I E C 62 7 ® Edition 1 201 5-09 C ON S OLI D ATE D VE RS I ON VE RS I ON C ON S OLI D É E LE D m od u l es for g en eral l i g h ti n g – Perform an ce re q u i re m en ts IEC 6271 7:201 4-1 2+AMD1 :201 5-09 CSV(en-fr) M od u l e s d e LE D pou r écl rag e g é n éral – E xi g en ces d e perform an ce colour i n sid e T H I S P U B L I C AT I O N I S C O P YRI G H T P RO T E C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e v a , S wi tz e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about I EC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local I EC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Ab ou t th e I E C The I nternational Electrotechnical Commission (I EC) is the leading global organization that prepares and publishes I nternational Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i ca ti o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I E C Catal og u e - webstore i ec ch /catal og u e The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad I E C pu bl i cati on s s earch - www i ec ch /search pu b The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications E l ectroped i a - www el ectroped i a org The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C G l os sary - s td i ec ch /g l oss ary More than 60 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u stom er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A propos d e l 'I E C La Commission Electrotechnique I nternationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A propos d es pu bl i cati on s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal og u e I E C - webstore i ec ch /catal og u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad Rech erch e d e pu bl i cati on s I E C - www i ec ch /search pu b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectroped i a - www el ectroped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient plus de 30 000 termes et dộfinitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes équivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l oss re I E C - s td i ec ch /g l ossary Plus de 60 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Dộfinitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I E C J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stpu bl i sh ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email S ervi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 62 7 ® Edition 1 201 5-09 C ON S OLI D ATE D VE RS I ON VE RS I ON C ON S OLI D É E colour i n sid e LE D m od u l es for g en e ral l i g h ti n g – Pe rform an ce req u i rem e n ts M od u l e s d e LE D pou r é cl rag e g é n é ral – E xi g e n ces d e perform an ce INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 29.1 40.99 ISBN 978-2-8322-2940-8 Warn i n g ! M ake s u re th at you ob tai n ed th i s pu bl i ca ti on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s ass u rer q u e vou s avez obten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri b u teu r ag ré é ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission I E C 62 7 ® Edition 1 201 5-09 RE D LI N E VE RS I ON VE RS I ON RE D LI N E colour i n sid e LE D m od u l es for g en eral l i g h ti n g – Perform an ce re q u i re m en ts IEC 6271 7:201 4-1 2+AMD1 :201 5-09 CSV(en-fr) M od u l e s d e LE D pou r écl rag e g é n éral – E xi g en ces d e perform an ce –2– I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 CONTENTS FOREWORD I NTRODUCTI ON Scope 1 General Statem ent Norm ative references Terms and definitions 1 Marking 4 Mandatory m arking 4 Additional m arking 5 Dim ensions 6 Test conditions 6 General test conditions 6 Creation of module families to reduce test effort General 2 Variations within a famil y Compliance testing of family m embers Electrical LED m odule input LED m odule power Displacement factor (u.c ) Light output Lum inous flux Lum inous intensity distribution, peak intensity and beam angle General 2 Measurement Lum inous intensity distribution 20 Peak intensity value 20 Beam angle value 20 Lum inous efficacy 20 Chrom aticity coordinates, correlated colour temperature (CCT) and colour rendering 20 Chrom aticity coordinates 20 Correlated colour tem perature (CCT) 21 Colour rendering index (CRI ) 21 LED m odule life 22 1 General 22 Lum en