Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 7914:2008 - ISO/ASTM 51956:2005

Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 7914:2008 bao gồm các qui trình sử dụng liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) để xác định liều hấp thụ trong các vật liệu được chiếu xạ bởi bức xạ photon hoặc điện tử được quy là liều hấp thụ trong nước. Mời các bạn cùng tham khảo nội dung chi tiết.

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 7914:2008 ISO/ASTM 51956:2005 TIÊU CHUẨN THỰC HÀNH SỬ DỤNG HỆ ĐO LIỀU NHIỆT HUỲNH QUANG (TLD) TRONG XỬ LÝ BẰNG BỨC XẠ Standard Practice for Use of Thermoluminescence Dosimetry (TLD) Systems for Radiation Processing Lời nói đầu TCVN 7914:2008 hồn tồn tương đương với ISO/ASTM 51956:2005; TCVN 7914:2008 Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/F5 Vệ sinh thực phẩm chiếu xạ biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ công bố TIÊU CHUẨN THỰC HÀNH SỬ DỤNG HỆ ĐO LIỀU NHIỆT HUỲNH QUANG (TLD) TRONG XỬ LÝ BẰNG BỨC XẠ 1) Standard Practice for Use of Thermoluminescence Dosimetry (TLD) Systems for Radiation Processing Phạm vi áp dụng 1.1 Tiêu chuẩn bao gồm qui trình sử dụng liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) để xác định liều hấp thụ vật liệu chiếu xạ xạ photon điện tử quy liều hấp thụ nước 1.2 Tiêu chuẩn bao gồm hệ đo liều hấp thụ thực điều kiện sau đây: 1.2.1 Dải liều hấp thụ từ Gy đến 100 kGy 1.2.2 Suất liều hấp thụ từ x 10-2 Gy.s-1 đến x 1010 Gy.s-1 1.2.3 Dải lượng xạ photon điện tử có lượng từ 0,1 MeV đến 50 MeV 1.3 Tiêu chuẩn không đề cập đến phép đo liều hấp thụ suất liều hấp thụ vật liệu chiếu xạ nơtron 1.4 Các qui trình sử dụng TLD để xác định liều hấp thụ thử nghiệm khả chịu xạ thiết bị điện tử nêu ASTM Practice E668 1.5 Tiêu chuẩn không đề cập đến tất vấn đề liên quan đến an toàn Trách nhiệm người sử dụng tiêu chuẩn phải tự thiết lập các tiêu chuẩn thực hành thích hợp đảm bảo an toàn sức khỏe phải xác định rõ giới hạn quy định trước định áp dụng tiêu chuẩn Tài liệu viện dẫn Các tài liệu viện dẫn sau cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn Đối với tài liệu viện dẫn ghi năm cơng bố áp dụng phiên nêu Đối với tài liệu viện dẫn khơng ghi năm cơng bố áp dụng phiên nhất, bao gồm sửa đổi Tiêu chuẩn thực hành nằm phạm vi thẩm quyền ASTM Ban E 10 Công nghệ ứng dụng hạt nhân thuộc trách nhiệm Tiểu Ban E10.01 Đo liều trình xạ thuộc phạm vi thẩm quyền ISO/TC 85/WG 2.1 Tiêu chuẩn ASTM 2) ASTM E 170 Terminology Relating to Radiation Measurements and Dosimetry (Thuật ngữ liên quan đến phép đo xạ đo liều) ASTM E 668 Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices (Thực hành việc ứng dụng hệ đo liều nhiệt huỳnh quang (TLD) để xác định liều hấp thụ việc thử nghiệm khả chịu xạ thiết bị điện tử) ASTM E 2303 Guide for Absorbed-Dose Mapping in Radiation Processing Facilities (Hướng dẫn xác định trường phân bố liều hấp thụ thiết bị xử lý xạ) 2.2 Tiêu chuẩn ISO/ASTM TCVN 7248:2008 (ISO/ASTM 51204) Tiêu chuẩn thực hành đo liều áp dụng cho thiết bị chiếu xạ gamma dùng để xử lý thực phẩm ISO/ASTM 51261 Guide for Selection and Calibration of Dosimetry Systems for Radiation Processing (Hướng dẫn lựa chọn hiệu chuẩn hệ đo liều công nghệ xử lý xạ) ISO/ASTM 51400 Practice for Characterization and Performance of a High-Dose Radiation Dosimetry Calibration Laboratory (Thực hành xác định đặc tính chất lượng vận hành phòng thử nghiệm hiệu chuẩn liều cao phép đo liều xạ) ISO/ASTM 51431 Practice for Dosimetry in Electron Beam and X-ray (Bremsstrahlung) Irradiation Facilities for Food Processing (Thực hành đo liều thiết bị chiếu xạ sử dụng xạ hãm tia X chùm tia điện tử để xử lý thực phẩm) ISO/ASTM 51608 Practice for Dosimetry in an X-ray (Bremsstrahlung) Facility for Radiation Processing (Thực hành đo liều thiết bị chiếu xạ tia X (Bức xạ hãm) để xử lý thực phẩm) ISO/ASTM 51649 Practice for Dosimetry in an Electron - Beam - Facility for Radiation Processing at Energies Between 300 keV and 25 MeV (Thực hành đo liều thiết bị chiếu xạ chùm tia điện tử lượng từ 300 keV đến 25 MeV công nghệ xử lý xạ) ISO/ASTM 51702 Practice for Dosimetry In Gamma Irradiation Facilities for Radiation Processing (Thực hành đo liều đối thiết bị chiếu xạ gamma công nghệ xử lý xạ) ISO/ASTM 51707 Guide for Estimating Uncertainties in Dosimetry for Rariation processing (Hướng dẫn đánh giá sai số phép đo liều công nghệ xử lý xạ) ISO/ASTM 51939 Practice for Blood Irradiation Dosimetry (Thực hành đo liều chiếu xạ máu) ISO/ASTM 51940 Guide for Dosimetry for Sterile Insect Release Programs (Hướng dẫn đo liều chương trình chiếu xạ diệt côn trùng, nấm mốc) ISO/ASTM 52116 Practice for Dosimetry for a Self-Contained Dry-Storage Gamma-Ray Irradiator (Thực hành đo liều máy chiếu xạ tia gamma với nguồn phóng xạ bảo quản khô) 2.3 