Trong sự phỏt triển của cỏc linh kiện quang điện, đặc biệt là pin mặt trời màng mỏng chuyển tiếp dị chất thỡ cỏc phƣơng phỏp thực nghiệm và bỏn thực nghiệm đƣợc sử dụng chủ yếu trong cỏc nghiờn cứu. Trong khi cỏc phƣơng phỏp phƣơng phỏp thực nghiệm và bỏn thực nghiệm cú ớch và cần thiết để chứng minh cỏc giả định lý thuyết thỡ chỳng lại gặp phải khú khăn để điều chỉnh một biến số mà khụng ảnh hƣởng nhiều biến số khỏc. Đõy là vấn đề mà mụ hỡnh húa đúng vai trũ quan trọng. Với mụ hỡnh số, cỏc tham số riờng biệt, nhƣ độ rộng vựng cấm, cú thể thay đổi mà khụng cần thiết tỏc động cỏc tham số khỏc. Điều này cho phộp ngƣời nghiờn cứu khảo sỏt cỏc ảnh hƣởng liờn quan đến một tham số. Ngoài ra, mụ hỡnh số cho phộp biến số thay đổi trong một phạm vi rộng, cú thể lớn hơn rất nhiều lần khả năng thiết lập trong phũng thớ nghiệm. Hơn thế nữa, mụ hỡnh số cung cấp sự hiểu biết bờn trong sự vật vào ảnh hƣởng của một biến số, thậm chớ cỏc tham số này là phi hiện thực hoặc khụng thực tế. Một thuận lợi khỏc nữa của cỏc mụ hỡnh số là khả năng thiết lập chớnh xỏc cỏc dữ liệu ghi lại trƣớc đú của cỏc thực nghiệm, thể hiện chớnh xỏc quỏ trỡnh thay đổi của mỗi trƣờng hợp. Do đú, một kết quả xỏc định cú nghi ngờ thỡ dễ dàng xem xột lại cỏc tham số đầu vào và suy luận đƣợc nguyờn nhõn của kết quả trờn cơ sở thay đổi cỏc tham số.
Hỡnh 4.1 Quy trỡnh mụ hỡnh húa để cải thiện hiệu suất quang điện
Ngoài những thuận lợi trờn thỡ mụ hỡnh số cũng cú nhiều sự bất lợi. Nhƣợc điểm chớnh là khụng cú khả năng xõy dựng mụ hỡnh chớnh xỏc. Mụ hỡnh số chớnh xỏc cũng là một mụ Chế tạo pin mặt trời Phõn tớch đặc trƣng quang điện Phõn tớch cỏc tổn hao Mụ hỡnh húa Đoỏn nhận vật lý Giải phỏp để cải thiện
hỡnh. Do đú, mọi kết quả đạt đƣợc phải đƣợc xem xột trong phạm vi hạn chế của mụ hỡnh đú. Để ỏp dụng cỏc kết quả mụ phỏng cho cỏc pin mặt trời thực tế thỡ cần phải xỏc định đƣợc mối tƣơng quan giữa mụ hỡnh và cỏc linh kiện thực. Túm lại, việc sử dụng mụ hỡnh số và mụ phỏng đối với pin mặt trời chuyờn tiếp dị chất là một phƣơng thức quan trọng để phõn tớch cỏc quỏ trỡnh vật lý trong PMT và dự đoỏn ảnh hƣởng của cỏc thay đổi đú lờn hiệu suất của pin và trờn cơ sở đú cú thể đề ra cỏc giải phỏp để cải tiến hiệu suất của pin. Trờn hỡnh 4.1, sơ đồ mụ tả quy trỡnh mụ hỡnh húa và mụ phỏng số.