Thiết bị SEM Jeol 5410 LV tại Đại học Quốc Gia Hà Nội

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) ảnh hưởng của điều kiện chế tạo lên sự hình thành tinh thể bi2te3 bằng phương pháp lắng đọng điện hóa (Trang 40)

Kích thước nhỏ nhất của mẫu có thể là 0.1 mm, kích thước lớn nhất phụ thuộc vào thiết bị SEM cụ thể.

Ưu điểm của phương pháp này là phân tích mà khơng phá hủy mẫu, có thể hoạt động ở chân khơng thấp, giá thành thấp và dễ vận hành.

2.3.2 Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD).

Để xác định sự đơn pha của mẫu và hằng số mạng ta tiến hành đo nhiễu xạ bột tia X. Sau khi tổng hợp các mẫu, mẫu được nghiền thành bột có kích thước 50 ÷ 100μm.

Nhiễu xạ bột tia X là phương pháp sử dụng với các mẫu là đa tinh thể, đó là phương pháp được sử dụng rộng rãi nhất để xác định cấu trúc tinh thể bằng cách sử dụng một chùm tia X song song hẹp, đơn sắc chiếu vào mẫu. Bộ phận chính của nhiễu xạ kế tia X là: nguồn tia X, mẫu, detector tia X. Chúng được đặt nằm trên chu vi của vịng trịn. Góc giữa mặt phẳng mẫu và tia X tới là góc θ, góc giữa phương chiếu tia X và tia nhiễu xạ là 2θ. Người ta sẽ quay mẫu và quay đầu thu chùm nhiễu xạ trên đường tròn, ghi lại cường độ chùm tia phản xạ và ghi phổ nhiễu xạ bậc 1 (n = 1). Phổ nhiễu xạ là sự phụ thuộc của cường độ nhiễu xạ vào hai lần góc nhiễu xạ (2θ).

Hình 2.10. Sơ đồ mơ tả ngun lý hoạt động của phương pháp nhiễu xạ tia X.

Nguyên lý chung của phương pháp nhiễu xạ tia X xác định cấu trúc tinh thể là dựa vào ảnh hưởng khác nhau của kích thước tinh thể lên phổ nhiễu xạ. Trong mỗi tinh thể, vị trí của nguyên tử được sắp xếp thành những mặt phẳng Bragg. Đối với mặt phẳng Bragg, tia X tuân theo định luật phản xạ. Nếu dhkl là khoảng cách giữa hai mặt Bragg thì khoảng cách giữa hai tia phản xạ là . Hiện tượng giao thoa xảy ra khi khoảng cách này là một số nguyên lần bước sóng, tức là:

(2.3) Trong đó: dhkl là khoảng cách giữa hai mặt nguyên tử phản xạ có chỉ số mặt tinh thế là (hkl).

θ là góc phản xạ (góc tia X tới hợp với mặt tinh thể đang xét). λ là bước sóng của tia X.

n = 1, 2, 3… được gọi là bậc phản xạ.

Tập hợp các cực đại nhiễu xạ Bragg dưới các góc 2θ khác nhau có thể ghi nhận được bằng cách sử dụng detector. Giai đoạn phân tích cấu trúc tinh thể đặc trưng của các mẫu trong luận văn này chủ yếu được thực hiện bằng cách sử dụng tia X bằng phương pháp nhiễu xạ bột (XRD) được trang bị một máy phát hiện nhạy sử dụng bức xạ Cu- K có bước sóng λ = 1,540598 Å. Với chỉ số của các đỉnh trong một phổ nhiễu xạ tia X, ta có thể xác định các hằng số mạng của mẫu bởi công thức: 2 2 2 2 2 hkl 1 h k l d a    (2.4)

CHƯƠNG 3

KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 3.1 Ảnh hưởng của điều kiện lắng đọng lên màng Bi2Te3. 3.1.1 Ảnh hưởng của dung mơi hịa tan

Thơng thường dung dịch sử dụng để hịa tan các muối được sử dụng là nước cất. Tuy nhiên, với hai muối Bi(NO3)3, TeCl4 sử dụng để tạo dung dịch lắng đọng, chỉ có TeCl4 dễ hịa tan trong nước cất cịn Bi(NO3)3 ngay lập tức tạo kết tủa, hình 3.1.

Hình 3.1. Dung dịch Bi(NO3)3 kết tủa khi hịa với nước cất.

Yêu cầu của việc lắng đọng điện hóa là các chất lắng đọng phải hịa tan hồn tồn với dung dich, dung dịch có thành phần ion và nồng độ phù hợp.

