CÁC PHƢƠNG PHÁP THỰC NGHIỆM
2.2.2. Kỹ thuật phân tích cấu trúc bằng phổ nhiễu xạ ti a
Phép phân tích nhiễu xạ tia X đã được sử dụng rộng rãi để tìm hiểu cấu trúc của các loại vật liệu khác nhau. Tán xạ tia X từ một tinh thể có thể được mô tả theo định nghĩa phản xạ từ một tập hợp các mặt phẳng mạng tuân theo điều kiện phản xạ Bragg:
2dhkl.sin = n. (2.1)
Trong đó dhkl là khoảng cách giữa các mặt phẳng mạng lân cận gần nhất có cùng chỉ số Miller (hkl). Giản đồ nhiễu xạ tia X bột (X-ray Powder Diffraction Pattern) cho những thông tin quan trọng về cấu trúc như xác định các hằng số mạng a, b, c. So sánh tỉ lượng tương đối giữa các pha, xác định các tạp chất có trong mẫu. Các hằng số mạng của các mẫu được xác định thông qua công thức:
2 2 2 2 2 2 1 c l b k a h dhkl (2.2)
Dựa vào bảng chuẩn từ các giá trị đặc trưng của dhkl có thể giải hệ các phương trình (2.1) và (2.2) cho một cặp gồm hai mặt phẳng (hkl) khác nhau. Giá trị của hằng số mạng a, b và c thu được là trung bình cộng của các nghiệm tương ứng của tất cả các tổ hợp gồm hai mặt (hkl) khác nhau.
Hình 2.3 là máy nhhiiễễuu xxạạttiiaaXXSSIIMMEENNSS DD--55000000ccủủaapphhòònnggtthhíí nngghhiiệệmm t
trrọọnnggđđiiểểmmQQuuốốccggiiaa,,VViiệệnnKKhhooaahhọọccVVậậttlliiệệuu..