Iec 60539 1 2016

I E C 60539-1 ® Edition 3.0 201 6-04 I N TE R N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TE R N ATI ON ALE Di rectl y h eated n eg ati ve tem peratu re coeffi ci en t th erm i sto rs – Part : G en eri c speci fi cati o n Th erm i stan ces coeffi ci en t d e tem pératu re n ég ati f ch au ffag e d i rect – IEC 60539-1 :201 6-04(en-fr) Parti e : Spéci fi cati on g én éri q u e TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YR I G H T P R O TE C TE D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , Sw i t z e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a t i o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I EC C atal og u e - webstore i ec ch /catal o g u e E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I EC pu bl i cati on s search - www i ec ch /search pu b I E C G l o ssary - s td i ec ch /g l ossary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C Cu s to m er S ervi ce Cen tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A pro po s d e l ' I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A pro po s d es p u bl i cati o n s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal o g u e I E C - webstore i ec ch /catal o g u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad R ech erch e d e pu bl i cati o n s I EC - www i ec ch /search p u b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et définitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes ộquivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l o ss re I EC - std i ec ch /g l o ss ary 65 000 entrộes terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Servi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I EC 60539-1 ® Edition 3.0 201 6-04 I N TER N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TER N ATI ON ALE Di rectl y h eated n eg ati ve tem peratu re coeffi ci en t th erm i stors – Part : G en eri c speci fi cati o n Th erm i stan ces coeffi ci en t d e tem pératu re n ég ati f ch au ffag e d i rect – Parti e : Spéci fi cati on g én éri q u e INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 31 040.30 ISBN 978-2-8322-3307-8 Warn i n g ! M ake su re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i stri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s assu rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri bu teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 60539-1 :201  I EC 201 CONTENTS FOREWORD Scope N ormati ve references Terms an d defin i tions General i tems 20 U n its and sym bols 20 Preferred val ues and appropriate category 20 General 20 2 Appropri ate categ ory 20 M arking 20 General 20 Marking for sm all size types su ch as su rface mou nt thermistors 21 3 Codi ng 21 4 Qu ality assessm en t procedu res 21 Test and m easuremen t procedures 21 General 21 Standard atm ospheric condi tions for testin g 21 Drying an d recovery 22 Dryin g 22 Recovery 22 M ou n ti ng (for su rface mou n t thermistors on ly) 22 General 22 Su bstrate an d pad 22 M ou n ti ng on board 22 5 Vi sual exami nation an d ch eck of dimensi ons 23 5 Vi su al examination 23 5 Dim ensions 24 Zero-power resistance 24 General 24 M easurement procedures 24 Requ irements 24 B -valu e or resistance rati o 25 General 25 Requ irements 25 I nsu lati on resistance (for i nsu lated types onl y) 25 General 25 Test m ethods 25 Applied vol tage 27 Requ irements 28 Vol tage proof (for insu lated types only) 28 General 28 Test vol tag e 28 Requ irements 28 Resistance/temperatu re ch aracteristic 28 1 General 28 Test m ethods 28 Requ irements 28 I EC 60539-1 :201  I EC 201 –3– 1 Dissi pation factor ( δ ) 28 1 General 28 1 I n itial m easuremen ts 29 1 Test m ethods 29 1 Requ irements 30 τ Thermal time constan t by ambien t tem perature chang e ( a ) 30 General 30 2 I n itial m easuremen ts 30 Precondi tioning 31 Test m ethods 31 5 Fi nal measu remen ts an d requ iremen ts 31 Requ irements 31 τ Thermal time constan t by coolin g after self-heating ( c ) 31 General 31 I n itial m easuremen