DSpace at VNU: Xác định hàm lượng một số kim loại nặng trong rau xanh ở Thành phố Hà Nội bằng phương pháp PIXE

DSpace at VNU: Xác định hàm lượng một số kim loại nặng trong rau xanh ở Thành phố Hà Nội bằng phương pháp PIXE tài liệu,...

ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƯỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN - - Phùng Khắc Nam Hồ XÁC ĐỊNH HÀM LƯỢNG MỘT SỐ KIM LOẠI NẶNG TRONG RAU XANH Ở THÀNH PHỐ HÀ NỘI BẰNG PHƯƠNG PHÁP PIXE Chuyên ngành: Vật l{ nguyên tử Mã số: 60440106 LUẬN VĂN THẠC SĨ KHOA HỌC NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC PGS TS Bùi Văn Loát Hà Nội - 2016 LỜI CẢM ƠN Để hoàn thành Luận văn này, trước tiên em xin tỏ lòng biết ơn sâu sắc đến PGS TS Bùi Văn Loát, TS Nguyễn Thế Nghĩa, CN Bùi Thị Hoa tận tình truyền đạt kiến thức, tạo điều kiện thuận lợi để em tiến hành thực nghiệm hoàn thành Luận văn Em chân thành cảm ơn qu{ Thầy Cô Bộ môn Vật l{ hạt nhân, qu{ Thầy Cô khoa Vật l{ Trường Đại học Khoa học Tự nhiên tận tình truyền đạt kiến thức năm em học tập Với vốn kiến thức tiếp thu q trình học tập khơng tảng cho q trình nghiên cứu Luận văn mà hành trang qu{ báu để em bước vào đời cách vững tự tin Em xin gửi lời cảm ơn chân thành tới Ban chủ nhiệm Khoa Vật l{, phòng Sau đại học, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên quan tâm, tạo điều kiện giúp đỡ em hoàn thành Luận văn Qua em xin gửi lời cảm ơn tới nguời thân gia đình, bạn bè, đồng nghiệp chia sẻ với em buồn vui sống, ủng hộ giúp đỡ em để em thực tốt Luận văn Cuối em kính chúc qu{ Thầy Cô dồi sức khỏe, thành công nghiệp trồng nguời cao qu{ Dù có nhiều cố gắng, xong thời gian hạn chế nên Luận văn khó tránh khỏi thiếu xót hạn chế Em mong nhận đuợc bảo qu{ Thầy Cơ đóng góp { kiến tất bạn Em xin chân thành cảm ơn ! Hà Nội, ngày 30 tháng 11 năm 2016 Học viên PHÙNG KHẮC NAM HỒ MỤC LỤC MỞ ĐẦU CHƢƠNG - TỔNG QUAN 1.1 Giới thiệu chung rau xanh 1.1.1 Đặc điểm rau xanh 1.1.2.Tiêu chí rau an tồn 1.1.3 Các yếu tố gây ô nhiễm cho rau .9 1.2 Cơ sở lý thuyết phƣơng pháp phân tích PIXE .10 1.2.1.Tia X đặc trƣng Cơ chế phát tia X đặc trƣng gây chùm hạt 10 1.2.2 Hiệu ứng Auger hiệu suất huỳnh quang 12 1.2.2.1 Hiệu ứng Auger 12 1.2.2.2 Hiệu suất huỳnh quang 13 1.2.3 Năng suất hãm .14 1.2.4 Tiết diện ion hóa 15 1.2.5 Suất lƣợng tia X đặc trƣng 18 1.2.6 Các phƣơng pháp phân tích định lƣợng .20 1.2.7 Nguồn gốc phông giới hạn phát 22 1.2.7.1 Nguồn gốc phông 23 1.2.7.2 Giới hạn phát 25 CHƢƠNG - ĐỐI TƢỢNG VÀ PHƢƠNG PHÁP THỰC NGHIỆM 26 2.1 Đối tƣợng nghiên cứu .26 2.2 Thiết bị hệ phân tích PIXE .26 2.2.1 Máy gia tốc 5SDH-2 Pelletron .26 2.2.1.1 Nguồn ion 27 2.2.1.2 Buồng gia tốc 28 2.2.1.3 Các hệ thống phụ trợ 28 i 2.2.2 Buồng phân tích bố trí thí nghiệm 28 2.3 Phân tích mẫu dày kỹ thuật PIXE 30 2.3.1 Chuẩn bị mẫu 30 2.3.2 Tiến hành phép đo 32 2.3.3 Ghi nhận phổ 32 2.3.4 Phân tích phổ xử lý số liệu .33 CHƢƠNG - KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM 37 3.1 Xác định hệ số chuẩn H 37 3.2 Đánh giá độ xác phƣơng pháp phân tích PIXE mẫu dày (TTPIXE) 38 3.3 Đánh giá độ đồng mẫu