Xác định giới hạn phát hiện của phương pháp gamma tán xạ trên vật liệu nhôm dạng tấm phẳng bằng đầu dò nai(tl)

ĐẠI HỌC QUỐC GIA TP HỒ CHÍ MINH TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN THÂN MIÊN NGỌC XÁC ĐỊNH GIỚI HẠN PHÁT HIỆN CỦA PHƢƠNG PHÁP GAMMA TÁN XẠ TRÊN VẬT LIỆU NHƠM DẠNG TẤM PHẲNG BẰNG ĐẦU DỊ NaI(Tl) LUẬN VĂN THẠC SĨ VẬT LÝ TP HỒ CHÍ MINH - 2015 ĐẠI HỌC QUỐC GIA TP HỒ CHÍ MINH TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN THÂN MIÊN NGỌC XÁC ĐỊNH GIỚI HẠN PHÁT HIỆN CỦA PHƢƠNG PHÁP GAMMA TÁN XẠ TRÊN VẬT LIỆU NHÔM DẠNG TẤM PHẲNG BẰNG ĐẦU DÒ NaI (Tl) Chuyên ngành: Vật lý nguyên tử hạt nhân lượng cao Mã ngành: 60 44 05 LUẬN VĂN THẠC SĨ VẬT LÝ Người hướng dẫn khoa học: PGS.TS CHÂU VĂN TẠO TP HỒ CHÍ MINH - 2015 LỜI CÁM ƠN Trong suốt trình học tập, thực luận văn quý trường em nhận giúp đỡ lớn từ thầy cơ, gia đình bạn bè - Khi hoàn tất em xin gởi lời cảm ơn chân thành tới Thầy Châu Văn Tạo người dạy dỗ từ ngày đầu bước vô trường không ngại nhận hướng dẫn, tạo điều kiện để em thực luận văn quý trường - Thầy Trần Thiện Thanh giúp đỡ, hướng dẫn em hoàn thành luận văn - Quý Thầy Cô môn Vật lý Hạt nhân, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Tp Hồ Chí Minh giảng dạy hai năm qua Các Thầy Cô tạo điều kiện tốt để em hồn thành luận văn - Anh Võ Hồng Ngun, anh Lê Hồng Chiến, anh Huỳnh Đình Chương, em Lưu Đặng Hồng Oanh, em Nguyễn Trí Tồn Phúc, em Nguyễn Điền Quốc Bảo bạn lớp cao học Vật lý nguyên tử, hạt nhân lượng cao khóa K23 hỗ trợ để luận văn sớm hồn thành - Bộ mơn Vật lý Hạt nhân, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên Hồ Chí Minh đáp ứng điều kiện sở vật chất, trang thiết bị cần thiết để học viên thực luận văn - Cuối xin gởi lời cảm ơn đến gia đình tạo điều kiện động viên an ủi kịp thời suốt trình thực luận văn Thành phố Hồ Chí Minh – 2015 Thân Miên Ngọc MỤC LỤC DANH MỤC CÁC CHỮ VIẾT TẮT i DANH MỤC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ .ii DANH MỤC CÁC BẢNG .iii MỞ ĐẦU Chương 1: TỔNG QUAN 1.1 Sơ lược tình hình nghiên cứu phương pháp tán xạ ngược gamma 1.1.1 Một số cơng trình nghiên cứu giới 1.1.2 Một số cơng trình nghiên cứu nước 1.2 Cơ sở lý thuyết 1.2.1 Chức việc kiểm định giả thiết 1.2.2 Phương pháp gamma tán xạ 13 1.2.3 Sự suy giảm chùm lượng tử gamma qua vật chất 18 1.2.4 Kỹ thuật gamma tán xạ ngược 19 1.3 Mô MCNP5 23 1.4 Nhận xét chương1 26 Chương 2: BỐ TRÍ THÍ NGHIỆM 27 2.1 Khối nguồn 27 2.2 Bia tán xạ 29 2.3 Khối đầu dò 29 2.4 Nhận xét chương 31 Chương 3: KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 32 3.1 Chuẩn lượng 32 3.2 Chuẩn FWHM 33 3.3 Xác định số đếm tối thiểu có bia tán xạ 35 3.4 Mô phụ thuộc diện tích