Báo cáo Cơ quan Quốc tế Đơn vị Phép đo liều xạ (ICRU) 3) ICRU Report 14 - Radiation Dosimetry: X-Rays and Gamma Rays with Maximum Photon Energies Between 0.6 MeV and 50 MeV (Báo cáo ICRU 14 - Đo liều xạ: tia X gamma với lượng photon tối đa từ 0,6 MeV đến 50 MeV) Đối với tiêu chuẩn ISO/ASTM ASTM, xem website ASTM www.astm.org, liên hệ với Dịch vụ khách hàng ASTM theo địa service@astm.org Về sổ tay tiêu chuẩn ASTM, xem tổng hợp tài liệu trang điển tử ASTM Ủy ban quốc tế phép đo đơn vị đo xạ (ICRU) 7910 Woodmont Ave., Bethesda, MD 20814, Mỹ ICRU Report 17 Radiation Dosimetry: X Rays Generated at Potentials of to 150 kV (Báo cáo ICRU 17 - Đo liều xạ: Đối với tia X sinh hiệu điện từ kV đến 150 kV) ICRU Report 34 The Dosimetry of Pulsed Radiation (Báo cáo ICRU 34 - Đo liều xạ xung) ICRU Report 60 Fundamental Quantities and Units for Ionizing Radiation (Báo cáo ICRU 60 Các đơn vị loại xạ ion hóa) Thuật ngữ, định nghĩa 3.1 Định nghĩa 3.1.1 Suất liều hấp thụ (D) [absorbed-dose rate (D)] Liều hấp thụ vật liệu số gia thời gian, tỷ số dD dt D = (1) đơn vị Gy.s-1 3.1.1.1 Thảo luận (Discussion) (1) Suất liều hấp thụ thường xác định giá trị trung bình khoảng thời gian dài hơn, ví dụ: với đơn vị Gy.min-1 Gy.h-1 (2) Đối với thiết bị chiếu xạ gamma suất liều khác vị trí khác (3) Trong thiết bị chiếu xạ chùm điện tử với chùm tia dạng xung dạng qt có hai loại suất liều là: giá trị trung bình vài xung (quét) giá trị tức thời xung (quét) Hai giá trị khác đáng kể 3.1.2 Nung liều kế (Annealing) Quá trình xử lý nhiệt TLD trước chiếu xạ trước đọc kết 3.1.2.1 Thảo luận (Discussion) Nung TLD trước chiếu xạ thường tiến hành để xoá hiệu ứng lần chiếu xạ trước để điều chỉnh lại độ nhạy chất phát quang; việc nung liều kế trước đọc kết thường tiến hành để giảm độ nhạy TDL nhiệt độ thấp 3.1.3 Hiệu chuẩn (Calibration) Tập hợp thao tác thực điều kiện qui định, nhằm thiết lập mối liên hệ số đọc dụng cụ đo hệ đo giá trị tương ứng đọc liên kết chuẩn đo lường phòng thử nghiệm quốc gia quốc tế công nhận 3.1.3.1 Thảo luận (Discussion) Các điều kiện hiệu chuẩn bao gồm điều kiện môi trường, điều kiện chiếu xạ có mặt suốt trình chiếu xạ, bảo quản đo liều liều kế sử dụng để dựng đường chuẩn Để đạt điều kiện mơi trường ổn định cần đảm bảo điều kiện liều kế trước thực qui trình hiệu chuẩn 3.1.4 Đường chuẩn (Calibration curve) Biểu diễn đồ thị hàm đặc trưng độ nhạy hệ đo liều 3.1.5 Thiết bị hiệu chuẩn (Calibration facility) Sự kết hợp nguồn xạ ion hóa dụng cụ đo liên quan, cho phép thiết lập liều hấp thụ suất liều hấp thụ đồng vị trí xác định vật liệu cụ thể có khả tái lập suất liều hấp thụ liên kết chuẩn đo lường quốc gia quốc tế sử dụng để xác định độ nhạy đường chuẩn hệ đo liều 3.1.6 Trạng thái cân hạt tích điện (Charged-particle equilibrium) Điều kiện tồn vi phân thể tích vật liệu, trình chiếu xạ tổng động số lượng hạt tích điện (của loại ion) vào vi phân thể tích động số lượng hạt tích điện khỏi vi phân thể tích 3.1.6.1 Thảo luận (Discussion) Khi điện tử hạt điện tích chủ yếu hạt tích điện hạt "cân điện tử" thường sử dụng để mô tả trạng thái cân hạt tích điện 3.1.7 Mẻ liều kế (Dosimeter batch) Số liều kế sản xuất từ lượng vật liệu định có thành phần đồng nhất, chế tạo dây chuyền sản xuất khống chế theo điều kiện định, có mã nhận dạng thống 3.1.8 Liều kế dự trữ (Dosimeter stock) Một phần mẻ liều kế người sử dụng lưu giữ 3.1.9 Hệ đo liều (Dosimetry system) Hệ dùng để xác định liều hấp thụ bao gồm liều kế, dụng cụ đo liều chuẩn có liên quan quy trình sử dụng chúng 3.1.10 Trạng thái cân điện tử (Electron equilibrium) Trạng thái cân hạt tích điện điện tử Xem trạng thái cân hạt tích điện (3.1.6) 3.1.11 Kế hoạch đảm bảo chất lượng phép đo (Measurement quality assurance plan) Chương trình văn hóa q trình đo nhằm đảm bảo độ không đảm bảo mở rộng phép đo liều đáp ứng yêu cầu ứng dụng cụ thể Kế hoạch yêu cầu liên kết với chuẩn đo lường quốc gia quốc tế công nhận 3.1.12 Tính liên kết chuẩn đo lường (Measurement traceability) Khả minh chứng chuỗi phép so sánh liên tục phép đo đạt giới hạn chấp nhận độ không đảm bảo đo so với chuẩn quốc gia chuẩn quốc tế công nhận 3.1.13 Liều kế chuẩn đầu (Primary standard dosimeter) Loại liều kế có chất lượng cao dùng để thiết lập trì chuẩn quốc gia quốc tế công nhận 3.1.14 Đơn vị nạp hàng (Process load) Thể tích vật liệu với cấu hình nạp hàng cụ thể thực thể riêng rẽ để chiếu xạ 3.1.15 Đảm bảo chất lượng (Quality assurance) Toàn hoạt động mang tính hệ thống cần thiết nhằm cung cấp chứng đầy đủ phép hiệu chuẩn, phép đo trình xử lý thực với mức chất lượng định trước 3.1.16 Vị trí liều so sánh (Reference-dose location) Vị trí (bên trên, bên trong, gần vật liệu nạp) giá trị liều hấp thụ tái lập có quan hệ với giá trị liều hấp thụ cực đại cực tiểu trình nạp nguyên liệu 3.1.16.1 Thảo luận (Discussion) Liều