IEC/IEEE 62582 2 Edition 1 0 201 6 02 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Nuclear power plants – Instrumentation and control important to safety – Electrical equipment condition monitoring met[.]
I E C /I E E E 62 58 -2 ® Edition 201 6-02 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE AMENDMENT AMENDEMENT N u cl ear power pl an ts – I n s tru m en tati on an d trol i m portan t to s afety – E l ectri cal eq u i pm en t d i ti on m on i tori n g m eth od s – P art : I n d en ter m od u l u s C en tral es n u cl éai res d e pu i s s an ce – I n s tru m en tati on et trôl e-com m an d e i m portan ts pou r l a sû reté – M éth od es d e s u rvei l l an ce d e l ’ état d es m atéri el s él ectri q u es – C/IEEE 62582-2:201 -08/AMD1 :201 6-02(en-fr) P arti e : M od u l e i n d en ter TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YRI G H T P RO TE C T E D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , S w i tze rl a n d C o p yri g h t © I E E E All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing being secured Requests for permission to reproduce should be addressed to either IEC at the address below or IEC’s member National Committee in the country of the requester or from IEEE IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc Park Avenue New York, NY 001 6-5997 United States of America stds.ipr@ieee.org www.ieee.org Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Abou t th e I E E E IEEE is the world’s largest professional association dedicated to advancing technological innovation and excellence for the benefit of humanity I EEE and its members inspire a global community through its highly cited publications, conferences, technology standards, and professional and educational activities Abo u t I E C /I E E E pu bl i cati on s The technical content of IEC/IEEE publications is kept under constant review by the IEC and IEEE Please make sure that you have the latest edition, a corrigendum or an amendment might have been published I E C C atal og u e - webs tore i ec ch /catal og u e E l ectroped i a - www el ectroped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I E C pu bl i cati on s search - www i ec ch /s earch pu b I E C G l os s ary - s td i ec ch /g l os s ary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I E C J u s t P u bl i s h ed - webs tore i ec ch /j u s tpu bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C C u s to m er S ervi ce C en tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch I E C /I E E E 62 58 -2 ® Edition 201 6-02 I N TE RN ATI ON AL S TAN D ARD N ORM E I N TE RN ATI ON ALE AMENDMENT AMENDEMENT N u cl ear power pl an ts – I n s tru m en tati on an d trol i m portan t to s afety – E l ectri cal eq u i pm en t d i ti on m on i tori n g m eth od s – P art : I n d en ter m od u l u s C en tral es n u cl éai res d e pu i s s an ce – I n s tru m en tati on et trôl e-com m an d e i m portan ts pou r l a sû reté – M éth od es d e s u rvei l l an ce d e l ’ état d es m atéri el s él ectri q u es – P arti e : M od u l e i n d en ter INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 27.1 20.20 ISBN 978-2-8322-31 57-9 Warn i n g ! M ake s u re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i s tri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s as s u rer q u e vou s avez o bten u cette pu b l i cati on vi a u n d i s tri bu teu r ag réé –2– I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 ? I EC/I EEE 201 FOREWORD ) The I nternati onal El ectrotechnical Commissi on (I EC) is a worl d wi d e organi zation for standard izati on comprising al l national el ectrotechn ical committees (I EC N ati onal Commi ttees) The obj ect of I EC is to promote in ternati onal co-operati on on al l q u estions concerni ng stan dard izati on i n the el ectri cal and el ectroni c fi el ds To thi s end an d i n ad d