1. Trang chủ
  2. » Giáo Dục - Đào Tạo

Nghiên cứu độ tin cậy của hệ thống điện tử công suất sử dụng trong công nghiệp

77 36 0

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 77
Dung lượng 3,07 MB

Nội dung

BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC QUẢN LÝ VÀ CƠNG NGHỆ HẢI PHỊNG ISO 9001:2015 NGHIÊN CỨU ĐỘ TIN CẬY CỦA CÁC HỆ THỐNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT SỬ DỤNG TRONG CÔNG NGHIỆP ĐỒ ÁN TỐT NGHIỆP ĐẠI HỌC HỆ CHÍNH QUY NGÀNH ĐIỆN TỰ ĐỘNG CƠNG NGHIỆP HẢI PHÒNG - 2019 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC QUẢN LÝ VÀ CÔNG NGHỆ HẢI PHÒNG NGHIÊN CỨU ĐỘ TIN CẬY CỦA CÁC HỆ THỐNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT SỬ DỤNG TRONG CÔNG NGHIỆP ĐỒ ÁN TỐT NGHIỆP ĐẠI HỌC HỆ CHÍNH QUY NGÀNH: ĐIỆN TỰ ĐỘNG CÔNG NGHIỆP Sinh viên Đào Văn Phán Giảng viên hướng dẫn :GSTSKH Thân Ngọc Hồn HẢI PHỊNG - 2019 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC QUẢN LÝ VÀ CƠNG NGHỆ HẢI PHỊNG NHIỆM VỤ ĐỀ TÀI TỐT NGHIỆP Sinh viên: Đào Văn Phán - Mã SV: 1512102053 Lớp: DC1901 - Ngành: Điện Tự Động Công Nghiệp Tên đề tài: Nghiên cứu độ tin cậy hệ thống điện tử công suất sử dụng công nghiệp NHIỆM VỤ ĐỀ TÀI Nội dung yêu cầu cần giải nhiệm vụ đề tài tốt nghiệp ( lý luận, thực tiễn, số liệu cần tính tốn vẽ) …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… Các số liệu cần thiết để thiết kế, tính tốn …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… Địa điểm thực tập tốt nghiệp …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………… CÁN BỘ HƯỚNG DẪN ĐỀ TÀI TỐT NGHIỆP Người hướng dẫn thứ nhất: Họ tên : GSTSKH Thân Ngọc Hoàn Học hàm, học vị : Giáo sư Tiến sĩ Khoa Học Cơ quan công tác : Trường Đại Học Quản Lý Công Nghệ Hải Phịng Nội dung hướng dẫn : Tồn đề tài Người hướng dẫn thứ hai: Họ tên: Học hàm, học vị: Cơ quan công tác: Nội dung hướng dẫn: Đề tài tốt nghiệp giao ngày tháng năm Yêu cầu phải hoàn thành xong trước ngày tháng Đã nhận nhiệm vụ ĐTTN Đã giao nhiệm vụ ĐTTN năm Sinh viên Người hướng dẫn Đào Văn Phán GSTSKH Thân Ngọc Hồn Hải Phịng, ngày tháng năm 2019 Hiệu trưởng GS.TS.NGƯT Trần Hữu Nghị CỘNG HÒA XÃ HỘI CHỦ NGHĨA VIỆT NAM Độc lập - Tự - Hạnh phúc PHIẾU NHẬN XÉT CỦA GIẢNG VIÊN HƯỚNG DẪN TỐT NGHIỆP Họ tên giảng viên: Đơn vị công tác: Họ tên sinh viên: Chuyên ngành: Đề tài tốt nghiệp: Tinh thần thái độ sinh viên trình làm đề tài tốt nghiệp Đánh giá chất lượng đồ án/khóa luận (so với nội dung yêu cầu đề nhiệm vụ Đ.T T.N mặt lý luận, thực tiễn, tính tốn số liệu…) Ý kiến giảng viên hướng dẫn tốt nghiệp Được bảo vệ Không bảo vệ Điểm hướng dẫn Hải Phòng, ngày … tháng … năm Giảng viên hướng dẫn (Ký ghi rõ họ tên) CỘNG HÒA XÃ HỘI CHỦ NGHĨA VIỆT NAM Độc lập - Tự - Hạnh phúc PHIẾU NHẬN XÉT CỦA GIẢNG VIÊN CHẤM PHẢN BIỆN Họ tên giảng viên: Đơn vị công tác: Họ tên sinh viên: Chuyên ngành: Đề tài tốt nghiệp: Phần nhận xét giáo viên chấm phản biện Những mặt hạn chế Ý kiến giảng viên chấm phản biện Được bảo vệ Không bảo vệ Điểm hướng dẫn Hải Phòng, ngày … tháng … năm Giảng viên chấm phản biện (Ký ghi rõ họ tên) MỤC LỤC Chương 1: CÁC LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT 1.2 DIODE CÔNG SUẤT 1.2.1 Nguyên lý cấu tạo làm việcvới công suất nguồn tải 1.2.2 Đặc tính Volt – Ampere (V – A) 1.2.3 Trạng thái đóng ngắt 1.2.4 Các tính chất động 1.2.5 Mạch bảo vệ diode 1.2.6 Các đại lượng định mức diode 1.3 BJT CÔNG SUẤT (BIPOLAR JUNTION TRANSISTOR) 1.3.1 Nguyên lý cấu tạo làm việc 1.3.2 Đặc tính V-A mạch có Emitter chung 10 1.3.3 Trạng thái đóng ngắt 11 1.3.4 Các tính chất động 11 1.3.5 Các đại lượng định mức transistor 12 1.3.6 Mạch kích bảo vệ cho transistor 12 1.4 MOSFET (Metal – Oxide – Semiconductor Field Effect Transistor) 16 1.5 IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) 19 1.6 SCR (Silicon Controlled