Phương pháp vi phân tích bằng đầu dò điện tử là phương pháp phân tích vật liệu trong môn học Vật lý kỹ thuật màng mỏng. Bằng thiết bị này, có thể khảo sát phân bố thành phần cấu tạo của màng mỏng bằng cách quan sát chụp ảnh bề mặt của mẫu bằng SEM, sau đó phân tích thành phần cấu tạo bằng EPMA.
Trang 1Seminar và thảo
luận nhóm về công nghệ nano
Trang 2Nhóm 10 !
Ngô Mạnh Hùng – Trần Văn Hiệp Đồng Xuân Minh
Trang 3Nội dung chính
› Qúa trình tương tác của chùm tia
điện tử với vật rắn
› So sánh phương pháp vi phân tích với huỳnh quang tia X
Trang 4Phương pháp vi
phân tích bằng đầu
dò
điện tử
Trang 5Qúa trình tương tác của chùm tia
điện tử với
vật rắn
Trang 6Tương tác của chùm tia điện
tử với vật rắn
› Chiếu chum tia điện tử có
động năng cao chiếu qua
chất rắn
>> phân tích vân giao thoa để
xác định cấu trúc vật rắn
Công thức tổng quát của bước
sóng
Trang 7
Nhiễu xạ điện tử năng lượng thấp
› Sử dụng các chùm
điện tử có năng
lượng thấp (10-600
V) chiếu tán xạ trên
bề mặt mẫu
› Năng lượng thấp
>> chỉ tương tác
với lớp mỏng trên
bề măt mẫu
Trang 8Nhiễu xạ điện tử có năng lượng cao
› Sử dụng các chùm
điện tử có năng
lượng cao (5-100
kV) chiếu tán xạ trên bề
mặt mẫu
› Năng lượng cao >>
rất nhạy với các tính
chất tinh thể học ở
bề mặt mẫu
Trang 9Nhiễu xạ điện tử lựa chọn vùng
› Sử dụng 1 chùm tia
song song chiếu qua 1
vùng chất rắn được lựa
chọn
› dễ dàng lựa chọn 1
vùng trên mẫu và chiếu
chùm điện tử xuyên qua
nhờ khẩu độ lựa chọn
vùng
>> khó phân tích cấu trúc
từng hạt tinh thể nhỏ do
thực hiện trên 1 vùng diện
tích khá rộng
Trang 10Nhiễu xạ chùm điện tử hội tụ
› hội tụ 1 chùm điện
tử hẹp chiếu qua
mẫu cần phân tích
>> phân tích 1 diện
tích rất nhỏ
>> có nhiều chùm tán
xạ theo các phương
khác nhau
Trang 11Sự giống nhau
giữa phương pháp
vi phân tích với
huỳnh quang tia X
Trang 12a, Nguyên lý hoạt động
Sử dụng chum hạt mang năng
lượng bắn vào mẫu .
Các electron lớp trong bật ra và được thay thế bằng các
e khác tạo ra nguồn X-ray có tần số đặc trưng
Trang 13Sử dụng bức xạ đặc trưng để phân tích thành phần và nồng độ các chất hóa học trong mẫu
a, Nguyên lý hoạt động
Trang 14b, Mục đích sử dụng
Khoa học vật liệu và kỹ thuật
Khoáng vật học và thạch học
Cổ sinh vật học Phân tích thiên thạch
Trang 16Sự khác nhau
giữa phương pháp
vi phân tích với
huỳnh quang tia X
Trang 17Phát ra tia X có bước sóng
đặc trưng để phân tích
2, Dùng tia X hoặc tia Gamma bắn phá với năng lượng cao
Phân tích đầu dò
điện tử
Huỳnh quang tia X
Trang 18Phân tích được tất cả các
nguyên tố trừ H , He , Li.
3,
Phân tích trong EPMA là có
năng lượng giữa
0,12-10keV.
4,
Kỹ thuật này có độ phân
giải không gian cao , độ
nhạy và phân tích cá nhân
chỉ cần 1 hay 2 phút
2, Các nguyên tố nhẹ hơn Na (Z=11) không thể phân tích bằng phương pháp XRF và tìm ra chất mới
3, X-quang dải năng lượng khoảng 0,12-120 keV 4,
Phân tích được các nguyên
tố vi lượng trong khoảng 10 s.
Trang 19Tài liệu tham khảo
1 Các phương pháp phân tích vật liệu , Nguyễn Năng Định(chủ biên) , Nguyễn Phương Hoài Nam , Phạm Đức Thắng , NXB Đại học quốc gia Hà Nội
2 Electron Diffraction, Boston University ,
http://
physics.bu.edu/ulab/modern/Electron-Diffraction.pdf
3 Electron Diffraction, University of Toronto ,
http:// faraday.physics.utoronto.ca/IYearLab/elecdiff.pdf
Trang 20Any questions?