maintenance 22 Endurance tests 23 General 23 Tem perature cycling test 24 3 Supply switching test 25 Accelerated operation life test 25 1 Verification 26 I nform ation for luminaire design 26 I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV –3– © I EC 201 Annex A (norm ative) Method of m easuring LED m odule characteristics 27 A General 27 A Electrical characteristics 28 A 2.1 Test voltage, current or power 28 A 2.2 Ageing 28 A Photom etric characteristics 28 A 3.1 Test voltage, current or power 28 A 3.2 Lum inous flux 28 A 3.3 Lum inous intensity distribution 28 A 3.4 Peak intensity 29 A 3.5 Beam angle 29 A 3.6 Colour rendering 29 A 3.7 Chrom aticity coordinate values 29 Annex B (informative) I nform ation for lum inaire design 30 B Temperature stability 30 B Binning procedure of white colour LEDs 30 B I ngress protection 30 Annex C (inform ative) Explanation of recommended LED procuct lifetime metrics 31 C General 31 C Life tim e specification for gradual light output degradation 32 C Lifetime specification for abrupt light output degradation 33 C Combined gradual and abrupt light output degradation 33 C Overview of LED lifetime m etrics and related lighting product groups 35 C Example lifetime m etric values 36 Annex D (norm ative) Explanation of the photometric code 38 Annex E (normative) Measurem ent of displacem ent factor 39 E General 39 E Phase shift angle definition 39 E Measurem ents requirements 40 E 3.1 Measurement circuit and suppl y source 40 E 3.2 Requirem ents for measurem ent equipm ent 40 E 3.3 Test conditions 40 Annex F (inform ative) Explanation of displacem ent factor 41 F.1 General 41 F.2 Recomm ended values for displacement factor 42 Annex G (inform ative) Examples of LED dies and LED packages 43 G.1 LED die 43 G.2 LED package 44 Annex H (inform ative) Test equipment for temperature measurem ent 45 H General 45 H Set-up and procedure 45 Annex I (norm ative) Use of I ES LM-80 for lum en maintenance, colour rendering index and maintained chrom aticity coordinates data 46 I.1 General 46 I.2 Criteria for the use of I ES LM-80 46 I LED package data used for LED m odules 46 I 2 LED module with I ES LM -80 data 46 I Boundary conditions 46 –4– I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 I.3 Compliance criteria 47 I Chrom aticity coordinates 47 I Colour rendering index (CRI ) 47 I 3 Lum en maintenance factor 47 Bibliograph y 48 Figure – Types of LED modules Figure – Lum inous flux depreciation over test time 23 Figure C.1 – Lum en output over life of a LED-based lum inaire comprised of a single LED module 31 Figure C.2 – Life tim e specification for gradual light output degradation 32 Figure C.3 – Reliability curve R abrupt for abrupt light output degradation 33 Figure C.4 – Reliability curve R gradual for gradual light output degradation 34 Figure C.5 – Combined R gradual and R abrupt degradation 35 Figure C.6 – Overview of LED lifetime metrics 36 Figure E – Definition of the fundamental current phase shift angle φ ( I1 leads Um ains , φ > 0) 39 Figure E – Definition of the fundamental current phase shift angle φ ( I1 lags Um ains , φ < 0) 40 Figure G – Schematic drawings of LED dies 43 Figure G – Schematic drawings of LED packages 44 Table – Mandatory marking and location of m arking Table – LED module life tim e information Table – Optional m arking and location of marking Table – Allowed variations within a fam ily Table – Tolerance (categories) on rated chrom aticity coordinate values 21 Table – Lum en m aintenance code at an operational time as stated in 22 Table – Sample sizes 26 Table C – Example lifetime metric values for lum en m aintenance factor ratings 36 numbers in % 36 Table C – Example lifetime metric values for abrupt failure 37 numbers in % 37 Table C – Example lifetime metric values of x for m edian LED lam p life (combined failures) 37 numbers in % 37 Table C – Example lifetime metric values 37 Table F – Recomm ended values for displacement factor 42 I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 –5– INTERNATI ONAL ELECTROTECHNI CAL COMMISSI ON L E D M O D U L E S F O R G E N E R AL L I G H T I N G – P E RF O RM AN C E RE Q U I RE M E N T S FOREWORD ) The I nternati on al Electrotechni cal Comm ission (I EC) is a worl d wid e organization for stan