kế đặt vị trí so sánh để kiểm sốt q trình chiếu xạ sản xuất thơng thường 3.1.17 Liều kế chuẩn (Reference-standard dosimeter) Liều kế có chất lượng cao dùng để cung cấp phép đo chuẩn mà xác nhận phép đo dùng liều kế chuẩn đầu 3.1.18 Hàm đặc trưng độ nhạy (Response function) Mối quan hệ toán học độ nhạy liều kế liều hấp thụ hệ đo liều 3.1.19 Liều kế thường xuyên (Routine dosimeter) Liều kế hiệu chuẩn dựa liều kế chuẩn đầu, chuẩn liều kế truyền chuẩn dùng để đo liều thường xuyên 3.1.20 Sản phẩm tương tự (Simulated product) Vật liệu có mật độ đặc tính suy giảm tán xạ giống sản phẩm chiếu xạ 3.1.20.1 Thảo luận (Discussion) Sản phẩm tương tự sử dụng để thay cho sản phẩm thực xác định đặc tính máy chiếu xạ Khi sử dụng bù vào sản phẩm thiếu chiếu xạ hàng ngày, sản phẩm tương tự gọi vật liệu thay Khi dùng để đo biểu đồ phân bố liều, sản phẩm tương tự gọi "vật liệu giả" 3.1.21 Lưu trữ liều kế (stock) Xem Liều kế dự trữ (3.1.8) 3.1.22 Liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) (Thermoluminescence dosimeter (TLD)) Chất phát quang dạng đơn chất hợp chất vật liệu, dùng để xác định liều hấp thụ vật liệu 3.1.22.1 Thảo luận (Discussion) Ví dụ, tinh thể nhiệt phát quang dạng hợp chất mạng cacbon phát quang 3.1.23 Máy đọc liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) [Thermoluminescence dosimeter (TLD) reader] Thiết bị sử dụng để đo ánh sáng phát từ TLD, bao gồm thiết bị gia nhiệt, dụng cụ đo ánh sáng, thiết bị điện tử thích hợp 3.1.24 Độ nhạy liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) [Thermoluminescence dosimeter (TLD) response] Lượng ánh sáng đo phát từ TLD đọc suốt chu trình gia nhiệt bao gồm dạng sau: (a) tổng lượng ánh sáng phát toàn chu trình gia nhiệt, (b) phần tổng lượng ánh sáng phát ra, (c) độ lớn pic lượng ánh sáng phát 3.1.25 Tinh thể nhiệt phát quang (TL) [Thermoluminescence (TL) phosphor] Loại vật liệu bị chiếu xạ có khả tích trữ lại phần lượng (liều) hấp thụ xạ trạng thái kích thích lượng khác Khi có kích thích nhiệt phần lượng tích trữ giải phóng dạng phát photon ánh sáng vùng tử ngoại nhìn thấy hồng ngoại 3.1.26 Chuẩn bị liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) [TLD preparation] Các qui trình làm sạch, nung nóng, đóng bao tinh thể nhiệt phát quang TL trước chiếu xạ 3.1.27 Liều kế truyền chuẩn (Transfer-standard dosimeter) Thơng thường liều kế chuẩn thích hợp để vận chuyển từ địa điểm khác sử dụng, để so sánh phép đo liều 3.2 Định nghĩa thuật ngữ khác dùng tiêu chuẩn có liên quan đến phép đo xạ đo liều tham khảo tài liệu ASTM E 170 Định nghĩa E 170 phù hợp với ICRU 60, đó, ICRU 60 sử dụng làm tài liệu tham khảo thay Ý nghĩa ứng dụng 4.1 Trong trình chiếu xạ số vật liệu dạng tinh thể xác định, ví dụ: LiF, CaF 2, CaSO4, Li2B4O7, Al2O3, trạng thái bẫy nằm trạng thái nối đất vùng dẫn lấp đầy điện tử lỗ trống dẫn đến tích trữ lượng, mà giải phóng dạng ánh sáng xạ nung nóng Hệ đo liều nhiệt huỳnh quang đưa phương pháp xác định liều hấp thụ vật liệu cách đo ánh sáng huỳnh quang nói việc kiểm soát gia nhiệt vật liệu tinh thể chiếu xạ 4.2 TLD có sẵn thị trường cung cấp từ nhiều nhà phân phối khác với loại khác nhau, ví dụ: dạng bột rời, dạng viên tinh thể bao kín thủy tinh chất dẻo 4.3 Các TLD tái sử dụng cách nung liều kế chiếu xạ nhiệt độ cao để giải phóng hết tất bẫy điện tử lỗ trống 4.4 Trong trình chiếu xạ, TLD chủ yếu dùng chiếu xạ để xử lý sản phẩm từ máu (xem ISO/ASTM Practice 51939), chiếu xạ thực phẩm [xem TCVN 7248:2008 (ISO/ASTM 51204) TCVN 7249:2008 (ISO/ASTM 51431)] chiếu xạ triệt sinh côn trùng (xem ISO/ASTM Guide 51940) Các liều kế TLD sử dụng q trình xử lý xạ thích hợp khác, ví dụ: tiệt trùng sản phẩm y tế, biến tính vật liệu polyme, chiếu xạ thiết bị điện tử, xử lý mực in, vật liệu tạo lớp phủ bề mặt, vật liệu làm keo dính (Xem tài liệu tham khảo (1,2)4) xem ISO/ASTM Practice 51608, 51649 51702) 4.5 Đối với trình xử lý chiếu xạ, dải liều hấp thụ quan tâm từ Gy đến 100 kGy Một số TLD sử dụng ứng dụng yêu cầu mức liều hấp thụ thấp nhiều (ví dụ, đo liều cá nhân), ứng dụng nằm phạm vi tiêu chuẩn thực hành Các ví dụ TLD dải liều áp dụng nêu Bảng Các thông tin chi tiết loại TLD khác ứng dụng chúng tìm thấy tài liệu tham khảo (3-8) 4.6 Các quy định chiếu xạ khử trùng sản phẩm y tế, chiếu xạ sản phẩm máu, xử lý thực phẩm ban hành nhiều quốc gia Các quy định yêu cầu hệ đo liều phải hiệu chuẩn so sánh với tiêu chuẩn quốc gia (9,10,11,12) Một hệ đo liều thích hợp có kiểm sốt chất lượng thống kê đầy đủ cần thiết để đảm bảo sản phẩm xử lý yêu cầu 4.7 Các phép đo liều thích hợp cần thực để đảm bảo sản phẩm nhận đủ liều hấp thụ yêu cầu Các liều kế cần hiệu chuẩn theo điều Tất yếu tố ảnh hưởng đến độ nhạy liều kế, bao gồm điều kiện môi trường thay đổi điều kiện thiết bị xử lý phải tính đến tính tốn cẩn thận Các thiết