đỉnh tán xạ vào bề dày bia 36 3.5 Thực nghiệm kiểm chứng 40 3.6 Nhận xét chương 46 KẾT LUẬN VÀ KIẾNNGHỊ 48 TÀI LIỆU THAM KHẢO 50 PHỤ LỤC 52 DANH MỤC CÁC CHỮ VIẾT TẮT Chữ viết Tiếng Anh Tiếng Việt tắt FWHM Full Width at Half Maximum Bề rộng nửa giá trị cực đại GEB Gaussian Energy Broadening Giãn nở lượng dạng Gauss HPGe High Purity Germanium Germanium siêu tinh khiết MCNP Monte Carlo N Particles Chương trình mơ MCNP NDT Non Destructive Testing Kỹ thuật kiểm tra không phá hủy mẫu MCA Multi- Channel Analyser Bộ phân tích đa kênh FOM Figure Of Merit Thông số đánh giá độ tin cậy i DANH MỤC CÁC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ Hình 1.1 Sai lầm loại Hình 1.2 Sai lầm loại Hình 1.3 Mối liên hệ L C L D 10 Hình 1.4 Phân bố Gauss chuẩn 13 Hình 1.5 Quá trình xạ gamma từ nguồn đến tán xạ bia đến đầu dò 20 Hình 2.1 Mơ hình nguồn phóng xạ Cs-137 27 Hình 2.2 Khối nguồn Cs-137 28 Hình 2.3 Bia nhơm với bề dày khác 29 Hình 2.4 Đầu dị NaI (Tl) model 802 30 Hình 2.5 Hệ đo tán xạ Compton 31 Hình 3.1 Đường chuẩn lượng 32 Hình 3.2 Miền phơng cần quan tâm 35 Hình 3.3 Đường cong mô làm khớp theo ba ống chuẩn trực 36 Hình 3.4 Phổ tán xạ nguồn Cs-137 bia nhơm dày phổ phơng 40 Hình 3.5 Phổ tán xạ nhiều lần nguồn Cs-137 bia nhơm dày 10mm 41 Hình 3.6 Tách đỉnh tán xạ lần chương trình Colegram 42 Hình 3.7 Đường cong bão hịa thực nghiệm theo ba ống chuẩn trực đườngkính 1cm; 1,5cm; 2cm 44 ii DANH MỤC CÁC BẢNG Bản Các đánh giá sai số tương đối R MCNP 26 Bản Đặc trưng phát photon nguồn Cs-137 28 Bản 2.2 Hàm lượng nguyên tố nhôm 5052 31 Bản Kết phép đo chuẩn lượng 32 Bản 3.2 Giá trị FWHM theo lượng có từ thực nghiệm 34 Bản 3.3 Kết làm khớp FWHM theo lượng 34 Bản 3.4 Giá trị L D theo ba ống chuẩn trực đường kính 1cm;1,5cm; 2cm 35 Bản 3.5 Diện tích đỉnh tán xạ mơ theo bề dày bia 37 Bản 3.6 Kết làm khớp phương trình đường cong bão hòa 38 Bản 3.7 Kết làm khớp vùng bão hịa theo mơ 38 Bản 3.8 Số liệu sai số phép đo bề dày theo ba ống chuẩn trực 39 Bản 3.9 Giới hạn phát độ nhạy theo ba colimator theo mô 40 Bản Kết diện tích đỉnh tán xạ lần theo ba ống chuẩn trực 43 Bản Kết làm khớp số liệu thực nghiệm ba ống chuẩn trực có đường kính 1cm; 1,5cm; 2cm 42 Bản Kết làm khớp số liệu thực nghiệm vùng bão hịa theo ba ống chuẩn trực có đường kính 1cm; 1,5cm; 2cm 45 Bản 3 Số liệu sai số phép đo bề dày theo ba ống chuẩn trực 46 Bản Giới hạn phát độ nhạy hệ đo theo thực nghiệm 46 iii MỞ ĐẦU Hiện việc nghiên cứu cấu trúc đánh giá khuyết tật vật liệu mà không cần phá hủy mẫu hướng quan tâm có tính cấp thiết lĩnh vực cơng nghiệp, xây dựng, Hướng tập trung nghiên cứu lĩnh vực tính tốn lý thuyết lẫn thực nghiệm Về mặt thực nghiệm, có nhiều phương pháp khác đánh giá cấu trúc vật liệu như: phương pháp chụp ảnh phóng xạ hay đo truyền qua, phương pháp siêu âm, phương pháp đo gamma tán xạ ngược Trong phương pháp gamma tán xạ ngược cho thấy nhiều ưu điểm trình ứng dụng thực tiễn, chẳng hạn như: - Thực không gian hạn chế, tiếp xúc đối tượng từ phía - Thiết bị đơn giản, nhỏ gọn - Không phá hủy mẫu - Cho kết nhanh, tương đối xác Để sử dụng thiết bị đo cách hiệu việc xác định giới hạn hệ đo cần thiết Chính thế, tác giả chọn thực đề tài: Xác định giới hạn phát phương pháp gamma tán xạ lên vật liệu nhơm dạng phẳng sử dụng đầu dị NaI(Tl) Mục tiêu luận văn: Xác định giới hạn phát phương pháp gamma tán xạ vật liệu nhơm dạng phẳng sử dụng đầu dị NaT(Tl) với nguồn Cs-37 hoạt độ 5mCi, cụ thể hệ đo tán xạ nhóm nghiên cứu Khoa Vật lý – Vật lý kỹ thuật, Trường Đại Học Khoa Học Tự Nhiên, Đại Học Quốc Gia Tp Hồ Chí Minh thiết kế Nội dun luận văn: Dựa vào lý thuyết kiểm định giả thiết thống kê, lý thuyết trình tương tác lượng tử gamma với vật chất phổ gamma tán xạ đo ứng với bề dày bia nhơm khác nhau, ước đốn giới hạn phát phương pháp gamma tán xạ ngược cụ thể hệ đo phịng thí nghiệm Bộ mơn Vật lý Hạt nhân – Kỹ thuật Hạt nhân, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên- Đại học Quốc gia Tp Hồ Chí Minh Thiết bị sử dụn tron luận văn: - Chương trình mơ MCNP5 phục vụ cho việc ước đoán giới hạn - Nguồn Cs-137 hoạt độ 5mCi hệ chuẩn trực - Hai mươi bia nhôm với bề dày khác - Đầu dò nhấp nháy NaI(Tl) hiệu suất 7,5 % ứng với lượng 661,7 keV kết nối với máy phân tích biên độ 2048 kênh hãng Canberra sản xuất - Ống chuẩn trực chì đường kính 1cm; 1,5cm; 2cm - Các số liệu hỗ trợ xử lí chương trình: Gennie-2000, Colegram Phƣơn pháp n hiên cứu chủ đạo: Dựa nghiên cứu lý thuyết, dùng mô ước đoán giới hạn thực nghiệm kiểm chứng Bố cục luận văn đƣợc chia làm ba chƣơn khôn kể phần mở đầu tài liệu tham khảo với nội dun nhƣ sau: Chƣơn : Cơ sở lý thuyết tổn quan n hiên cứu tán xạ amma Trong chương bao gồm sở lý thuyết cho tính tốn giới hạn, giới thiệu chương trình mơ MCNP5 tổng quan nghiên cứu tán xạ gamma Chƣơn 2: Bố trí thiết bị thí n hiệm Mơ tả lại hệ đo nhóm nghiên cứu phịng thí nghiệm Bộ mơn Vật lý – Kỹ thuật hạt nhân, Trường Đại Học Khoa Học Tự Nhiên thiết kế cụ thể kích thước bố trí thiết bị thực Chƣơn 3: Mô phỏn , thực n hiệm kết thảo luận Chương này, trình thực nghiệm, xử lý số liệu kết giới hạn phát hệ đo tiến hành nghiên cứu Việc sử dụng kỹ thuật tách đỉnh tán xạ lần có ý nghĩ quan trọng trường hợp đóng góp thành phần tán xạ nhiều lần lớn cụ thể toán đo bề dày bề dày bia tăng lên yêu cầu thực tế phải đo thời gian ngắn nguồn sử dụng có hoạt độ thấp