Nghiên cứu tác động thanh khoản cổ phiếu đến đầu tư của các công ty niêm yết trên sàn chứng khoán việt nam

BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC KINH TẾ TP HỒ CHÍ MINH NGUYỄN THỊ THU HÀ NGHIÊN CỨU TÁC ĐỘNG THANH KHOẢN CỔ PHIẾU ĐẾN ĐẦU TƯ CỦA CÁC CƠNG TY NIÊM YẾT TRÊN SÀN CHỨNG KHỐN VIỆT NAM LUẬN VĂN THẠC SĨ KINH TẾ Tp Hồ Chí Minh – Năm 2015 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC KINH TẾ TP HỒ CHÍ MINH NGUYỄN THỊ THU HÀ NGHIÊN CỨU TÁC ĐỘNG THANH KHOẢN CỔ PHIẾU ĐẾN ĐẦU TƯ CỦA CÁC CÔNG TY NIÊM YẾT TRÊN SÀN CHỨNG KHOÁN VIỆT NAM Chuyên ngành: Tài – Ngân hàng Mã số: 60340201 LUẬN VĂN THẠC SĨ KINH TẾ NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC: PGS.TS LÊ THỊ LANH Tp Hồ Chí Minh – Năm 2015 LỜI CAM ĐOAN Trong trình thực luận văn với đề tài “Nghiên cứu tác động khoản cổ phiếu đến đầu tư công ty niêm yết sàn chứng khốn Việt Nam”, tơi vận dụng kiến thức học tập với trao đổi, hướng dẫn, góp ý giáo viên hướng dẫn để thực đề tài luận văn thạc sĩ Tôi xin cam đoan cơng trình nghiên cứu tôi, số liệu kết luận văn hồn tồn trung thực có nguồn gốc trích dẫn rõ ràng Các kết luận văn chưa cơng bố cơng trình nghiên cứu Luận văn thực hướng dẫn PGS.TS Lê Thị Lanh TP Hồ Chí Minh, ngày 28 tháng 05 năm 2015 Người thực luận văn NGUYỄN THỊ THU HÀ TRANG PHỤ BÌA LỜI CAM ĐOAN MỤC LỤC DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU, CÁC CHỮ VIẾT TẮT DANH MỤC CÁC BẢNG TÓM TẮT CHƯƠNG 1: GIỚI THIỆU 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 CHƯƠNG 2: CÁC NGHIÊN CỨU TRƯỚC ĐÂY 2.1 2.1.1 2.1.2 2.2 2.2.1 Thanh khoản cổ phiếu tác động chiều đến đầu tư 2.3 2.4 chiều hay ngược chiều TÓM TẮT CHƯƠNG CHƯƠNG 3: PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU 3.1 3.1.1 Mơ hình nghiên cứu 3.1.2 Mô tả biến nghiên cứu 3.2 3.2.1 Thêm biến giả phân biệt công ty phát hành cổ phiếu công ty không phát hành cổ phiếu 24 3.2.2 Thêm biến giả phân biệt cơng ty chịu ràng buộc tài cơng ty chịu ràng buộc tài 24 3.2.3 phân biệt cơng ty có hội đầu tư khác Thêm biến giả 26 3.3 Dữ liệu nghiên cứu 28 3.4 Phương pháp kiểm định hồi quy 28 TÓM TẮT CHƯƠNG 33 CHƯƠNG 4: KẾT QUẢ NGHIÊN CỨU VÀ THẢO LUẬN 34 4.1 Thống kê mô tả 34 4.1.1 mô tả Phân tích thống kê 34 4.1.2 Ma trận hệ số tương quan 36 4.2 Tác động tính khoản cổ phiếu đến đầu tư công ty niêm yết Việt Nam 39 4.2.1 chính: Mơ hình hồi quy 39 4.2.2 Tác động tính khoản đến cổ phiếu Việt Nam trường hợp phân biệt cơng ty có phát hành cổ phiếu: 44 4.2.3 Tác động tính khoản đến cổ phiếu Việt Nam, thêm biến phân biệt cơng ty có ràng buộc tài khác nhau: 47 4.3 Tác động tính khoản cổ phiếu lên đầu tư cho công ty sàn giao dịch 56 TÓM TẮT CHƯƠNG 4: 62 CHƯƠNG 5: KẾT LUẬN 63 5.1 Kết luận chung 63 5.2 Hạn chế đề tài 63 5.3 Hướng nghiên cứu tiếp theo: 64 TÀI LIỆU THAM KHẢO PHỤ LỤC Phụ lục 1: Danh sách công ty mẫu: Phụ lục 2: Thống kê mô tả biến: Phụ lục 3: Kết hồi quy mơ hình Phụ lục 4: Kết hồi quy cho công ty sàn HNX Phụ lục 5: Kết hồi quy cho công ty sàn HOSE DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU, CÁC CHỮ VIẾT TẮT TỪ VIẾT TẮT HOSE HNX Tobin’s Q DANH MỤC CÁC BẢNG Bảng 3.1: Dấu kỳ vọng biến độc lập 27 Bảng 4.1: Thống kê mơ tả biến mơ hình 35 Bảng 4.2: Ma trận hệ số tương quan biến nghiên cứu 38 Bảng 4.3: Kết hồi quy mơ hình với biến đo lường khoản TRV 42 Bảng 4.4: Kết hồi quy mơ hình với biến đo lường khoản TRVEX 43 Bảng 4.5: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt công ty phát hành cổ phiếu, sử dụng