bị, dụng cụ đo có liên quan cần hiệu chuẩn CHÚ THÍCH 1: Đối với thảo luận phương pháp đo liều áp dụng khác xem ISO/ASTM Guide 51261 Báo cáo số 14, số 17 số 34 Bảng - Loại TLD dải liều áp dụng A Loại TLD Dải liều tuyến tính, Gy Dải liều siêu tuyến tính, Gy LiF: Mg, Ti 10-5 - 1 - 103 LiF: Mg, Cu, P 10-6 - 10 Không áp dụng CaF2: Mn 10 - 10 10 - 103 CaF2: Dy 10-5 - 6 - x 102 CaF2: Tm 10-5 - 1 - 104 Al2O3: C 10-6 - 1 - 30 -5 Số in đậm dấu ngoặc đơn viện dẫn Tài liệu viện dẫn cuối Tiêu chuẩn 10-3 - 104 Không áp dụng BeO 10-4 - 1 - 102 MgO 10-4 - 104 Không áp dụng CaSO4: Dy CaSO4: Tm 10-5 - 10 10 - x 103 Li2B4O7: Mn 10-4 - 102 102 - 104 Li2B4O7: Cu 10-5 - 103 Không áp dụng MgB4O7: Dy MgB4O7: Tm 10-5 - 50 50 - x 103 Al2O3: Mg, Y A Bảng lấy từ Tài liệu tham khảo (13) Các dải xấp xỉ thay đổi theo mẻ Các khoảng chia nhỏ vượt qua khỏi tuyến tính viện dẫn từ vùng dốc độ nhạy đường cong liều lớn so với vùng thẳng Thiết bị, dụng cụ 5.1 Các thành phần hệ đo liều Các thiết bị, dụng cụ sau dùng để xác định liều hấp thụ hệ đo liều nhiệt huỳnh quang: 5.1.1 Liều kế nhiệt huỳnh quang 5.1.2 Máy đọc liều kế nhiệt huỳnh quang Thiết bị sử dụng để đo liều kế TLD, bao gồm thiết bị gia nhiệt có điều khiển theo chương trình để kiểm sốt nhiệt độ liều kế, cho phép giải phóng điện tử khoang trống từ bẫy chúng hợp kèm theo trình phát ánh sáng huỳnh quang ánh sáng phát hàm nhiệt độ, tạo thành đường cong huỳnh quang liên quan đến liều hấp thụ Quy trình đo đọc kết liều kế 6.1 Các TLD trần không thao tác tay trần; việc làm bẩn dây dầu lên bề mặt liều kế làm ảnh hưởng đến độ nhạy liều kế làm bẩn buồng gia nhiệt máy đọc liều kế TLD Bút chân khơng nhíp bọc tinh thể cacbon TFE nên dùng để thao tác với liều kế đo Nếu cần, liều kế TLD làm theo qui trình Phụ lục A1 6.2 Liều kế TLD, đặc biệt loại có độ nhạy cao phải bảo quản tránh ánh sáng ví dụ: ánh sáng mặt trời huỳnh quang có thành phần đáng kể tia cực tím Nếu liều kế TLD tiếp xúc thời gian dài với ánh sáng cực tím trước sau chiếu xạ gây nên đáp ứng giả liều kế làm tăng độ suy giảm tín hiệu liều kế sau chiếu xạ Nên sử dụng ánh sáng đèn cao áp trình chuẩn bị liều kế đọc kết liều kế Tuy nhiên, liều kế bị chiếu ngắn khoảng thời gian vài phút với ánh sáng huỳnh quang phòng gần khơng có ảnh hưởng đáng kể đến độ nhạy liều kế TLD, ngoại trừ phép đo liều thấp (< Gy) phép đo có độ nhạy cao 6.3 Việc chuẩn bị liều kế TLD để chiếu xạ bao gồm việc làm tinh thể phát quang (nếu có yêu cầu), nung ủ nóng liều kế (là liều kế TLD tái sử dụng), bao gói tinh thể phát quang Các liều kế TLD tái sử dụng yêu cầu phải xử lý cẩn thận trình nung nóng để đạt kết tốt phép đo liều Qui trình nung nóng cần bao gồm chu trình nhiệt độ nung có tính lặp lại cao lò nung, thời gian nung xác tốc độ làm mát có tính lặp lại cao 6.4 Nếu thiết bị đọc liều kế TLD sử dụng khí nóng để gia nhiệt liều kế TLD cần sử dụng khí nitơ 6.5 Các liều kế TLD hiệu chuẩn liều kế chiếu xạ ứng dụng cụ thể sau đó, có xuất xứ từ mẻ phải đọc thiết bị đọc kết quả, sử dụng kỹ thuật thông số Việc hiệu chuẩn liều kế có giá trị cho nhóm liều kế sử dụng thiết bị đọc cụ thể nói Các thiết bị đọc khác với thiết bị dùng để hiệu chuẩn, bao gồm thiết bị có môđen nhà sản xuất không thiết phải cho độ nhạy liều kế TLD chiếu xạ mức liều hấp thụ 6.6 Các liều kế TLD sử dụng lần tái sử dụng Các liều kế sử dụng lần chiếu xạ lần, đọc kết sau bị bỏ Nói chung cách sử dụng liều kế nhà sản xuất quy định Các liều kế tái sử dụng phải qua chu trình lặp lại gồm qui trình: nung nóng - chiếu xạ - đọc kết Yêu cầu kiểm tra chất lượng hệ liều kế TLD 7.1 Hiệu hệ liều kế TLD cụ thể cần phải đánh giá để xác định tính tiện dụng phù hợp mục đích ứng dụng cụ thể Những tính chấp nhận hệ TLD cần phải kiểm chứng trước đưa vào áp dụng cho ứng dụng cụ thể Các tiêu chuẩn cụ thể hệ TLD thảo luận tiêu chuẩn ASTM Practice E 668 7.2 Các phép thử kiểm tra tính cần phải lặp lại xuất thay đổi đáng kể hệ liều kế TLD ứng dụng cụ thể Ví dụ thay đổi như: thay đổi dạng loại tinh thể phát quang liều kế TLD, thay đổi thành phần yếu thơng số thiết bị đọc bị điều chỉnh, thay đổi đặc tính nguồn chiếu xạ 7.3 Phép thử tính cụ thể bỏ qua cơng nhận rộng rãi tài liệu, giáo trình khoa học kỹ thuật hiệu hệ TLD hoàn toàn đáp ứng u cầu cụ thể Ví dụ, nghiên cứu trước cơng nhận nói liều kế TLD cụ thể khơng có phụ thuộc suất liều hấp thụ điều kiện chiếu xạ tương tự việc thử tính phụ thuộc vào suất liều hấp thụ hệ liều kế TLD khơng cần thiết Tất báo cáo kết kiểm tra cần bao gồm tài liệu tham khảo chứng minh tính hệ đo liều bảo đảm, bỏ qua phép kiểm tra 7.4 Nếu hệ liều kế TLD cụ thể không đáp ứng yêu cầu phép thử, việc sử dụng hệ liều kế khơng khuyến cáo Một hệ đo liều sử dụng hiệu chỉnh cần thiết độ nhạy liều kế TLD xác định cách đầy đủ để kết đo ứng dụng xử lý cụ thể xác định phạm vi độ không đảm bảo đo