X
Phương pháp đo phổ tán xạ năng lượng tia X (Energy dispersive X-ray Spectroscopy - EDX) là kỹ thuật phân tích thành phần hĩa học của vật rắn dựa vào ghi lại phổ tia X phát ra từ vật rắn do tương tác với các bức xạ (chủ yếu là chùm điện tử cĩ năng lượng cao trong các kính hiển vi điện tử). Khi chùm điện tử cĩ năng lượng lớn được chiếu vào vật rắn, nĩ sẽ đâm xuyên sâu vào nguyên tử vật rắn và tương tác với các lớp điện tử bên trong của nguyên tử. Tương tác này dẫn đến việc tạo ra các tia X. Tần số tia X phát ra đặc trưng với nguyên tử của mỗi chất cĩ mặt trong chất rắn. Việc ghi nhận phổ tia X phát ra từ vật rắn sẽ cho thơng tin về các nguyên tố hĩa học cĩ mặt trong mẫu vật liệu đồng thời cho các thơng tin về tỉ lệ phần trăm các nguyên tố này [6].
Độ chính xác của phương pháp EDX ở cấp độ một vài phần trăm (thơng thường ghi nhận được sự cĩ mặt của các nguyên tố cĩ tỉ phần cỡ 3 - 5% trở lên). Tuy nhiên, phương pháp này tỏ ra khơng hiệu quả với các nguyên tố nhẹ (ví dụ B, C...) và thường xuất hiện hiệu ứng trồng chập các đỉnh tia X của các nguyên tố khác nhau.
Phổ tán xạ năng lượng tia X của các mẫu vật liệu được đo trên máy S-4800 (Hita- chi, Nhật Bản) tại Viện Khoa học Vật liệu, Viện Hàn lâm Khoa học và Cơng nghệ Việt Nam.
Phổ tán xạ năng lượng tia X của các mẫu vật liệu được đo trên máy S-4800 (Hita- chi, Nhật Bản) tại Viện Khoa học Vật liệu, Viện Hàn lâm Khoa học và Cơng nghệ Việt Nam. Visible Diffuse Reflectance Spectroscopy - DRS) là phương pháp dựa vào bờ hấp thụ của phổ phản xạ khuếch tán người ta cĩ thể xác định được các vật liệu bán dẫn phản