ts 31 3 Precondi tioning 31 Test m ethod 32 5 Fi nal measu remen ts an d requ iremen ts 32 Robu stn ess of termin ations (not appl icabl e to su rface m ou n t therm istors) 32 General 32 I n itial m easuremen ts 32 Test m ethods 33 4 Test U a – Tensi le 33 5 Test U b – Bending (hal f th e nu mber of term inati ons) 33 Test U c – Torsi on (remai ning term inations) 33 Fi nal measu remen ts an d requ iremen ts 33 5 Resistance to solderin g h eat 33 5 General 33 5 Precondi tioning 34 5 Test procedu re 34 5 Recovery 34 5 Fi nal i nspection , measu remen t an d requ iremen ts 34 Solderabil ity 34 General 34 Test procedu re 34 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 35 Rapi d chang e of tem perature 35 General 35 I n itial m easuremen ts 35 Test procedu res 35 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 35 Vi bration 36 General 36 I n itial m easuremen ts 36 Test procedu res 36 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 36 Sh ock 36 General 36 –4– I EC 60539-1 :201  I EC 201 I n itial m easuremen ts 36 9 M ou n ti ng 36 Test procedu res 36 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 37 20 Free fall 37 20 General 37 20 I n itial m easuremen ts 37 20 Test procedu res 37 20 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 37 21 Thermal sh ock 37 21 General 37 21 I n itial m easuremen ts 37 21 Test procedu res 37 21 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 37 22 Cold 38 22 General 38 22 I n itial m easuremen ts 38 22 Test procedu res 38 22 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 38 23 Dry heat 38 23 General 38 23 I n itial m easuremen ts 38 23 Test procedu res 39 23 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 39 24 Damp heat, steady state 39 24 General 39 24 I n itial m easuremen ts 39 24 Test procedu res 39 24 Recovery 40 24 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 40 25 En durance 40 25 General 40 25 En durance at room temperatu re wi th applied tin uous maxim u m cu rren t ( Imax25 ) (for in ru sh cu rren t-li m iting therm istors on ly) 40 25 En durance at room temperatu re wi th applied cyclic m aximu m cu rren t ( Imax25 ) (for inrush cu rren t-li mi tin g th ermistors on ly) 41 25 En durance at T3 an d P max 42 25 En durance at u pper categ ory temperatu re 43 25 M aximu m permissible capaci tance (for i nrush cu rren t-li m iting th erm istors only) 43 26 Sh ear (adh esion ) test (for su rface mou n t therm istors on l y) 45 26 General 45 26 Test di tions 45 26 Requ irements 45 27 Su bstrate bending test (for su rface m ou n t thermi stors onl y) 46 27 General 46 27 I n itial m easuremen ts 46 27 Test procedu res 46 27 Fi nal i nspecti on and requi remen ts 46 28 Componen t sol ven t resistance 46 I EC 60539-1 :201  I EC 201 –5– General 46 28 28 I n itial m easuremen ts 46 28 Test di tions 46 28 Requ irements 47 29 Sol ven t resistance of marki ng 47 29 General 47 29 Test di tions 47 29 Requ irements 47 30 Sal t m ist 47 30 General 47 30 Test di tions 47 31 Sealin g 47 32 Composite temperatu re/h u midity cycl e 47 32 General 47 32 I n itial m easuremen ts 47 32 Test di tions 48 32 Fi nal i nspection , measu remen ts an d requ iremen ts 48 An nex A (n ormative) I n terpretati on of sampli ng plans and procedu res as described in I EC 6041 0:1 973 for u se wi th in quality assessmen t system s 49 A Clau se and su bcl ause nu mbers of I EC 6041 0:1 973 49 An nex B (n ormative) Ru l es for the preparation of detail speci fications for directly heated therm istors for electron ic equ ipmen t for u se withi n qu ali ty assessm en t systems 50 B Drafting 50 B Reference standard 50 B Circu lation 50 An nex C (in formati ve) Typical examples of moun tin gs for measu remen ts of directl y heated therm istors 51 C M ou n ti ng for su rface mou n t therm istors 51 An nex D (in formati ve) Reference to I EC 60539-1 :2008 53 An nex Q (normati ve) Qu ali ty assessm en t procedu res 54 Q General 54 Q Prim ary stag e of manu factu re 54 Q Stru ctu rall y