yêu cầu 7.5 Số liều kế TLD, số phép đo lặp lại với liều kế TLD đơn lẻ, sử dụng để thử kiểm tra cần phải đủ lớn để đảm bảo kết kiểm tra có ý nghĩa với độ tin cậy đạt 95 % Xem chi tiết qui trình sử dụng để lựa chọn mẫu ngẫu nhiên xác định số lượng mẫu yêu cầu tài liệu tham khảo (14) tiêu chuẩn ASTM Practice E668 Hiệu chuẩn hệ đo liều 8.1 Hệ đo liều phải hiệu chuẩn trước sử dụng hiệu chuẩn khoảng thời gian theo quy trình hướng dẫn sử dụng, quy định chi tiết q trình hiệu chuẩn yêu cầu đảm bảo chất lượng Các yêu cầu hiệu chuẩn nêu ISO/ASTM Guide 51261 8.2 Chiếu xạ hiệu chuẩn liều kế Chiếu xạ khâu quan trọng trình hiệu chuẩn hệ đo liều Chiếu xạ hiệu chuẩn phải thực theo ba cách sau cách chiếu xạ liều kế tại: 8.2.1 Một phòng thử nghiệm quốc gia phòng thử nghiệm cơng nhận theo tiêu chí quy định ISO/ASTM 51400, thu đường chuẩn thẩm tra điều kiện hành, 8.2.2 Một thiết bị hiệu chuẩn nội cung cấp liều hấp thụ (hoặc suất liều hấp thụ) có liên kết chuẩn đo lường quốc gia quốc tế công nhận, thu đường chuẩn thẩm tra điều kiện hành, 8.2.3 Một thiết bị chiếu xạ sản xuất điều kiện sản xuất thông thường với liều kế chuẩn truyền chuẩn có liên kết chuẩn đo lường quốc gia quốc tế công nhận 8.3 Hiệu chuẩn xác nhận hiệu dụng cụ đo Việc hiệu chuẩn việc xác nhận hiệu dụng cụ đo lần hiệu chuẩn xem ISO/ASTM Guide 51261 và/hoặc sổ tay hướng dẫn thực thiết bị cụ thể 8.4 Khi liều kế TLD sử dụng liều kế chuẩn liều kế truyền chuẩn việc chiếu xạ liều kế cần thực phòng thử nghiệm chuẩn quốc gia chuẩn quốc tế công nhận sử dụng tiêu chí qui định tiêu chuẩn ISO/ASTM Practice 51400 Qui trình kiểm sốt q trình chiếu xạ 9.1 Sử dụng liều kế TLD để xác định phân bố liều sản phẩm sản phẩm tương tự để xác định vị trí liều hấp thụ cực đại, D max, liều hấp thụ cực tiểu, Dmin Sử dụng thêm liều kế TLD đặt vị trí Dmax Dmin,hoặc vị trí liều so sánh để kiểm sốt mức liều định suốt trình chiếu xạ sản xuất thường xun CHÚ THÍCH 2: Thảo luận vị trí liều so sánh hướng dẫn chung việc xác định biểu đồ phân bố liều hấp thụ thiết bị chiếu xạ nêu tiêu chuẩn ASTM Guide E 2303 Các thủ tục để vẽ biểu đồ liều hấp thụ máy chiếu xạ gamma với nguồn phóng xạ bảo quản khơ nêu tiêu chuẩn ISO/ASTM Practice 52116 9.2 Việc lựa chọn liều kế TLD sử dụng để kiểm sốt q trình chiếu xạ sản xuất từ mẻ liều kế hiệu chuẩn từ trước Số lượng liều kế TLD yêu cầu để xác định liều hấp thụ cụ thể suốt trình chiếu xạ sản xuất thu từ qui trình ASTM Practice E 668 9.2.1 Từ mẻ, lựa chọn số liều kế TLD để sử dụng liều kế kiểm chuẩn trình phân tích TLD Tại thời điểm gần với thời gian chiếu xạ sản xuất, thực chiếu xạ liều kế TLD thiết bị chiếu hiệu chuẩn với hai nhiều mức liều hấp thụ biết dải liều trình chiếu xạ sản xuất Đọc liều kế TLD kiểm chuẩn với liều kế TLD sử dụng trình chiếu xạ sản xuất Các liều kế kiểm tra- hiệu chuẩn phục vụ việc kiểm tra tính ổn định hệ TLD 9.2.2 Nếu việc sử dụng qui trình đưa 9.2.1 khơng thuận tiện sử dụng qui trình thay khác Trước trình chiếu xạ sản xuất diễn ra, chiếu xạ số liều kế TLD mà chúng sử dụng phép kiểm tra hiệu chuẩn thiết bị hiệu chuẩn hai nhiều mức liều hấp thụ biết dải liều hấp thụ trình chiếu xạ sản xuất Đặt liều kế TLD kiểm tra-hiệu chuẩn thiết bị bảo quản trình chiếu xạ sản xuất thực Lấy vài liều kế TLD kiểm tra hiệu chuẩn (từ số liều kế TLD kiểm tra hiệu chuẩn) bảo quản đọc kết với liều kế TLD chiếu xạ Các liều kế TLD kiểm tra - hiệu chuẩn khác lại bảo quản thực trình chiếu xạ tiếp theo, vài liều kế TLD đọc kết với liều kế TLD chiếu xạ trình chiếu xạ sản xuất Nhược điểm phương pháp so với phương pháp 9.2.1 hệ số hiệu chuẩn khác độ phai màu (có thể phụ thuộc nhiệt độ) phải áp dụng nhóm liều kế TLD kiểm tra- hiệu chuẩn Ngoài ra, hệ số hiệu chuẩn độ phai màu liều kế TLD hiệu chuẩn liều kế TLD sử dụng cho trình chiếu xạ sản xuất khác Nếu hệ số hiệu chuẩn độ phai màu liều kế kiểm tra hiệu chuẩn mà lớn (> 25 %) cần chiếu xạ nhóm liều kế khác để đọc kết với liều kế TLD sử dụng cho trình chiếu xạ sản xuất 9.2.3 Nếu liều kế (TLD) tái sử dụng chiếu xạ (sử dụng hiệu chuẩn sản xuất) với mức liều tích lũy liều đơn lẻ cao (> 102 Gy) việc hiệu chuẩn lại sau chu trình chiếu xạ - nung nóng cần thiết có thay đổi độ nhạy liều kế (15) Nếu hệ đo liều (TLD) sử dụng cho hiệu ứng này, với liều kế (TLD) mẻ chiếu xạ lần toàn số liều kế mẻ sử dụng hết, sau tất mẻ liều kế nung thực hiệu chuẩn Ngoài ra, có thay đổi độ đồng độ nhạy mẻ chiếu xạ liều cao cần thực lặp lại phép thử đình kỳ theo quy định qui trình nêu tiêu chuẩn ASTM Practice E 668 10 Các yêu cầu tối thiểu lập hồ sơ 10.1 Hồ sơ hệ đo liều TLD thường xuyên sử dụng với sản phẩm chiếu xạ Việc nhận dạng nhà sản xuất, số mẻ, loại liều kế, thiết bị, dụng cụ sử dụng để phân tích 10.2 Hồ sơ số liệu hiệu chuẩn liều kế, bao gồm ngày tháng hiệu chuẩn, chuẩn truyền chuẩn mô tả thiết bị sử dụng 10.3 Hồ sơ tài liệu nguồn xạ sử dụng để xử lý chiếu xạ, bao gồm loại, hoạt độ thông thường thông số chùm tia, vài thông tin phù hợp phổ lượng 10.4 Hồ sơ nhiệt độ chiếu xạ độ ẩm tương đối liều kế đo thường xuyên mà việc sử dụng chúng bị ảnh hưởng điều kiện môi trường 10.5 Hồ sơ giá trị sai số liều hấp thụ mẻ sản phẩm chiếu xạ 10.6 Hồ sơ tài liệu kế hoạch đảm bảo chất lượng sử dụng cho đo liều thường xuyên 11 Độ không đảm bảo đo 11.1 Phép đo liều cần phải kèm theo phép tính độ khơng đảm bảo đo có giá trị 11.2 Thành phần độ không đảm bảo phân thành hai loại sau đây: 11.2.1 Loại A - Được đánh giá phương pháp thống kê, 11.2.2 Loại B - Được đánh giá phương pháp khác 11.3 Các cách khác phân loại độ không đảm bảo dùng rộng rãi có ích cho báo cáo độ khơng đảm bảo Ví dụ, thuật ngữ độ chụm độ chệch sai số ngẫu nhiên sai số hệ thống (không ngẫu nhiên) dùng để mô tả loại sai số khác 11.4 Hiệu chuẩn độ không đảm bảo đo Độ không đảm bảo qui trình hiệu chuẩn đo liều hấp thụ hệ đo liều TLD thông thường phụ thuộc vào hệ đo liều cụ thể ứng dụng hệ đo liều Xem Phụ lục A1 ví dụ sử dụng liều kế nhiệt phát quang LiF dạng chip CHÚ THÍCH 3: Nhận biết độ khơng đảm bảo loại A loại B dựa phương pháp đánh giá độ không đảm bảo xuất năm 1995 tổ chức tiêu chuẩn quốc tế (ISO) tài liệu hướng dẫn biểu thị độ không đảm bảo đo (19) Mục đích dùng loại đặc trưng để tăng cường hiểu biết độ không đảm bảo xây dựng cung cấp sở để so sánh quốc tế kết đo CHÚ THÍCH 4: ISO/ASTM Guide 51707 xác định khả độ không đảm bảo đo phép đo thực thiết bị xử lý chiếu xạ đưa quy trình đánh giá độ khơng đảm bảo đo phép đo liều hấp thụ sử dụng hệ đo liều Tài liệu đưa bàn luận khái niệm phép đo, bao gồm đánh giá giá trị định lượng, giá trị "đúng", sai số độ không đảm bảo đo Thành phần độ không đảm bảo đo xem xét đưa phương pháp đánh giá chúng Tài liệu đưa phương pháp tính độ khơng đảm bảo đo chuẩn kết hợp độ không đảm bảo đo tổng thể Phụ lục A (tham khảo) A.1 Các quy trình khuyến cáo cho việc áp dụng liều kế LiF dạng chip A1.1 Phạm vi áp dụng A1.1.1 Các quy trình phụ lục bao gồm việc sử dụng liều kế nhiệt huỳnh quang (TLD) liti flo dạng chip rắn tái sử dụng Phụ lục mang mục đính minh họa khơng có nghĩa loại phospho trạng thái vật lý phospho loại phospho khác không phù hợp để sử dụng đo liều xử lý xạ Mỗi loại dạng liều kế TLD yêu cầu qui trình áp dụng có khác chút Xem tài liệu tham khảo (3,17,18,19) mô tả loại liều kế TLD khác LiF dạng chip có số ưu điểm so với vài loại liều kế dạng liều kế TLD khác Một số ưu điểm bao gồm đặc tính hấp thụ xạ giống với nước dễ dàng sử dụng so với liều kế dạng bột Những nhược điểm sử dụng liều kế TLD LiF dạng chíp độ nhạy có bị giảm sau chiếu xạ Các liều kế TLD thảo luận đồng vị 6Li 7Li tự nhiên Nhìn chung loại liều kế (TLD) đồng vị gồm 6Li 7Li sử dụng để đo liều nơtron không đề cập tiêu chuẩn thực hành A1.2 Chuẩn bị liều kế A1.2.1 Luôn thao tác chip liều kế nhẹ nhàng cách để giảm thiểu tác động học khả làm xước làm hỏng liều kế Không cầm chip liều kế ngón tay bẩn nhằm tránh làm bẩn dây dầu lên chúng Khuyến cáo sử dụng bút chân không để thao tác; nhiên, sử dụng nhíp Các điểm tiếp xúc tất dụng cụ thao tác tay phải bọc tinh thể cacbon huỳnh quang TFE, A1.2.2 Thơng thường lần sử dụng, liều kế (TLD) nên tráng rượu metyl khan mức phân tích cho bay đến khô (20) Việc làm thêm TDL không cần thiết việc sử dụng thông thường A1.2.3 Tại thời điểm, giữ chip liều kế tốt cho làm thêm Việc làm chip cần q trình xử lý kéo dài (giảm độ nhạy) tinh thể phospho Nếu cần thiết phải làm chip khuyến cáo sử dụng qui trình sau (20): A1.2.3.1 Rửa chip liều kế triclo etylen 50 0C Có thể sử dụng dụng cụ làm sóng siêu âm A1.2.3.2 Làm chip liều kế rượu metyl khan cấp thuốc thử Có thể sử dụng dụng cụ làm sóng siêu âm A1.2.3.3 Đặt chip liều kế hai lớp khăn giấy bay đến khô A1.2.4 Nung chip liều kế h 400 0C cho phép làm mát nhanh Quá trình nung cần thiết sau chiếu xạ liều cao để tránh thay đổi độ nhạy liều Đối với q trình nung nóng, đặt chip khay vật chứa làm vật liệu mà không phản ứng với liều kế nhiệt độ nung, ví dụ thủy tinh boro-silicat chịu nhiệt độ cao Không sử dụng nhôm làm khay vật chứa để đựng liều kế để nung A1.2.5 Đối với chiếu xạ photon, chip liều kế bọc để đạt trạng thái cân điện tử liều kế (xem tiêu chuẩn ISO/ASTM Guide 51261) A1.3 Ảnh hưởng việc bảo quản vận chuyển liều kế A1.3.1 Cần giảm thiểu thời gian bảo quản vận chuyển liều kế khoảng thời gian chuẩn bị chiếu xạ khoảng thời gian chiếu xạ đọc kết Bảo quản liều kể tránh ánh sáng cực tím tránh tăng nhiệt độ q trình bảo quản vận chuyển áp dụng hệ số hiệu chỉnh cho hiệu ứng lên độ nhạy liều kế khoảng thời gian điều kiện bảo quản vận chuyển liều kế, hai điều kiện Các hệ số hiệu chỉnh để giảm độ nhạy suốt giai đoạn bảo quản liều kế trước sau chiếu xạ hiệu ứng nhiệt xác định theo qui