nên việc tăng đường kính ống chuẩn trực nhằm tăng cường độ chùm tán xạ để đảm bảo thống kê dẫn đến tăng lượng đóng góp tán xạ nhiều lần hình 3.5 Phổ tán xạ lần tách khỏi phổ toàn phần, trình thực cách số đếm vùng chân trái chân phải đỉnh phổ tán xạ lần sử làm khớp theo hàm đa thức bậc bốn nội suy số đếm vùng đỉnh Phổ tán xạ trừ phông tiếp tục trừ phổ nội suy để làm rõ đỉnh phổ tán xạ lần Đa thức làm khớp từ số đếm có dạng: N(K)  A0  A1 (K  K0 )  A2 (K K0 )2  A3 (K K0 )3  A4 (K  K0 )4 (3.9) Trong đó: + N(K) số đếm kênh thứ K + K kênh vùng phổ mà ta dùng để làm khớp đa thức bậc bốn Hình 3.5 Phổ tán xạ nhiều lần n uồn Cs-137 bia nhôm dày 10mm 41 Làm khớp đa thức bậc bốn để nội suy số đếm vùng đỉnh phổ, tách đỉnh tán xạ lần khỏi số đếm tính diện tích đỉnh tán xạ lần hỗ trợ chương trình Colegram hình 3.6 Hình 3.6 Tách đỉnh tán xạ lần bằn chƣơn trình Colegram Sau tiến hành trừ phơng tách đỉnh tán xạ lần khỏi phổ toàn phần ta thu kết diện tích đỉnh tán xạ lần theo ba ống chuẩn trực có đường kính 1cm, 1,5cm; 2cm trình bày bảng 3.10 Dựa vào bảng 3.10 để làm khớp diện tích đỉnh theo bề dày bia có dạng (1.61) mơ tả hình 3.7 với hệ số trình bày bảng 3.11 Bản Kết làm khớp số liệu thực n hiệm ba ốn chuẩn trực có đƣờn kính cm; ,5cm; 2cm 1 Đường kính ống chuẩn trực(cm)  s ( mm ) Ns R2 1,0 0,0791 119992 0,99952 1,5 0,081 276069 0,99962 2,0 0,086 421855 0,9994 42 Bản Kết diện tích đỉnh tán xạ lần theo ba ốn chuẩn trực Diện tích đỉnh tán xạ lần theo ba ống chuẩn trực có đường kính Bề dày(mm) 1,0cm 1,5cm 2,0cm 0,2 1072  33 3679  61 7296  85 0,4 2760  53 7526  87 14481  120 0,8 6418  80 15391  124 27379  165 1,4 11660  108 27999  167 47598  218 2,0 16374  128 41243  203 67109  259 5,0 38957  197 93740  306 151139  389 6,1 45727  214 108473  329 166438  408 8,3 58493  242 134935  367 218619  468 10,1 65700  256 156482  396 250357  500 12,5 75203  274 173892  417 282151  531 16,7 88301  297 204561  452 316226  562 20,5 95878  310 224436  474 346955  589 30,2 109704  331 252852  503 389758  624 40,0 116595  341 269668  519 408195  639 50,3 118516  344 274792  524 424729  652 60,3 118966  345 274999  524 424501  652 70,6 120314  347 276003  525 420701  649 80,0 120306  347 274067  524 417785  646 90,9 118828  345 273799  523 421815  649 100,6 117334  343 271841  521 416270  645 Nền không bia 126317  355 152169  390 187234  433 43 Hình 3.7 Đƣờn bão hịa thực n hiệm theo ba ốn chuẩn trực đƣờn kính 1,0cm; 1,5cm; 2,0cm Ta có phương trình đường cong bão hịa sử dụng ống chuẩn trực đường kính 1,0cm; 1,5cm; 2,0cm N1cm  119992(1  exp(0,0791T)) (3.10) N1,5cm  276069(1  exp( 0,081T)) (3.11) N 2cm  421855(1  exp(0,086T)) (3.12) Thay