ĐIỆN tử VIỄN THÔNG principles of self testing khotailieu

Seminar sở đo lường điện tử (01/12/2011) Các nguyên lý tự kiểm tra ứng dụng việc đo lường, kiểm nghiệm mạch điện tử số vi xử lý Lưu Quang Trung, Nguyễn Huỳnh Sơn, ĐT3 – K53 Trình bày: Lưu Quang Trung Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết Tổng quan > Lý chọn đề tài • Do phát triển ngày nhanh chóng mạch tích hợp mật độ cao, dẫn tới việc đo thử kiểm tra mạch IC mảng mạch trở nên vô phức tạp tốn • Càng ngày cần thiết bị có dải rộng hơn, có nhiều khả để lựa chọn sản xuất, bảo hành, sửa chữa • Giải pháp: Cung cấp cho máy chế độ tự kiểm tra (self-testing), nhờ kiểm tra mảng mạch hệ thống mà không cần sử dụng phương tiện bên ngoài, phần cứng phần mềm Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp thiết kế theo mức độ nhạy – LSSD (Level-Sensitive Design) Phương pháp dùng giám sát thiết bị sử dụng khối logic – BILBO (Built-in Loigic Block Observer) Phương pháp MICROBIT Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết Phương pháp LSSD > Định nghĩa 3.1 Định nghĩa •LSSD = Level- Sensitive Scan Design, phương pháp thiết kế quét theo mức độ nhạy •Được đưa Eichelberger T Williams vào năm 1970, ứng dụng với mạch tích hợp (IC), mảng mạch hệ thống Phương pháp LSSD > Sơ đồ khối 3.2 Sơ đồ khối I: D: C: A: Tín hiệu từ phần tử nhớ trước Mẫu (số liệu) kiểm tra Xung nhịp hệ thống Clock dịch • Latch (L1) , Latch (L2): phần tử nhớ cung cấp cấu trúc sản phẩm • Latch 1: Thực chức sản phẩm sử dụng q trình kiểm tra • Latch 2: Nâng cao khả trình kiểm tra Phương pháp LSSD > Hoạt động 3.3 Hoạt động •Hai Latch tổ hợp thành ghi dịch đơn để đầu Latch nối vào đầu vào I Latch ghi dịch đơn • Xung clock đưa vào A B khiến bit số liệu dịch chuyển quét dọc theo ghi Mẫu bit xuất đầu so sánh với số liệu cất giữ nhớ đại diện cho trạng thái mong muốn sản phẩm hoạt động bình thường 10 Phương pháp LSSD > Ứng dụng 3.4 Ứng dụng •Kiểm tra hệ thống sử dụng IC (Integrated Circuit) •Kiểm tra hệ thống sử dụng SoC (System-on-Chip) •Kiểm tra mảng mạch 11 Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết 12 Phương pháp BILBO > Định nghĩa 4.1 Định nghĩa: •BILBO = Built- In Logic Block Observer, phương pháp dùng Bộ giám sát thiết bị sử dụng khối logic (mạch số) 13 Phương pháp BILBO > Sơ đồ khối 4.2 Sơ đồ khối 14 Phương pháp BILBO > Hoạt động 4.3 Hoạt động • Sau số xung clock định trước nhận được, mạch điều chọn thời gian thử phát tín hiệu kết thúc vòng kiểm tra, đáp lại tín hiệu này, khối phát xung nhịp chấm dứt việc đưa xung đồng tới mạch thiết bị kiểm tra, số liệu đưa giải mã để tới hình trạng thái thiết bị thời gian kiểm tra 15 Phương pháp BILBO > Ứng dụng 4.4 Ứng dụng • Giám sát thiết bị sử dụng khối logic 16 Nội dung Tổng quan Giới thiệu phương pháp tự kiểm tra Phương pháp LSSD Phương pháp BILBO Phương pháp MICROBIT Tổng kết 17 Phương pháp MICROBIT > Định nghĩa 5.1 Định nghĩa •Là phương pháp phát triển đặc biệt dành cho việc kiểm tra hệ thống vi xử lý máy tính hồn chỉnh, ứng dụng để kiểm tra mảng mạch in 18 Phương pháp MICROBIT > Sơ đồ khối 5.2 Sơ đồ khối 19 Phương pháp MICROBIT > Hoạt động 5.3 Hoạt động • Việc kiểm tra diễn vi xử lý, bus, mạch đồng hiển thị, phát mẫu giả ngẫu nhiên, ghi, PROM (nơi chứa phần mềm kỹ thuật MICROBIT) RAM 20 Phương pháp MICROBIT > Đặc điểm 5.4 Đặc điểm • Ưu điểm: Tốc độ chẩn đoán nhanh (khoảng nửa phút cho hệ vi xử lý bit), thủ tục đơn giản • Nhược điểm: Chỉ kiểm tra hệ thống trạng thái tĩnh, kiểm tra hệ thống hoạt động • Ứng dụng: o Kiểm tra hệ thống vi xử lý máy vi tính hồn chỉnh o Kiểm tra mảng mạch in 21 Thanks for your attention! 22 ... khả để lựa chọn sản xuất, bảo hành, sửa chữa • Giải pháp: Cung cấp cho máy chế độ tự kiểm tra (self- testing) , nhờ kiểm tra mảng mạch hệ thống mà không cần sử dụng phương tiện bên ngoài, phần cứng... khối 3.2 Sơ đồ khối I: D: C: A: Tín hiệu từ phần tử nhớ trước Mẫu (số liệu) kiểm tra Xung nhịp hệ thống Clock dịch • Latch (L1) , Latch (L2): phần tử nhớ cung cấp cấu trúc sản phẩm • Latch 1: Thực