trình ASTM Practice E 668 Những thay đổi độ ẩm không ảnh hưởng đến độ nhạy liều kế LiF dạng chip A1.4 Các qui trình chiếu xạ A1.4.1 Các qui trình sử dụng liều kế TLD trình chiếu xạ hiệu chuẩn sản xuất phụ thuộc vào điều kiện thiết bị chiếu xạ cụ thể phụ thuộc vào yêu cầu ứng dụng xử lý xạ Tuy nhiên, nên thận trọng việc xử lý với liều kế, ánh sáng chiếu vào liều kế, liều kế chiếu xạ nhiệt độ khác với điều kiện chiếu xạ thực tế Có thể áp dụng qui trình mơ tả điều A1.5 Đọc kết A1.5.1 Nên làm chip liều kế trước đọc kết quả, cần (xem A1.2.3) Các chip liều kế LiF đòi hỏi phải nung nhiệt độ thấp (khoảng 100 0C) khoảng thời gian chiếu xạ đọc kết để loại pic nhiệt độ thấp không ổn định hàm độ nhạy phổ đo Qui trình cần sử dụng tồn đường cong ánh sáng huỳnh quang độ nhạy (dòng đối kháng nhiệt độ) Đối với thiết bị đọc kết điều chỉnh nhiệt độ mức phân liệt sử dụng độ nhạy chiều cao pic, qui trình nung liều kế trước đọc kết không cần thiết A1.5.2 Các thông số thiết bị đọc kết nên điều chỉnh để đạt độ nhạy có tính lặp lại tồn liều hấp thụ đo Đối với thiết bị đọc kết có sử dụng trở nhiệt để nung nóng liều kế TLD, tốc độ gia nhiệt khoảng 30 0C/s thích hợp Các chip liều kế TLD nên gia nhiệt tới nhiệt độ khoảng 350 0C thời điểm cuối chu trình gia nhiệt Đối với thiết bị đọc khơng sử dụng khí nóng (nitơ) để gia nhiệt liều kế TLD, nhiệt độ khí khoảng 350 0C thời gian gia nhiệt khoảng từ 15 s đến 30 s thích hợp A1.5.3 Độ nhạy liều kế TLD đo chiều cao pic ánh sáng huỳnh quang đường cong nhiệt độ, ánh sáng huỳnh quang tích lũy chu trình gia nhiệt Đối với chu trình gia nhiệt có lặp lại tốt, chiều cao pic ánh sáng huỳnh quang đường cong nhiệt sử dụng Tuy nhiên, ánh sáng tích lũy thường thu cách thuận tiện đáp ứng yêu cầu nhiều trường hợp Khi sử dụng thiết bị đọc kết dùng nóng, ánh sáng tích lũy nên sử dụng, đường đẳng nhiệt phụ thuộc vào hướng quay liều kế TLD buồng thiết bị đọc, mà thông thường khơng thể kiểm sốt q trình Đối với thiết bị đọc kết mà tín hiệu tương tự (điện tích dòng đối kháng nhiệt độ) thu được, liệu phân tích phương pháp khác sử dụng để so sánh kết A1.5.4 Hầu hết thiết bị đọc liều kế TLD có trang bị số loại nguồn ánh sáng mà sử dụng để kiểm tra tính ổn định thiết bị đọc Qui trình cung cấp phép thử kiểm tra độ ổn định thiết bị đọc phần ánh sáng đo điện tử có liên quan với nó; khơng thực thử hiệu độ ổn định phận gia nhiệt đo nhiệt độ Do đó, việc sử dụng TLD kiểm tra-hiệu chuẩn mô tả 9.2 lần đọc kết khuyến cáo A1.6 Độ không đảm bảo phép đo liều A1.6.1 Ví dụ phép phân tích độ khơng đảm bảo đo hệ liều kế LiF dạng chip điển hình áp dụng xử lý xạ nêu Bảng A1.1 Bảng A1.2 Các bảng nhận dạng nguồn gốc độ không đảm bảo việc đánh giá mức độ chúng Các số liệu hệ liều kế TLD đặc trưng sử dụng theo qui trình khuyến cáo tiêu chuẩn thực hành Do đó, thích A Bảng A1.1, nguồn sai số tiềm tàng kỳ vọng khơng có ý nghĩa trường hợp A1.6.2 Các loại độ không đảm bảo đo đánh giá phương pháp thảo luận điều 11, cách phân loại Loại A Loại B, theo cách mà chúng đánh giá Các giá trị bảng đưa mức phân bố chuẩn (Loại A; xác định phương pháp thống kê chuẩn) mức phân bố chuẩn tương đương, (Loại B; xác định tất phương pháp khác) Bảng A1.1 nêu độ không đảm bảo đo liều kế TLD sử dụng chip riêng lẻ, việc nhận dạng hiệu chuẩn độ nhạy thực cho toàn trình sử dụng chip liều kế Bảng A1.1 - Ước tính độ khơng đảm bảo hệ liều kế LiF sử dụng chip riêng lẻ Nguồn không đảm bảo Giá trị liều hiệu chuẩn nguồn 60 Co Loại A (%) Loại B (%) 0,74 0,47 Xác định đường chuẩn 0,10 1,00 Thời gian chiếu xạ đọc kết quả: hệ số giảm độ nhạy 0,5 1,00 Hiệu chỉnh việc giảm cân vật liệu 2,00 Độ tái lập độ nhạy liều kế riêng lẻ 1,00 Tán xạ 1,00 Sự phụ thuộc vào suất liều hấp thụ A A Sự phụ thuộc vào lượng A A Hiệu ứng thời gian việc chuẩn bị đọc kết A A Sự phụ thuộc vào hướng A A Nhiệt độ trước, sau chiếu xạ A A Sự phụ thuộc vào độ ẩm A A ảnh hưởng kích thước liều kế TLD A A 1,68 2,49 Căn bậc hai tổng Tổng cộng 3,00 Tổng cộng x 6,0 A Khi phân tích độ khơng đảm bảo đo này, cho thấy hệ đo liều TLD sử dụng tạo sai số không đáng kể Tuy nhiên thừa nhận khơng đánh giá tất điều kiện sử dụng để xử lý xạ đo liều Nên tiến hành kiểm tra cẩn thận tất nguồn gốc độ không đảm bảo điều kiện chiếu xạ hệ TLD sử dụng ứng dụng cụ thể Bảng A1.2 đưa độ không đảm bảo đo liều kế TLD sử dụng mẻ khơng có chip nhận dạng nhóm độ nhạy hiệu chuẩn sử dụng Sự khác biệt liều kế mẻ liều kế cá nhân thảo luận tiêu chuẩn ASTM Practice E 668 A1.6.3 Các độ không đảm bảo đo cho khơng có mối tương quan Chúng liên kết với dạng bậc hai nhân lên thừa số hai để có độ khơng đảm bảo tổng thể tương đương với độ tin cậy khoảng 95 % Nếu mối tương quan vài độ không đảm bảo biết chúng cần tính đến [xem tài liệu tham khảo (16)] Bất kỳ phương pháp liên kết độ khơng đảm bảo sử dụng cần ghi lại kết đo liều Bảng