độ lặp phép đoError! Bookmark not defined 3.4 Kết phân tích số mẫu rau xanh Hà NộiError! Bookmark not defined KẾT LUẬN Error! Bookmark not defined TÀI LIỆU THAM KHẢO 40 PHỤ LỤC Error! Bookmark not defined ii iii DANH MỤC ĐỒ THỊ, HÌNH VẼ Hình 1.1 Sơ đồ tạo lỗ trống (a) phát xạ tia X đặc trưng (b) bắn phá proton Hình 1.2 Sơ đồ tia X đặc trưng Hình 1.3 Quá trình phát electron Auger Hình 1.4 Tiết diện ion hóa vành K vành L theo lượng 11 Hình 1.5 Các tiết diện ion hóa vạch K, L (ECPSSR) M(CPWBA) hàm lượng ion tới (E/U) hạt tới proton U (keV) lượng biên hấp thụ nguyên tử bia 12 Hình 1.6 Mỗi quan hệ khác diện tích tiết diện chùm tia mẫu PIXE 14 Hình 1.7 Hình học chung cho phân tích mẫu dày TTPIXE 15 Hình 1.8 Sự đóng góp tương đối xạ QFEB, SEB, AB vào phông xạ hãm electron 20 Hình 2.1 Sơ đồ cấu tạo hệ máy gia tốc5SDH-2 Pelletron 23 Hình 2.2 Sơ đồ bố trí thí nghiệm 25 Hình 2.3 Buồng phân tích PIXE 26 Hình 2.4 Cửa sổ ghi nhận số liệu phần mềm RC43 30 Hình 2.5 Giao diện chương trình GUPIX 31 Hình 3.1 Phổ PIXE làm khớp mẫu chuẩn NIST-611: a) Phổ phép chiếu proton lượng thấp; b) Phổ phép chiếu proton lượng cao 37 Hình 3.2 Khuôn chứa mẫu loại mẫu rau (M6) 39 Hình 3.3 Hàm lượng nguyên tố bốn mẫu M6 giá trị trung bình qua lần đo thứ 41 Hình 3.4 Hàm lượng nguyên tố bốn mẫu M6 giá trị trung bình qua lần đo thứ hai 42 Hình 3.5 Hệ số biến thiên hàm lượng nguyên tố mẫu M6 qua hai lần đo 42 iv Hình 3.6 Hệ số biến thiên hàm lượng nguyên tố qua hai lần đo mẫu: M6-1, M62, M6-3,M6-4 43 Hình 3.7 Phổ PIXE sau làm khớp mẫu M 1: a) Phổ phép đo lượng thấp; b) Phổ phép đo lượng cao 46 v DANH MỤC BẢNG BIỂU Bảng 1.1 Các hệ số Bi cơng thức tính hiệu suất huznh quang vạch Kvà vạch L 10 Bảng 1.2 Các hệ số công thức (1.16) 13 Bảng 2.1 Thông tin mẫu đo 28 Bảng 3.1 File HED vạch K (trong phép chiếu proton lượng thấp - 835 keV) 35 Bảng 3.2 File HED vạch K (trong phép chiếu proton lượng cao - 2619 keV) 36 Bảng 3.3 File HED vạch L (trong phép chiếu proton lượng cao 2619 keV) 36 Bảng 3.4 Kết phân tích mẫu chuẩn NIST-611, so sánh với giá trị chuẩn 38 Bảng 3.5 Đánh giá độ đồng mẫu thông qua hàm lượng số nguyên tố mẫu M6 (đơn vị hàm lượng: ppm) 40 Bảng 3.6 So sánh hàm lượng nguyên tố mẫu M6-1 qua hai lần đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 44 Bảng 3.7 So sánh hàm lượng nguyên tố mẫu M6-2 qua hai lần đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 44 Bảng 3.8 So sánh hàm lượng nguyên tố mẫu M6-3 qua hai lần đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 45 Bảng 3.9 So sánh hàm lượng nguyên tố mẫu M6-4 qua hai lần đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 45 Bảng 3.10 Kết phân tích mẫu M1 47 Bảng 3.11 Hàm lượng kim loại nặng mẫu rau muống tươi 48 Bảng 3.12 Hàm lượng kim loại nặng mẫu rau cải bắp tươi 48 Bảng 3.13 Hàm lượng kim loại nặng mẫu rau cải xanh tươi 49 Bảng 3.14 Giá trị RfD cho số kim loại nặng 50 Bảng 3.15 Giá trị HQ rau muống 51 Bảng 3.16 Giá trị HQ rau cải bắp 51 Bảng 3.17 Giá trị HQ rau cải xanh 51 vi DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT TT Từ viết tắt AAS AB