dardization com prisin g all n ation al el ectrotechnical comm ittees (I EC National Comm ittees) The object of I EC is to prom ote internati onal co-operation on all q uestions concerni ng stand ardi zati on in the el ectrical an d electronic fi elds To this en d and in additi on to other acti vities, I EC pu blish es I nternational Stan dards, Techn ical Specificati ons, Technical Reports, Publicl y Avail abl e Specificati ons (PAS) an d Gu ides (h ereafter referred to as “I EC Publication(s)”) Th ei r preparation is entrusted to tech nical comm ittees; any I EC N ational Comm ittee interested in the subj ect dealt with m ay partici pate in this preparatory work I nternational, governm ental an d n on governm ental organ izations l iaising with th e I EC also participate i n this preparation I EC collaborates closel y with the I ntern ational Organi zation for Stand ardization (I SO) in accordance with ditions determ ined by agreem ent between th e two organi zati ons 2) The form al decisions or ag reem ents of I EC on tech nical m atters express, as n early as possible, an i nternati onal consensus of opi nion on the rel evant subjects since each technical com m ittee has representati on from all interested I EC N ational Com m ittees 3) I EC Publications have the form of recom m endations for intern ational use an d are accepted by I EC National Com m ittees in that sense While all reasonable efforts are m ade to ensure that th e technical content of I EC Publications is accu rate, I EC cann ot be h eld responsi ble for th e way in which th ey are used or for an y m isinterpretation by an y en d u ser 4) I n order to prom ote intern ational u niform ity, I EC National Com m ittees und ertake to apply I EC Publications transparentl y to the m axim um extent possible i n their national an d regi on al publicati ons Any d ivergence between an y I EC Publication and the correspondi ng national or regi on al publicati on sh all be clearl y in dicated in the latter 5) I EC itself d oes n ot provi de an y attestation of conform ity I n depend ent certificati on bodies provi de conform ity assessm ent services and, in som e areas, access to I EC m arks of conform ity I EC is not responsi ble for an y services carri ed out by ind ependent certification bodi es 6) All users shou ld ensure that th ey h ave the l atest editi on of thi s publicati on 7) No liability shall attach to I EC or its directors, em ployees, servants or ag ents inclu din g in divi du al experts an d m em bers of its tech nical com m ittees and I EC Nati onal Com m ittees for any person al i nju ry, property d am age or other dam age of any n ature whatsoever, whether di rect or indirect, or for costs (includ i ng leg al fees) and expenses arisi ng out of the publ ication, use of, or relian ce upon, this I EC Publicati on or any other I EC Publications 8) Attention is drawn to th e N orm ative references cited in th is publ ication Use of the referenced publ ications is indispensable for the correct applicati on of this publication 9) Attention is drawn to the possibility that som e of the elem ents of this I EC Publication m ay be the su bject of patent rig hts I EC shall not be held responsibl e for identifyi ng any or all such patent ri ghts D I S C L AI M E R Th i s C o n s o l i d a te d u s er co n ven i en c e v e rs i o n On l y is th e n ot a re t o b e c o n s i d e re d t h e o ffi c i a l Th i s C o n s o l i d a te d fi rs t ed i ti on am en d m e n t (2 5-0 ) ten t i s i d en ti cal In th i s is m o d i fi e d re d Re d l i n e t e xt A pu bl i cati on v e rs i o n (2 4-1 ) an o ffi c i a l c u rre n t of I EC 6271 [d o cu m en ts a v e rt i c a l s e p a t e Fi n al S t a n d a rd th e an d s t a n d a rd b e a rs line an d in Ad d i t i o n s v e rs i o n th e e d i ti o n A/ /F D I S A/ /F D I S to th e b a s e e d i ti o n v e rs i o n , of h as b een and i ts p re p a re d fo r am e n d m e n t( s ) d o cu m e n ts [d o cu m en ts b y am en d m en t IEC v e rs i o n s wi th an d It co n s i s ts A/ / R VD ] A/ /R V D ] Th e o f th e an d i ts te ch n i ca l i t s am e n d m e n t th e a re n u m ber an d m a rg i n in al l g re e n s h o ws t e xt , ch an g e s w h e re th e d el eti on s a ccepted te c h n i c al a re is in ten