Ethylene glycol (EG) là một chất hữu cơ có hằng số điện mơi tương đối cao ( 37 7). Nó được biết đến để hòa tan muối kim loại ít hịa tan trong nước và ,

được sử dụng cho lắng đọng các hợp chất khó lắng đọng trong nước như CdSe, ZnSb và AuSn. Do nhiệt độ sôi cao 197oC và áp suất hơi thấp (8 Pa ở nhiệt độ phòng), dung dịch EG cho phép lắng đọng ở nhiệt độ cao. Như vậy EG là một dung mơi hồn tồn thích hợp cho việc làm dung dịch điện phân. Điều này hoàn toàn phù hợp trong báo cáo của Minxian Wu và các cộng sự [13]. Sử dụng dung dịch ethylene glycol (EG) hòa tan Bi(NO3)3, TeCl4. Kết quả cho thấy Bi(NO3)3, TeCl4 đã hoàn toàn tan trong EG. Trong luận văn, sử dụng ethylene glycol là dung môi

cho tất cả các thí nghiệm. Ngồi ra, để tăng cường độ dẫn điện của dung dịch, bổ sung vào dung dịch chất tạo phức LiClO4 với nồng độ 0,05 M.

3.1.2 Các loại điện cực

Thiết bị Vol-Ampe vòng (CV) sử dụng ba điện cực bao gồm: điện cực đếm, điện cực làm việc và một điện cực so sánh.

Điện cực đếm được sử dụng trong luận án là Pt, sau khi lắng đọng có thể

đem rửa sạch trong cồn hoặc axit loãng để sử dụng trong các lần thí nghiệm sau.

Điện cực làm việc thông thường được sử dụng làm Ti, Ni, Mo, Cu, Au…

Ban đầu tôi sử dụng Cu làm điện cực làm việc. Tuy nhiên, sau khi hòa tan dung dịch EG và Bi(NO3)3, TeCl4 nhỏ vài ml lên đế Cu. Đế đã phản ứng trực tiếp với Cu tạo thành màng đen (mặc dù chưa đặt thế lắng đọng). Hòa tan riêng từng muối Bi(NO3)3 với EG, TeCl4 với EG, LiClO4 với EG. Chỉ có duy nhất Bi(NO3)3 phản ứng trực tiếp với đế Cu. Như vậy, Bi(NO3)3 là một muối khó khăn trong việc lựa chọn dung mơi hịa tan cũng như điện cực làm việc. Điện cực đòi hỏi trơ trong các phản ứng hóa học. Trong luận án, sử dụng điện cực vàng, được phủ lên bề mặt thủy tinh, cho độ dẫn điện tốt (< 10 Ω) đảm bảo yêu cầu của điện cực. Điều này cũng phù hợp trong kết quả của Hai P. Nguyen và cộng sự [7].

Điện cực so sánh là Ag/AgCl. Cực bạc clorua là hệ gồm một dây bằng bạc,

trên bề mặt có phủ một lớp bạc clorua nằm trong dung dịch chứa ion clorua có hoạt độ xác định.

3.2. Kết quả đo Vol-Ampe vòng (CV)

3.2.1. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của Ethylene glycol (EG).

Hình 3.2 biểu diễn đặc trưng Vol-Ampe vịng của các dung dịch EG. Phép đo được thực hiện với điện thế từ - 0,8 V đến 1,4 V, tốc độ quét 20 mV/s, với điện cực làm việc Pt (8 mm), dung dịch được gia nhiệt ở 500C.

Hình 3.2. Đặc trưng Vol–Ampe vòng của EG (C2H6O2)

Từ đồ thị cho thấy, đường đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG trong khoảng quét không tồn tại các đỉnh khử nào, điều đó chứng tỏ việc sử dụng EG làm dung mơi lắng đọng điện hóa sẽ khơng làm ảnh hưởng đến các thành phần trong màng. Như vậy, EG là dung mơi thích hợp sử dụng trong q trình lắng đọng điện hóa. Mật độ dịng của của dung dịch cỡ 10-6 Am/cm2.

Hình 3.3 là đường đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M LiClO4. Dung dịch EG được bổ sung thêm LiClO4 bởi vì việc bổ sung LiClO4 như một chất điện ly hỗ trợ sự lắng đọng của các chất trong màng và cải thiện hình thái màng [7,13]. Như trên hình, mật độ dịng đã tăng gấp 100 lần lên cỡ 10-4 Am/cm2. Qua đó cho thấy, việc bổ sung LiClO4 là một chất tạo phức thích hợp và có hiệu quả.

Hình 3.3. Đặc trưng Vol–Ampe vịng của EG (C2H6O2) chứa 0,05 M LiClO4.

3.2.2. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3

Các đường đặc trưng Vol-Ampe vịng trên Hình 3.3 mơ tả q trình lắng đọng của Bi(NO3)3 trong dung dịch EG với điện thế làm việc trong khoảng - 0,8 V đến 1,4 V, tốc độ quét 20 mV/s.