AES ICP-MS IRIS Integrated Risk Information System FAO Food and Organization of Nations FWHM 10 GUPIX LOD MCA 11 QFEB 12 PIXE 13 14 PVAC PWBA 15 RF 16 SEB 17 SNICS 18 TTPIXE 19 US-EPA 20 WHO Giải thích tiếng Anh Giải thích tiếng Việt Phương pháp phổ hấp thụ Atomic AbsorptionSpectroscopy nguyên tử Atomic Bremsstrahlung Bức xạ hãm nguyên tử Phương pháp phổ phát xạ Atomic Emission Spectroscopy nguyên tử Inductively Coupled Plasma Mass Phương pháp phổ khối plasma Spectrometry cao tần cảm ứng Hệ thống thông tin rủi ro tích hợp Agriculture Tổ chức Lương thực Nơng the United nghiệp Liên Hiệp Quốc Độ rộng tồn phần nửa chiều cao cực đại Phần phềm phân tích phổ Guelph Pixe Group Limit Of Detection Giới hạn phát Multi Channel Analyzer Máy phân tích đa kênh Quasi-Free Electron Bức xạ hãm electron Bremsstrahlung tự Phương pháp phân tích phát xạ Partical Induced X-ray Emission tia X kích thích chùm hạt Polyvinyl Acetate Nhựa polyvinyl axêtát Plane Wave Born Approximation L{ thuyết gần Nguồn tạo ion từ dao động cao Radio Frequency tần Secondary Electron Bức xạ hãm electron thứ cấp Bremsstrahlung Soure of Negative Ions by Cecium Nguồn tạo ion âm phún xạ Sputtering Cecium Phương pháp phân tích mẫu Thick target Partical Induced Xdày phát xạ tia X kích thích ray Emission chùm hạt Full Width at Hafl Maximum UnitedStates Environmental Protection Agency Cơ quan bảo vệ Môi trường Mỹ World Health Organization Tổ chức y tế giới vii Hình 2.2 Sơ đồ bố trí thí nghiệm Hình 2.3 Buồng phân tích PIXE * Collimator Collimator thường đặt trước buồng chứa mẫu có tác dụng giới hạn kích thước chùm tia Buồng chứa mẫu làm hợp kim thép giữ chân khơng cao Collect data, cửa sổ ghi nhận số liệu lên Hình 2.4 Các thơng số chùm tia lượng, cường độ dòng hiển thị cửa sổ 33 - Để tiến hành thu thập số liệu, ta phải nhập trước tổng điện tích Q (đơn vị μC) vào ô “Charge μC”, tùy theo cường độ chùm tia mà thời gian đo phụ thuộc vào tổng điện tích đặt trước Tên tệp liệu nhập ô Filename - Bắt đầu tiến hành ghi nhận số liệu cách kích vào nút Manual collect, chương trình tự động điều khiển mở Faraday cup trước buồng chiếu chùm tia vào đồng thời mở (gate) MCA để bắt đầu ghi nhận số liệu Toàn số liệu phổ từ MCA tương ứng với detector buồng chiếu sau kết thúc đo lưu lại thành tệp tin với đuôi mở rộng *.PIX, *.RBS, *.RBG *.NRA Hình 2.4 Cửa sổ ghi nhận số liệu phần mềm RC43 2.3.4 Phân tích phổ xử lý số liệu Phổ PIXE xử l{ chương trình GUPIX, viết ngơn ngữ C++ phát triển Alanna Weatherstone, Mike Vormwald, Nicholas Boyd and Iain Campbell GUPIX sử dụng thuật tốn bình phương tối thiểu phi tuyến để tiến hành khớp phổ tính tốn hàm lượng dựa diện tích đỉnh phổ tia X đặc trưng nhận diện nhập vào chương trình [10] Giao diện chương trình GUPIX minh họa Hình 2.5, biểu diễn cửa sổ sử dụng để nhập điều kiện thực nghiệm như: vị trí đặt detector, lượng chùm tia tới, hấp thụ, điện tích tổng, hệ số chuẩn H… * Các bước phân tích phổ PIXE tiến hành sau: 34 1) Chọn phổ PIXE mẫu chuẩn lưu định dạng PIX cách vào mục File, chọn New Project lựa chọn tệp tin tương ứng 