sim i lar componen ts 54 Q Qu alification approval procedu res 55 Q General 55 Q Test procedu re for qual ifi cation approval 55 Q M ain tenance of qu ali fication approval 55 Q Qu ality formance inspecti on 56 Q Certi fied test records of rel eased lots 56 Q Delayed del ivery 56 Q Release for deli very un der qu al ification approval before the completion of g rou p B tests 56 Q Al tern ati ve test meth ods 56 Q U nchecked parameters 56 Bi bliog raph y 57 Fi gu re – Typical resistance-temperature characteristic for N TC thermistors Fi gu re – Decreased power dissipation cu rve Fi gu re – Maximum cu rren t derating –6– Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re Fi gu re I EC 60539-1 :201  I EC 201 – Basic circu it for zero-power resistance measu remen t 24 – Example of Method for testin g the insu lation resistance 25 – Example of Method for testin g the insu lation resistance (1 ) 26 – Example of Method for testin g the insu lation resistance (2) 26 – Example of Method for testin g the insu lation resistance 27 – Example of Method for testin g the insu lation resistance 27 – Example of test cham ber 29 1 – Dissi pation factor m easu ring circui t 30 – Thermal time constan t m easuring circu i t 32 – Endu rance at room temperatu re wi th Imax25 evalu ati ng circu it 41 – M aximu m permissible capaci tance test circu i t (Method ) 44 – M aximu m permissible capaci tance test circu i t (Method 2) 45 C – M ou nti ng for measu remen ts of surface mou nt therm istors 52 Table – Lower an d u pper categ ory temperatu res and du ration of the dam p heat, steady state test 20 Table – Tensi le force 33 I EC 60539-1 :201  I EC 201 –7– I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON DIRECTLY HEATED NEGATIVE TEMPERATURE COEFFICIENT THERMISTORS – Part : Generic specification FOREWORD ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) Th e obj ect of I EC i s to prom ote i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s cern i n g stan dard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds To th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s, Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC Pu bl i cati on (s) ”) Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i n terested i n th e su bject d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on g overn m en tal org an i zati on s l i si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on I EC col l aborates cl osel y wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th d i ti on s d eterm i n ed by ag reem en t between th e two org an i zati on s 2) Th e form al deci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l i n terested I EC N ati on al Com m i ttees 3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al Com m i ttees i n th at sen se Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal ten t of I E C Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y m i si n terpretati on by an y en d u ser 4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s An y di verg en ce between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n di cated i n th e l atter 5) I EC i tsel f d oes n ot provi d e an y attestati on of form i ty I n d epen d en t certi fi cati on bodi es provi d e form i ty assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of form i ty I EC i s n ot respon si bl e for an y servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es 6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on 7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I E C or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi du al experts an d m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I E C Pu bl i cati on s 8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on 9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of paten t ri g h ts I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts I n tern ati onal Standard I EC 60539-1 has been prepared by I EC technical comm ittee 40: Capacitors an d resistors for electronic