giá trị L D vào công thức (1.60) tương ứng với ba ống chuẩn trực ta ước lượng bề dày bé mà hệ đo Kết trình bày bảng 3.14 Các giá trị vùng bão hòa làm khớp thành đường thẳng có phương trình N = A.T+B (3.13) Kết làm khớp trình bày bảng 3.12 44 Bản Kết làm khớp số liệu thực n hiệm vùn bão hòa theo ba ốn chuẩn trực có đƣờn kính ,0cm; 1,5cm; 2,0cm Đường kính ống chuẩn trực (cm) A B R2 1,0 1,5 2,0 -103,777 -125,425 -87,746 128071 284654 426647 0,85264 0,88212 0,88321 Bề dày bão hòa tương ứng dùng ống chuẩn trực có đường kính 1cm; 1,5cm; 2cm ước lượng điểm cắt hệ hai phương trình (3.10) (3.13); (3.11) (3.13); (3.12) (3.13) Các phép đo bề dày phương pháp tán xạ đo bề dày bé bề dày bão hòa Kết bề dày bão hịa trình bày bảng 3.14 Bề dày bé mà hệ phân biệt đƣợc (độ nhạy) Theo công thức (1.63) độ nhạy xác định dựa vào  T Theo công thức truyền sai số ta tính sai số cuả T sau: T 2  T   T   T  2   S     NS     Nmin  N   s   Ns  (3.14) Các giá trị S , IS , Nmin xác định từ đường cong bão hòa giá trị N tương ứng trình bày bảng 3.13 Từ công thức (1.63) bảng 3.13 ta tính bề dày bé mà hệ phân biệt Kết trình bày bảng 3.14 Vậy với bố trí bia tán xạ đặt vị trí cách nguồn phóng xạ khoảng 34 ± 0,5cm cách bề mặt tinh thể NaI(Tl) khoảng 16 ± 0,5cm, colimator nguồn có đường kính 1cm Góc hợp trục hộp chứa nguồn bề mặt bia 900 góc tán xạ 1200 Thì khả phát bề dày độ nhạy hệ trình bày bảng 3.14 45 Bản 3 Số liệu sai số tron phép đo bề dày theo ba ốn chuẩn trực Đường kính ống chuẩn trực Hệ số Giá trị Sai số NS 119992 406 S 0,07913 0,00090 N 3752 61 NS 276070 813 S 0,08155 0,00080 N 4117 64 NS 421856 1528 S 0,08644 0,00109 N 4565 68 1,0cm 1,5cm 2,0cm Bản 3.14 Giới hạn phát độ nhạy hệ đo theo thực n hiệm Đường kính ống chuẩn trực (cm) Giới hạn phát (mm) 1,0cm 1,5cm 2,0cm Bề dày bé phát (mm) 0,402 0,184 0,126 Bề dày bão hòa (mm) 75,280 73,801 68,032 Độ nhạy (mm) 0,019 0,008 0,005 Có thể thấy thực nghiệm, bề dày bé mà hệ phát theo ba ống chuẩn trực có đường kính 1cm; 1,5cm; 2cm 0,402mm; 0,184mm; 0,126mm sai biệt với mơ 11% bề dày bão hịa theo ba ống chuẩn trực 75,280mm; 73,801mm; 68,032mm sai biệt với mô 17% 3.6 Nhận xét chƣơn Trong chương luận văn trình bày q trình thực nghiệm mơ chương trình MCNP5 để tính giới hạn hệ đo Áp dụng công thức (1.19) vào phổ phông thực nghiệm tác giả tính số đếm tối thiểu LD để 46 khẳng định có bia tán xạ, sở kết hợp với phương trình đường cong bão hịa để tính bề dày tối thiểu Tmin mà hệ đo phát 0,357mm, 0,178mm, 0,152mm mô 0,402mm, 0,184mm, 0,126mm thực nghiệm sử dụng ống chuẩn trực có đường kính 1,0cm;1,5cm 2,0cm Cũng thực nghiệm tính bề dày bão hịa khoảng 7,5cm sai biệt với mơ 17%, đồng thời