t s t ri k e t h ro u g h avai l ab l e in th i s –6– I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 International Standard I EC 6271 has been prepared by subcomm ittee 34A: Lamps, of I EC technical com m ittee 34: Lamps and related equipment This edition includes the following significant technical changes with respect to IEC PAS 6271 • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • all term s and definitions are aligned with I EC 62504 and relevant documents of CI E For example, general term s like “rated value” are shifted to I EC 62504 a statem ent on the applicability on a population is included the normative references are completed and cleaned from standards that are not i n use with regard to EMC, references to harmonic currents are given the change, which has an effect on m ost parts of the standard, is the split of failure mechanisms into abrupt failures and luminous flux depreciation Consequentl y, new term s and definitions, new requirements for lum en m aintenance and a complete new structure and contents of Annex C are introduced transition from tpm ax to tprated is m ade, with the background that there is not one tpm ax, but a choice of (rated) values, in combination with lifetim e places where to m ark (product, packaging, data sheets) are changed, and as a consequence of the split of failure m echanisms, new param eters are listed Further, changes in the endurance test (ramping speed of temperature) are reflected in m arking the concept of displacem ent factor instead of power factor is introduced This led to new definitions, requirements and Annexes E and F the requirements on lum inous efficacy are changed the requirements, associated with the fam il y concept are reviewed statistics, based on confidence intervals are removed This concerns requirem ents and limits for LED module power and luminous flux and deletion of Annex E new requirem ents for lumen m aintenance are introduced as part of the endurance test, the m axim um light decrease after accelerated operation life test is now fixed with regard to the discussion on type test and sam ple size, the num ber of pieces in a test sam ple is drasticall y reduced, see Table Annex A on measuring methods is completel y restructured and reviewed, for exam ple for am bient tem perature and for shortening of stabilisation time when conducting subsequent light output measurements for electrical characteristics, the ageing tim e m ay be chosen as 500 h for photom etric data file form ats, reference is given to I EC 62722-1 m istakes in the photometric code (Annex D) are corrected Annex G on optimised test duration is removed; instead, an I NF sheet shall be published from the lum inaire standard, a new Annex H on “Test equipment for temperature m easurem ent” is taken over finall y, the Bibliograph y i s updated – 88 – I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV â I EC 201 An glais Franỗais Median Useful life ( L x ) Durée de vie util e m édian e ( L x) nb h at x % lig ht for 50 % of th e populati on nb h x % d e lum ière pou r 50 % de la popul ation Abru pt failu re val ue ( A FV) Valeu r de défai llance brusqu e ( A FV) % abru pt failu res at L x % de défai llances brusques L x Median LED l am p life ( Mx) Durée de vie m édiane d e la lam pe LED ( Mx ) nb h rs at x % of light incl udi ng abrupt fail ures nb h rs x % de lum ière y com pris des d éfaill ances brusq ues pou r 50 % de l a popu lation for 50 % of th e popul ation Com bined failu re val ue ( CFV) Valeu r de défai llance com binée ( CFV) % com bined fai lu res at L x % de défai llances com binées L x A: A: General set of lifetim e m etrics for providi ng product data Ensem ble gén éral de m éthodes de m esure de d urée de vie pou r fou rni r d es don nées d e produ it B: B: Standard set of q uantities for comm unication to m arket Ensem ble norm alisé d e gran deurs pour l a comm unication sur l e m arché Figure C.6 – Vue d’ensemble des méthodes de mesu re de durée de vie des LED C.6 Exemple de valeurs de mesure de durée de vie L'introduction de la durée de vie utile médiane L x (voir 3.7) avec la valeur de défaillance brusque (voir 9) et la durée de vie m édiane de la lam pe LED (voir 3), fournit un ensem ble complet de définitions pour com muniquer des