hợp theo loại dữ liệu. Nghiên cứu cách thức tính toán năng lực quá trình sử dụng Minitab. Mời các bạn tham khảo!

Phân tí ch năng lực quá  trì nh  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu liên  ̣ tuc̣  Phân tích năng lực quá trình cho dữ liêu r ̣ ời  rac̣  Muc tiêu hoc tâp ̣ ̣ ̣  Hiểu được khái niệm về năng lực q trình  Hiểu được metric đối với năng lực q trình 6 Sigma  Quyết định phương pháp phân tích phù hợp theo loại dữ liệu  Nghiên cứu cách thức tính tốn năng lực q trình sử dụng Minitab Năng lực q trì nh là  gì ?  Đinh nghi ̣ ̃ a năng lực quá trì nh là  gì    Là năng lực vốn có của một q trình nhằm tạo ra sản phẩm hoặc dịch vụ khơng  lỗi đáp ứng u cầu khách hàng  Muc đi ̣ ́ ch cua viêc phân ti ̉ ̣ ́ ch năng lực qui trì nh (PCA)  PCA xác nhận các thức mà q trình thoả mãn được các tiêu chuẩn thực hiện  PCA trong giai đoạn Đo lường sẽ định lượng hiệu suất cơ sở của Y trong đề tài  và    cho phép chúng ta quyết đinh được cấp độ hiện tại của q trình Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 2 Rev  7.0 Tổng quan về phân tích năng lực q trình  Phương pháp phân tích năng lực q trình  Phương pháp PCA có thể được phân loại thành loại liên tục và loại rời rac tu ̣ ỳ  theo loại dữ liệu  Tiền đề cho việc phân tích năng lực q trình      (Giả thuyết thống kê)  Dữ liệu có nguồn gốc từ q trình ổn định  Trạng q trình có thể dự báo được thơng qua dữ liệu (khơng có ngun nhân bất  thường) Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 3 Rev  7.0 Đo lường  Loai d ̣ ữ  liêu ̣ Dữ  liêu v ̣ ề lỗ i Dữ  liêu r ̣ ờ i rac̣ Loai d ̣ ữ  liêu ̣ Dữ  liêu v ̣ ề sai hỏng Dữ  liêu liên tuc ̣ ̣  Loai d ̣ ữ  liêu co ̣ ́  thê thay đô ̉ ̃ i tù y theo vi tri ̣ ́  quan sá t          Ví  du)  ̣ Thử nghiêm đô sa ̣ ̣ ́ng cua ma ̉ ̀n hình Monitor   ①  Quan điểm “dữ liệu về sai hỏng lỡ i” Thậm chí dù một vùng có khơng đạt chỉ tiêu kỹ thuật về  độ sáng thì nó cũng được xem là sai và cần được kiểm tra.  Số lỗi sai:1)  ②  Quan điểm “dữ liệu về lỗi” Phân chia màn hình thành 9  vùng và thử nghiệm mỗi  vùng có đạt chỉ tiêu kỹ thuật  về độ sáng hay khơng Tính số vùng khơng đạt chỉ tiêu kỹ thuật về độ sáng (số  lỗi: 2)   ③  Quan điểm “dữ liệu liên tục” So sánh việc đo độ sáng với mục tiêu của  450 430 420 200 450 230 440 420 410 độ sáng. (Chỉ tiêu kỹ thuật: 300 candela) Nếu có thể, Mong muốn được sử dụng dữ liệu liên tục cho mục đích kiểm sốt! Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 4 Rev  7.0   DPU/DPO/DPMO  Đơn vi ̣: Tiêu chuân cho viêc ti ̉ ̣ ́ nh toá n san phâm/quá tri ̉ ̉ ̀ nh đã  được đo  lườ ng                                Cơ hôi  ̣ : Tấ t ca ca ̉ ́ c đố i tượng (hang muc) cua s ̣ ̣ ̉ ự kiêm tra/th ̉ ử nghiêm  ̣ mà  có  kha năng xay ra lô ̉ ̉ ̃i DPU DPO  Lỗi trên san phâm ̉ ̉    Lỗi trên cơ hôi xay ra lô ̣ ̉ ̃i  : Số  lỗ i trên 1 san phâm ̉ ̉ : Số  lỗ i trên cơ hôi xay ra lô ̣ ̉ ̃ i  Defects Unit Defects Opportunity Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 5 DPMO  Lỗi trên 1 triêu c ̣ ơ hôi xay ra  ̣ ̉ lỗi :Số  lỗ i trên 1 triêu c ̣ ơ hôi  ̣ xay ra lô ̉ ̃i Defects x1,000,000 Opportunities Rev  7.0  DPU: 1  DPU: 2  DPU: 4  DPO: 1/8  DPO: 1/4  DPO: ?  DPMO: 125,000  DPMO: 250,000  DPMO: ? Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 6 Rev  7.0  Hiệu suất (Yield)      Hiệu suất là một khái niệm về phần trăm số sản phẩm tốt. Nó biêu thi  ̉ ̣ cho viêc quan ly ̣ ̉ ́ sai hỏng bao gồm ca la ̉ ̀m lai hoăc huy bo vât t ̣ ̣ ̉ ̉ ̣ ư trong mỗi  bước cua quá tri ̉ ̀nh v.v…  Cá c loai hi ̣ ệu suất  FTY (First Time Yield):     Được dùng đê xa ̉ ́c đinh  ̣ cấ p đô châ ̣ ́ t lượng cua t ̉ ừng quá trì nh riêng lẻ.  Được áp dung va ̣ ̀o quá trình mà không có làm lai/s ̣ ửa chữa.    RTY (Rolled Throughput Yield):   Được sử dụng đê th ̉ ể hiện cấp độ chất lượng của tồn bộ q trình  Được diễn ta nh ̉ ư là một bình phương của FTY  YNOR (Normalized Yield):   Được sử dụng đê th ̉ ể hiện cấp độ chất lượng của tồn bộ q trình   Áp dụng khái niệm hì nh hoc trung bi ̣ ̀ nh (TB nhân­mean) đối với FTY của q  trình Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 7 Rev  7.0  Tí nh toá n RTY  Nếu dữ liêu đ ̣ ưa ra là % lỗi hoăc san l ̣ ̉ ượng  RTY m FTYi i * Ở đây, FTYi là FTY cua mô ̉ ̃i qui trình   Nếu dữ liêu đ ̣ ưa ra là số lỗi  RTY e DPU DPU e *               refers to P[X = 0] (xác suất không có lỗi) trong phân bố  Poisson Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 8 Rev  7.0 95.5% Yield 45,000 ppm wasted N Nhh aà̀   m maa ́́yy   nngg âầ̀m m bboo ::  LLaà ̀m ̉̉ m  l laạịi/ /  hhu ủỷy    97% Yield 94.4% Yield 30,000 ppm wasted RTY = 0.955*0.97*0.944 = 87.4% 56,000 ppm wasted RTY chú  trong va ̣ ̀ o năng lực không nhữ ng ở  bướ c cuố i cù ng mà  cò n ca trong mô ̉ ̃ i bướ c  cua quá tri ̉ ̀ nh Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 9 Rev  7.0   Tính toán san l ̉ ượng cua d ̉ ữ liêu lơ ̣ ̃i  nếu loại dữ liệu là số lượng lỗi sai trên mỗi sản phẩm bị lỗi thì chúng ta có  thể sử dụng phương pháp phân bớ Poisson để tính khả năng được qút đinh  ̣ là tốt của sản phẩm (đó là yield)  1 1 2  Unit: 50  Tông sô ̉ ́ lỗi : 20  DPU: 20/50 = 0.40  Yield  = e­DPU            = e­0.40 1 Proprietary to Samsung Electronics Company            = 0.670            = 67% Process Capability Analysis­ 10 Rev  7.0 Chuy Chuyểển đ n đổổi d i dữữ li  liệệu không tuân theo  u không tuân theo  vi việệc phân b c phân bốố chu  chuẩẩn và b n và bịị l lệệch nhi ch nhiềềuu Ch Chọọn m n mụục n c nếếu s u sửử d  dụụng h ng hằằng s ng sốố   không l không lệệch