dựa vào đường cong bão hịa sử dụng cơng thức (1.63) xác định độ nhạy hệ đo Kết cho thấy tương đồng mô thực nghiệm 47 KẾT LUẬN Với mục tiêu xác định giới hạn phát phương pháp gamma tán xạ lên vật liệu nhôm dạng phẳng phép đo bề dày luận văn đạt kết sau:  Đưa cơng thức tính số đếm tối thiểu LD để khẳng định việc có bia tán xạ hay khơng Từ đưa cơng thức tính bề dày nhỏ Tmin mà hệ đo phát dựa vào phương trình đường cong bão hòa giá trị LD  Dựa vào hệ số phương trình đường cong bão hịa xác định bề dày bão hòa tương ứng, đồng thời đưa phương án tính độ nhạy TD hệ đo  khoảng nhỏ hai bề dày liên tiếp mà hệ đo phân biệt  Tiến hành mơ hệ đo chương trình MCNP5 để xây dựng đường cong bão hòa hệ đo sử dụng nguồn Cs137, bia tán xạ nhôm dạng phẳng, đầu dị NaI(Tl) 7,6cm x7,6cm góc tán xạ 1200 Áp dụng cơng thức nói với đường cong bão hịa thu để tính Tmin bề dày bão hịa vật liệu nhơm  Tiến hành phép đo thực nghiệm để so sánh với mô Kết cho thấy phù hợp thực nghiệm mô với độ sai biệt lớn T 11% bề dày bão hòa 8% sử dụng ống chuẩn trực có đường kính 1cm Khi sử dụng ống chuẩn trực có đường kính 1,5cm 2cm độ sai biệt Tmin 5% bề dày bão hòa 17% Luận văn đề phương pháp để xác định giới hạn hệ đo gamma tán xạ Việc xác định giới hạn hệ đo có ý nghĩa đánh giá phạm vi áp dụng khả hệ đo 48 KIẾN NGHỊ Sau hoàn thành luận văn này, tác giả dự kiến tiếp tục dựa vào lý thuyết kỹ thuật gamma tán xạ tiến hành khảo sát hệ đo gamma tán xạ với nhiều cách bố trí khác lặp lại phép đo nhiều lần ứng với thay đổi khoảng cách từ nguồn đến bia tán xạ, thay đổi khoảng cách bia tán xạ đến đầu dò, sử dụng ống chuẩn trực với nhiều kích thước khác hiệu chỉnh tán xạ nhiều lần để tìm quy luật thay đổi giới hạn theo thơng số hình học hệ đo, từ đề xuất cách bố trí hệ đo để tối ưu giới hạn tối ưu hệ đo tùy theo mục đích phép đo 49 TÀI LIỆU THAM KHẢO *TÀI LIỆU TIẾNG VIỆT [1] Huỳnh Đình Chương (2012), Khảo sát bề dày thép C45 phương pháp tán xạ ngược gamma sử dụng chương trình MCNP5, Luận văn thạc sĩ Trường Đại học Khoa Học Tự Nhiên [2] Huỳnh Đình Chương, Trần Thiện Thanh, Võ Hoàng Nguyên, Trương Thị Hồng Loan (2013), Khảo sát phổ tán xạ ngược gamma thép C45 sử dụng chương trình MCNP5, Hội nghị Khoa học Cơng nghệ hạt nhân tồn quốc lần thứ 10, G30 [3] Lê Hồng Khiêm (2008), Phân tích số liệu ghi đo xạ ,NXB Đại Học Quốc Gia Hà Nội [4] Lê Văn Lân (2001), Xử lí thống kê số liệu thực nghiệm, NXB Thành Phố Hồ Chí Minh [5] Trương Thị Hồng Loan (2008), Phân tích thống kê số liệu thực nghiệm ghi đo xạ, NXB Đại Học Quốc gia Tp Hồ Chí Minh [6] Trương Thị Hồng Loan, Phan Thị Quý Trúc, Đặng Nguyên Phương, Trần Thiện Thanh, Trần Ái Khanh, Trần Đăng Hoàng (2008), Nghiên