iti on to oth er acti viti es, I EC pu bl ishes I n ternational Stand ards, Techni cal Speci fi cations, Tech nical Reports, Pu bl icl y Avail abl e Specification s (PAS) and Gu i d es (hereafter referred to as “I EC Pu bli cation(s)”) Thei r preparati on is entru sted to tech nical commi ttees; any I EC N ati onal Commi ttee interested in the subject d ealt with may parti ci pate i n thi s preparatory work I n tern ati onal , governmen tal and n ongovernmen tal organi zati ons l iai sing wi th the I EC al so parti ci pate in thi s preparation I EEE Stand ards d ocu ments are d evel oped withi n I EEE Societies an d Stand ard s Coordin ati ng Committees of the I EEE Stan d ard s Association (I EEE-SA) Stand ard s Board I EEE d evel ops i ts stand ard s th rou g h a consensu s d evel opmen t process, whi ch brin gs together vol u nteers representi ng vari ed vi ewpoin ts and i nterests to achi eve th e fin al prod uct Vol u nteers are n ot necessaril y members of I EEE and serve wi thou t com pensati on Whil e I EEE ad ministers the process and establishes ru l es to promote fai rness i n the sensus d evelopmen t process, I EEE d oes not i ndepend entl y eval u ate, test, or veri fy th e accu racy of any of the i nform ati on tai ned i n i ts stand ard s U se of I EEE Standard s documen ts i s wholl y volun tary I EEE d ocu ments are mad e avai lable for u se su bj ect to important n oti ces and l egal d i sclaimers (see http: //stand ards i eee org/I PR/discl mers html for more i nform ati on) I EC coll aborates cl osel y wi th I EEE i n accord ance wi th cond iti ons d etermin ed by agreemen t between the two organi zations 2) Th e formal d ecisions of I EC on tech nical matters express, as n earl y as possi bl e, an i nternation al consensus of opini on on the rel evant su bj ects si nce each techni cal comm ittee has representati on from all i nterested I EC N ati onal Commi ttees The form al d eci si ons of I EEE on techn ical matters, once sensu s wi th in I EEE Societi es and Stan d ard s Coordi nati ng Committees h as been reach ed , is d etermin ed by a balanced bal lot of materi all y in terested parties who i nd i cate in terest in revi ewi ng the proposed stand ard Fin al approval of the I EEE stand ard s d ocument i s gi ven by the I EEE Stan d ard s Association (I EEE-SA) Stand ard s Board 3) I EC/I EEE Pu blicati ons have the form of recommen d ati ons for internation al use and are accepted by I EC N ati onal Comm ittees/I EEE Societi es in th at sense Whil e all reasonable efforts are mad e to ensu re that the techni cal content of I EC/I EEE Pu bli cation s is accu rate, I EC or I EEE cann ot be hel d responsi bl e for th e way in whi ch they are u sed or for any mi sin terpretation by any end u ser 4) I n ord er to promote international u ni formi ty, I EC N ati on al Committees und ertake to apply I EC Publ icati ons (incl ud ing I EC/I EEE Pu bli cation s) transparentl y to the maxi mu m extent possibl e i n th eir n ati on al and reg ional pu bl icati ons Any d i vergence between an y I EC/I EEE Pu bl icati on and the correspondi ng national or regional pu bl ication shal l be cl early i ndi cated i n the l atter 5) I EC and I EEE d o not provi d e any attestati on of formi ty I n d epend en t certificati on bodi es provi d e conformi ty assessment services and , i n some areas, access to I EC marks of conformi ty I EC and I EEE are not responsi ble for any services carried out by i ndepend ent certi ficati on bodies 6) All users sh ould ensu re th at they have the l atest edition of thi s pu bli cation 7) N o liabili ty shal l attach to I EC or I EEE or thei r d irectors, employees, servants or agents i ncl u din g in divid u al experts an d members of techni cal committees an d I EC N ati onal Commi ttees, or volu nteers of I EEE Soci eti es an d the Standard s Coordi natin g Commi ttees