equ ipmen t Th is thi rd edi tion cancel s an d replaces the second edition pu blished in 2008 Th is edi tion consti tu tes a technical revisi on Tables, fig u res and references h ave been revised The text of th is standard is based on th e followi ng docu ments: FDI S Report on voti n g 40/2430/FDI S 40/2457/RVD Fu ll informati on on the votin g for the approval of this standard can be fou nd in the report on votin g i ndicated i n the above table –8– I EC 60539-1 :201  I EC 201 Th is pu bl icati on has been drafted i n accordance wi th th e I SO/I EC Di recti ves, Part A l ist of all parts in the I EC 60539 series, publ ish ed u nder the g en eral title Directly negative temperature coefficient thermistors, can be fou n d on the I EC website heated The com mi ttee h as decided that th e ten ts of th is pu blicati on wi l l remain unchan ged u ntil th e stabil ity date in dicated on th e I EC websi te u nder "h ttp://webstore iec ch" in the data related to the specific publ ication At th is date, the publ ication will be • • • • recon firmed, withdrawn , replaced by a revised edi ti on , or amended – 04 – I EC 60539-1 :201  I EC 201 5.28.3 Conditions d’essai Les composan ts doi ven t être soum is l ’essai XA de l'I EC 60068-2-45 en u ti lisan t l es détails su i van ts: a) sol van t u tiliser: b) températu re du sol van t: c) conditi onn emen t: d) temps de rétablissement: voir I EC 60068-2-45:1 980/AMD1 :1 993, 3.1 2; 23 °C ± °C, sau f indication traire dans la spéci fication particu li ère; M éth ode (sans frottemen t) ; 48 h , sau f in dicati on traire dans la spécification particu li ère 5.28.4 Exigences Les mesurag es précisés dans la spéci fication applicable doiven t alors être effectués et les exig ences spéci fiées doiven t être satisfai tes 5.29 Résistance au solvant du marquage 5.29.1 Généralités La méthode d’essai doi t être conforme cell e décri te ci-dessou s 5.29.2 Conditions d’essai Les composan ts doi ven t être sou mis l ’essai XA de l 'I EC 60068-2-45 en u til isan t les détails su i van ts: a) b) c) d) e) sol van t u ti li ser: températu re du solvant: conditionn em en t: m atériau de pol issag e: temps de rétabl issemen t: voir I EC 60068-2-45:1 980/AMD1 :1 993, 2; 23 °C ± °C; M éth ode (avec frottemen t) ; ou ate; sans objet, sau f in dication trai re dans l a spécificati on particu li ère 5.29.3 Exigences Après l ’essai , le marqu ag e doi t être li sible 5.30 Brouillard salin 5.30.1 Généralités La méthode d’essai doi t être conforme cell e décri te ci-dessou s 5.30.2 Conditions d’essai Les poin ts su i van ts s’appliqu en t a) Les th ermistances conỗu es pou r su pporter un en vironnem en t très salé doi ven t être sou m ises l'essai Kb de l 'I EC 60068-2-52 b) Afin d'éval u er la qual ité et la form ité de l eurs revêtements de protection, les th erm istances doivent être sou mises l'essai Ka de l'I EC 60068-2-1 5.31 Étanchéité Les thermistances doi ven t être sou mises la procédu re de la m éth ode appropri ée de l'essai Q de l 'I EC 60068-2-1 I EC 60539-1 :201  I EC 201 – 05 – 5.32 Cycle composite de température et d'humidité 5.32.1 Généralités La m éthode d’essai doit être conforme celle décrite ci -dessous 5.32.2 Mesurages initiaux Le ou les paramètres appropriés donnés dans la spécification particu l ière doi ven t être mesu rés en u tilisant la méthode spéci fi ée et i ls doiven t être en reg istrés 5.32.3 Conditions d’essai Les th ermistances doi ven t être sou mises la procédure de l'essai Z/AD de l'I EC 60068-2-38, en u til isan t le deg ré de sévéri té approprié indiqué dans la spéci fication particu lière 5.32.4 Exigences, mesurages et inspection finale Les th erm istances doi ven t être exam inées visu el lement Aucu n dommag e ne doi t être constaté et le marquag e doi t être l isible Le ou les paramètres appropriés donn és dans l a spéci fication particu l ière doivent être m esurés en su i van t la m éth ode spéci fiée La variati on de l a val eur par rapport l a valeur m esurée en 32 ne doi t