A1.2 - Đánh giá độ không đảm bảo hệ liều kế LiF sử dụng mã mẻ liều kế Nguồn sai số Loại A (%) Loại B (%) Giá trị liều hiệu chuẩn nguồn 60 Co 0,74 0,47 Xác định đường chuẩn 0,10 2,00 Thời gian chiếu xạ đọc kết quả: hệ số giảm độ nhạy 0,5 3,00 Hiệu chỉnh việc giảm cân vật liệu 2,00 5,00 Sự phụ thuộc suất liều hấp thụ A A Sự phụ thuộc lượng A A Hiệu ứng thời gian chuẩn bị đọc kết A A Sự phụ thuộc vào hướng A A Sự không đồng mẻ độ nhạy Nhiệt độ trước, sau chiếu xạ A A Sự phụ thuộc vào độ ẩm A A ảnh hưởng kích thước liều kế TLD A A 5,08 4,15 Căn bậc hai tổng Tổng cộng 6,56 Tổng cộng x 13,1 A Khi phân tích độ khơng đảm bảo đo này, cho thấy hệ đo liều TLD sử dụng tạo sai số không đáng kể Tuy nhiên thừa nhận khơng đánh giá tất điều kiện sử dụng để xử lý xạ đo liều Nên tiến hành kiểm tra cẩn thận tất nguồn gây sai số điều kiện chiếu xạ hệ TLD sử dụng ứng dụng cụ thể THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO [1] McLaughlin, W L., Boyd, A W., Chadwick, K C, McDonald, J.C., and Miller, A., Dosimetry for Radiation Processing, Tayfor and Francis, Ltd, London, 1989 [2] Josephson, E S., and Peterson, M S., eds., Preservation of Food by Ionizing Radiation, 1, 2, 3, CRC Press, Boca Raton, FL, 1983 [3] Becker, K., Solid State Dosimetry, CRC Press, Cleveland, OH, 1973 [4] Daniels, F, "Early Studies of Thermoluminescence Radiation Dosimetry," in Luminescence Dosimetry, Proceeding of International Conference on Luminescence Dosimetry, CONF-650637, 1967, pp 34-43 [5] Schulman, J.H., Attix, F H., West, E.J., and Ginter, R.J., "Thermoluminescence Methods in Personnel Dosimetry," Proceedings of Symposium on Personnel Dosimetry Techniques, Madrid, OECD/ENEA, Paris, 1963, p 113 [6] Yamashita, T, Nada, N., Onishi, H., and Kitamura, S., "Calcium Sulfate Phosphor Activated By Rare Earth," Proceedings of Second International Symposium on Luminescence Dosimetry, CONF-680920, 1968, p [7] Schulman, J H., Kirk, R D., West, E J., "Use of Lithium Borate for Thermoluminescence Dosimetry," in Luminescence Dosimetry, Proceeding of International Conference on Luminescence Dosimetry, CONF-650637, 1967, p 113 [8] Osvay, M., and Biro, T, "Aluminum Oxide in Dosimetry," Nuclear Instruments and Methods, Vol 175, 1980, p 60 [9] McLaughlin, W L., "Standardization of High Dose Measurement of Electron and Gamma-Ray Absorbed Dose and Dose Rates," Proceedings of Symposium on High Dose Dosimetry, International Atomic Energy, STI/PUB/671, Vienna, 1985, pp 357-371 [10] Federal Register Notice (51FR 13376, 4-18-86) by U.S Food and Drug Administration: Final Rule on Food Irradiation Amending 21 CFR, Part 179 [11] TCVN 7247:2008 (CODEX STAN 106-1983, Rev.-2003) Thực phẩm chiếu xạ - Yêu cầu chung TCVN 7250:2008 (CAC/RCP 19-1979, Rev 2-2003)] Qui phạm vận hành thiết bị chiếu xạ xử lý thực phẩm, Codex Alimentarius Commission, Food and Agriculture Organization and World Health Organization, Rome, 2003 [12] Code of Federal Regulations, Title 21, 2, H, Part 820 [13] McKeever, S W S., Moscovitch, M., and Townsend, P D., "Thermoluminescence Dosimetry Materials -Properties and Uses", Nuclear Technology Publishing, Kent, England, ISBN 870965 191, 1995 [14] Natrella, M G., Experimental Statistics, NBS Handbook 91, U.S Government Printing Office, Washington, DC, 1963 [15] Marrone, M J., and Attix, F H., "Damage Effects in CaF2: Mn and LiF Thermoluminescent Dosimeters", Health Physics, Vol 10, 1964, pp.431-436 [16] "Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement", International Organization for Standardization, 1995, ISBN 92-67-10188-9.5 [17] Horowitz, Y S., Thermoluminescence and Thermoluminescent Dosimetry, Vol I, 11, Ill, CRC Press, Boca Raton, FL, 1984 [18] Cameron, J R., Suntharalingam, N., and Kenney, G N., Thermoluminescent Dosimetry, University of Wisconsin Press, Madison, WI, 1968 [19] Fowler, J F., and Attix, F H., "Solid State Integrating Dosimeters", Radiation Dosimetry, 2nd Ed, Vol 11, F H Attix, W C Roesch, and E Tochilin, eds., Academic Press, New York, NY, 1966, pp 269-290 [20] Solon Technologies, Inc., "The Care and Handling of Solid Thermoluminescent Dosimeters", Application Note TL-285, January 1987  ... tính, Gy LiF: Mg, Ti 1 0-5 - 1 - 103 LiF: Mg, Cu, P 1 0-6 - 10 Không áp dụng CaF2: Mn 10 - 10 10 - 103 CaF2: Dy 1 0-5 - 6 - x 102 CaF2: Tm 1 0-5 - 1 - 104 Al2O3: C 1 0-6 - 1 - 30 -5 Số in đậm dấu ngoặc... dẫn cuối Tiêu chuẩn 1 0-3 - 104 Không áp dụng BeO 1 0-4 - 1 - 102 MgO 1 0-4 - 104 Không áp dụng CaSO4: Dy CaSO4: Tm 1 0-5 - 10 10 - x 103 Li2B4O7: Mn 1 0-4 - 102 102 - 104 Li2B4O7: Cu 1 0-5 - 103 Không... TLD sử dụng liều kế chuẩn liều kế truyền chuẩn việc chiếu xạ liều kế cần thực phòng thử nghiệm chuẩn quốc gia chuẩn quốc tế công nhận sử dụng tiêu chí qui định tiêu chuẩn ISO/ASTM Practice 51400