of the I EEE Stand ards Association (I EEE-SA) Stan dard s Board, for an y personal i nju ry, property d amag e or other d amage of an y natu re whatsoever, wheth er d i rect or ind i rect, or for costs (incl u d i ng l egal fees) and expenses ari sin g ou t of the publ ication, u se of, or rel iance u pon, this I EC/I EEE Publi cati on or an y other I EC or I EEE Pu bl ications 8) Attenti on is d rawn to th e normative references ci ted i n thi s pu bli cation U se of the referen ced pu blicati ons is in di spensabl e for the correct appl icati on of th is publ ication 9) Attenti on i s d rawn to the possi bil ity that i mpl ementation of this I EC/I EEE Pu bli cation may req u i re u se of material covered by patent ri gh ts By pu bli cati on of this stand ard , no posi ti on i s taken wi th respect to the exi stence or val id i ty of an y patent ri ghts in connecti on th erewi th I EC or I EEE sh all not be hel d responsibl e for id entifyi ng Essen tial Paten t Cl ms for whi ch a license may be requ i red , for cond uctin g inq u i ri es i nto the leg al val id ity or scope of Patent Cl ms or d etermini ng wh ether an y li censi ng terms or cond i ti ons provi d ed in connecti on wi th su bmissi on of a Letter of Assu rance, if an y, or in an y l icensi ng ag reemen ts are reasonable or non-d iscrimi natory U sers of thi s standard are expressl y ad vised that d etermi nati on of the valid i ty of an y patent righ ts, and the risk of i nfring ement of such rights, i s enti rel y thei r own responsi bi li ty This amendment has been prepared by subcommittee 45A: I nstrumentation, control and electrical systems of nuclear facilities, of I EC technical committee 45: N uclear instrumentation, in cooperation with the N uclear Power Engineering Committee of the Power & Energy Society of the I EEE , under the I EC/I EEE Dual Logo Agreement between I EC and I EEE This publication is published as an I EC/I EEE Dual Logo standard ————————— A list of IEEE participants can be found at the following URL: http: //standards.ieee.org/downloads/62582-2/62582-2-amd12016/62582-2-amd1-2016_wg-participants.pdf I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 –3– ? I EC/I EEE 201 The text of this standard is based on the following I EC documents: FDI S Report on voti ng 45A/1 054/FDI S 45A/1 067/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table The I EC Technical Committee and I EEE Technical Committee have decided that the contents of this publication will remain unchanged until the stability date indicated on the I EC web site under "http: //webstore iec ch" in the data related to the specific publication At this date, the publication will be ? ? ? ? reconfirmed, withdrawn, replaced by a revised edition, or amended _ –4– I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 ? I EC/I EEE 201 M e a s u re m e n t p ro c e d u re I n s t ru m e n t a t i o n Replace existing Figure by the following new Figure 1: Dimensions in millimetres 7, 5° ? R0, 0, 56 ? IEC F i g u re – G e o m e t ry a n d d i m e n s i o n s o f t h e p ro fi l e o f t h e p ro b e t i p ( t ru n c a t e d c o n e ) u s e d i n t h e i n d e n t e r D e t e rm i n a t i o n o f t h e va l u e o f t h e i n d e n t e r m o d u l u s Replace existing Figure by the following new Figure and add a note after Figure as follows: 10 Load (N ) d – d1 F2 – F1 0 0, 0, 0, 0, Di splacement (mm) 0, 0, IEC F i g u re – C a l c u l a t i o n o f i n d e n t e r m o d u l u s N OTE Some i nstruments used for ind enter measu remen ts show th e resul t in load versu s ti me (in ? s –1 ) The val u e of the i nd en ter mod ul us ? ? ?? –1 is then calcul ated as the val u e i n N s –1 di vi ded by the probe velocity i n m m s –1 ? ? ? ? ? ? I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 ? I EC/I EEE 201 –5– Annex A (informative) A.1 Example of influence