2) Tiến hành chuẩn lượng cho hệ phân tích cách kích vào nút Begin mục Calibration, chọn hai đỉnh lượng nguyên tố biết phổ PIXE mẫu chuẩn nhập vào lượng tia X tương ứng Hình 2.5 Giao diện chương trình GUPIX 3) Chọn phổ PIXE mẫu đo giữ nguyên thông số chuẩn lượng cách vào mục File, chọn Replace Spectrum 4) Vào mục Setup, chọn Solution type phù hợp với phương pháp đo mẫu dày: - Ở phép chiếu proton lượng thấp ta sử dụng lựa chọn “Iterated Matrix Solution” GUPIX để phần mềm tiến hành bước lặp để xác định hàm lượng nguyên tố (như đề cập Phần 1.2.6) Ngoài ra, hệ số chuẩn H trường hợp thay đổi theo lượng tia X xác định việc sử dụng mẫu chuẩn NIST 611 - Trong phép chiếu proton lượng cao, lựa chọn “Fixed Matrix Solution” sử dụng với thành phần nguyên tố nhập vào từ kết phân tích phổ phép chiếu lượng thấp Hệ số chuẩn H tương tự xác định phổ mẫu chuẩn NIST 611 5) Cài đặt thơng số thí nghiệm: Vào mục Setup, chọn Setup: Các thơng số cần nhập bao gồm: + Góc chùm tia tới mặt phẳng mẫu Beam normal + Góc đặt detector so với mặt phẳng mẫu X-ray normal 35 + Loại chùm tia tới Ion + Năng lượng chùm tia tới Energy(keV) + Dòng tổng cộng Beam Q + Phương thức tính tốn tiết diện Cross-section + Chọn loại detector mục Select a Detector, có danh sách detector định nghĩa file AP0DET.DAT + Các tính hiệu suất ghi detector: Thường sử dụng lựa chọn Efficiency from Fomula, chương trình dựa vào file định nghĩa detector để tính tốn hiệu suất ghi Lựa chọn Efficiency from DETMC file tính hiệu suất ghi dựa vào chương trình Monte carlo DETMC + Hệ số chuẩn H: Hệ số chuẩn H đưa với phần mềm GUPIX khơng sử dụng để chuẩn hóa thơng số hệ thống dòng tổng cộng Q, góc khối Ω, hiệu suất ghi εZ, hệ số suy giảm lọc tZmà cho phép phần mềm thực tính tốn phương pháp chuẩn hay chuẩn áp dụng.Phần mềm sử dụng công thức (1.23) để xác định hệ số H Thơng thường khơng có hiệu chỉnh thơng số hệ thống hệ số H giá trị góc khối Ω Hệ số chuẩn H phần mềm khơng đổi thay đổi theo lượng tia X Việc đặt hệ số chuẩn thay đổi theo lượng ta muốn chuẩn hóa thành phần phụ thuộc lượng tia X hiệu suất ghi εZ, hệ số suy giảm lọc tZ Nếu hệ số H thay đổi theo lượng ta cần nhập vào tập tin H K,L,M tương ứng với tia X vạch K, L, M Các tập tin có định dạng với cột lượng tia X cột hệ số chuẩn H tương ứng Thông thường xét đến nguyên tố vạch K nên cần nhập vào đường dẫn tới tập tin H K, ta xác định hàm lượng thơng qua vạch L, M phải có tập tin đầu vào tương ứng 6) Tiếp theo phần chọn loại lọc độ dày: Trong phần Setup, chọn Filter để điền thông số lọc sử dụng, GUPIX cho phép nhập thông tin lọc theo số hiệu nguyên tử Z, lọc hợp chất, GUPIX cho sẵn loại lọc Mylar, Acrylic, Air, Ice, Polyethylene, Kapton, Markrofol 7) Nhập thông tin loại mẫu: Vào mục Sample, chọn Sample structure chọn loại mẫu phân tích 8) Nhập vào nguyên tố để phân tích: Vào mục Sample, chọn Fixed Matrix Solution>Define fit elements nhập vào nguyên tố có mặt phổ, xác định cách di chuyển nguyên tố mục Show X-ray Energy giao diện chương trình để kiểm tra xem có đỉnh phổ tia X đặc trưng nguyên tố xuất phổ hay không 