Rectifier) 21 1.6.1 Mô tả chức 21 1.6.2 Các tính chất trạng thái 22 1.6.3 Đặc tính V-A 23 1.6.4 Khả mang tải 24 1.6.5 Mạch kích SCR 24 1.6.6 Mạch bảo vệ SCR 26 1.7 TRIAC 27 1.7.1 Đặc điểm cấu tạo 27 1.7.2 Đặc tính V-A 28 1.8 GTO 29 CHƯƠNG 2: .31 CÁC BỘ CHỈNH LƯU CÓ ĐIỀU KHIỂN DÙNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT 31 2.1 TỔNG QUAN VỀ MẠCH ĐIỀU KHIỂN 31 2.2 CHỈNH LƯU MỘT PHA CÓ ĐIỀU KHIỂN 32 2.2.1 Chỉnh lưu nửa chu kỳ có điều khiển 32 2.3 CHỈNH LƯU BA PHA CÓ ĐIỀU KHIỂN 35 2.3.1 Chỉnh lưu ba pha hình tia có điều khiển 35 2.3.2 Chỉnh lưu ba pha hình cầu có điều khiển 39 Chương : 43 ĐỘ TIN CẬY CỦA HỆ THỐNG ĐIỆN ĐIỆN TỬ CỘNG SUẤT DÙNG TRONG CÔNG NGHIỆP 43 3.1 MỘT TƯƠNG LAI CÔNG NGHIỆP 43 3.2 ỨNG DỤNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT VÀO CÔNG NGHIỆP 45 3.3 ĐỘ TIN CẬY ỨNG DỤNG CỤ THỂ CỦA CÁC THÀNH PHẦN 47 3.4 YÊU CẦU TUỔI THỌ 48 3.5 CƠ CHẾ KHÔNG THÀNH PHẦN 54 3.6 TIỀM NĂNG ĐỂ CẢI THIỆN ĐỘ TIN CẬY 55 KẾT LUẬN: 65 TÀI LIỆU THAM KHẢO 66 Chương 1: Lời mở đầu : Kỷ nguyên Truyền động điện coi kỷ 19 Tesla phát minh động không đồng năm 1888 Từ đó, động điện thay động nước, vốn coi động lực cho cách mạng công nghiệp lần thứ (thế kỷ 18) lần thứ hai (thế kỷ 19) Sự đời van bán dẫn công suất lớn diode, BJT, thyristor, triac tiếp IGBT thực mang đến cho truyền động điện biến đổi lớn chất lượng Bài nghiên cứu nhằm mục đích phân loại tìm hiểu độ tin cậy cảu điện tử công suát ngành cơng nghiệp phát triển nhanh chóng CÁC LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT 1.1 PHÂN LOẠI LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT - Các linh kiện bán dẫn cơng suất có hai chức ĐÓNG - Trạng thái linh kiện dẫn điện (ĐÓNG): linh kiện giống điện trở có giá trị bé (gần không) - Trạng thái linh kiện không dẫn điện (NGẮT): linh kiện giống điện trở có giá trị lớn - Các linh kiện bán dẫn chuyển đổi trạng thái làm việc từ trạng thái dẫn điện sang trạng thái không dẫn điện ngược lại thơng qua tín hiệu kích thích tác động lên cổng điều khiển linh kiện Ta gọi linh kiện có điều khiển Tín hiệu điều khiển dịng điện, điện áp hay ánh sáng với công suất nhỏ nhiều so Trong phần này, đề cập thảo luận tiềm phương pháp khác để cải thiện độ tin cậy Nói chung, có hai hướng nghiên cứu để tăng độ tin cậy hệ thống điện tử công suất : 1) Tìm kiếm củng cố vật liệu cứng mối liên kết dễ bị thất bại 2) Thay đổi việc sử dụng thành phần để giảm căng thẳng Thành phần cải tiến Việc phân tích lợi nhuận sản phẩm tạo điều kiện cho việc phát thành phần dễ bị thất bại hệ thống.Điều dẫn đến số cải tiến tăng sức mạnh.Những tiến công nghệ kết nối lắp ráp mô-đun đạt Quá trình thiêu kết nhiệt độ thấp tham gia thay hàn chip sử dụng để tăng vững mạnh kết nối, trái phiếu thay áp lực dòng sản phẩm có độ tin cậy cao kiểm tra chất bề mặt giảm cách tránh góc 90 ° mơ hình Cách bố trí PCB dịng chảy làm mát tối ưu hóa để làm mát tụ điện Vật lý không tiếp cận vật lý thất bại (POF) cách tiếp cận để nâng cao độ tin cậy sản phẩm sử dụng kiến thức nguyên nhân gốc rễ chế thất bại Khái niệm dựa hiểu biết mối quan hệ yêu cầu đặc điểm vật lý sản phẩm phản ứng yếu tố sản phẩm với tác nhân gây stress ảnh hưởng đến xuống cấp với cẩn trọng sử dụng điều kiện thời gian hoạt động Ảnh hưởng yếu tố căng thẳng đến phận sản phẩm vật liệu đánh giá theo ảnh hưởng chúng hoạt động để sử dụng Các biến bổ sung thành phần biến thể quy trình sản xuất, điều kiện sử dụng, thời gian phục vụ Cách tiếp cận áp dụng để tăng tuổi thọ độ tin cậy mô-đun điện tử công suất Kỹ thuật PoF kết nối chặt chẽ với thuật ngữ thiết kế cho độ tin cậy Mục tiêu đảm bảo đủ mạnh mẽ hệ thống trình thiết kế thành phần tính tốn liên quan đến yếu tố gây căng thẳng xảy trình hoạt động Sử dụng phân tích căng thẳng, sức mạnh cần thiết hệ thống 56 xác định, thường vấn