spécifications liées la durée de vie des produits LED Lors de la spécification de différentes valeurs, se reporter aux Tableaux C , C et C.3 cidessous pour des exem ples de valeurs Les LED encapsulées individuels ou puces LED l’intérieur d’un produit LED ne sont pas traités Dans de nom breux produits LED, les valeurs de m esure de durée de vie sont intimem ent liées Au fur et m esure que les caractéristiques assignées du facteur de maintenance du flux lum ineux augm entent, les valeurs de durée de vie assignée et d’ A FV ont généralem ent tendance dim inuer (voir le Tableau C.4) NOTE Les m odules d e LED avec un rendem ent lum ineu x constant sont l'étude Tableau C.1 – Exemple de valeu rs de mesure de durée de vie pour les caractéristiqu es assignées du facteu r de maintenance du flux lumineux nombres en % Lx 70 x 80 90 Tableau C.2 – Exemple de valeurs de mesure de durée de vie pour la défaillance brusque nombres en % A FV 10 I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV – 89 – © I EC 201 Tableau C.3 – Exemple de valeurs de mesure de durée de vie de x pou r la du rée de vie médiane de la lampe LED (défaillances combinées) nom bres en % Mx x 70 80 90 Tableau C.4 – Exemple de valeu rs de mesure de durée de vie x (%) Durée de vie assig née, A FV (%) L x (h) 70 80 90 30 000 20 000 000 ,5 – 90 – I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 An n e xe D (normative) E x p l i c a ti o n d u c o d e p h o to m é t ri q u e Exem ple de code photométrique comm e 830/359, dont la signification est la suivante: / – initial de 87, par exem ple – initiale de 000 K – étalement de dans une ellipse de MacAdam de niveau – étalem ent de 25 % de la durée de vie assignée (avec une durée m axim ale de 000 h) dans une ellipse de MacAdam de niveau – code de conservation du flux lumineux 25 % de la durée de vie assignée (avec une durée maximale de 000 h), dans cet exemple: ≥ 90 % de la valeur h C RI CCT i n i ti al c o o rd o n n é e s t ri c h ro m a t i q u e s m n ten u c o o rd o n n é e s t ri c h ro m a t i q u e s La valeur du rendu des couleurs est exprimée par une valeur qui est obtenue en utilisant les intervalles: CRI = 70 79 code “7” CRI = 80 89 code “8” CRI = 90 ≥90 code “9” La valeur la plus élevée est NOTE Au J apon, les exi gences relati ves la classification et l'indication des couleu rs sont spécifiées dans la J I S Z 91 I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 – 91 – Annexe E (normative) Mesurage du facteur de déphasage E.1 Généralités L'angle de déphasage ( φ ) du facteur de déphasage (cos( φ )) de doit être m esuré conform ément la définition de E et aux exigences de m esure de E.3 E.2 Définition de l'angle de déphasage L'angle de déphasage φ entre le courant harmonique fondam ental ( I1 ) et la tension secteur ( U m ains ) est déterminé comm e décrit dans la Figure E.1 et la Figure E.2: I U secteur U secteur I ϕ ϕ1 + 80° IEC Figure E.1 – Définition de l'angle de déphasage du courant fondamental φ ( I1 est en avance par rapport Umains , φ > 0) – 92 – I I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 U secteu r U secteu r I ϕ ϕ − 80° IEC Figu re E.2 – Définition de l'angle de déphasage du cou rant fondamental φ ( I1 est en retard par rapport U mains , φ < 0) E.3 E.3.1 Exigences relatives aux mesurages Circuit de mesure et source d'alimentation Le circuit de mesure et la source d'alim entation sont définis dans l'Annexe A de l'I EC 61 0003-2: 2005 E.3.2 Exigences relatives aux appareils de mesure Les exigences relatives aux appareils de m esure sont définies dans l'I EC 61 000-4-7 E.3.3 Conditions d’essai Les conditions d'essai pour les m esurages du déphasage / de l'angle de phase associés certains types d'équipem ents sont données dans l'article suivant: Voir le C de l'I EC 61 0003-2: 2005/AMD 2: 2009 NOTE Les ditions d'essai pou r l es sources l um ineuses d es LED d ans l'I EC 61 000-3-2: 2005, C sont l'étud e I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 – 93 – Annexe F (informative) Explication du facteur de déphasage F.1 Généralités La m éthode de mesure du facteur de puissance ( λ ) est une méthode de mesure composite et elle est constituée des méthodes de mesure prim aires: facteur de déphasage ( κd éph asag e ) et facteur de distorsion ( κd istorsion ) La relation