9) Nhập thông tin khớp phổ: Vào mục Fit, chọn Spectrum detail 36 Nhập thông tin vùng kênh khớp phổ ô Region of Fit, thông số chuẩn lượng (các tham số A1,A2,A3) chuẩn độ phân giải detector (A4,A5) ô Calibration Parameters Các thông số chuẩn lượng chương trìnhtính tốn sau thực bước 1, thông số A4, A5 detector dùng thí nghiệm Sau tiến hành phân tích xong, thơng số từ A1 đến A5 chương trình xác hóa lại Các giá trị xác hóa nhập lại để kết tính tốn xác Trong ô Digital Bacground Filter, tiến hành lựa chọn thuật toán làm trơn phổ cách chọn lọc Variable UW, LW mục Filter Options 10) Sau cùng, mục Gupix, chọn Run, cửa sổ lên, đặt tên cho tệp tin GUPIX có định dạng PAR để lưu lại tất thông tin nhập phổ PIXE tương ứng, chọn Ok để chương trình bắt đầu tiến hành phân tích, cho kết 11) Kết phân tích hiển thị phổ khớp đồ thị Residual biểu diễn hiệu phổ thực tế phổ khớp, thông thường kết tính tốn chấp nhận toàn vùng khớp giá trị Residual nhỏ 10 Các thơng tin q trình tính tốn kết tính tốn hàm lượng hiển thị kích vào nút View Stats Ta xuất kết tính tốn định dạng Excel cách kích vào nút Output Manager Các nguyên tố nhận diện nhập vào chương trình GUPIX dựa vào lượng đỉnh phổ tia X đặc trưng, phổ chuẩn lượng sử dụng mẫu chuẩn biết thành phần nguyên tố 37 CHƢƠNG - KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM 3.1 Xác định hệ số chuẩn H Phép phân tích PIXE chủ yếu dựa việc xác định giá trị hệ số chuẩn H Các giá trị H nhập vào file HED File HED chứa giá trị H theo lượng tia X đặc trưng Sử dụng file HED file PAR xác định hàm lượng nguyên tố mẫu Về mặt vật l{, giá trị H góc khối Ω tạo tia X tới detector, xác định sau: 𝐴 Ω = 𝐻 = 𝑑2 (3.1) Trong A diện tích detector d khoảng cách từ mẫu tới detector Trong bố trí thí nghiệm A=30 mm2, d=159 mm, H=0.001187 Khi sử dụng phần mềm GUPIX để phân tích, phép lặp ta nhập H= 0.001187 Để chuẩn H ta sử dụng mẫu chuẩn NIST-611 Chúng xây dựng file HED phép chiếu proton lượng thấp (835 keV) phép chiếu proton lượng cao (2619 keV) File HED phép chiếu chiếu lượng thấp dùng để phân tích nguên tố ma trận mẫu (các nguyên tố trước Fe), file HED phép chiếu lượng cao dùng để phân tích nguyên tố sau Fe Giá trị chuẩn H trình bày bảng:Bảng 3.1, Bảng 3.2, Bảng 3.3 Bảng 3.1 File HED vạch K (trong phép chiếu proton lượng thấp 835 keV) STT Năng lượng tia X đặc trưng Giá trị H (keV) 1.041 0.000726 1.487 0.000922 38 1.739 0.000773 3.692 0.000734 Bảng 3.2 File HED vạch K (trong phép chiếu proton lượng cao 2619 keV) Năng lượng tia X đặc trưng (keV) 6.404 0.000227 6.93 0.000258 7.478 0.000218 8.048 0.000256 8.639 0.000350 10.543 0.000428 13.395 0.000533 14.958 0.000664 STT Giá trị H Bảng 3.3 File HED vạch L (trong phép chiếu proton lượng cao 2619 keV) Năng lượng tia X đặc trưng (keV) 4.466 0.000135 10.552 0.000401 12.969 0.000430 13.615 0.000390 STT Giá trị H 3.2 Đánh giá độ xác phương pháp phân tích PIXE mẫu dày (TTPIXE) Để đánh giá độ xác phương pháp TTPIXE, sử dụng mẫu chuẩn NIST-611 Phổ tia X PIXE mẫu chuẩn NIST-611 phép chiếu proton lượng thấp phép chiếu proton lượng cao Hình 3.1 Trong phép