đề đa thông số Các cấu trúc liên kết chịu lỗi thảo luận phương pháp Phương pháp tích cực: Phương pháp tích cực để cải thiện độ tin cậy cấu trúc điều khiển dựa phần mềm áp dụng hoạt động Mục đích để thay đổi vận hành hệ thống để tái lieve căng thẳng thành phần khơng có có ảnh hưởng nhỏ đến hiệu suất tổng thể Một phương pháp theo dõi tình trạng (CM) Khái niệm để đánh giá tình trạng sức khỏe thành phần hệ thống phát lỗi phơi thai để có hành động khắc phục trước thất bại Ví dụ, giảm nhiệt độ ngắn hạn ngăn chặn giảm biên độ lỗ tạm thời gia tăng cách tăng tần số chuyển mạch.Một mơ hình điện nhiệt sử dụng để có ước tính trực tuyến nhiệt dộ lường giao Ngồi ra, nhiệt độ đo thơng qua nhiệt số điện áp dụng kiểm soát nhiệt hoạt động khả để giảm căng thẳng nhiệt, việc sử dụng thương mại chưa báo cáo Đối với tụ, gợn gợn nhiệt độ điện áp xác định căng thẳng dẫn đến thất bại Một đặc điểm chỉnh lưu kết nối dòng acline truyền lượng xung đến dc Điều mở đường cho việc bảo trì thực nhu cầu hệ thống thay bám vào khoảng cố định Bắt đầu từ tình trạng hệ thống tiếng, CM cho phép dự đoán khởi đầu thất bại hao mòn Khi trạng thái quan trọng chẩn đốn, thiết bị nhắm mục tiêu để bảo trì theo kế hoạch Kiểm sốt nhiệt tích cực sử dụng thơng số điều khiển chu vi liên quan đến tem ảnh hưởng đến nhiệt độ ngã ba mô-đun điện bán dẫn trực tuyến Mục đích để giảm bớt căng thẳng nhiệt mô-đun cách giảm nhiệt độ dao động.Ảnh hưởng đến nhiệt độ đường giao nhau, điều khiển nhiệt tạm thời tăng giảm tổn thất chip mong muốn Chỉ có 57 vài hoạt động kiểm sốt nhiệt tích cực đề xuất Một phân loại tham số kiểm soát lựa chọn theo mức độ thứ bậc tương tác với hệ thống trình bày hình 3.6.2 Các lớp đạt từ kiểm sốt hệ thống xuống trình điều khiển cổng Trên lớp kiểm sốt tại(dịng điện), thay đổi giới hạn tại, dc liên kết điện áp, lưu hành chuyển đổi con-nối kết song song, cơng suất phản kháng lưu hành kiểm soát nhiệt độ ngã ba Trên lớp điều biến , lựa chọn tần số chuyển đổi phương pháp điều chế áp dụng Trên lớp phần cứng, Hình3.6.1 Các thành phần hệ thống điện tử công suất - Các thành phần hệ thống điện tử công suất phải giải nghiên cứu tương lai, từ câu trả lời chuyên gia ngành để tuyên bố, “Xin cho biết thành phần quan trọng phải giải nghiên cứu tương lai để cải thiện độ tin cậy hệ thống điện điện tử chuyển đổi ” 58 Hình 3.6.2 Phân loại thơng số để kiểm sốt nhiệt hoạt động thời điểm tương tác với hệ thống điều khiển Chỉ có 13% số người hỏi tin số lượng trọng tâm nghiên cứu đủ cho nhu cầu cơng nghiệp Hình 3.6.3 độ lệch chuẩn xung quanh giá trị trung bình - Các xu hướng cách tiếp cận cải thiện độ tin cậy hệ thống chuyển đổi điện tử công suất tương lai, từ câu trả lời chuyên gia ngành công nghiệp cho câu hỏi, “Theo ý kiến bạn, mà xu hướng / cách tiếp cận cải thiện độ tin cậy hệ thống chuyển đổi điện tử công suất tương lai?”quy mơ từ (khơng có lợi) đến sáu (rất có lợi).Các hiển thị độ lệch chuẩn xung quanh giá trị trung bình 59 Hình 3.6.4 bảng hiển thị giá trị trung bình tất câu trả lời - Các phương pháp để đạt độ tin cậy cao cho hệ thống điện tử công suất, từ câu trả lời chuyên gia bảng với tuyên bố, ‘Hãy xếp hạng tùy chọn sau để đạt độ tin cậy cao cho hệ thống điện tử công suất.’Quy mô từ năm (ưu tiên cao nhất) (ưu tiên thấp nhất).Các hiển thị giá trị trung bình tất câu trả lời Al-Caps với MPPF-Caps đáng tin cậy Tuy nhiên, mạch bổ sung chương trình điều khiển nguồn thất bại tiềm làm tăng chi phí, đó, chúng thực sản phẩm công nghiệp Các biện pháp chủ động trao cho nhăn độ tin cậy sử dụng hệ thống điện tử công suất Để đánh giá tiềm phương pháp để cải thiện độ tin cậy, ngành công nghiệp cũ perts hỏi mà xu hướng cải thiện độ tin cậy hệ thống tương lai chuyển đổi điện tử công suất Các kết thể hình 3.6.6 3.6.4.Các phương pháp tích cực màu xanh Kết