khi đánh giá Sigma ch khi đánh giá Sigma M Mặặc đ c địịnh là ph nh là phảải dùng h i dùng hằằng s ng sốố Đánh giá Sigma khi c Đánh giá Sigma khi cỡỡ nhóm m  nhóm mẫẫu l u lớớn  n  hhơơn 1 n 1 Đánh giá Sigma khi c Đánh giá Sigma khi cỡỡ nhóm m  nhóm mẫẫu = 1 u = 1 Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 33 Rev  7.0 Ch Chỉỉ ra m  ra mụục tiêu phân b c tiêu phân bốố d  dữữ li  liệệuu Hi Hiểển th n thịị d  dữữ li  liệệu n u nằằm ngoài ph m ngoài phạạm vi  m vi  ddướ i d ng PPM ho ặ c % ưới dạng PPM hoặc % Hi Hiểển th n thịị năng l  năng lựực quy trình d c quy trình dướ ưới d i dạạng giá  ng giá  trtrịị Z  Z Khi l Khi lưưu k u kếết qu t quảả khác nhau thu đ  khác nhau thu đượ ược t c từừ   vi việệc tính tốn năng l c tính tốn năng lựực quy trình vào  c quy trình vào  bbảảng tính ng tính Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 34 Rev  7.0 B c ́ư Tí nh năng lực quá trì nh P ro c e s s   Ca pa bility   o f  To ta l LSL USL Within Ove ll P roc e s s  Da ta LS L 210 Ta rge t * US L 270 S a m ple  Me a n 250.9 S a m ple  N 30 S tDe v(Within) 15.166 S tDe v(Ove ll) 18.0538 P ote ntia l (Within) Ca pa bility Cp 0.66 CP L 0.90 CP U 0.42 Cpk 0.42 Ove ll Ca pa bility Pp PPL PPU P pk Cpm 220 Obs e rve d P e rform a nc e P P M  US L 100000.00 P P M Tota l 100000.00 240 Exp. Within P e rform a nc e P P M <  LS L 3500.24 P P M >  US L 103943.67 P P M Tota l 107443.90 260 0.55 0.76 0.35 0.35 * 280 Exp. Ove ll P e rform a nc e P P M <  LS L 11742.47 P P M >  US L 145039.21 P P M Tota l 156781.69 SSốố sai h  sai hỏỏng  ng ởở phía trên USL ho  phía trên USL hoặặc c  phía d ướ i LSL trong d phía dưới LSL trong dữữ li  liệệu đo  u đo  llườ ng th ự c t ế , đ ượ c tính và  ường thực tế, được tính và  chuy chuyểển đ n đổổi thành ppm i thành ppm Đ Đốối v i vớới d i dữữ li  liệệu quá trình dài h u quá trình dài hạạn,  n,  gi giảả s sửử vùng bên d  vùng bên dướ ưới đ i đườ ường cong  ng cong  phân b phân bốố chu  chuẩẩn là “1”. N n là “1”. Nếếu v u vậậy,  y,  ttỷỷ l lệệ c củủa vùng phía trên USL  a vùng phía trên USL  ho ặ c phía d hoặc phía dướ ưới LSL chuy i LSL chuyểển thành  n thành  ppm ch ỉ  ra % sai h ỏ ng đ ượ c  ppm chỉ ra % sai hỏng được ướ ước c  tính tính V Vậậy v y vớới tr i trườ ường h ng hợợp này, nh p này, nhữững  ng  sai sót dài han d ̣ ự  đốn đ ượ c c ủ sai sót dài han d ̣ ự đốn được của a  quy trình hi quy trình hiệện t n tạạii (Exp “Overall Performance”) s (Exp “Overall Performance”) sẽẽ là   là  2717.24 PPM 2717.24 PPM Sử dung Minitab va ̣ ̀  ước tính ZLT  tương  ứng với  156781.69  PPM (Calc – Probability Distributions – Normal )  Estimated ZLT using Minitab = 1.01 Process capability : ZST = 1.01 + 1.5(Z­Shift) = 2.51  Process Capability Analysis­ 35 