Trong Hình 3.4, chúng ta chưa thấy xuất hiện đỉnh ơ xi hóa, chỉ xuất hiện đỉnh khử nhỏ ở - 0,5 V. Như vậy, hầu như chưa có sự tham gia của các điện tử vào q trình ơ xi hóa khử. Tăng nhiệt độ của dung dịch lên 500C đỉnh khử ở - 0,5 V trở nên rõ ràng hơn, cho thấy khi tăng nhiệt độ các điện tử đã linh động hơn và tham gia vào quá trình khử.

Để cải thiện độ dẫn điện của dung dịch, ta bổ xung thêm 0,05 M LiClO4 (đã được khảo sát là khơng tham gia vào q trình ơ xi hóa khử). Hình 3.5 là kết quả đo Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ phòng.

Kết quả Hình 3.5 và 3.6 cho thấy, quá trình khử diễn ra trong khoảng tử - 0,5 V đến 0,25 V. Như vậy ta có thể lấy thế lắng đọng với Bi(NO3)3 trong khoảng trên để lắng đọng. Đỉnh khử mạnh nhất xuất hiện ở - 0,25 V. Quá trình ơ xi hóa xuất hiện đỉnh cực đại ở - 0,9 V. Như vậy, chất điện giải LiClO4 có ảnh hưởng đáng kể đến thế khử của bismuth.

Hình 3.5. Đặc trưng Vol–Ampe vịng của EG (C2H6O2) chứa 0,05 M Bi(NO3)3 ở nhiệt độ 50oC.

Chúng ta giả thuyết rằng đỉnh rõ nét gắn với quá trình:

Bi33eBi0 (3.1)

Khi tăng nhiệt độ lên 500C, các điện tử trong dung dịch trở nên linh động đỉnh khử dịch chuyển về gần giá trị 0 V.

Hình 3.6. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ phịng.

Hình 3.7 là đường đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 500C. Quá trình khử điễn ra trong khoảng từ - 0,75 V đến 0,3 V. Đỉnh khử mạnh nhất của dung dịch đã dịch chuyển về gần giá trị 0,02 V. Như vậy nhiệt độ là một yếu tố ảnh hưởng quan trọng đến việc chọn thế làm việc lắng đọng điện hóa.

Hình 3.7. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 500C.

3.2.3. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4.

Trên Hình 3.8 là đường đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 tại nhiệt độ phòng. Tại nhiệt độ phịng, q trình ơ xi hóa khử của TeCl4 chưa xảy ra. Có thể giải thích, dung dịch chưa có khả năng dẫn ion. Tuy nhiên, khi tăng nhiệt độ lên 500C độ dẫn của dung dịch được cải thiện, các đỉnh khử và ô xi và khử đã xuất hiện, Hình 3.9 . Đỉnh khử trong dung dịch lớn nhất cỡ - 0,05 V. Giả thiết rằng tại điểm – 0,05 V liên quan đến quá trình.

Te44eTe0 (3.2) Qua đây cho thấy, yếu tố nhiệt độ trong q trình lắng đọng Te là khơng thể thiếu.

Hình 3.8. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 ở nhiệt độ phịng.

Hình 3.9. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 ở nhiệt độ 500C.

Tương tự việc pha tạp 0,05 M LiClO4 vào Bi(NO3)3 ta bổ sung 0,05 M LiClO4 vào dung dịch TeCl4 và thực hiện phép đo Vol-Ampe vòng của dung dịch.

Hình 3.10 và Hình 3.11 là đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch TeCl4 và LiClO4 tại nhiệt độ phịng và 500C. Trên Hình 3.10, xuất hiện đỉnh khử ở 0,07 V, cho thấy việc LiClO4 có tác động đến độ dẫn của dung dịch TeCl4 kể cả khi ở nhiệt độ phòng. Như vậy, để lắng đọng được Te trong hỗn hợp Bi, Te ta cần bổ sung LiClO4 và đặt ở nhiệt độ thích hợp sẽ đem lại hiệu quả tốt trong việc lắng đọng.

Hình 3.10. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ phòng.

Ở nhiệt độ 500C, đỉnh khử dịch chuyển mạnh về cỡ 0,3 V. Điều này có thể được lý giải là do ảnh hưởng của chất tạo phức LiClO4 đã giúp điện tử trở nên linh động, làm đỉnh khử dương hơn. Điều này cũng được giải thích như trong báo cáo của nhóm tác giả Hai P. Nguyen [5]

.

Hình 3.11. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC.

3.2.4. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05 M TeCl4. Bi(NO3)3 và 0,05 M TeCl4.