chiếu proton lượng thấpchỉ dùng nguyên tố: Na, Al, Si, Ca mẫu chuẩn NIST611 để chuẩn giá trị H, phép chiếu proton lượng cao dùng nguyên tố: Fe, Cu Zn Sr mẫu chuẩn NIST611 để chuẩn H tương ứng với vạch K, dùng nguyên tố(Ba, Th) mẫu chuẩn NIST611 để chuẩn giá trị H tương ứng với vạch L Các nguyên tố khác mẫu chuẩn NIST611 phân tích so sánh đối chứng với giá trị hàm lượng mẫu chuẩn (Bảng 3.4) 39 a) b) Hình 3.1 Phổ PIXE làm khớp mẫu chuẩn NIST-611: a) Phổ phép chiếu proton lượng thấp; b) Phổ phép chiếu proton lượng cao Bảng 3.4 Kết phân tích mẫu chuẩn NIST-611, so sánh với giá trị chuẩn STT Nguyên tố+Vạch tia X Hàm lượng đo Hàm lượng chuẩn đặc trưng (ppm) (ppm) 40 Độ lệch (%) Na* K 103846.3±924.2 103848.4 0.002 Al* K 10588.7±91.1 10585 0.035 Si* K 336639.7±336.6 336553.1 0.026 KK 808.4±45.0 461 75 Ca* K 85760.9±308.7 85762.9 0.0023 10 Ti K 427.7±58.6 437 2.1 12 CrK 389.1±82.5 415 6.2 13 Mn K 471.9±104.9 457.4 3.2 14 Fe** K 458,0±17.2 458 15 Co K 425.8±17.3 390 9.2 16 Ni K 407.3±19.5 458.7 11.2 17 Cu** K 444.0±22.4 444 18 Zn** K 433±16.2 433 19 As K 329.1±20.0 340 3.2 20 Se K 166,0±16.1 115.2 44 21 Rb K 390.9±31.5 427.7 8.6 22 Sr** K 515.7±35.4 515.5 0.039 23 Cd L 504.4±142.9 244 106 24 Ba** L 453.0±125.7 453 25 Tl L 108.5±51.5 61.8 76 26 Pb L 493.0±74.4 426 15.73 27 Th** L 457.2±76.6 457.2 28 UL 418.3±94.4 461.5 9.36 (* nguyên tố sử dụng chuẩn H phép chiếu proton lượng thấp ** Các nguyên tố sử dụng chuẩn H phép chiếu proton lượng cao) TÀI LIỆU THAM KHẢO 41 Tiếng Việt Bộ Y tế (2007), Quy định giới hạn tối đa nhiễm sinh học hóa học thực phẩm, Quyết định số 46-2007-QĐ-BYT ngày 19 tháng 12 năm 2007 Phạm Luận (2002), Cở sở lý thuyết phương pháp phân tích phổ khối lượng nguyên tử, phép đo phổ ICP-MS, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên - Đại học Quốc gia Hà Nội Phạm Luận (2003), Phương pháp phân tích phổ nguyên tử, nhà sản xuất Đại học Quốc gia Hà Nội Viện Dinh dưỡng (2011 ), Kết diều tra Thừa cân - béo phì số yếu tố liên quan nguời Việt Nam 25- 64 tuổi Truy cập ngày 30/10/2016, trang web http://viendinhduong.vn/news Tiếng Anh Alina Kabata-Pendias, Arun B.Mukherjee (2007), Trace elements from soil to Human, Spinger, Berlin C.I Adamu, T.N Nganje, Aniekan Edet (2015), “Heavy metal contamination and health risk assessment associated with abandoned barite mines in Cross River State, southeastern Nigeria”, Environmental Nanotechnology, Monitoring & Management 3, p 10-21 D.D Cohen, M.Harrigan (1985), “K- and L-shell ionization cross sections for protons and helium ions calculated in the ecpssr theory”, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 33, pp 255-343 F Folkmann, C Gaarde, T Huus, K Kemp (1974), “Proton induced X-ray emission as a tool for trace element analysis”, Nucl Instrum Methods, 116, pp 487-499 G Nabulo, S.D Young, C.R Black (2010), “Assessing risk to human health from tropical leafy vegetables grown on contaminated urban soils”, Science of the Total Environment 408(22), p 5338-5351 10 J.A Maxwell, W.J Teesdale, J.L Campbell (1995), “The Guelph PIXE software