Thus, process capability is about 2.5 Sigma Proprietary to Samsung Electronics Company Rev  7.0  Phương phá p khá c Bi Biểểu th u thịị năng l  năng lựực quy  c quy  trình là giá tr ị  Z trình là giá trị Z Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 36 Rev  7.0 P ro c e s s   Capability  o f  To tal LSL USL With in Ove ll P roc e s s  Da ta LS L 210 Ta rge t * US L 270 S a m ple  Me a n 250.9 S a m ple  N 30 S tDe v(Within) 15.166 S tDe v(Ove ll) 18.0538 P ote ntia l (Within) Ca pa bility Z.Be nc h 1.24 Z.LS L 2.70 Z.US L 1.26 Cpk 0.42 Ove ll Ca pa bility Z.Be nc h Z.LS L Z.US L P pk Cpm 220 Obs e rve d P e rform a nc e P P M <  LSL 0.00 P P M >  US L 100000.00 P P M Tota l 100000.00 240 Exp. Within P e rform a nc e P P M <  LS L 3500.24 P P M >  USL 103943.67 P P M Tota l 107443.90 260 280 Exp. Ove ll P e rform a nc e P P M <  LS L 11742.47 P P M >  US L 145039.21 P P M Tota l 156781.69 1.01 2.27 1.06 0.35 * ZLT (ZBench ) có thể được xác  LT Bench định trực tiếp trên Minitab.  Năng lực q trình có thể  được tính tốn bằng việc sử  dụng  ZLT  này Do đó, năng  LT lực quy trình (ZST ) là 1.01 +  ST 1.5 = 2.51 sigma **Zbench   : cấp độ Sigma thu  bench   được từ P(d) là tổng số sai sót  của USL và LSL.  (P(d) = P(d)Lower  + P(d)Upper ) Lower Upper Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 37 Rev  7.0 Phân tích năng lực q trình với dữ liệu rời rạc  Phân tích năng lực q trình vớ i dữ  liêu sai h ̣ ỏng (Defective data) NN ̣̃ư liêu  d âp h ̣̃ư liêu  d âp h ̣TT A C P c iên h ̣ A C P c iên h ̣TT  ăglćư h in ̣  ăglćư h in ̀q h á trin u q ̀ h á trin u  Để tính năng lực q trình trên % sai hỏng,một loai d ̣ ữ liệu rời  rạc  Đầu ra – Biêu đơ ̉ ̀ kiêm soa ̉ ́t P, biểu đồ tích luỹ % sai hỏng    : Nhân biê ̣ ́t tình trang kiêm soa ̣ ̉ ́t của q trình, quyết định  số dữ liệu có đủ hay khơng – Vẽ biểu đồ tần suất % sai hỏng (Histogram) (Ví  du)̣ Để tính năng lực q trình cho q trình  giao hàng, cơng ty vận tải Western Logistics  đã tính sai số lần giao hàng trong 20 ngày đếm số lần giao hàng hàng ngày liên tục 20  lần (Tên file : Capability_Binomial.mtw) Proprietary to Samsung Electronics Company Date # wrong delivery Date # wrong delivery 11 2 12 3 13 14 15 16 17 18 19 10 20 Process Capability Analysis­ 38 Rev  7.0 B c ́ư B c ́ư Nhâp d ̣ ữ  liêu ̣ Thực hiên PCA ̣ Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Binomial Nh Nhậập d p dữữ li liệệu lô u lỗĩi Khi sô Khi số ĺ lượ ượng m ng mẫẫu th u thửử    bă bằng nhau ̀ng nhau NNếếu sô u sớ ĺ lượ ượng m ng mẫẫu th u thửử    khác nhau, ch khác nhau, chọọn c n cộột ch t chứứa a  kích th ướ c m ẫ u th  na kích thước mẫu thử này ̀y Nhập % sai sót của tập  hợp, nếu biết Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 39 Ghi m