Hình 3.12 biểu diễn đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch chứa 0,05 M Bi(NO3)3, 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 tại nhiệt độ phòng. Bằng cách so sánh đồ thị này với đường đặc trưng Vol-Ampe vịng Hình 3.6 và Hình 3.10 chúng ta có thể gán đỉnh ơ xi hóa đầu tiên tại 1,1 V cho sự ơ xi hóa của TeCl4, cịn tại đỉnh 0,6 V cho Bi(NO3)3. Bên cạnh đó tại nhiệt độ phịng, chúng ta chỉ thấy xuất hiện đỉnh khử ở cỡ - 0,25 V tương ứng với việc khử Bi(NO3)3 trực tiếp thành Bi. Như vây, dung dịch đã tồn tại Bi, Te, đảm bảo việc lắng đọng cho việc hình thành màng Bi2Te3.

Hình 3.12. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 , 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ phòng.

Thay đổi nhiệt độ của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 , 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 lên 50oC. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch được thể hiện ở hình 3.13, chúng ta quan sát thấy ngoài đỉnh khử ở cỡ - 0,25 V cịn có một đỉnh khử nhỏ ở cỡ 0,03 V có thể liên quan đến một sự lắng đọng dưới thế của Bi tạo thành pha Bi-Te. Q trình này có thể được mơ tả bởi phương trình:

Bi3  Te4  e Bi Te2 3

Hình 3.13. Đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 , 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC.

Hình 3.14. Đặc trưng Vol-Ampe vịng của:

- dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3 và 0,05M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC (đỏ);

- dung dịch EG chứa 0,05 M TeCl4 và 0,05M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC (xanh);

- dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3, 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC (đen-nét đứt).

Trên Hình 3.14, biểu diễn các đường đặc trưng Vol-Ampe vòng của dung dịch EG với các thành phần khác nhau ở nhiệt độ 50oC. Quá trình khử của các dung dịch nằm trùng lên nhau. Đối với dung dịch 0,05 M Bi(NO3)3, 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 ở nhiệt độ 50oC dải khử nằm cỡ - 0,5 V đến 0,2 V, điều này cũng phù hợp với một số bài báo trên thế giới [7,13]. Đỉnh khử mạnh nhất của dung dịch cỡ - 0,25 V là khả quan cho việc lắng đọng điện hóa. Trong luận văn, sử dụng thế lắng đọng là - 0,25 V để lắng đọng điện hóa theo các nhiệt độ phịng (25oC), 50oC và 70oC.

3.3. Kết quả tạo màng

Sau khi tìm ra thế lắng đọng của Bi2Te3, sử dụng thiết bị lắng đọng điện hóa tại Bộ môn Vật lý Nhiệt độ thấp – ĐH Khoa học tự nhiên Hà Nội để lắng đọng màng Bi2Te3 ở các điều kiện nhiệt độ khác nhau. Dung dịch EG chứa 0,05 M Bi(NO3)3, 0,05 M TeCl4 và 0,05 M LiClO4 được sử dụng để lắng đọng trên đế vàng. Mọi thiết bị thực nghiệm đều được làm sạch đúng kỹ thuật trước khi lắng đọng. Hóa chất sử dụng có độ tinh khiết cao (> 99%), thời gian lắng đọng 300 s. Các màng sau khi lắng đọng được làm sạch bằng nước cất, nhằm loại bỏ dung dịch EG khỏi bề mặt.

Thành phần màng Bi2Te3 được đo bằng phổ tán sắc năng lượng (EDS) được trình bày trong bảng 4.1. Trong đó, thành phần tổng cộng của màng tỷ lệ vàng cao, phần còn lại tập trung 2 loại vật liệu Bi và Te theo tỷ lệ:

Nhiệt độ Thế lắng đọng (V) vs. SCE Nguyên tố (%) Bi Te 250C - 0,25 Chưa hình thành màng 500C - 0,25 12,84 87,16 700C - 0,25 3,26 96,74

Bảng 4.1.Thành phần cấu tạo của màng Bi2Te3 được xác định bằng EDS.

Kết quả đo ở bảng 1 cho thấy, tại nhiệt độ phịng màng chưa được hình thành. Ở cả hai nhiệt độ 50oC và 70oC màng đều cho tỷ lệ Te chiếm đa số. Tuy nhiên, điều đáng khả quan là các màng đều đã được hình thành và chứa hai loại vật liệu như mong muốn. Ở nhiệt độ 50oC thành phần màng có xu hướng đạt thành phần gần như hợp thức. Tôi sử dụng kết quả tạo màng ở 50oC để đo nhiễu xạ tia X.

Hình 3.16. Phổ EDS của màng Bi2Te3 được lắng đọng tại thế - 0,25 V, nhiệt độ 500C trên đế vàng.

Hình 3.17. Phổ EDS của màng Bi2Te3 được lắng đọng tại thế - 0,25 V, nhiệt độ

Một phần của tài liệu (LUẬN văn THẠC sĩ) ảnh hưởng của điều kiện chế tạo lên sự hình thành tinh thể bi2te3 bằng phương pháp lắng đọng điện hóa (Trang 40)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(62 trang)