of variability in equipment dimensions and construction U nag ed Load (N ) Load (N ) Replace existing Figure A.1 by the following new Figure A.1: Ti me (s) Thermal ly ag ed 008 h at 20 o C Time (s) IEC IEC N OTE ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? –1 and th e i nden ter mod ulus valu es were cal cu lated from the sl ope ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? –1 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? Figure A.1 – Example of local variation of indenter modulus due to variation in equipment dimensions and construction Annex B (informative) Load (N ) Replace existing Figure B.1 by the following new Figure B.1: N OTE ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? CSPE/EPDM Time (s) ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? IEC ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ??? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? Figure B.1 – Example of measured force versus time _ ? ? ? ?? ?? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? 60 –1 –6– I EC/I EEE 62582-2: 201 /AMD1 : 201 ? I EC/I EEE 201 AVANT-PROPOS ) La Commissi on Electrotechni q u e I nternati onale (I EC) est u ne org ani sation mondial e d e normal isation composée d e l 'en sembl e d es comi tés él ectrotechn iqu es n ati onau x (Comités nati on au x d e l'I EC) L'I EC a pou r obj et d e favoriser la coopérati on international e pou r toutes l es q u esti ons d e n ormal i sation d ans les d omaines d e l 'él ectricité et d e l'électroniq ue A cet effet, l 'I EC – entre au tres activi tés – pu bli e d es N ormes in ternati on ales, d es Spécificati ons techni q u es, d es Rapports techni q u es, d es Spéci ficati ons accessi bles au pu bl ic (PAS) et d es Guid es (ci -après d énommés "Pu bl ication(s) d e l 'I EC") Leu r él aboration est confiée d es comi tés d 'étu des, au x travaux d esq u els tout Comi té n ational in téressé par l e sujet trai té peu t parti ciper Les organisati ons i nternationales, gouvernementales et non gou vernemental es, en l iai son avec l'I EC, partici pent égal ement au x travau x Les n ormes d e l ’ I EEE sont él aborées par l es Sociétés de l ’I EEE, ain si q u e par l es Comi tés d e coordi nation des norm es d u Conseil d e n orm ali sation d e l’ I EEE Standard s Association (I EEE-SA) Ces n ormes sont l’ abou tissement d’ u n consensu s, q ui rassemble d es bén évoles représen tant divers points d e vu e et i ntérêts Les parti cipants bénévoles ne sont pas nécessairemen t mem bres d e l ’ I EEE et leu r i nterventi on n’ est pas rétribu ée Si l’ I EEE ad mi nistre le d érou lem ent d e cette procéd u re et d éfin it les règles d esti n ées favoriser l’ éq uité d u consensu s, l'I EEE l ui-même n ’éval u e pas, ne teste pas et ne véri fi e pas l ’exacti tu de d e tou te informati on conten u e d ans ses normes L’u til isati on d e n ormes d e l’ I EEE est en ti èrem ent vol ontaire Les d ocu ments d e l’ I EEE son t disponi bl es d es fins d’ u til isati on , condi tion d’ être assorti s d ’ avis importan ts et d e clau ses de non-responsabili té (voi r http: //stand ards ieee org/I PR/di scl aimers html pour d e pl us amples i nformati ons) L'I EC travaill e en étroi te col laborati on avec l ’I EEE, selon d es condi ti ons fixées par accord entre les d eu x organisati ons 2) Les décisions offi ciell es d e l'I EC concernant les q u estion s techni q u es représentent, d ans l a mesu re d u possible, u n accord i nternational su r l es su j ets étu d iés, étant d onn é qu e l es Comi tés n ati on au x de l'I EC intéressés sont représentés d ans chaq ue comi té d ’étu d es U ne foi s l e consensus établ i en tre l es Soci étés d e l’ I EEE et l es Comités d e coord i nati on d es normes, l es d éci si ons officiell es d e l’I EEE relatives au x q u esti ons techni qu es sont d étermi nées en foncti on du vote expri mé par u