Sun và Chao Kong thể hiện qua hình 3.3 cho kết quả tương tự như của chúng tôi và đặc biệt cũng thể hiện được mặt cắt 5 cạnh như trình bày trong phần tổng quan.
Hình 3.3: Giản đồ nhiễu xạ XRD và ảnh SEM của nhóm tác giả Chao Kong và Yugang Sun.
Để thấy được sự thống nhất về kết quả thông qua nhiều phép đo khác nhau, ngoài việc thực hiện đồng thời hai phép đo XRD và SEM cho kết quả hổ trợ, bổ sung cho nhau để chứng minh sự tồn tại của dây nano bạc trong quá trình tổng hợp nói trên tương tự như các tác giả khác, chúng tôi còn thực hiện thêm phép kiểm chứng thứ ba thông qua phổ hấp thụ UV-Vis trong vùng khả kiến được trình bày trong phần 3.1.2 sau.
3.1.2. Sự tương thích của phổ UV-Vis với các kết quả thu được từ XRD và SEM SEM
Các mẫu dây nano bạc trong bảng 2.1 được pha loãng với nồng độ tương đương nhau, sau đó tất cả cho vào lọ chuẩn để đo phổ hấp thụ UV – Vis trong vùng khả kiến. Để thuận tiện trong quá trình lập luận và trình bày, trong phần này chúng tôi chỉ trình bày phổ hấp thụ của mẫu NWAg8 được xét ở phần 3.1.1 nói trên và trình bày trên hình 3.4.
Hình 3.4: Phổ hấp thụ UV - Vis của các mẫu nanowires bạc NWAg8
Phổ hấp thụ của mẫu NWAg8 minh họa một đỉnh hấp thụ mở rộng từ 320nm đến 700nm với cực đại hấp thụ tại 375 nm. Phổ hấp thụ này tương ứng với sự tương tác của sóng điện từ (ánh sáng) với vật chất có trong mẫu. Giả sử mẫu gồm hai thành phần dây nano và hạt nano tương ứng với hàm lượng điện tử bề mặt khác nhau. Sóng điện từ tương tác với bề mặt hạt nano bao gồm các điện tử có tính đối xứng cầu đều quanh hạt sẽ thể hiện đỉnh cực đại hấp thụ khác với cực đại hấp thụ khi sóng điện từ tương tác với dây nano có các điện tử bề mặt đối xứng trụ dọc theo chiều dài dây. Đây là lí do mở rộng vùng phổ hấp thụ của mẫu NWAg8. Theo nhiều tác giả như Moussa N’Gom [16, tr.4], Yugang Sun [18, tr.2], ... đỉnh hấp thụ trong khoảng 370 – 380 nm tương ứng với sự hấp thụ gây ra bởi dây nano và đỉnh hấp thụ trong vùng 410nm – 420nm gây ra bởi
hạt nano. Do đó từ phổ hấp thụ trình bày trong hình 3.4 cũng cho phép chúng tôi xác định định tính hàm lượng dây và hạt nano bạc có trong mẫu NWAg8 bằng phương pháp giải chập khi so sánh tỉ số cường độ đỉnh của hai đỉnh đặc trưng 375 nm và 415 nm được chọn cố định trong đường cong giải chập, được làm khớp đa đỉnh (fit multi – peaks) bởi chương trình originPro8 như minh họa trên hình 3.5.
Hình 3.5: Giản đồ nhiễu xạ XRD được giải chập
Dựa trên tỉ số 1,325/0,828 = 1,6 định tính giữa cường độ đỉnh dây nano bạc và đường kính của dây nano với hạt nano bạc này, cho thấy hàm lượng dây nano có trong mẫu NWAg8 nhiều hơn hẳn hạt nano và phù hợp với các khảo sát về cấu trúc và hình thái học thông qua giản đồ XRD và ảnh hiển vi điện tử SEM trình bày trong phần 3.1.1 trên. Theo chúng tôi, phổ hấp thụ Uv-Vis sẽ là một phương pháp khảo sát nhanh, đánh giá chất lượng của mẫu tổng hợp được ngay từ trong dung dịch trước khi thực hiện các phép đo chi phí cao XRD và SEM.
Để kiểm chứng lại độ chính xác khi dùng phổ UV – Vis đánh giá ban đầu chất lượng mẫu, chúng tôi sẽ khảo sát chi tiết hơn trong phần nghiên cứu ảnh hưởng của tác chất KBr và PVP đến quá trình tổng hợp dây nano bạc.
Buoc song (nm)
Đường cong hấp thụ của dây nano bạc
Đường cong hấp thụ của đường kính của dây nano bạc và hạt nano bạc
0,828 1,325