a. Chu trình nhiệt hàn và tính chất vùng ảnh hƣởng
3.2.1. Ngậm xỉ (Solid inclusions)
Ngậm xỉ là hiện tƣợng các chất rắn bên ngoài (không phải là kim loại mối hàn) bị kẹt trong kim loại mối hàn [21], đây là loại khuyết tật rất dễ xuất hiện trong mối hàn. Xỉ hàn có thể hình thành từ thuốc bọc que hàn, thuốc hàn (flux), các Oxide hoặc các hỗn hợp kim loại khác trong quá trình hàn, vì lí do nào đó chúng không thoát ra khỏi bễ hàn khi kim loại mối hàn đông đặc, bị kẹt lại trong kim loại mối hàn. Các xỉ hàn này có thể nằm bên trong mối hàn (hình 3-7a) hoặc nằm trên bề mặt mối hàn (hình 3-7b) [21].
Hình 1: Ngậm xỉ bên trong đƣờng hàn
a. Ngậm xỉ bên trong đƣờng hàn b. Ngậm xỉ bên trên đƣờng hàn
Mối hàn có thể bị ngậm xỉ thành một rãnh dài còn gọi là ngậm xỉ dạng đƣờng hình 3-9a, xỉ cũng có thể tập trung thành các đoạn ngắn hay các lỗ chứa xỉ hình 3-9b, các lỗ và các đoạn xỉ này có thể tập trung hay phân bố trong đƣờng hàn.
Tiêu chuẩn BS EN ISO 6520-1 [21] đã tiến hành phân loại các khuyết tật ngậm xỉ thành các dạng sau:
Hình 3.8. Sơ đồ phân loại các khuyết tật ngậm xỉ [20] Trong thực tế, các khuyết tật ngậm xỉ thƣờng xuất hiện ở các vị trí sau:
a) Ngậm xỉ trên bề mặt b) Ngậm xỉ bên trong
Hình 3.9. Các vị trí thƣờng xuất hiện khuyết tật ngậm xỉ
Các phƣơng pháp hàn phổ biến hiện nay có thể dẫn đến khuyết tật ngậm xỉ nhƣ:
Đầu mối hàn Giữa mối hàn
Chân mối hàn
Điểm cuối mối hàn Cạnh mép vát
- Phƣơng pháp hàn SMAW có thể gây ra khuyết tật ngậm xỉ từ thuốc bọc que hàn nóng chảy (slag), ngậm các ôxít.
- Phƣơng pháp hàn GTAW có thể gây ra các khuyết tật ngậm các oxít, lẫn Tungsten, ngậm đồng và ngậm các kim loại khác.
- Phƣơng pháp hàn SMAW, SAW và FCAW có thể gây ra khuyết tật ngậm thuốc hàn (Flux), các ôxít, ngậm đồng và ngậm các kim loại khác.
- Phƣơng pháp hàn GMAW có thể gây ra khuyết tật ngậm ôxít, đồng, các kim loại khác