X có thể nhận được các thơng tin về sự sắp xếp các mặt phẳng của các nguyên tử khác nhau trong tinh thể.
Từ giản đồ nhiễu xạ tia X ta có thể thu được một số thơng tin quan trọng như mức độ trật tự của các lỗ xốp, giá trị khoảng cách giữa các mặt phẳng có cùng chỉ số Miler, từ đó có thể suy ra khoảng cách giữa hai tâm mao quản liền kề nhau [2]. Dựa vào giá trị khoảng cách đó kết hợp với dữ liệu đường kính mao quản thu được từ phương pháp hấp thụ Nitơ ta có thể tính được độ dày của thành mao quản.
Tuy nhiên, phương pháp nhiễu xạ tia X cũng có một số hạn chế như khơng phát hiện được những chất có hàm lượng thấp và tùy theo bản chất và mạng không gian của vật liệu mà độ nhạy phân tích định tính thay đổi từ 1% đến 30%.
Thực nghiệm:
Phổ nhiễu xạ tia X được ghi trên máy SIEMENS D5000, sử dụng ống tia
Rơnghen bằng Cu với bước sóng Kα = 1,5406 x 10-8cm tại phịng thí nghiệm nhiễu
xạ tia X thuộc phịng thí nghiệm trọng điểm Quốc gia Viện Khoa học Vật liệu -Viện KHCN Việt Nam
2.2.2 .Phương pháp kính hiển vi điện tử quét (SEM).
Phương pháp SEM được sử dụng để xác định hình dạng và cấu trúc bề mặt của
vật liệu đến cỡ hàng chục nm (10-7m) . Ưu điểm của phương pháp SEM là có thể thu
được những bức ảnh ba chiều chất lượng cao và khơng địi hỏi phức tạp trong khâu chuẩn bị mẫu . Tuy nhiên phương pháp SEM có độ phóng đại nhỏ hơn so với phương pháp TEM . Phương pháp SEM đặc biệt hữu dụng bởi vì nó cho độ phóng đại có thể thay đổi từ 10 đến 100000 lần với hình ảnh rõ nét , hiển thị ba chiều phù hợp cho việc phân tích hình dạng và cấu trúc bề mặt .
Kính hiển vi điện tử quét là một thiết bị gồm một súng phóng điện tử theo chiều từ dưới lên, ba thấu kính tĩnh điện và hệ thống các cuộn quét điện từ đặt giữa thấu kính thứ hai và thứ ba, và ghi nhận chùm điện tử thứ cấp bằng một ống nhân quang điện.