CHƯƠNG 2 THỰC NGHIỆM
2.2 Đặc trưng hình thái bề mặt than hoạt tính và CNFs thông qua kính hiển vi điện tử quét SEM
vi điện tử quét SEM
Đây là phương pháp được dùng để nghiên cứu bề mặt, hình dạng và kích thước của hạt vật chất. Nguyên tắc cơ bản của phương pháp SEM là dùng chùm điện tử để tạo ảnh của mẫu nghiên cứu, ảnh thu được trên màn có thể đạt được độ phóng đại rất lớn từ hàng nghìn đến hàng chục nghìn lần.
Chùm điện tử được tạo ra từ catot qua hai tụ quang sẽ hội tụ lên mẫu nghiên cứu. Chùm điện tử đập vào mẫu, phát ra các điện tử phát xạ thứ cấp. Mỗi điện tử phát xạ này qua điện thế gia tốc vào phần thu và biến đổi thành tín hiệu sáng, chúng được khuếch đại đưa vào mạng lưới điều khiển tạo độ sóng trên màn hình. Mỗi điểm trên mẫu nghiên cứu cho một điểm trên màn hình. Độ sáng tối trên màn hình tùy thuộc lượng điện tử thứ cấp phát ra tới bộ thu, đồng thời còn phụ thuộc bề mặt của mẫu nghiên cứu. Đặc biệt, do sự hội tụ các chùm tia nên có thể nghiên cứu cả phần bên trong của vật chất.
Đối với phương pháp này, độ phân giải của phép tán xạ có thể tới 0,01x10-6m. Do đó, phương pháp này thường dùng để nghiên cứu những khoáng vật phân tán nhỏ, kích thước dưới 10-6m với hiệu quả rất cao.
Ở đề tài này chúng tôi sử dụng máy JSM-6010PLUS/LV để khảo sát hình thái bề mặt của than hoạt tính cũng như là CNFs thu được trong các trường hợp xử lý bề mặt gáo dừa bằng nước và bằng các loại axit khác nhau, từ đó đưa ra quy trình tối ưu cho quá trình tổng hợp CNFs.