Ghi mụục tiêu % sai sót c tiêu % sai sót Rev  7.0 B c 3́ư Tí nh năng lực qui trì nh Bino mial  P ro c e s s   Capability   Ana lys is   o f  no nc o nfo rmanc e B in o m ia l  P lo t E x p e c t e d   D e f e c t iv e s P   Ch a rt UCL= 0.3290 P ro p o rt io n Biểu đồ P thể hiện tất cả  0.3 những điểm được phân bố  0.2 ngẫu nhiên trong giới hạn kiểm  0.1 sốt chỉ ra rằng quy trình n ằm  0.0 trong sự kiểm sốt (trạng thái  11 13 15 17 S a m p le ổn định) Trong biểu đồ tích luỹ % sai  Cu m u la t iv e   %D e f e c t iv e sót, khơng thấy có nhiều s16ự  biến thiên từ mẫu số 10, và  14 các dấu chấm đang tiến gần  12 lại giá trị trung bình khi số  10 mẫu thử tăng lên. Do vậy, có  thể nói rằng bảo đảm được  10 15 S a m p le đủ dữ liệu để dự đốn % sai  sót _ P = 0.115 LCL= 5.5 4.0 2.5 1.0 19 Trong đồ thị nhị thức  (Binomial Plot), do các  điểm được biểu thị gần với  đường thẳng với độ dốc  của 1, số lượng sai sót tuân  theo s ự phân bố nhị thức O b s e rv e d   D e f e c t iv e s D is t   o f   %D e f e c t iv e S um m a ry S ta ts %D e f e c t iv e (us ing 95.0% c onfide nc e ) 20 %De fe c tive : Lowe r CI: Uppe r CI: Ta rge t: P P M De f: Lowe r CI: 11.50 8.54 15.04 0.00 115000 85436 Uppe r CI: P roc e s s  Z: Lowe r CI: Uppe r CI: 150403 1.2004 1.0347 1.3694 Ta r 0 10 15 20 Sự phân bố % sai sót là  một biểu đồ tần suất  thể  hiện sự phân bố của % sai  sót mẫu thử. Do % sai sót  của quy trình này là  25 115.000 ppm nên u cầu  có sự cải tiến nhiều hơn  Dùng Minitab và dự đốn ZLT tương ứng với 115,000 PPM (Calc>Probability Distributions>Normal )  Năng lực quy trình dài hạn (ZLT ) LT Estimated ZLT using Minitab = 1.2 Process capability considering Z­Shift (1.5 sigma)  ZST = 1.2 + 1.5 = 2.7, Therefore, it is about 2.7 Sigma Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 40 Rev  7.0  Phân tích năng lực quy trình vớ i dữ  liêu lơ ̣ ̃ i  (Defect  Data)  Để tính năng lực quy trình trên % sai sót, một loai d ̣ ữ liệu rời  NN ̣̃ư liêu  d âp h ̣̃ư liêu  d âp h ̣TT A C P c iên h ̣ A C P c iên h ̣TT  ăglćư h in ̣  ăglćư h in rạc.   Đầu ra – Biêu đơ ̉ ̀ chữ U, biểu đồ tích luỹ  DPU.     : nhận biết tình trạng của việc kiểm sốt quy trình, quyết  định số lượng dữ liệu có đủ hay khơng – Biểu đồ tần suất của số lỗi, đồ thị (File name: Capability_ Poisson.mtw) ̀qq h i trn u ̀ h i trn u (Ví  du)̣ Dữ liệu ở bên phải thể hiện số lần trì hỗn/  giờ trong một trung tâm cuộc gọi Chúng được thu thập để đánh giá năng lực quy  trình về khả năng sẵn sàng của các điện thoại  viên khi trả lời cuộc gọi khách hàng. Với dữ  liệu này, hãy tính năng lực quy trình Proprietary to Samsung Electronics Company Sample # delay Sample # delay 1 11 12 13 14 15 16 17 18 19 10 20 Process Capability Analysis­ 41 Rev  7.0 