pas dépasser la l im i te indiqu ée dans la spéci fication particu lière Pour les types isolés, la résistance d'isolem ent doi t être mesu rée sel on et sa valeur n e doit pas être i nférieure cel le indiquée dans la spécification particul ière – 06 – I EC 60539-1 :201  I EC 201 An n e xe A (normative) I n terprétati o n d es pl an s d ’ éch an ti l l o n n ag e et d es pro céd u res t el s q u ’ i l s s o n t d é cri ts d a n s l ' I E C : 73 et d es ti n és ê tre u t i l i s és d a n s l e s s ys t è m e s d ' a s s u n c e d e l a q u a l i t é A N u m é ro s d ' a rt i c l e s e t d e p a g p h es d e l ' I E C : 73 Lorsqu e l'I EC 6041 0:1 973 est u til isée pour les trôles par attribu ts, les interprétations su i van tes des articles et des parag raphes, tels qu ’i ls son t indi qu és ci-dessous, s'appliqu ent dans le cadre de la présen te partie de l’I EC 60539 L'au tori té responsabl e est l'organism e national habil ité charg é de mettre en œu vre l es règ les de base nsi que les règ les relati ves au x procédures L'u nité de produ it est le composan t él ectron iqu e défini dans u ne spécification particu lière Seu les l es défin itions su ivan tes de cet article sont exi g ées: – u n « défau t» est u ne non -con form ité de l’un i té de produ i t aux exigences spéci fiées; – un « défectu eu x» est u ne un i té de produ i t qu i présen te u ne ou pl u si eu rs nonconformi tés Le degré de non-con formi té du produ it doit être exprimé en pou rcen tag e de défectu eu x 3 Sans objet L'au torité responsable est l e comité d’étu des de l'I EC qu i rédig e la spéci fication particu li ère cadre forman t une partie de l a spécification i n term édiaire ou g énérique L'au torité responsable est le responsabl e désign é, ag issan t sel on les procédu res spécifiées dans le docu men t décri van t le service charg é de l'inspection du fabrican t approu vé, et approu vé par l’organ ism e nati onal de su rveil lance L'au torité responsabl e est le responsable désig né Sans objet L'au torité responsabl e est le responsable désig né L'inspecti on norm ale doit tou jours être u ti l isée au débu t de l'inspection 3 d) L'au torité responsable est le responsabl e désig né L'au torité responsable est l’org an isme nation al de su rveillance L'au torité responsable est l e comité d’étu des de l'I EC qu i rédig e la spéci fication particu li ère cadre forman t une partie de l a spécification i n term édiaire ou g énérique (Qu atrième phrase u niqu em en t) Sans objet (Cin qu ièm e phrase u niqu em en t) L'au torité responsable est le responsable désig n é Sans objet I EC 60539-1 :201  I EC 201 – 07 – Annexe B (normative) Règles de préparation des spécifications particulières pour les thermistances chauffage direct pour équipements électroniques destinées être utilisées dans les systèmes d’assurance de la qualité B.1 Rédaction Si n écessaire, la rédaction d'u ne spécification particul ière complète par l e com i té d’études 40 de l'I EC, doit comm encer lorsqu e toutes les conditions sui van tes son t réu ni es a) La spécificati on g énériqu e a été approu vée b) La spéci fication in termédiaire, s'i l y a li eu , a été di ffusée pou r approbation com me Projet fi nal de N orm e in ternationale (FDI S, Final Draft International Standard) c) La spécification particu l ière cadre associée a été diffusée pou r approbation comme FDI S d) I l existe u n e preu ve qu ’au moins trois comi tés n ati onau x on t form el lemen t approu vé, en se basan t su r leur propre norme nati on ale, les spécifications cou vran t u n composant de performances semblabl es Quan d u n comi té nati onal affirme formellem en t qu e, dans son pays, u ne pièce décri te par u ne au tre norme nationale est largement u til isée, cette affi rm ation peu t être prise en compte pou r les exig ences préci tées B.2 Norme de référence Les spécifications particu lières préparées sou s la responsabilité du com i té d'étu des 40 de l’I EC doi vent u ti l iser les valeurs, caractéristiqu es assig