cho thấy tất xu hướng đề cập đánh giá có lợi chung, giá trị trung bình nằm 3.6 4.2 Điểm số cao việc sử dụng thành phần chứng minh có mạnh mẽ đáng tin cậy.giám sát tình trạng kiểm sốt, chẳng hạn kiểm soát nhiệt hoạt động, mà tránh tình trạng hoạt động căng thẳng điều kiện hoạt 60 động đạt điểm cao thứ hai Thêm dự phòng vào hệ thống tăng cường sử dụng thiết bị băng thông rộng nhận điểm số thấp nhất.Thiết bị băng thông rộng cung cấp lợi đáng kể, chẳng hạn tốc độ chuyển đổi cao nhiệt độ hoạt động cao hơn, cho phép mật độ lượng tăng lên Tuy nhiên, điều làm cho quản lý nhiệt độ họ quan trọng, dẫn đến lo ngại cho PCB thành phần mà thiết bị kết nối xác minh thực nghiệm phương pháp tích cực để cải thiện độ tin cậy phức tạp Các phận có đời thang điểm từ năm, mà làm xét nghiệm đời real-time tốn thời gian đánh giá.Ngoài ra, điều kiện thử nghiệm độ ẩm xạ phải giữ khơng đổi suốt q trình thử nghiệm Do đó, kiểm tra tuổi thọ tăng tốc (ALTS) sử dụng để ước lượng sống thời gian thành phần Đối với alts, căng thẳng liên quan xác định sau áp dụng cho thiết bị thử nghiệm với liều lượng định lượng nếp nhăn Nhiều thử nghiệm cần thiết để tạo đủ liệu thống kê.Đối với căng thẳng nhiệt, cách phổ biến để xác định mối quan hệ căng thẳng sống thời gian tồn mơ hình Arrhenius Ngay có vài thơng số coi là, thiết kế Hình 3.6.5 bảng % câu trả lời ý kiến trạng nghiên cứu độ tin cậy - Đánh giá trạng nghiên cứu độ tin cậy chuyển đổi lượng điện tử, từ câu trả lời chuyên gia ngành công nghiệp cho câu hỏi, ‘Theo ý kiến bạn, mà xu hướng / cách tiếp cận cải thiện độ tin cậy hệ 61 thống chuyển đổi điện tử công suất tương lai người mẫu tuổi thọ cho thành phần phức tạp dựa liệu thực nghiệm Vì vậy, nhạy cảm với lỗi Việc thiếu phương pháp xác minh cách dễ dàng áp dụng vấn đề chung nghiên cứu độ tin cậy Nhà nước nghiên cứu đáng tin cậy để phát quan điểm chung ngành cơng nghiệp tình trạng nghiên cứu liên quan đến độ tin cậy chuyển đổi lượng điện tử, câu hỏi hỏi tình trạng cơng việc Các kết trình bày Hình 3.6.5 Ba câu trả lời đại diện cho ý kiến khác đánh giá trạng nghiên cứu độ tin cậy Chỉ có 13% số người hỏi tin số lượng Hình 3.6.6 Biếu đồ biểu thị hợp tác nghiên cứu độ tin cậy - Một số cách đầy hứa hẹn để nâng cao độ tin cậy hệ thống điện tử công suất, từ câu trả lời chuyên gia ngành công nghiệp cho câu hỏi, ‘Theo kinh nghiệm bạn, mà đường hứa hẹn để cải thiện độ tin cậy?’ Trọng tâm nghiên cứu đủ cho nhu cầu dustry Tổng cộng có 54% số lượng nghiên cứu nên tăng lên, nhóm cịn lại chọn phương án nỗ lực nghiên cứu đầy đủ tập trung cần gắn kết tốt với nhu cầu ngành cơng nghiệp Nhìn chung, kết 62 hiểu lời kêu gọi hành động Họ gợi ý nghiên cứu nhiều lĩnh vực độ tin cậy nên thực nỗ lực nghiên cứu nên liên kết tốt với nhu cầu ngành công nghiệp Cách hứa hẹn để cải thiện đáng tin cậy đa số câu trả lời đề xuất trọng tâm số lượng tái nghiên cứu trách nhiệm pháp lý không đầy đủ cho nhu cầu ngành công nghiệp, câu nhằm xác định cách tiếp cận để tổ chức nghiên cứu độ tin cậy coi đường hứa hẹn để cải thiện độ tin cậy tương lai Việc tái sults cung cấp Hình 3.3.6 Các câu trả lời rõ ràng cho thấy hợp tác nghiên cứu dẫn đầu toàn ngành coi hứa hẹn cách tiếp cận để nâng cao độ tin cậy, nghiên cứu công ty Một lợi lớn nghiên cứu dẫn đầu ngành cơng nghiệp tối ưu phù hợp với nhu cầu ngành công nghiệp.Các phương pháp sử dụng tập trung vào thành phần lựa chọn cho nhu cầu thị trường phù hợp nhất.Ngoài ra, cơng ty nghiên cứu có lợi ích để có lợi cạnh tranh tránh cần thiết để tham gia cộng bên khu vực nhạy cảm Sự tự tin thấp công việc thực trung tâm tái tìm kiếm kết nối nhu cầu ngành công nghiệp nghiên cứu thực thực trang web.Một cách giải thích chuyên gia ngành xem xét nghiên cứu Trung tâm không liên quan đến ứng dụng thực tế Độ tin cậy cải thiện cao làm giảm