entre la méthode de m esure composite λ et ses méthodes de mesure primaires κ d éphasage et κ d istorsi on est comme suit: λ = κ déphasage ⋅ κ distorsion avec κ déphasage = cos ϕ1 et κ distorsion = 1 + THD d’où λ= cos ϕ 1 + THD L'angle ϕ est l'angle de déphasage entre la com posante fondam entale de la tension d'alimentation et la com posante fondamentale du courant secteur Le taux de distorsion harm onique totale ( THD , Total H armonic Distortion) est quantifié par les harm oniques du courant secteur, conform ément l'I EC 61 000-3-2 La relation entre les harm oniques individuels du courant secteur et le THD i est dans l'équation ci-dessous: I THD = ∑ n n = I1 40 où In est l'amplitude du n ièm e harm onique du courant secteur – 94 – F I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 Val eurs recommandées pour l e facteur d e déph asage Aucun effet négatif sur le réseau électrique n'est prévoir partir des modules de LED intégrés (Type ) s'ils se conform ent la recom mandation comm e dans le Tableau F Tabl eau F – Val eu rs recom m an d ées pou r l e facteu r d e d éph asag e M éth od e d e m esu re P ≤ W W< P ≤ 5W W < P ≤ 25 W P > 25 W κ d éph asag e (cos ϕ ) Pas de lim ite ≥ 0, ≥ 0, ≥ 0, Les val eu rs sont des exem ples prati ques et présentent des lig nes directrices I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 – 95 – Annexe G (informative) Exemples de puces LED et de LED encapsulées G.1 Puce LED Des exemples schématiques des puces LED sont donnés dans la Figure G IEC Légende GaN d e type n rég ion active MQW (Multi Quantum Well (puits quanti qu es m ultiples)) GaN d e type p GaN d e type n ren du ru gueu x em base/btier contacts m étalliques anode/cath od e saphi r 1 em base/btier contact m otifs de type n liaison fil aire btier a) LED pu ce retou rnée ("fli pchip") en couche mince b) LED puce retourn ée ("fli pchip") substrat/em base interm édi aire cond ucteu r c) LED pu ce en couch e mince vertical e Figure G.1 – Dessins schématiques de puces LED – 96 – G.2 I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 LED encapsulées Des exemples schématiques des LED encapsulées sont donnés dans la Figure G 3) 4) 5) 6) 7) 1) 8) 2) IEC Légende 1) LED encapsul ée 5) m élange m ouler 2) carte d e circuit im prim é (PCB) 6) dissipateur th erm ique 3) puce LED 7) Fils 4) fi xation d e la puce 8) pistes de cui vre a) LED en capsulée montée en surface avec fils conducteurs 3) 4) 5) 1) 6) 7) 8) 2) IEC Légende 1) LED encapsul ée 5) substrat en céram iqu e 2) carte d e circuit im prim é (PCB) 6) secteur d’ écran therm ique 3) lentill es en silicon e 7) contact électri qu e 4) puce LED 8) pistes de cui vre b) LED en capsul ée montée en surface san s fils ducteurs Figu re G.2 – Dessins schématiqu es de LED encapsulées I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 – 97 – An nexe H (informative) Équi pemen t d'essai pou r le mesurage d e la tem pérature H.1 Général i tés Les recommandations suivantes se rapportent aux méthodes de réalisation des mesurages de la tem pérature sur les modules de LED dans une enceinte fermée aux courants d'air Elles sont dérivées de l'I EC 60598-1 , Annexe K, où les m éthodes de m esure ont dém ontrés qu’elles étaient particulièrem ent adaptées aux m odules de LED; d'autres méthodes peuvent être utilisées, s'il est établi qu'elles sont au moins d'une précision et d'une exactitude égales H.2 Régl age et procéd ure I l est recom m andé de disposer d’un systèm e de m esure capable d'atteindre une incertitude de m esure de ± 2, °C Les températures des m atériaux solides sont généralem ent mesurées au moyen de therm ocouples La tension de sortie est lue par un dispositif haute im pédance tel qu'un potentiom ètre Avec un instrument l ecture directe, il est im portant de vérifier que son impédance d'entrée est adaptée l'im pédance du therm ocouple Les indicateurs de température de type chimique ne sont présent appropriés que pour des vérifications somm aires de m esure I l convient que les fils du therm ocouple soient de faible conductivité therm ique U n therm ocouple approprié est constitué de 80/20 de nickel-chrome associé 40/60 de nickelcuivre (ou 40/60 de nickel-alum inium) Chacun des deux fils (généralement en form e de bande ou section circulaire) est suffisamment fin pour