nées et sévéri tés pou r l es essais d'en vironn emen t, etc , qu i son t donn ées com me normales ou préféren tiel les dans les spécifications g énéri qu es ou in termédiaires appropriées Tou te excepti on cette règ le peu t être accordée pou r une spéci fication particu lière spécifiée, condition que celle-ci soi t acceptée par le comité d’étu des 40 de l’I EC B.3 Diffusion I l vi en t que la spécificati on parti cu li ère ne soi t pas diffusée comme FDI S tan t qu e l a spécification i n termédiaire et la spécification particu l ière cadre n'ont pas été approu vées pou r pu blication – 08 – I EC 60539-1 :201  I EC 201 Annexe C (informative) Exemples typiques de montages pour des mesurages de thermistances chauffage direct C.1 Montage pour des thermistances pour montage en surface Les thermistances pou r m on tag e en surface doiven t être montées su r u ne carte en tissu de verre époxy de , mm ± 0, mm d'épaisseu r et la fi gu ration de l a carte doi t être forme la représentation de la Fig u re C Les dimensions D , L et W pou r les plages de connexion par brasu re sur la carte doi ven t être indiqu ées dans la spécifi cation particu l ière L'électrode peu t être su r un côté ou su r les deux côtés I EC 60539-1 :201  I EC 201 – 09 – Dimensions en millimètres 15 25 50 A 10 2 G 57, D L A W IEC Légende ± 0, m m carte i m pri m ée en verre époxy: , m m G d u cteu r, qu i peu t être om i s ou u ti l i sé com m e él ectrod e de g ard e L W D l on g eu r d es pl ag es d e n exi on par brasu re l arg eu r d es pl ag es d e n exi on par brasu re espace d es pl ag es d e n exi on par brasu re Figure C.1 – Montage pour les mesurages de thermistances pour montage en surface – 110 – I EC 60539-1 :201  I EC 201 Annexe D (informative) Référence l'IEC 60539-1 :2008 La rédaction de cette troisi èm e édition de l’I EC 60539-1 a en g en dré une nou vel le structure Le tabl eau su i van t indi que l es nou veau x n um éros d'articles et de parag raphes par rapport la deu xième édi tion (I EC 60539-1 :2008) IEC 60539-1 :2008 èm e édi ti on Arti cl e/Parag raph e 1 1 2 2 4 4 4 4 4 1 4 4 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 IEC 60539-1 :201 x èm e édi ti on Arti cl e/Parag raph e Notes G én éral i tés et d om n e d 'appl i cati on fu si on n és 4 4 5 5 5 5 5 1 5 5 5 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 Con form ém en t au x Di recti ves I SO/I EC, Parti e Con form ém en t au x Di recti ves I SO/I EC, Parti e Con form ém en t au x m odi fi cati on s de n u m éros d 'arti cl es Con form ém en t au x m od i fi cati on s de n u m éros d 'arti cl es I EC 60539-1 :201  I EC 201 – 111 – Annexe Q (normative) Procédures d’assurance de la qualité Q.1 Généralités Quan d la présente partie de l ’I EC 60539 et l es n orm es associées son t u ti lisées dans le cadre d'u n système d’assurance de la qual ité complet, la formité Q et Q est exig ée Quan d de tel les normes son t u tilisées h ors des systèmes d’assu rance de la qual ité, par exem pl e pou r l e trôle de conception ou pou r l es essais de type, les procédu res et l es exig ences de Q et Q b) peu ven t être u ti lisées, mais dans ce cas, les essais et les parties d'essais doi ven t être appl iqu és en respectant l'ordre indiqu é par les programmes d'essai Q.2 Étape initiale de fabrication L’étape initiale de fabri cation est définie comm e le processu s in i ti al de mél ang e des ing rédien ts Q.3 Modèles de structure semblable Q.3.1 Les th ermistances de structu re semblable peu ven t être grou pées pou r former des lots pou r inspection condi tion qu e les exi g ences su ivan tes soient satisfaites – – – El les doi ven t être produi tes par u n seu l fabricant sur u n seu l site en u ti li san t essentiell emen t l es mêmes concepti ons, matériaux, processus et méthodes L’échan ti ll on prélevé doit être déterm i né partir de l’effectif total du l ot des disposi tifs g rou pés I l vien t d’inclu re les dispositifs de stru cture semblabl e dans u ne spéci fication particu