package II”, Nucl Instrum Methods B, 95, pp 407-421 11 J.P Thomas, A Cachard (1987), Material Characterization using ion beams, Plenum Press, London and New York 42 12 J R Bird, J S Williams (1989), Ion Beams for Materials Analysis, Academic Press, Australia 13 H.P.M Kivits (1980), Particle induced X-ray emission for quantitative trace-element analysis using the Eindhoven cyclotron, Thesis, Eindhoven University of Technology, Netherlands 14 H.R Verma (2007), Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques, Spinger, Berlin 15 K Ishii, S Morita (1987), “Scaling law for a continuum of X-ray produced by light-ion atom collision”, Nucl Instrum Methods B, 22, p 68-71 16 Kjell-Erik Saarela (2009), Element analysis of wood materials by external millibeam thick target PIXE, Thesis for doctoral degree, Åbo Akademi University, Åbo, Finland 17 Le Hong Khiem, Nguyen The Nghia, Vi Ho Phong, Bui Van Loat (2014), “Proton induced X-ray emission (PIXE) analysis on thick samples at HUS 5SDH-2 Tandem accelerator system”, Communication in Physics, 24 (3S2), pp 12-18 18 Mehjbeen Javed and Nazura Usmani , “Accumulation of heavy metals and human health risk assessment via the consumption of freshwater fish Mastacembelus armatus inhabiting, thermal power plant effluent loaded canal”, SpringerPlus 5(1):776, p.1-8 19 Mohammad Reza Abdi, Khadijeh Rezaee-Ebrahim-Saraee, Mehdi Rezvani Fard, and Milad Baradaran-Ghahfarokhi, “Potential health concerns of trace elements and mineral content in commonly consumed greenhouse vegetables in Isfahan, Iran”, Advanced Biomedical Research 4: 214 20 René E Van Grieken, Andrzej A Markowicz (2002), Handbook of X-Ray Spectrometry: Second Edition, Revised and Expanded, Marcel Dekker, New York and Basel 21 Sven A.E Johansson, J.L Campbell (1988), PIXE: A Novel Technique for Elemental Analysis, John Wiley and Sons, Chichester and New York 22 Sven A.E Johansson, Thomas B Johansson (1976), “Analytical application of particle induced X-ray emission”, Nucl Instrum Methods, 137, pp 473-516 43 23 T.B Johansson, R Akselsson, S.A.E Johansson (1970), “X-ray analysis: elemental trace analysis at the 10-12g level”, Nucl Instrum Methods, 84, pp 141-143 24 Werner Brandt, Grzegorz Lapicki (1979), “L-shell Coulomb ionization by heavy charged particles”, Phys Rev A, 20, p 465 25 Werner Brandt, Grzegorz Lapicki (1981), “Energy-loss effect in inner-shell Coulomb ionization by heavy charged particles”, Phys Rev A, 23, p.1717 44 ... qua phương pháp PIXE ngày khẳng định tính ưu việt phân tích hàm lượng nguyên tố Vì l{ trên, tác giả lựa chọn đề tài: Xác định hàm lượng số kim loại nặng rau xanh Thành phố Hà Nội phương pháp PIXE .Mục... đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 45 Bảng 3.10 Kết phân tích mẫu M1 47 Bảng 3.11 Hàm lượng kim loại nặng mẫu rau muống tươi 48 Bảng 3.12 Hàm lượng kim loại nặng mẫu rau cải bắp... qua hàm lượng số nguyên tố mẫu M6 (đơn vị hàm lượng: ppm) 40 Bảng 3.6 So sánh hàm lượng nguyên tố mẫu M6-1 qua hai lần đo (đơn vị hàm lượng: ppm) 44 Bảng 3.7 So sánh hàm lượng