passer travers un trou de 0, m m Toutes les parties d'extrémité des fils susceptibles d'être exposés au rayonnem ent ont un fini métallique haute réflectance L'isolation de chaque fil est de tem pérature et de tension assignée appropriées; elle est également fine, mais robuste Les therm ocouples sont fixés sur le point de m esure dans des conditions thermiques de perturbation minimale et par un contact thermique de faible résistance Les méthodes suivantes ont été jugées utiles pour fixer les jonctions des therm ocouples aux points de mesure I l convient de choisir les solutions par adhésif adéquates en fonction de la spécification du m odule de LED (en particulier en ce qui concerne la densité de puissance au point de m esure) a) Soudure sur une surface métallique (avec une quantité m inim ale de soudure) (il convient d'éviter la soudure sous les parties conductrices) b) Par un adhésif (quantité minimale exigée) I l convient que l'adhésif ne sépare pas le therm ocouple du point de mesure I l convient qu'un adhésif utilisé avec un matériau translucide soit aussi translucide que possible U n adhésif approprié au verre est form é d'une portion de silicate de sodium et de deux portions de sulfate de calcium, avec un m ilieu d'eau Sur des pièces non métalliques, les derniers 20 mm du thermocouple sont attachés la surface pour com penser le flux de chaleur partir du point de mesure La température ambiante m oyenne dans l'enceinte fermée aux courants d'air est considérée comm e étant la tem pérature de l'air une position proche de l'une des parois perforées sur un niveau avec le centre du module de LED La tem pérature est généralem ent m esurée par un thermocouple soudé une m asse métallique d'environ 30 g, protégée contre le rayonnem ent par un cylin dre double paroi en métal poli ouvert vers le haut et le bas – 98 – I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 An n e xe I (normative) U ti l i s a ti o n d e l ' I E S L M -8 re l a ti ve l a c o n s e rva ti o n d u fl u x l u m i n e u x, i n d i c e d e re n d u d e s c o u l e u rs e t d o n n é e s d e c o o rd o n n é e s tri c h ro m a ti q u e s m a i n te n u e s I.1 G é n é l i t é s Conformém ent (coordonnées trichromatiques), 9.3 (I RC) et (conservation du flux lum ineux, flux lum ineux), les valeurs initiales et maintenues relatives au module de LED sont mesurées Afin de réduire la durée d'essai pour l'obtention des valeurs m aintenues (à 25 % de la durée de vie assignée, maximum 000 h), les données issues de l'I ES LM -80 doivent être utilisées dans la mesure où les conditions figurant dans l'Article I et les critères de conform ité de l'Article I sont remplis Si, ni le m odule de LED ni la LED encapsulée n'a été soum is l'essai conformém ent l'I ES LM-80, alors la durée complète d'essai doit être accomplie selon la présente Norme internationale I.2 I.2.1 C ri t è re s re l a t i fs l ' u t i l i s a t i o n d e l ' I E S L M -8 D on n ées d e LE D en cap su l ées u ti l i s ées po u r l es m od u l es d e LE D Si les données issues d'un rapport d'essai I ES LM-80 appliqué une LED encapsulée sont disponibles, les conditions d'essais en sont applicables aux m odules de LED avec une durée d'essai de 000 h Pour les critères de formité après les essa is p en dan t 000 h, se rep orter l'A rticle I I.2.2 M o d u l e d e L E D ave c d o n n é e s d e l ' I E S L M -8 Si le m odule de LED a été soumis essai conform ément l'I ES LM-80 y com pris l'I RC, la durée d'essai figurant dans peut être évitée Les données relatives la chrom aticité, l'I RC et la conservation du flux lum ineux 25 % de la durée de vie assignée, m ax 000 h issues du rapport d’essai I ES LM -80, doivent être prises en compte et utilisées pour rem plir les exigences d es valeurs m aintenues de , et 0.2 respectivem ent I I C o n d i ti o n s l i m i te s G é n é l i t é s La com binaison du courant d'entrée efficace maximal choisi et de la température m aximale de soudure figurant dans le rapport I ES LM-80 doit représenter l'état le plus défavorable du module de LED I T e m p é t u re Toutes les données de perform ance indiquées dans la présente norm e sont liées la température de référence t p, rated sur le m odule de LED tp, rated est mesurée au point , l'emplacem ent de référence