Nghiên cứu xác định các tạp chất đất hiếm trong sản phẩm đất hiếm có độ tinh khiết cao

Bài viết Nghiên cứu xác định các tạp chất đất hiếm trong sản phẩm đất hiếm có độ tinh khiết cao tổng quan các phương pháp hiện đại được áp dụng xác định các tạp chất đất hiếm và một số kết quả nghiên cứu bước đầu áp dụng phương pháp ICP-OES ở Trung tâm Nghiên cứu và Chuyển giao Công nghệ đất hiếm, Viện Công nghệ xạ hiếm nhằm xác định tạp chất đất hiếm trong các sản phẩm phân chia tinh chế đất hiếm như lantan, gadolini và neodym.

NGHIÊN CỨU XÁC ĐỊNH CÁC TẠP CHẤT ĐẤT HIẾM TRONG SẢN PHẨM ĐẤT HIẾM CÓ ĐỘ TINH KHIẾT CAO Trần Hoàng Mai, Nguyễn Phương Thoa,Đoàn Thị Mơ, Lê Bá Thuận Viện Công nghệ xạ hiếm-48 Láng Hạ,Đống Đa, Hà Nội tranhoangmai.khtn@gmail.com Tóm tắt: Các sản phẩm đất sử dụng rộng rãi ngành công nghiệp công nghệ cao hạt nhân, quang học, laze, nam châm, chất huỳnh quang, gốm cao cấp v.v Những sản phẩm chế tạo từ nguyên liệu hợp chất đất có độ tinh khiết cao phương diện tạp chất đất không đất Hiện nay, có số phương pháp để đánh giá độ tinh khiết sản phẩm quang phổ phát xạ plasma cảm ứng ICP-OES, khối phổ plasma cảm ứng ICP-MS, phương pháp kích hoạt nơtron NAA,v.v Bài viết tổng quan phương pháp đại áp dụng xác định tạp chất đất số kết nghiên cứu bước đầu áp dụng phương pháp ICP-OES Trung tâm Nghiên cứu Chuyển giao Công nghệ đất hiếm, Viện Công nghệ xạ nhằm xác định tạp chất đất sản phẩm phân chia tinh chế đất lantan, gadolini neodym Từ khóa: xác định tạp chất đất tinh khiết cao, ICP-OES, ICP-MS, Neodym, Lantan, Gadolini I MỞ ĐẦU Đất (REEs) sản phẩm đất sử dụng rộng rãi ngành công nghiệp công nghệ cao như: hạt nhân, quang học, laze, nam châm, gốm cao cấp.v.v Mỗi nguyên tố có giá trị ứng dụng khác Praseodym (Pr), neodym (Nd), samari (Sm) dysprosi (Dy) dùng nam châm vĩnh cửu Terbi (Tb), ceri (Ce), lanthan (La), europi (Eu), ytri (Y) thành phần chất huỳnh quang, hình rada Các nhà sản xuất cung cấp sản phẩm đất có độ tinh khiết lên đến 99,9999%, lượng vết tạp chất cỡ pg/g [1] Độ tinh khiết vật liệu nói chung sản phẩm đất nói riêng phân loại dựa có mặt nhiều hay tạp chất dạng kim loại tổng tạp chất Tổng tạp chất bao gồm tạp chất dạng kim loại, không kim loại, anion, oxit cặn [1] Vì vậy, độ tinh khiết vật liệu tính đến có mặt tạp chất kim loại cao nhiều so với tính đến tổng tạp chất Đối với sản phẩm đất hiếm, có mặt tạp chất đất không đất vật liệu thường ảnh hưởng đến tính chất lý sản phẩm cuối giá thành sản phẩm phụ thuộc nhiều vào độ tinh khiết [1] Vì vậy, lượng tạp chất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao cần kiểm soát chặt chẽ cẩn thận Bài viết tổng quan phương pháp ICP-MS ICP-OES xác định tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao số kết nghiên cứu bước đầu áp dụng phương pháp ICP-OES Trung tâm Nghiên cứu Chuyển giao Công nghệ đất hiếm, Viện Công nghệ xạ nhằm xác định trực tiếp tạp chất đất sản phẩm phân chia tinh chế đất lantan, gadolini neodym, không qua tách làm giàu II THIẾT BỊ, HÓA CHẤT, DỤNG CỤ - Máy quang phổ phát xạ plasma cảm ứng (ICP-OES), Horiba, Ultima2 (Pháp), độ phân giải quang học < pm (160-390 nm) 99,99%[1] 3.1.2 Phương pháp ICP-OES Các nguyên tố hóa học nói chung nguyên tố đất (REEs) nói riêng có nhiều vạch phổ phát xạ Nếu tính vạch phổ phát xạ có cường độ tương đối từ 400 trở lên, REEs có tới hàng trăm vạch Do ngun tố có tính chất tương tự nhau, khiến cho việc xác định chúng trở nên khó khăn Đặc biệt, xác định tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao phương pháp ICP-OES khơng xảy tương tác lẫn tạp chất mà xảy tương tác mạnh với nên việc định lượng phức tạp Những tương tác tính tốn nhiều cơng trình tương tác phổ xác định lượng vết nguyên tố đất đất tinh khiết(Pr, Sm, Eu, Lu, Y, Gd, Er, Yb, Tb, Dy, Ho, Tm, Ce, Nd, La) phương pháp ICPOES [11-17] Để hiệu chỉnh tương tác này, Luís Cláudio de Oliveira cộng sử dụng Gd, tối ưu thơng số phân tích, lựa chọn nhóm bước sóng phù hợp nhất, đánh giá hiệu chuẩn tương tác xác định trực tiếp nguyên tố đất Gd tinh khiết cao ICP-OES [18] Các tác giả xác định tạp chất đất Eu, Sm, Tb, Yb, Dy, với hiệu suất thu hồi mẫu thêm nằm khoảng 95-109%, hệ số biến thiên Pα=0,05 nên khơng có khác có ý nghĩa thống kê hai phương pháp, độ tin cậy 95%.Vì vậy, kết hợp với kết sai số