THÔNG TIN TÀI LIỆU
Thông tin cơ bản
Tiêu đề | Nghiên Cứu Thiết Kế Và Mô Phỏng Hoạt Động Của Bộ Vi Chấp Hành Mũi Dò Quét Định Hướng Ứng Dụng Khắc Các Cấu Trúc Nano |
---|---|
Tác giả | Đặng Văn Hiếu |
Người hướng dẫn | PGS. TS. Chu Mạnh Hoàng, TS. Vũ Thu Hiền |
Trường học | Trường Đại Học Bách Khoa Hà Nội |
Chuyên ngành | Khoa Học Vật Liệu |
Thể loại | Luận Án Tiến Sĩ |
Năm xuất bản | 2021 |
Thành phố | Hà Nội |
Định dạng | |
---|---|
Số trang | 136 |
Dung lượng | 5,56 MB |
Nội dung
Ngày đăng: 04/06/2023, 09:31
Nguồn tham khảo
Tài liệu tham khảo | Loại | Chi tiết | ||
---|---|---|---|---|
[8]. Piner, R.D., et al., " Dip-pen" nanolithography. science, 1999. 283(5402): p. 661-663 | Sách, tạp chí |
|
||
[1]. Bhushan, B., Nanotribology and Nanomechanics I: Measurement Techniques and Nanomechanics. Vol. 1. 2011: Springer Science & Business Media | Khác | |||
[3]. Tseng, A.A., et al., Recent developments in tip-based nanofabrication and its roadmap. J Nanosci Nanotechnol, 2008. 8(5): p. 2167-86 | Khác | |||
[4]. Cui, Z., Nanofabrication: principles, capabilities and limits. 2009. Springer | Khác | |||
[5]. Garcia, R., R.V. Martinez, and J. Martinez, Nano-chemistry and scanning probe nanolithographies. Chemical Society Reviews, 2006. 35(1): p. 29-38 | Khác | |||
[6]. Day, H. and D. Allee, Selective area oxidation of silicon with a scanning force microscope. Applied physics letters, 1993. 62(21): p. 2691-2693 | Khác | |||
[7]. Fontaine, P., E. Dubois, and D. Stievenard, Characterization of scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy-based techniques for nanolithography on hydrogen-passivated silicon.Journal of applied physics, 1998. 84(4): p. 1776-1781 | Khác | |||
[9]. Hampton, J.R., A.A. Dameron, and P.S. Weiss, Double-ink dip-pen nanolithography studies elucidate molecular transport. Journal of the American Chemical Society, 2006. 128(5): p. 1648-1653 | Khác | |||
[10]. Mamin, H. and D. Rugar, Thermomechanical writing with an atomic force microscope tip. Applied Physics Letters, 1992. 61(8): p. 1003-1005 | Khác | |||
[11]. Magno, R. and B. Bennett, Nanostructure patterns written in III–V semiconductors by an atomic force microscope. Applied Physics Letters, 1997. 70(14): p. 1855-1857 | Khác | |||
[12]. Fonseca Filho, H., et al., Metal layer mask patterning by force microscopy lithography. Materials Science and Engineering: B, 2004. 112(2-3): p. 194-199 | Khác | |||
[13]. Chen, Y.-J., J.-H. Hsu, and H.-N. Lin, Fabrication of metal nanowires by atomic force microscopy nanoscratching and lift-off process.Nanotechnology, 2005. 16(8): p. 1112 | Khác | |||
[14]. Yan, Y., et al., Scratch on polymer materials using AFM tip-based approach: areview. Polymers, 2019. 11(10): p. 1590 | Khác | |||
[16]. Cao, F., F. Donnarumma, and K.K. Murray, Wavelength dependent atomic force microscope tip-enhanced laser ablation. Applied Surface Science, 2018. 447: p. 437-441 | Khác | |||
[17]. Tseng, A.A., et al., Scratching properties of nickel-iron thin film and silicon using atomic force microscopy. Journal of Applied Physics, 2009. 106(4): p. 044314 | Khác | |||
[18]. Bouchiat, V. and D. Esteve, Lift‐off lithography using an atomic force microscope. Applied physics letters, 1996. 69(20): p. 3098-3100 | Khác | |||
[19]. Klehn, B. and U. Kunze, Nanolithography with an atomic force microscope by means of vector-scan controlled dynamic plowing.Journal of Applied Physics, 1999. 85(7): p. 3897-3903 | Khác | |||
[20]. Yan, Y., et al., Effects of scratching parameters on fabrication of polymer nanostructures in atomic force microscope tapping mode.Procedia CIRP, 2015. 28: p. 100-105 | Khác | |||
[21]. He, Y., et al., Fabrication of nanoscale pits with high throughput on polymer thin film using afm tip-based dynamic plowing lithography.Nanoscale research letters, 2017. 12(1): p. 1-11 | Khác | |||
[22]. Liu, X., K. Kim, and Y. Sun, A MEMS stage for 3-axis nanopositioning. Journal of Micromechanics and Microengineering, 2007. 17(9): p. 1796-1802 | Khác |
TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG
TÀI LIỆU LIÊN QUAN