cúp chi phí bảo trì Vì vậy, độ tin cậy tốt dẫn đến sẵn sàng cao phía khách hàng phải trả tiền cho sản phẩm trường hợp định, chẳng hạn hệ thống điện tử công suất với chi phí cúp cao đơn xin phát sinh chi phí nhạy cảm Do đó, mong đợi khách hàng cho lượng gió, lượng truyền tải, hệ thống máy bay đặc biệt sẵn sàng trả thêm cho hệ thống đáng tin cậy hệ thống chiếu sáng thường coi mặt hàng dự kiến để mặc ngồi sau Đặc biệt ứng dụng máy bay, 63 truyền tải lượng lượng gió, sẵn sàng mạnh để tốn cho hệ thống đáng tin cậy xác định, lượng gió, sẵn sàng chi trả mạnh để toán cho hệ thống đáng tin cậy xác định Các phương pháp hoạt động giúp tăng độ tin cậy trình vận hành,chẳng hạn theo dõi tình trạng tránh điều kiện hoạt động căng thẳng, định tích cực chút Tuy nhiên, có tiềm phương pháp này, phần lớn người hỏi muốn xem thêm nghiên cứu chủ đề Đặc biệt ứng dụng máy bay, truyền lượng 64 KẾT LUẬN: Qua trình thực tập luận văn tốt nghiệp giúp em hiểu rõ thực tếđồng thời củng cố lại kiến thức học suốt thời gian qua.Đề tài mang nặng lý thuyết liên quan đến ngành truyền động điện Dưới hướng dẫn GS.TSKH Thân Ngọc Hoàn , sinh viên thực cố gắng để trình bày đầy đủ yêu cầu đồ án tốt nghiệp: - Giới thiệu linh kiện bán dẫn công suất lớn như: diode, transistor, triac đặc biệt tiristor - Giới thiệu phương pháp điều chỉnh tốc mạch chỉnh lưu có điều khiển điênh tử công suất Nghiên cứu hiểu biết thêm độ tin cậy điện tử công suất vào công nghiệp Với quan tâm nỗ lực không ngừng, đồ án tốt nghiệp hồn thành có nội dung bám sát yêu cầu đề ra.Mặc dù nhiều hạn chế, thiếu sót qua đồ án tốt nghiệp giúp sinh viên thực đánh giá Đây thành quảlớn sau nhiều năm học tập với giúp đỡ quý thầy cô, bạn bè.Một lần em xin chân thành cảm ơn Thầy GS.TSKH Thân Ngọc Hồn tận tình bảo để giúp em hoàn thành tập luận văn 65 TÀI LIỆU THAM KHẢO Điện tử cơng suất Nguyễn Bính ( nhà xuất khoa học kỹ thuật năm 2000), ( Các phần tử bán dẫn công suất tr11-41),(chỉnh lưu Điôt tr44-72),(chỉnh lưu Transistor 84-128) H Wang, M Liserre, F Blaabjerg, “Hướng tới thiết bị điện tử đáng tin cậy điện: Thách thức, công cụ thiết kế, hội,” IEEE Ind Electron Mag., Vol 7, không có.2, tr 17-26, tháng năm 2013 F Blaabjerg K Ma, “Tương lai điện tử công suất cho hệ thống tua-bin gió,” IEEE J Emerg Sel Chủ đề điện Electron., Vol 1, khơng có 3,139-152, tháng năm 2013 JG Kassakian TM Jahns, “phát triển ứng dụng điện Elec-tronics hệ thống,” IEEE J Emerg Sel Chủ đề điện Electron., Vol 1, khơng có 2, tr 47-58, tháng năm 2013 N Baker, M Liserre, L Dupont, Y Avenas, “Cải thiện độ tin cậy mô-đun lượng: A lại quan điểm nhiệt độ ngã ba phương pháp đo lường-ment trực tuyến”, IEEE Ind Electron Mag., Vol 8, khơng có.3, tr 17-27, tháng năm 2014 H Wang, M Liserre, F Blaabjerg, P de Nơi Rimmen, J Jacobsen, T Kvisgaard, J Landkildehus, “Chuyển đổi sang vật lý-of-thất bại tài xế độ tin cậy điện electron-ics” IEEE J Emerg Sel Chủ đề điện Electron., Vol 2, khơng có 1, pp 97-114 2014 K Fischer J Wenske, “Hướng tới chuyển đổi lượng đáng tin cậy cho tuabin gió: Dịng liệu dựa xác định điểm yếu trình điều khiển chi phí,” Proc Châu Âu Năng lượng gió Như-sociation Conf hàng năm Triển lãm Hội năm 2015 117-120 66 S Yang, A Bryant, P Mawby, D Xiang, L Ran, P Tavner, “Một khảo sát ngành công nghiệp dựa tái trách nhiệm chuyển đổi điện tử công suất”, IEEE Trans Ind Appl., Vol 47 tuổi, khơng có 3, tr 1441-1451, Tháng năm 2011 PD O'Connor, P O'Connor, A Kleyner, thực hành kỹ thuật đáng tin cậy Hoboken, NJ: Wiley, 2012 10 P Ghimire, S Beczkowski, S Munk-Nielsen, B Rannestad, PB Thogersen, “Một đánh giá thời gian thực kỹ thuật đo lường chất nỗ lực họ để dự đốn tình trạng mặc-out IGBT,” Proc 2013 15 Conf châu Âu Điện điện tử ứng dụng (EPE),1-10.H Conseil-Gudla, Z Staliulionis, MS Jellesen, M Jabbari, JH Hattel, R