cứu phổ gamma tán xạ ngược đầu dò HPGe chương trình MCNP, Tạp chí phát triển KH&CN, Đại học Quốc gia Tp Hồ Chí Minh, tập 11, (06), 61-66 [7] Võ Hoàng Nguyên (2013), Kiểm tra khuyết tật vật liệu thép C45 dạng phẳng thực nghiệm đo tán xạ ngược gamma, Luận văn thạc sĩ, trường Đại Học Khoa học Tự nhiên Hồ Chí Minh, Đại học Quốc gia Tp Hồ Chí Minh [8] Trần Đại Nghiệp (2006), Xử lí xạ sở công nghệ xạ, NXB Đại Học Quốc Gia Hà Nội [9] Trần Đại Nghiệp (2005), Nghiên cứu khuyết tật phương pháp kiểm tra khuyết tật kỹ thuật số dùng tia gamma tán xạ ngược, Tạp chí khoa học cơng nghệ, tập 43, (04), 71-75 [10] Châu Văn Tạo (2013), Vật lý hạt nhân đại cương, NXB Đại học Quốc gia TPHCM 50 [11] Hoàng Đức Tâm, Trần Thiện Thanh, Trịnh Văn Danh, Võ Thị Thắm, Châu Văn Tạo (2013), Xác định độ dày vật liệu thép chịu nhiệt vùng bị ăn mòn phương pháp Monte Carlo kết hợp với phương pháp giải tích, Tạp chí khoa học ĐHSP TP.HCM, tập 47,172-183 [12] Hồng Sỹ Minh Phương, Nguyễn Văn Hùng (2010), Mơ Monte Carlo chương trình MCNP kiểm chứng thực nghiệm phép đo chiều dày vật liệu hệ chuyên dụng MYO-101, Tạp chí phát triển KH&CN, tập 13, (02), 83-91, Đại học quốc gia Tp Hồ Chí Minh [13] Phạm Thị Vi (2013), Khảo sát tán xạ ngược chùm gamma lên vật liệu thép CT3 C45 phương pháo mô MCNP5, Luận văn thạc sĩ, trường Đại Học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Tp Hồ Chí Minh *TÀI LIỆU TIẾNG ANH [14] Hussein E.M., Whynot T.M (1989), A Compton scattering method for inspecting concrete structures, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A283, 100-106 [15] Mullin S.K., Hussein E.M.A (1994), A compton-scatter spectrometry technique for flaw detection, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 353, 663-667 [16] Knoll G.F (1979), Radiation detection and measurement, New York, John Wiley & Sons Trang Web: [17] http://www.nist.gov/pml/data/xcom/ 51 PHỤ LỤC Code mô phỏn C FILE INPUT MO TA HE TAN XA COMPTON C CELL CARDS CUA NGUON 1 -11.35 (2 -4 -34 32):(4 -5 -34 33) IMP:P=1 -11.35 (4 -6 -33 31) IMP:P=1 10 -7.85 (1 -4 -32)(-3:30) IMP:P=1 -3.990 (3 -4 -30) IMP:P=1 -0.001205 (4 -6 -31) IMP:P=1 -0.001205 (1 -2 -34 32) IMP:P=1 C CELL CARDS CUA BIA 11 -2.69776 (40 -41 42 -43 44 -45) IMP:P=1 C CELL CARDS CUA DETECTOR -3.67 (13 -14 -21) IMP:P=1 10 -3.95 (13 -15 -22) (21:14) IMP:P=1 11 -2.329 (15 -16 -22) IMP:P=1 12 -2.648 (12 -13 -22) IMP:P=1 13 -2.699 (12 -17 -23)(16:22) IMP:P=1 14 -2.699 (11 -12 -24) IMP:P=1 15 -0.001205 (12 -17 -24 23) IMP:P=1 16 -11.35 (10 -17 -25 24) IMP:P=1 c 17 -11.35 (17 -18 -24 20):(18 -19 -25 20) IMP:P=1 18 -0.001205 (10 -11 -24) IMP:P=1 C OTHERS 20 -0.001205 -50 (-1:5:6:34)(-40:41:-42:43:-44:45)& (-10:17:25) #2#5 IMP:P=1 21 50 IMP:P=0 C ********** BLOCK 2: SURFACE CARDS ********** C SURFACE CARDS CUA NGUON 52 PZ -18.0 PZ -14.0 PZ -0.2 PZ 0.0 PZ 10.0 PZ 20.0 30 CZ 0.25 31 CZ 0.5 32 CZ 1.5 33 CZ 2.5 34 CZ 11.0 C SURFACE CARDS OF BIA 40 PX -15.0 41 PX 15.0 42 PY -5.0 43 PY 5.0 44 PZ 0.0 45 PZ 0.02 C SURFACE CARDS OF DETECTOR 10 PZ -20.0 11 PZ -11.0 12 PZ -8.0 13 PZ -7.4 14 Pz 0.2 15 PZ 0.3 16 PZ 0.5 17 PZ 0.65 c 18 PZ 15.65 c 19 PZ 20.65 c 20 CZ 0.5 53 21 CZ 3.8 22 cZ 4.0 23 CZ 4.15 24 CZ 4.75 25 CZ 7.75 C OTHERS 50 SO 100.0 C ********** BLOCK 3: DATA CARDS ********** MODE P C DINH NGHIA VAT LIEU M1 82204 -0.015 82206 -0.236 82207 -0.226 82208 -0.523 M2 17035 -0.210579 55137 -0.789421 M3 13027 -1.000 M4 6012 -0.000124 7014 -0.755268 8016 -0.231781 18040 -0.012827 M5 11023 -0.153373 53127 -0.846627 M6 13027 -0.529411 8016 -0.470589 M7 14028 -0.922297 14029 -0.046832 14030 -0.030871 M8 8016 -0.532565 14028 -0.467435 M10 26056 -0.983696 6012 -0.0043508 14028 -0.002255 16032 -0.0002841 & 25055 -0.0058619 28058 -0.0012202 24052 -0.0005334 42096 -0.000173 & 23051 -0.0000029 29064 -0.000943 74184 -0.0000209 22048 -0.000015 & 13027 -0.0003929 58140 -0.0000447 15031 -0.0002062 M11 13027 -0.960617 12024 -0.029122 14028 -0.003047 26056 -0.003024 & 24052 -0.001612 17035 -0.000549 25055 -0.000368 22048 -0.000300 & 20040 -0.000311 16032 -0.000300 29063 -0.000200 31069 -0.000096 & 23051 -0.000093 30064 -0.000085 15031 -0.000132 19039 -0.000100 & 28058 -0.000043 *TR1 0 34 90 90 90 90 90 90 *TR2 13.85640646 26 60 90 30 90 90 150 90 60 Rand Gen=2 Seed=9219741426499971445 Stride=152917 Hist=1 54 SDEF ERG=D1 PAR=2 POS=0 0 AXS=0 RAD=D2 EXT=D3 CEL=4 & VEC=0 DIR=D4 SI1 L 0.661657 0.2835 0.0318174 0.0321939 0.0363786 0.037312 SP1 D 0.925297093 0.000006311 0.021229902 0.039084793 0.011485921 0.00289598 SI2 0.25 SP2 -21 SI3 -0.2 0.0 SP3 -21 SI4 -1.0 0.998752338 1.0 SP4 0.0 0.999376169 0.000623831 SB4 0.0 0.0 1.0 E0 1E-5 0.00020189 2022I 0.41963048 C TALLY F8:P FT8 GEB -0.00362515 0.0620817 0.314561 NPS 2100000000 55 ... hạn hệ đo cần thiết Chính thế, tác giả chọn thực đề tài: Xác định giới hạn phát phương pháp gamma tán xạ lên vật liệu nhôm dạng phẳng sử dụng đầu dò NaI(Tl) Mục tiêu luận văn: Xác định giới hạn. .. KHOA HỌC TỰ NHIÊN THÂN MIÊN NGỌC XÁC ĐỊNH GIỚI HẠN PHÁT HIỆN CỦA PHƢƠNG PHÁP GAMMA TÁN XẠ TRÊN VẬT LIỆU NHƠM DẠNG TẤM PHẲNG BẰNG ĐẦU DỊ NaI (Tl) Chuyên ngành: Vật lý nguyên tử hạt nhân lượng cao... nhiều phương pháp khác đánh giá cấu trúc vật liệu như: phương pháp chụp ảnh phóng xạ hay đo truyền qua, phương pháp siêu âm, phương pháp đo gamma tán xạ ngược Trong phương pháp gamma tán xạ ngược