2.5. Hiệu chỉnh kết quả đo và đánh giá sai số kết qủa phân tích
2.5.2. Hiệu chỉnh sự sai khác giữa khối lượng mẫu chuẩn và mẫu phân
Về nguyên tắc có nhiều nguyên nhân gây ra sai số: Sai số do sự chồng chập xung, sai số do sự không đồng nhất giữa mẫu chuẩn và mẫu phân tích về hình học đo, thành phần chất nền. Tuy nhiên với mẫu môi trường thì hoạt độ phóng xạ nhỏ ngay cả khi mẫu đặt ngay sát bề mặt detector, thời gian chết của thiết bị không quá 1%. Vì vậy sai số do sự chồng chập xung gây ra mất số đếm tại đỉnh hấp thụ toàn phần hoàn toàn có thể bỏ qua [52, 77].
Khi xác định hoạt độ phóng xạ riêng theo phương pháp phổ gamma, dựa theo phương pháp tương đối hay dựa vào đường cong hiệu suất ghi tuyệt đối tại đỉnh hấp thụ toàn phần nếu có sự sai khác về hình học đo, khối lượng, thành
phần mẫu chuẩn và mẫu phân tích sẽ gây ra sai số. Trong Luận án này tất cả các mẫu phân tích đều được đựng trong cùng 1 loại hộp đồng nhất, thể tích mẫu như nhau, mẫu chuẩn và mẫu phân tích đều được đặt trực tiếp sát detector vì vậy sự sai lệch về hình học đo giữa mẫu chuẩn và mẫu phân tích có thể bỏ qua. Sự sai lệch về thành phần chất nền và khối lượng giữa mẫu chuẩn và mẫu phân tích sẽ dẫn tới sự sai khác hệ số tự hấp thụ các bức xạ gamma trong mẫu chuẩn và mẫu phân tích. Sự sai lệch về sự tự hấp thụ trong mẫu chuẩn và mẫu phân tích càng lớn khi năng lượng bức xạ gamma đặc trưng được chọn phân tích càng nhỏ [77]. Ngoài ra, để hiệu chỉnh sự sai khác thành phần chất nền giữa mẫu phân tích và mẫu chuẩn, cần phải tiến hành thực nghiệm đo hệ số suy giảm khối μ của bức xạ gamma được chọn để tính hoạt độ phóng xạ trong mỗi mẫu phân tích cụ thể, sau đó thay vào công thức hiệu chỉnh. Luận án đã sử dụng phương pháp đường cong chuẩn nội hiệu suất ghi kết hợp hiệu suất ghi tuyệt đối tại đỉnh 1460,8 keV của 40K cho phép khắc phục sự sai khác giữa thành phần chất nền giữa mẫu chuẩn và mẫu phân tích.