Ambat, “ẩm-ity tích tụ thùng điện tử tiếp xúc với điều kiện không đổi,” IEEE Trans Compon Packag.Manuf Technol.Năm., Vol 7, khơng có.3, tr 412- 423, năm 2017 11 SJ Watson, BJ Xiang, W Yang, PJ Tavner, CJ Crabtree, “giám sát Điều kiện sản lượng điện máy phát điện tuabin gió sử dụng wavelets,” IEEE Trans Convers lượng., Vol 25, khơng có 3, tr 715-721, 2010 12 JS Karppinen, J Li, M Paulasto-Krockel, “Ảnh hưởng sức mạnh VIBRA-tion tải đồng thời độ tin cậy mối liên kết ban cấp quyền điện tử assem-blies,” IEEE Trans Mater thiết bị Rel., Vol 13, khơng có.1, pp 167-176, 2013 13 H Kabza, HJ Schulze, Y Gerstenmaier, P Voss, JWW Schmid, F Pfirsch, K Plat-zoder, “bức xạ vũ trụ nguyên nhân cho thất bại thiết bị điện biện pháp đối phó có thể,” Proc Int Symp Điện Semiconductor De-tệ nạn IC, tháng năm 1994, tr 912 67 14 M Ciappa, “Đã chọn chế thất bại mô-đun lượng đại”, Microelectron Tái liab., Vol 42 tuổi, khơng có 4, tr 653-667, 2002 15 H Oh, B Han, P McCluskey, C Han, BD Youn, “Vật lý-of-thất bại, tình trạng hình-ing, prognostics cổng cách điện module transistor lưỡng cực: Một đánh giá,” IEEE Trans Điện điện tử., Vol 30, khơng có 5, tr 2413-2426, tháng năm 2015 16 A Wintrich, U Nicolai, W Tursky, T Rei-mann, Ứng dụng Hướng dẫn sử dụng điện Semiconduc-TOR, 2nd ed Semikron: Nuremberg, Đức, năm 2015 17 V Smet, F Forest, J.-J Huselstein, F Richard-eau, Z Khatir, S Lefebvre, M Berkani, “lão hóa suy chế độ mô-đun IGBT xe đạp điện nhiệt độ cao”, IEEE Trans Ind Electron., Vol 58 tuổi, khơng có 10, tr 4931-4941, 2011 18 H Wang F Blaabjerg, “Độ tin cậy capaci-TOR cho ứng dụng dc-link khả chuyển đổi điện tử-ic: Tổng quan”, IEEE Trans Ind Appl., Vol 50, 5, tr 3569-3578, năm 2014 19 A Volke M Hornkamp, IGBT Modules: Technologies, điều khiển ứng dụng, 2nd ed Munich: Infineon Technologies AG, 2012 20 M Musallam, C Yin, C Bailey, M Johnson, “Mission hồ sơ thiết kế dựa độ tin cậy thời gian thực ước tính tiêu thụ sống điện tử công suất”, IEEE Trans Điện điện tử., Vol 30, 5, tr 2601-2613, tháng năm 2015 21 W Zhang, D Xu, PN Enjeti, H Li, JT Hawke, HS Krishnamoorthy, “Khảo sát kỹ thuật lỗi tol-erant cho điện điện tử chuyển đổi-ers”, IEEE Trans Điện điện tử., Vol 29, khơng có 12,6319-6331, năm 2014 68 22 J Falck, M Andresen, M Liserre, “phương pháp tích cực để cải thiện độ tin cậy điện Elec-tronics”, Proc 43 Annu Conf IEEE Society Indus-thử nghiệm Electronics, 2017, pp 79237928 23 D Murdock, J Torres, J Connors, R Lo-Renz, “kiểm sốt nhiệt tích cực điện module Elec-tronic,” IEEE Trans Ind Appl., Vol 42 tuổi, khơng có 2, tr 552-558, 2006 24 J Falck, G Buticchi, M Liserre, “căng thẳng nhiệt dựa mơ hình điều khiển dự phòng ổ đĩa Elec-tric,” IEEE Trans Ind Appl., Vol 54, khơng có 2, tr 1513-1522, 2018 25 M Andresen, K Ma, G Buticchi, J Falck, F Blaabjerg, M Liserre, “Junction kiểm soát tempera-ture cho sức mạnh đáng tin cậy electron-ics”, IEEE Trans Điện điện tử., Vol 33 tuổi, khơng có 1,765-776, 2018 26 K Ma, M Liserre, F Blaabjerg, “ảnh hưởng công suất phản kháng xe đạp nhiệt đa mw biến tần lượng gió,” IEEE Trans Ind Appl., Vol 49 tuổi, khơng có 2, tr 922-930, 2013 27 H Wen, W Xiao, X Wen, P Armstrong, “Phân tích đánh giá tụ dc-link cho điện mật độ cao hệ thống truyền động xe điện”, IEEE Trans Veh Technol.Năm., Vol 61 tuổi, khơng có 7, tr 2950-2964, năm 2012 28 R Wang, F Wang, D Boroyevich, R Burgos, R Lai, P Ning, K Rajashekara, “Một mật độ lượng cao pha PWM chỉnh lưu với lưu trữ lượng gợn tích cực”, IEEE Trans Điện điện tử., Vol 26, khơng có 5, tr 1430-1443, Tháng năm 2011 29 JM Thebaud, E Woirgard, C Zardini, S Az-zopardi, O Briat, JM Vinassa, “Chiến lược thiết kế tăng tốc xét nghiệm để lão hóa evalu-ate IGBT module điện đời chế độ thực opera-tion”, 69 IEEE Trans Compon.Packag.Tech-nol., Vol 26, khơng có 2, tr 429-438, June 2003 70 ... 