lière, m ais les détai ls de tou tes les reven di cations de sim ilarité stru ctu relle doiven t être déclarés dans les rapports d’essais d’hom ologation Q.3.2 Pou r l es essais électriqu es, les disposi ti fs ayan t les m êm es caractéristiqu es électri ques peu ven t être grou pés condition qu e l’élémen t qu i déterm in e les caractéri stiqu es soi t sim i laire pour tou s l es dispositifs concernés Q.3.3 Pou r l es essais d’environnemen t, les disposi ti fs ayan t le mêm e bti er, l a même stru ctu re él ém en taire i n terne et l e même trai temen t de fin i tion peu vent être g rou pés Q.3.4 Pou r l’inspection visuel le (à l ’exception du marquag e) , l es dispositifs peu ven t être g rou pés s’ils on t été fabriqu és su r la mêm e l i gne de production , s’i ls on t l es m êmes dimensions, le mêm e btier et la mêm e fi niti on externe Ce g rou pemen t peu t ég alemen t être u tilisé pou r les essais de robu stesse des sorties et les essais de brasabilité pou r lesqu els i l est prati qu e de g rou per les disposi ti fs de structures i nternes di fféren tes Q.3.5 Pou r les essais d’en durance, les thermistances peu ven t être grou pées si el les on t été fabriqu ées su r l a m ême li gn e de production , si leu r conception est iden ti qu e et si seu les leu rs caractéristiqu es électri qu es son t di fféren tes S’il peu t être démon tré qu ’u n type du grou pe su bi t des traintes plus importantes qu e l es au tres, alors les essais pour ce type peu vent être acceptés pour les au tres m embres du g rou pe – 112 – Q.4 Q.4.1 I EC 60539-1 :201  I EC 201 Procédures d’homologation Généralités Le fabricant doi t satisfai re a) au x exig ences générales du système d’assu rance de la qu al ité spéci fié qu i rég it l'hom olog ation , et b) au x exigences de l'étape in i tiale de fabrication (voir Q 2) Q.4.2 Procédures d’essai pour l’homologation Ou tre les exig ences de Q , l es procédu res a) ou b) ci-dessou s, doivent être appli qu ées a) Le fabrican t doi t prou ver la formi té des essai s au x exig ences des spécifications su r trois lots pris dans u n intervall e de temps aussi court qu e possible, pour u ne inspection l ot par lot, et su r u n seul lot pou r une inspection périodi que Les échantillons doiven t être prélevés dans des l ots form émen t l'I EC 61 93-2 U n e i nspection normale doi t être u tilisée, m ais si l ’effecti f d'éch an ti ll on don ne une acceptation basée su r zéro non-con form ité, des spéci mens supplém en tai res doi ven t être prél evés pou r satisfaire l’effectif d'échan tillon exig é et donner u n e acceptation su r u n élémen t non forme b) Le fabricant doi t, en vari an te la procédu re spécifi ée en Q a) , prou ver la formi té des essais au x exig ences des spéci ficati ons su r un des prog rammes d’essai avec u n effecti f d'éch an til lon fixe donn ée dans la spéci fication i ntermédiaire Les spécim ens prélevés pou r former l'échan til lon doi ven t être choisis de mani ère aléatoire dans la produ ction cou rante ou sel on l ’accord avec l’org an isme de certi fication Pour les deu x procédu res, les effectifs d'échan til lons et l e n ombre de non-con form ités adm issibles doiven t être d'ordre com parable Les di tions d’essai et l es exig ences doivent être l es m êm es Q.4.3 Maintien de l’homologation L’h omol og ati on obten ue par le systèm e d'assurance de la qual ité doi t être m ain ten ue par des dém onstrations rég u lières de la form i té au x exig ences pour l a form i té de l a qu al i té (voir Q 5) Si non , cette h om olog ation doit être véri fiée par les règ les de main tien de l'hom olog ation données ci-après a) Le m n tien de l'h om olog ation est assu ré l orsqu e les conditions détai llées dans la spéci fication applicable son t satisfai tes b) Si non , l 'homolog ation doi t être vérifiée ) si le program me de produ cti on est tel qu e les essais périodi qu es ne peu ven t pas être réalisés leu r fréqu ence n orm ale, ou 2) si l a form ité des com posan ts en production au x