tương đối độ thu hồi chứng tỏ phương pháp xác định tạp chất đất lantan tinh khiết phương pháp ICP-OES có độ tin cậy cao áp dụng để định lượng sản phẩm lantan tinh khiết 99,9% Trung tâm Nghiên cứu Chuyển giao Công nghệ đất đơn vị khác IV KẾT LUẬN Báo cáo tổng quan số phương pháp phân tích tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao NAA, ICP-OES, ICP-MS, đặc biệt tập trung phân tích số điểm yếu ưu, nhược điểm, tương tác phổ, tương tác ICP-OES ICP-MS nghiên cứu gần Tạp chất đất xác định trực tiếp sử dụng kĩ thuật tách, chiết làm giàu khác kết hợp với ICP-OES ICP-MS Đồng thời đưa số kết nghiên cứu xác định tạp chất đất trực tiếp các sản phẩm phân chia tinh chế đất lantan, gadolini neodym ICP-OES Trung tâm Nghiên cứu Chuyển giao Công nghệ đất Qui trình phân tích sản phẩm lantan hồn thiện, hai qui trình phân tích sản phẩm gadolini neodym cần tiếp tục nghiên cứu thời gian tới TÀI LIỆU THAM KHẢO Viet Hung Nguyen, “Development of methods for the determination of rare earth elements as trace impurities in high-purity rare earth oxides and rare earth elements by ICP-MS and HPCL-ICP-MS”, Thesis for the Master’s degree in Chemistry, University of Oslo, 12/2013 Man He, Bin Hu, Zucheng Jiang, and Yan Zeng, “Development and Validation Method for the Determination of Rare Earth Impurities in High Purity Neodymium Oxide by ICP-MS”, Atomic Spectroscopy, Volume 25, No.1, 13-20, 2004 Juane Song, Xiang- Cheng Zeng, Dong Yan and Wei-ming Wu, “Routine determination of trace rare earth elements in high purity Nd2O3 using the Agilent 8800 ICP-QQQ”, Application note, Agilent Technologies, Inc, 5991-5400EN, 2015 Man He, Bin Hu, Yan Zeng, Zucheng Jiang, “ICP-MS direct determination of trace amounts of rare earth impurities in various rare earth oxides with only one standard series”, Journal of Alloys and Compounds 390, 168-174, 2005 Naoko Sugiyama and Glenn Wood, “Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode”, Application note, Agilent Techonologies Inc, 5991-0892EN, 2012 Xinquan et al, “Direct determination of rare earth impurities in high purity erbium oxide dissolved in nitric acid by inductively coupled plasma mass spectrometry”, Analytica Chimica Acta, Volume 555, Issue 1, 57-62, 2006 W.R.Pedreira et al, “Trace amounts of rare earth elements in high purity samariumoxide by sector field inductively coupled plasma mass spectrometry after separation by HPLC”, Journal of Alloys and Compounds 418, 247-250, 2006 W.R.Pedreira et al, “Determination of trace amounts of rare-earth elements in highlypure neodymium oxide by sector field inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-SFMS) and high-performance liquid chromatography (HPLC) techniques”, Journal of Solid State Chemistry, 171, 3-6, 2003 W.R.Pedreira et al, “Determination of trace amounts of rare earth elements in highly purepraseodymium oxide by double focusing inductively coupled plasma mass spectrometry and high-performance liquid chromatography”, Journal of Alloys and Compounds, 323-324, 49-52, 2001 10 Bing Li, Yan Zhang and Ming Yin, “Determination of Trace Amounts of Rare Earth Elements inHigh-purity Cerium Oxide by Inductively Coupled Plasma Mass SpectrometryAfter Separation by Solvent Extraction”, Journal Analyst, Issue 6, 1997 11 N Daskalova, S Velichkov, N Krasnobaeva, P Slavova, “Spectral interferences in thedetermination of traces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rare earth matrices by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry” Part I Cerium, neodymium and lanthanum matrices, Spectrochim Acta Part B 47, E1595–E1620, 1992 12 S Velichkov, N Daskalova, P Slavova, “Spectral interferences in the determination oftraces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rare earth matricesby inductively coupled plasma atomic emission spectrometry”, Part II Praseodymiumand samarium, Spectrochim Acta Part B 48, E1743–E1789,1993 13 N Daskalova, S Velichkov, P Slavova, “Spectral interferences in the determination oftraces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rare earth matricesby inductively coupled plasma atomic emission spectrometry”, Part III Europium,Spectrochim Acta Part B 51, 733–768, 1996 14 S Velichkov, E Kostadinova, N Daskalova, “Spectral interferences in the determinationof traces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rareearth matrices by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry”, PartIV Lutetium and yttrium.Spectrochim Acta Part B 53, 1863–1888, 1998 15 E Kostadinova, L Aleksieva, S Velichkov, N Daskalova, “Spectral interferences inthe determination of traces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure”rare earth matrices by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry”,Part V Gadolinium and Erbium, Spectrochim Acta Part B 55, 689–729, 2000 16 L Aleksieva, N Daskalova, S Velichkov, “Spectral interferences in the determinationof traces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rare earth matrices by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry”, Part VI Ytterbium,Spectrochim Acta Part B 57, 1341–1350, 2002 17 I.Kolibarska, S Velichkov, N Daskalova, “Spectral interferences in the determinationof traces of scandium, yttrium and rare earth elements in “pure” rare earth matrices by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry Part VII Terbium, Dysprosium, Holmium and Tholium, Spectrochim Acta Part B 63, 603-606, 2008 18 Luis Cláudio de Oliveira, Ieda de Souza Silva and M Isabel Rucandio, “Rare earth elements determination by icp oes in high purity gadolinium”, International Nuclear Atlantic Conference, 2009 19 Kwang-SoonChoi et al, “Separating Ag, B, Cd, Dy, Eu, and Sm in a Gd matrix using 2ethylhexyl phosphonic acid mono-2-ethylhexyl ester extraction chromatography for ICP-AES analysis”, Talanta, volume 71, issue 2, 662-667, 2007 20 Qin SHUAL et al “Determination of rare earth impurities in high-purity lanthanum oxide using electrothermal vaporization/ICP-AES after HPLC separation”, Alnalytical sciences, vol.16, 957-961, 2000 21 Lê Bá Thuận, Nguyễn Xuân Chiến, Đoàn Thị Mơ, Trần Hoàng Mai, Nguyễn Phương Thoa “Xác định tạp chất đất lantan tinh khiết quang phổ phát xạ plasma cảm ứng (ICP-OES)”, Tạp chí phân tích Hóa, Lý Sinh học, tập 23, số 3,55-61, 2018 22 Nguyễn Xuân Chiến, Lê Bá Thuận, Đoàn Thị Mơ, Trần Hoàng Mai, Nguyễn Phương Thoa “Xác định tạp chất đất Gadolini tinh khiết quang phổ phát xạ plasma cảm ứng (ICP-OES)”, Tạp chí phân tích Hóa, Lý Sinh học, tập 23, số 3, 62-68, 2018 INVESTIGATION FOR THE DETERMINATION OF RARE EARTH IMPURITIES IN HIGH-PURE RARE EARTH PRODUCTS Tran Hoang Mai, Nguyen Phuong Thoa, Doan Thi Mo, Le Ba Thuan Institute for Technology of Radioactive and Rare Elements- 48 Lang Ha street-Dong Da district Hanoi tranhoangmai.khtn@gmail.com Abstract:Rare earth products have been widely used in the high-technological industries such as nuclear, optics, lase, magnet, ceramics etc.These products are made from materials having a high-pure level both non-rare earth elements and rare earth elements impurities.Up to now, there are several methods in order to determine the purity of rare earth products such as inductively couple plasma optical emission spectrometryICPOES,inductively couple plasma mass spectrometry ICP-MS, neutron activation analysis NAA, etc The modern methods are used to determine rare earth impurities in high-pure rare earth materials will be presented in this report The results of the determination of rare earth impurities in the high-pure lanthanum, gadolinium and neodymium productsconducted in the Rare Earths Research and Technology Transfer Centre, Institute for Technology of Radioactive and Rare Elements using ICP-OES will be reported Key words: Determination of rare earth impurities in high-pure rare earth products, ICPOES, ICP-MS, Neodymium, Lanthanum, Gadolinium ... pháp phân tích tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao Hiện nay, có số phương pháp sử dụng để xác định tạp chất nói chung tạp chất đất nói riêng sản phẩm đất có độ tinh khiết cao quang phổ... tố có tính chất tương tự nhau, khiến cho việc xác định chúng trở nên khó khăn Đặc biệt, xác định tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết cao phương pháp ICP-OES khơng xảy tương tác lẫn tạp chất. .. phép xác định nguyên tố lượng vết nguyên tố mẫu; độ ổn định cao có khả phân tích đồng thời nhiều ngun tố [1] Vì vậy, hai phương pháp phù hợp để xác định tạp chất đất sản phẩm đất có độ tinh khiết