Những vật chất có mật độ ê-lec-trôn lớn như: chất khí đậm đặc, chất rắn hữu cơ, chất lỏng thủy tinh, hoặc chất điện môi vô định hình. Những vật liệu này, pô-si-trôn không chỉ bị làm chậm mà còn bị ảnh hưởng bởi giá trị năng lượng ở các trạng thái sau cùng đối với ê-lec-trôn bị tán xạ. Những tính toán Lee-Whiting khoảng thời gian để pô-si-trôn bị nhiệt hóa trong kim loại là 3 psec. Ngược lại trong những chất cách điện, sự truyền năng lượng của pô-si-trôn cho ê-lec-trôn bị cấm bởi những khe năng lượng, những giai đoạn của sự nhiệt hóa chỉ có thể thực hiện bởi sự kích thích của những dao động mạng, do đó khoảng thời gian nhiệt hóa pô-si-trôn trong vật chất phân tử khoảng 300 psec [2]. Điều này cho thấy trong vật liệu cách điện như ze-ô-lit pô-si- trôn có thể hủy trước khi bị nhiệt hóa, dẫn đến rất khó để tách biệt thời gian sống của p-Ps và pô-si-trôn hủy tự do trong vật liệu xốp.
Xác định xác suất hủy 3 gamma cũng có thể thực hiện bởi kỹ thuật trùng phùng 3 đầu dò, hoặc là từ phổ của gamma hủy, mặc dù không có kỹ thuật nào là hoàn toàn chính xác. Theo Hautojarvi nếu ta xác định chính xác I3, thì sẽ chỉ ra rằng xác suất phát 3 gamma do hủy orthopô-si-trôn-ni-um là [2].
372 / ) I 3 4 1 ( t I P 3 ortho 3 3 3γ = τ + − (2.15) Muốn hiểu được ý nghĩa của từng thành phần thời gian sống và cường độ tương ứng thì đòi hỏi phải khảo sát tính chất hóa học, cấu trúc ê-lec-trôn của vật liệu. Chỉ như vậy mới có thể nắm được quá trình hình thành pô-si-trôn-ni-um trong vật liệu là do đâu. Từ đó hiểu rõ hơn về kết quả phân tích phổ thời gian sống trên vật liệu xốp.