43 ĐỘ TIN CẬY CỦA HỆ THỐNG ĐIỆN ĐIỆN TỬ CỘNG SUẤT DÙNG TRONG CÔNG NGHIỆP 43 3.1 MỘT TƯƠNG LAI CÔNG NGHIỆP 43 3.2 ỨNG DỤNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT VÀO CÔNG NGHIỆP 45 3.3 ĐỘ TIN CẬY... QUẢN LÝ VÀ CƠNG NGHỆ HẢI PHỊNG NGHIÊN CỨU ĐỘ TIN CẬY CỦA CÁC HỆ THỐNG ĐIỆN TỬ CÔNG SUẤT SỬ DỤNG TRONG CÔNG NGHIỆP ĐỒ ÁN TỐT NGHIỆP ĐẠI HỌC HỆ CHÍNH QUY NGÀNH: ĐIỆN TỰ ĐỘNG CƠNG NGHIỆP Sinh viên... DÙNG TRONG CÔNG NGHIỆP 3.1 MỘT TƯƠNG LAI CƠNG NGHIỆP Hệ thống thiết bị điện tử cơng suất sử dụng ngày nhiều loạt lĩnh vực ứng dụng, chẳng hạn hệ truyền động điện có tốc độ thay đổi tốc độ, xe điện,

Ngày đăng: 04/08/2020, 14:52

Nguồn tham khảo

Tài liệu tham khảo Loại Chi tiết
2. H. Wang, M. Liserre, và F. Blaabjerg, “Hướng tới thiết bị điện tử đáng tin cậy điện: Thách thức, công cụ thiết kế, và các cơ hội,”IEEE Ind Electron..Mag., Vol. 7, không có.2, tr. 17-26, tháng 6 năm 2013 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Hướng tới thiết bị điện tử đáng tin cậy điện: Thách thức, công cụ thiết kế, và các cơ hội
3. F. Blaabjerg và K. Ma, “Tương lai về điện tử công suất cho hệ thống tua-bin gió,” IEEE J. Emerg. Sel. Chủ đề điện Electron., Vol Sách, tạp chí
Tiêu đề: Tương lai về điện tử công suất cho hệ thống tua-bin gió
4. JG Kassakian và TM Jahns, “phát triển và ứng dụng mới nổi của điện Elec-tronics trong các hệ thống,” IEEE J. Emerg. Sel. Chủ đề điện Electron., Vol. 1, không có. 2, tr. 47-58, tháng 6 năm 2013 Sách, tạp chí
Tiêu đề: phát triển và ứng dụng mới nổi của điện Elec-tronics trong các hệ thống
5. N. Baker, M. Liserre, L. Dupont, và Y. Avenas, “Cải thiện độ tin cậy của mô-đun năng lượng: A lại quan điểm của nhiệt độ ngã ba phương pháp đo lường-ment trực tuyến”, IEEE Ind Electron..Mag., Vol. 8, không có.3, tr. 17-27, tháng 9 năm 2014 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Cải thiện độ tin cậy của mô-đun năng lượng: A lại quan điểm của nhiệt độ ngã ba phương pháp đo lường-ment trực tuyến
6. H. Wang, M. Liserre, F. Blaabjerg, P. de Nơi Rimmen, J. Jacobsen, T. Kvisgaard, và J. Landkildehus, “Chuyển đổi sang vật lý-of-thất bại như một tài xế độ tin cậy trong điện electron-ics” IEEE J.Emerg. Sel. Chủ đề điện Electron., Vol. 2, không có. 1, pp. 97-114 2014 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Chuyển đổi sang vật lý-of-thất bại như một tài xế độ tin cậy trong điện electron-ics
7. K. Fischer và J. Wenske, “Hướng tới bộ chuyển đổi năng lượng đáng tin cậy cho tuabin gió: Dòng dữ liệu dựa trên xác định các điểm yếu và trình điều khiển chi phí,” trong Proc. Châu Âu Năng lượng gió Như-sociation Conf hàng năm. Triển lãm và Hội năm 2015 117-120 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Hướng tới bộ chuyển đổi năng lượng đáng tin cậy cho tuabin gió: Dòng dữ liệu dựa trên xác định các điểm yếu và trình điều khiển chi phí
8. S. Yang, A. Bryant, P. Mawby, D. Xiang, L. Ran, và P. Tavner,“Một cuộc khảo sát ngành công nghiệp dựa trên tái trách nhiệm trong bộ chuyển đổi điện tử công suất”, IEEE Trans. Ind. Appl., Vol. 47 tuổi, không có. 3, tr. 1441-1451, Tháng năm 2011 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Một cuộc khảo sát ngành công nghiệp dựa trên tái trách nhiệmtrong bộ chuyển đổi điện tử công suất
11. SJ Watson, BJ Xiang, W. Yang, PJ Tavner, và CJ Crabtree, “giám sát Điều kiện sản lượng điện của máy phát điện tuabin gió sử dụng wavelets,” IEEE Trans. Convers năng lượng., Vol. 25, không có. 3, tr. 715-721, 2010 Sách, tạp chí
Tiêu đề: giámsát Điều kiện sản lượng điện của máy phát điện tuabin gió sử dụngwavelets