composants d'hom olog ati on est dou teu se ou poten ti el lem en t dou teu se, par exem ple après u ne modi fication techn iqu e, ou 3) l orsqu 'une m odi fication a été apportée la spécification c) La procédu re de vérification décri te au poin t b) ci-dessus est la même qu e celle sui vie pou r l'homol og ati on Le n ombre d'essais peu t être inférieu r, selon la description du responsable désig né en accord avec l'organism e de certi ficati on, mais l es exig ences d'échan ti ll onn age pou r ch aqu e essai n e chang ent pas d) Avec les exig ences menti on nées ci-dessu s, la du rée de val idité de l'hom olog ati on n'est pas li mitée I EC 60539-1 :201 Q.5  I EC 201 – 113 – Contrôle de conformité de la qualité Les spéci fications particu l ières cadres li ées la spéci fication in termédiai re doi ven t spéci fier le prog ramm e d'essai pour le contrôle de form ité de la qual ité Ce prog ramme doi t également spéci fier l e g roupemen t, l'éch an til lonnag e et la périodici té des i nspections l ot par lot et des inspections périodi ques Les n i veau x d'inspection et les plans d'éch antil lonnag e doi ven t être ch oisis parm i ceu x donn és dans l'I EC 61 93-2 Si nécessaire, pl usi eu rs prog rammes d'essai peu vent être spéci fiés Q.6 Enregistrements d’essais certifiés de lots acceptés Lorsqu e des rapports certifiés d'essais sont dem andés par u n acheteur, ils doi ven t être indiqu és dans la spéci fication particu lière Q.7 Livraison retardée Les th ermistances conservées pendan t u ne période su péri eu re deu x ans (sau f indication traire dans la spécification in term édiaire) après l’acceptation du lot doiven t, avan t li vraison, être exam inées un e nouvelle fois com me cel a est indiqu é dans la spécification i nterm édiaire La procédu re de nou vel examen adoptée par l e responsable désig né du fabrican t doit être approu vée par l ’org an ism e de certi fication Lorsqu ’u n l ot a été inspecté u ne nou vel le fois de m anière satisfaisan te, sa qu ali té est g aran ti e pou r la période spécifiée Q.8 Acceptation pour livraison par homologation avant la fin des essais du groupe B Quan d les conditions spéci fiées dans l 'I EC 61 93-2 pou r passer en inspection rédu i te on t été satisfai tes pour tou s les essais du g rou pe B, le fabrican t est au torisé accepter l es composants avan t la fin de tels essais Q.9 Autres méthodes d'essai Voir le systèm e d’assu rance de la qu al ité spéci fié, avec les détai ls su i van ts En cas de l iti g e, seu les les m éthodes spéci fiées doivent être u tilisées pou r arbitrer les fli ts ou servir de référence Q.1 Paramètres non vérifiés Seu ls les paramètres d'u n composant i ndiqu és dans l a spécifi cation particu l ière et qu i on t été sou m is au x essais doi ven t être considérés com me étan t dans l es li mi tes spéci fiées I l ne peu t être considéré qu 'u n paramètre non spécifié ne chang e pas d'u n composan t l'au tre S’il est n écessaire pou r n'importe qu elle raison de trôler d’au tres paramètres, al ors u ne n ou velle spécification plu s étendu e doi t être u ti lisée – 114 – I EC 60539-1 :201  I EC 201 Les au tres m éth odes d'essai doi ven t être complètem ent décri tes, et les li mi tes, les plans d’échantillonnag e et l es ni veau x d'inspecti on appropriés doiven t être spécifiés I EC 60539-1 :201  I EC 201 – 115 – Bibliographie I EC 6041 0:1 973, I EC 60027-1 , Plans et règles d’échantillonnage pour les contrôles par attributs Symboles littéraux utiliser en électrotechnique – Partie : Généralités I EC 60050 (toutes les parties), Vocabulaire Electrotechnique (dispon ible sou s: www electropedia org ) I EC 6061 7, Symboles graphiques pour schémas I SO 80000-1 :2009, International (dispon ible sou s: h ttp://std iec ch /i ec6061 7) Grandeurs et unités – Partie : Généralités _ I N TE RN ATI O N AL E LE C TR OTE C H N I C AL CO M M I S SI O N , ru e d e Vare m bé PO Box 31 CH -1 21 G e n e va S wi tze rl an d Te l : + 41 Fax: + 22 9 1 22 9 0 i n fo @ i e c ch www i e c ch