biến TRV làm thước đo khoản 45 Bảng 4.6: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt công ty phát hành cổ phiếu, sử dụng biến TRVEX làm thước đo khoản 46 Bảng 4.7: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có ràng buộc tài khác dựa tổng tài sản, sử dụng biến TRV làm thước đo khoản .49 Bảng 4.8: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có ràng buộc tài khác dựa tổng tài sản, sử dụng biến TRVEX làm thước đo khoản 50 Bảng 4.9: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có ràng buộc tài khác dựa tổng giá trị thị trường vốn cổ phần, sử dụng biến TRV làm thước đo khoản 51 Bảng 4.10: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có ràng buộc tài khác dựa tổng giá trị thị trường vốn cổ phần, sử dụng biến TRVEX làm thước đo khoản 52 Bảng 4.11: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có hội đầu tư khác nhau, sử dụng biến TRV làm thước đo khoản 54 Bảng 4.12: Kết hồi quy mơ hình, thêm biến giả phân biệt cơng ty có hội đầu tư khác nhau, sử dụng biến TRVEX làm thước đo khoản 55 Bảng 4.13: Kết hồi quy mô hình cho cơng ty HOSE, sử dụng biến TRV thước đo khoản 58 Bảng 4.14: Kết hồi quy mơ hình cho công ty HNX, sử dụng biến TRV thước đo khoản 59 Bảng 4.15: Kết hồi quy mơ hình cho cơng ty HOSE, sử dụng biến TRVEX thước đo khoản 60 Bảng 4.16: Kết hồi quy mơ hình cho cơng ty HNX, sử dụng biến TRVEX thước đo khoản 61 Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRV WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentific Instrumented: Included Excluded instruments: instruments: Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRV WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII F( Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (ov Instrumented: Included Excluded instruments: instruments: Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% 15% 20% 25% Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRV WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% 15% 20% 25% Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (ov Instrumented: Included Excluded instruments: instruments: Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% 15% 20% 25% Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII Number of obs = F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII F( Prob > F Total (centered) SS Total (uncentered) SS Residual SS Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic): Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic): Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size 15% maximal IV size 20% maximal IV size 25% maximal IV size Source: Stock-Yogo (2005) Reproduced by permission NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d errors Hansen J statistic (overidentification test of all instruments): Instrumented: Included instruments: WTRVEX WLEV WCF Excluded instruments: WIVI WIVII ... đầu tư cơng ty, tính khoản cổ phiếu có tác động đến đầu tư công ty tác động chiều, luận văn tiếp tục nghiên cứu tác động tính khoản cổ phiếu đến hoạt động đầu tư công ty trường hợp công ty phát... nhiều nghiên cứu tính khoản, đặc biệt nghiên cứu tác động có tính khoản cổ phiếu lên đầu tư cơng ty Do luận văn nghiên cứu tác động tính khoản cổ phiếu lên đầu tư công ty niêm yết Việt Nam giai... đầu tư (công ty giá trị)? 1.3 Đối tư? ??ng, phạm vi nghiên cứu Đối tư? ??ng nghiên cứu tác động tính khoản cổ phiếu đến hoạt động đầu tư công ty Phạm vi nghiên cứu luận văn cơng ty phi tài niêm yết