12. JS Karppinen, J. Li, và M. Paulasto-Krockel, “Ảnh hưởng của sức mạnh và VIBRA-tion tải đồng thời trên độ tin cậy của mối liên kết ban cấp quyền điện tử assem-blies,” IEEE Trans. Mater thiết bị.Rel., Vol. 13, không có.1, pp. 167-176, 2013 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Ảnh hưởng của sứcmạnh và VIBRA-tion tải đồng thời trên độ tin cậy của mối liên kếtban cấp quyền điện tử assem-blies
13. H. Kabza, HJ Schulze, Y. Gerstenmaier, P. Voss, JWW Schmid, F.Pfirsch, và K. Plat-zoder, “bức xạ vũ trụ là nguyên nhân cho sự thất bại thiết bị điện và biện pháp đối phó có thể,” trong Proc. 6 Int Sách, tạp chí
Tiêu đề: bức xạ vũ trụ là nguyên nhân cho sự thấtbại thiết bị điện và biện pháp đối phó có thể
14. M. Ciappa, “Đã chọn cơ chế thất bại của mô-đun năng lượng hiện đại”, Microelectron. Tái liab., Vol. 42 tuổi, không có. 4, tr.653-667, 2002 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Đã chọn cơ chế thất bại của mô-đun năng lượng hiện đại
15. H. Oh, B. Han, P. McCluskey, C. Han, và BD Youn, “Vật lý-of-thất bại, tình trạng màn hình-ing, và prognostics cổng cách điện module transistor lưỡng cực: Một đánh giá,” IEEE Trans. Điện điện tử., Vol Sách, tạp chí
Tiêu đề: Vật lý-of-thấtbại, tình trạng màn hình-ing, và prognostics cổng cách điện module transistor lưỡng cực: Một đánh giá
17. V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, F. Richard-eau, Z. Khatir, S. Lefebvre, và M. Berkani, “lão hóa và suy chế độ của mô-đun IGBT trong xe đạp điện ở nhiệt độ cao”, IEEE Trans. Ind. Electron., Vol.58 tuổi, không có. 10, tr. 4931-4941, 2011 Sách, tạp chí
Tiêu đề: lão hóa và suy chế độ của mô-đun IGBTtrong xe đạp điện ở nhiệt độ cao
18. H. Wang và F. Blaabjerg, “Độ tin cậy của capaci-TOR cho các ứng dụng dc-link trong khả năng chuyển đổi điện tử-ic: Tổng quan”, IEEE Trans. Ind. Appl., Vol. 50, không có. 5, tr. 3569-3578, năm 2014 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Độ tin cậy của capaci-TOR cho các ứngdụng dc-link trong khả năng chuyển đổi điện tử-ic: Tổng quan
20. M. Musallam, C. Yin, C. Bailey, và M. Johnson, “Mission hồ sơ thiết kế dựa trên độ tin cậy và thời gian thực ước tính tiêu thụ cuộc sống trong điện tử công suất”, IEEE Trans. Điện điện tử., Vol. 30, không có. 5, tr. 2601-2613, tháng 5 năm 2015 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Mission hồ sơ thiết kế dựa trên độ tin cậy và thời gian thực ước tính tiêu thụ cuộcsống trong điện tử công suất
21. W. Zhang, D. Xu, PN Enjeti, H. Li, JT Hawke, và HS Krishnamoorthy, “Khảo sát về kỹ thuật lỗi tol-erant cho điện điện tử chuyển đổi-ers”, IEEE Trans. Điện điện tử., Vol. 29, không có Sách, tạp chí
Tiêu đề: Khảo sát về kỹ thuật lỗi tol-erant cho điện điệntử chuyển đổi-ers
22. J. Falck, M. Andresen, và M. Liserre, “phương pháp tích cực để cải thiện độ tin cậy trong điện Elec-tronics”, trong Proc. 43 Annu.Conf. IEEE Society Indus-thử nghiệm Electronics, 2017, pp. 7923- 7928 Sách, tạp chí
Tiêu đề: phương pháp tích cực để cải thiện độ tin cậy trong điện Elec-tronics
23. D. Murdock, J. Torres, J. Connors, và R. Lo-Renz, “kiểm soát nhiệt tích cực của điện module Elec-tronic,” IEEE Trans. Ind. Appl., Vol.42 tuổi, không có. 2, tr. 552-558, 2006 Sách, tạp chí
Tiêu đề: kiểm soát nhiệttích cực của điện module Elec-tronic
24. J. Falck, G. Buticchi, và M. Liserre, “căng thẳng nhiệt dựa trên mô hình điều khiển dự phòng của các ổ đĩa Elec-tric,” IEEE Trans. Ind.Appl., Vol. 54, không có. 2, tr. 1513-1522, 2018 Sách, tạp chí
Tiêu đề: căng thẳng nhiệt dựa trên môhình điều khiển dự phòng của các ổ đĩa Elec-tric
25. M. Andresen, K. Ma, G. Buticchi, J. Falck, F. Blaabjerg, và M. Liserre, “Junction kiểm soát tempera-ture cho sức mạnh đáng tin cậy hơn electron-ics”, IEEE Trans. Điện điện tử., Vol. 33 tuổi, không có. 1,765-776, 2018 Sách, tạp chí
Tiêu đề: Junction kiểm soát tempera-ture cho sức mạnh đáng tincậy hơn electron-ics

TỪ KHÓA LIÊN QUAN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

w