Bước Nhập dữ liệu Bước Thực hiện PCA Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Poisson Nhập Nhậpdữ dữliệu liệulỗi lỗi Khi Khiquy quymô mômẫu mẫuthử thửnhư nhau Nếu Nếuquy quymô mômâu mâuthử thử khác nhau, chọn cột khác nhau, chọn cột chứa chứaquy quymô mômẫu mẫuthử thử nà y này Nhập giá trị trung bình cho số lỗi có tập hợp, biết Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 42 Ghi Ghimục mụctiêu tiêucho chosố số lỗi/đơn vị lỗi/đơn vị Rev  7.0 Tí nh năng lực quas trì nh P o is s o n  Capability   Analys is   o f  No   o f  de fe c t S a m p le   Co u n t   P e r  Un it Trong biểu đồ chữ U, tất cả  các điểm được phân bố ngẫu  nhiên trong các giới h3ạn  kiểm sốt, do vậy quy trình  m  có thể được xem là nằ trong sự kiểm sốt U  Ch a rt P o is s o n   P lo t UCL= 3.483 Ex pe c te d  D e fe c ts B c 3́ư _ U= 0.8 LCL=0 11 13 S a m p le 15 17 0 19 Trong đồ thị Poisson, do  dữ liệu được biểu thị gần  với đường thẳng với độ  dốc của 1 nên dữ liệu đưa  ra tuân theo sự phân bố nhị  O b s e rv e d   D e f e th c t sức hoặc Poisson Cu m u la t iv e   D P U S umm a ry S ta ts (us ing 95.0% c onfide nc e ) DPU Trong biểu đồ tích lu1.2ỹ DPU,  có xuất hiện khơng nhi ều sự  1.0 biến thiên từ mẫu th0.8 ử số 18,  và các dấu chấm đang ti ến  0.6 gần đến giá trị trung bình khi  0.4 số lượng mẫu thử tăng lên.  Do đó, có thể nói rằng dữ  liệu đã được đảm bảo đủ để  tiến hành dự đốn DPU D is t   o f   D P U Proprietary to Samsung Electronics Company Ta r 10 S a m p le 15 20 Me a n De f: Lowe r CI: Uppe r CI: Me a n DP U: Lowe r CI: Uppe r CI: 0.8000 0.4573 1.2991 0.8000 0.4573 1.2991 Min DP U: Ma x DP U: Ta rg DP U: 0.0000 2.0000 0.0000 Process Capability Analysis­ 43 0 Dist of DPU thể hiện sự  phân bố của DPU. DPU  trung bình là 0.8, điều  đó có nghĩa là trung bình  có khoảng 0.8 lỗi xảy ra  trên một đơn vị  Rev  7.0 Có thể dự dốn % sai sót (DPO) dùng DPU trung bình = 0.8        % sai sót = 0.550671 (Từ % sai sót  = 1 ­ e­DPU) Dùng Minitab và dự đốn ZLT tương ứng với 550,671 PPM (Calc – Probability Distributions – Normal ) Dự đốn  ZLT  dùng Minitab = ­0.1274 Xem xét năng lực quy trình Z­Shift (1.5 sigma)   ZST = ­0.1274 + 1.5 = 1.3726, Do đó, nó bằng khoảng 1.37 Sigma Proprietary to Samsung Electronics Company Process Capability Analysis­ 44 Rev  7.0 Tó m tắ t  PCA (Phân tích năng lực qui trình) là xác đinh ranh gi ̣ ới hiên tai cua đê ̣ ̣ ̉ ̀ tài ở  giai đoan đo l ̣ ường.   Bằng viêc ti ̣ ́nh cấp đô Sigma cua Y đê ̣ ̉ ̀ tài thông qua PCA, chúng ta có thê ̉ xác đinh đ ̣ ược ranh giới hiên tai cua qui tri ̣ ̣ ̉ ̀nh Liên tuc̣ Rờ i rac̣ Chuân ̉ Không chuân  ̉ (Weibull) Kiêm tra đô chuân ̉̉ ̣̣ ̉̉ Kiêm tra đô chuân Kiêm tra đô chuân ̉̉ ̣̣ ̉̉ Kiêm tra đô chuân (P­Value > 0.05) (P­Value