sur le modu le de LED, défini par le fabricant Tandis que le m odule de LED fonctionne sa propre valeur de tp, rated , la température de la LED encapsulée, T s , telle que définie par l'I ES LM-80 doit être mesurée La valeur m esurée la I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV – 99 – © I EC 201 plus élevée T s , l'intérieur du m odule de LED, ne doit pas dépasser la tem pérature lim ite T s issue du rapport I ES LM-80 Dans le cas d'une fam ille de m odules de LED conformém ent au Tableau 4, la mesure de la tem pérature T s doit être réalisée avec la configuration de m odule de LED qui donne lieu la température T s la plus élevée I 3 C o u n t d ' e n t ré e d e l a L E D e n c a p s u l é e Le courant d'entrée efficace maximal de la LED encapsulée dans le module de LED ne doit pas dépasser le courant d'entrée efficace qui a été noté lors de l’essai dans le cadre de l'essai selon l'I ES LM-80 Lorsque l'I ES LM-80 est utilisée pour l'obtention de la conservation du flux lumineux et des données des coordonnées trichromatiques m aintenues, tout circuit de commande d'appareillage pour la com pensation automatique de l a dégradation avec le tem ps du flux lumineux doit être désactivé I.3 C ri t è re s d e c o n fo rm i t é I C o o rd o n n é e s t ri c h ro m a t i q u e s L es m o dules de L ED éva lués d'ap rès avec un e durée d'essa i ma in te n ue conform ém e nt I iven t correspon dre la Catégorie de va riation de co ule urs in itia le déclaré e p ar le fa brica n t ou le fourn isse ur resp onsa b le se lon le Ta b le a u I I n d i c e d e re n d u d e s c o u l e u rs ( I RC ) L es modules de L ED éva lués d'a près a vec un e duré e d'essa i ma inte nue form é m en t a u I doiven t corresp on dre la va le ur IRC déclaré e p ar le fa brican t ou le fourn isseur resp on sa b le se lon le Tab lea u , dim in ué e d'a u p lus p oints I 3 F a c t e u r d e c o n s e rv a t i o n d u fl u x l u m i n e u x L es m odules de L ED éva lués d'a près avec un e duré e d'essa i m a inten ue co nform ém e nt au I doiven t correspon dre au code de co nserva tion fa brica n t ou le fournisse ur resp onsa b le se lon le Ta b le a u du flux lum ine ux déclaré p ar le – 00 – I EC 6271 7: 201 4+AMD1 : 201 CSV © I EC 201 Bibliographie I EC 60598-1 , I EC 62384, L um in a ires – Partie : Exigences gé néra les et essa is A p pare illa ge s é lectron iques a lim e ntés en coura nt tinu ou a ltern atif p our mo dules de DEL – Exige nces de p erform a nces IEC 6261 2: 201 3, L a mp e s L ED autob a llasté es pour l'écla ira ge gé n éra l avec des te nsions d'alim en tation > 50 V – Exige nces de perform a n ce s IEC 62707-1 , Tri des L ED – Pa rtie : Exige nces gé n éra les e t m atrice de coule ur b la nche IEC 62722-1 1 , Pe rforma n ce des lum in aires – Pa rt : Exigences gé néra les I EC PAS 62722-2-1 , L um in a ire p erform an ce (disponible en anglais seulem ent) – Part 2-1 : Particular require m en ts for L ED lum ina ires CI SPR 5:2005 , L im ite s et m étho des de m e sure des perturb atio ns dioé lectriques pro duites p ar les a pp are ils é lectriques d'écla ira ge et les a p pa re ils a na lo gue s CI E 84: 989, Th e Me asure me nt of L umin o us Flux I ES LM-79-08, Electrica l a nd p h oto me tric (disponible en anglais seulement) JI S C 81 05-5: 201 0, L ED m odules (disponible en anglais seulement) JI S Z 91 2: 201 2, Cla ssification (disponible en anglais seulement) m easure m e nts o f solid state ligh tin g products for ge n era l ligh tin g service – Performa n ce re quire m en ts of fluo resce nt lam ps a n d so lid sta te chrom aticity an d colour ren derin g property ligh tin g products by (disponible en anglais seulem ent) Journal of the Optical Society of America, 943 (disponible en anglais seulement) _ 11 À publi er 12 Septièm e éditi on Cette éditi on a été rem placée en 201 par l a CI SPR 5: 201 3, L imites et m é th o de s de mesure des pe rturb a tio n s dioé lectrique s p ro duites p a r le s a pp a reils éle ctriques d'écla ira ge e t les a p p a re ils a n a logue s INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSI ON 3, rue de Varembé PO Box 31 CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel: + 41 22 91 02 1 Fax: + 41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch