Hệ xác định cấu trúc, hình thái học mặt của mẫu

Một phần của tài liệu Nghiên cứu chế tạo màng mỏng zns mn bọc phủ PVP và khảo sát phổ phát quang của chúng (Trang 44 - 48)

Chương 2: MỘT SỐ PHƯƠNG PHÁP CHẾ TẠO MÀNG MỎNG ZnS:Mn,

2.3 Hệ xác định cấu trúc, hình thái học mặt của mẫu

Nguyên tắc chung của phương pháp phân tích cấu trúc tinh thể và thành phần pha bằng nhiễu xạ tia X (XRD) dựa trên hiện tượng nhiễu xạ tia X của mạng tinh thể khi thỏa mãn điều kiện Bragg :

2dsin = n (2.1)

Trong đó d là khoảng cách giữa các mặt nguyên tử phản xạ,  là góc phản xạ,

 là bước sóng của tia X và n là số bậc phản xạ. Tập hợp các cực đại nhiễu xạ Bragg dưới các góc 2 khác nhau có thể ghi nhận bằng sử dụng phim hay Detectơ. Trên cơ sở đó phân tích các đặc trưng về cấu trúc tinh thể, độ đơn pha và nhiều thông số liên quan khác của mẫu khảo sát. Các mẫu trong khóa luận này được phân tích cấu trúc bằng nhiễu xạ kế tia XD8 Advance của hãng Bruker (Đức) tại Phòng thí nghiệm Hoá Vật Liệu, Khoa Hoá học, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà Nội với bước sóng tia X tới từ bức xạ K của Cu là :Cu = 1.54056 Å.

Hình 2.13 Sự tán xạ của một cặp tia X phản xạ trên hai mặt phẳng nguyên tử liên tiếp

Đối với các bột huỳnh quang hiệu ứng quang học rất rõ khi pha tạp, nhưng để nhận biết được độ pha tạp qua thay đổi hằng số mạng với các nồng độ pha tạp bé là rất khó, đòi hỏi phép đo và phân tích phải rất chuẩn xác và phụ thuộc vào các trường hợp cụ thể.

Hình 2.14 Máy đo phổ XRD 2.3.2. Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)

Sơ đồ khối của kính hiển vi điện tử truyền qua được trình bày trên hình 2.15.

Hình 2.15: Sơ đồ khối của kính hiển vi điện tử truyền qua

Kính hiển vi điện tử truyền qua là một loại kính hiển vi điện tử truyền qua nhưng khác với CTEM là chùm điện tử truyền qua mẫu là một chùm điện tử được hội tụ thành một chùm hẹp và được quét trên mẫu. Nhờ việc điều khiển khẩu độ và

thấu kính hội tụ, chùm điện tử có thế hội tụ thành một chùm tia có kích thước rất hẹp (các STEM mạnh hiện nay có thể cho kích thước tới dưới 1 nm) do đó cho phép ghi ảnh với độ phân giải rất cao. Hơn nữa, vì chùm điện tử là hội tụ, nên góc tán xạ của điện tử sau khi truyền qua mẫu sẽ rất lớn và tạo ra nhiều phép phân tích mạnh, ví dụ như phép ghi ảnh trường tối với góc lệch vành khuyên lớn (High-annular dark-field imaging -HADF), khả năng phân tích phân bố các nguyên tố với độ phân giải cực cao nhờ phép phân tích phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS) thực hiện đồng thời với quá trình ghi ảnh. Hơn nữa, ảnh độ phân giải cao trực tiếp liên quan đến nguyên tử khối của các nguyên tố, do đó rất hữu ích cho việc phân tích sự phân bố của các nguyên tố hóa học

2.3.3. Hệ thu phổ phát quang bằng máy quang phổ cách tử đa kênh MS-257 dùng kỹ thuật CCD

Sơ đồ khối của hệ thu phổ phát quang bằng máy quang phổ cách tử đa kênh MS-257 dùng kỹ thuật CCD được dẫn ra ở hình 2.16

Cấu tạo của hệ gồm ba bộ phận chính: Nguồn kích thích, máy quang phổ cách tử MS-257, hệ thu và xử lý tín hiệu.

Nguồn kích thích: Nguồn kích thích là laser He-Cd phát bức xạ liên tục ở hai bước súng 0.325àm và 0.442àm với cụng suất tương ứng khoảng 30mW và 100mW.

Máy quang phổ cách tử MS-257: Có thể sử dụng số vạch/mm theo mong muốn và đóng mở cửa sập bảo vệ detector CCD hoàn toàn tự động.

Hệ thu và xử lý phổ: Hệ thu và xử lý phổ gồm detector CCD IntraSpec TM IV, bộ khuếch đại, bộ điều khiển và máy tính dung để hiển thị phổ dưới dạng file số liệu và file ảnh.

Ánh sáng laser (λ= 325nm) từ laser liên tục He-Cd công suất 30mW đi qua các phin lọc để điều chỉnh công suất và có thể thay đổi độ rộng chùm tia bằng diagram. Chùm laser chiếu vào mẫu trên giá đỡ dưới góc 45o.

Ánh sáng từ mẫu phát ra được hội tụ vào khe máy quang phổ cách tử MS- 257 bằng thấu kính L2 (f2 = 9.4cm). Sau khi phản xạ trên gương phẳng G1,gương cầu lõm G2, chùm bức xạ phát quang chiếu vào cách tử G.

Dây dẫn Bộ khuếch

đại

Đetector CCD Bộ tích phân

up/down

A/D chậm

A/D nhanh

Quá trình số hoá

Giao diện USB 2.0 Bộ điều khiển

Máy tính laser

L1

Mẫu

L2

G3

G1 G2

G

G4

Máy quang phổ MS-257 F

Nhờ có cách tử này mà chùm bức xạ phát quang được phân tích thành các thành phần đơn sắc khác nhau và chiếu vào gương cầu lõm G3.

Sau khi phản xạ trên nó tín hiệu đưa vào hệ thu và xử lý phổ gồm detector CCD IntraSpec TM IV, bộ khuếch đại, bộ điều khiển và máy tính cho phổ ra dưới dạng file số liệu và file ảnh.

Khi đo phổ phát quang đã sử dụng cách tử loại 77742 (1200 vạch/mm) với vựng phổ làm việc 0.2 àm ữ 1.4 àm. Hoạt động của sơ đồ này như sau:

Hình 2.16: Sơ đồ khối hệ thu phổ phát quang bằng máy quang phổ cách tử đa kênh MS-257 dùng kỹ thuật thu CCD [7]

Một phần của tài liệu Nghiên cứu chế tạo màng mỏng zns mn bọc phủ PVP và khảo sát phổ phát quang của chúng (Trang 44 - 48)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(72 trang)