n grou pe la composi ti on éq u il ibrée, composé d e parties i ntéressées q ui man ifestent leu r i ntérêt pou r l a révision d es normes proposées L’approbati on fi nal e d e l a n orme d e l ’I EEE est sou mise au Conseil d e normali sati on d e l ’I EEE Stand ards Association (I EEE-SA) 3) Les Pu bli cati ons I EC/I EEE se présen tent sou s la forme d e recomman dati ons i nternati onales et sont agréées comme tell es par l es Comi tés n ati onau x d e l'I EC/Sociétés d e l’ I EEE Tou s l es efforts raisonn abl es sont entrepri s afi n de s’assu rer d e l'exactitu d e d u contenu techniq u e d es Pu bl i cations I EC/I EEE; l 'I EC ou l’ I EEE n e peu vent pas être tenu s responsabl es d e l'éventu ell e mau vai se u til isati on ou in terprétation q u i en est faite par u n q u elconq ue u ti li sateu r fin al 4) Dans l e bu t d 'encou rag er l'uni formité i nternati onale, l es Comi tés nati onau x d e l 'I EC s'engagent, d an s tou te l a mesu re possible, appl iq u er d e faỗon transparente l es Pu bli cations d e l'I EC (y compris l es Pu blication s I EC/I EEE) d ans leu rs pu blicati ons nationales et régi onales Tou tes d i vergences entre toutes Pu bli cati ons I EC/I EEE et tou tes pu bli cations nati onal es ou régi onales correspon dantes d oivent être in di q u ées en termes clairs dans ces d ernières 5) L'I EC et l’ I EEE eu x-mêmes ne fou rnissent au cu ne attestati on d e conformité Des organismes d e certi ficati on i nd épend ants fou rni ssent d es services d 'éval u ation d e formi té et, d an s certai ns secteu rs, accèd ent au x marq u es d e conformi té d e l 'I EC L'I EC et l ’I EEE n e sont responsabl es d 'aucu n d es servi ces effectués par l es organ ismes d e certi ficati on i ndépend ants 6) Tou s les uti li sateu rs d oivent s'assu rer q u 'ils sont en possessi on d e la derni ère éd iti on de cette publicati on 7) Au cu ne responsabi li té ne d oit être i mpu tée l'I EC ou l ’I EEE, ses ad mi nistrateu rs, empl oyés, au xi li res ou m and atai res, y compri s ses experts particul i ers et l es membres de ses comi tés d 'étu d es et des Comi tés n ati on au x d e l'I EC, ou l es bénévol es d es Soci étés d e l ’I EEE et d es Comités d e coordi nati on des normes du Con seil d e normali sation d e l ’I EEE Stan d ard s Association (I EEE-SA), pou r tou t préj u di ce causé en cas de d ommag es corporels et matériel s, ou d e tou t au tre d ommage d e q u el q ue n atu re q u e ce soi t, d irecte ou i ndi recte, ou pou r su pporter les coûts (y compris l es frai s d e j u stice) et les d épenses d écoul an t d e la pu bl icati on ou d e l'u til isati on d e cette Pu bl icati on I EC/I EEE ou tou te au tre pu bli cati on d e l'I EC ou d e l’I EEE, ou au créd i t q ui lui est accord é 8) L'attention est atti rée su r l es références normatives ci tées d ans cette pu bl icati on L'u ti li sation d e pu bl icati ons référencées est obl igatoi re pour u ne appl ication correcte d e l a présen te pu bli cation 9) L’atten tion est atti rée su r fait q u e l a mi se en appl icati on d e cette Pu bl icati on I EC/I EEE peu t req u érir l ’ uti li sati on d e matéri el s protégés par d es d roi ts d e brevet En pu bl ian t cette norme, aucu n parti n’ est pris concernan t l ’existence ou l a val idi té de d roi ts d e brevet y afférents N i l 'I EC ni l ’I EEE ne peu vent être tenus d ’ id enti fi er les reven dicati ons d e brevet essen ti ell es pou r l esq u el les u ne au tori sati on peu t s’avérer n écessai re, d ’effectuer d es recherches su r la vali di té j u ri d iq u e ou l ’étend u e d es revend i cations d es brevets, ou d e détermi ner l e caractère rai son nabl e ou non d iscrimi natoire d es termes ou cond iti ons d’ au tori sation énoncés d ans l e cad re d ’ u n Certi ficat d’ assu rance, lorsq ue la d emand e d ’ u n tel certifi cat a été formul ée, ou tenu s d ans tou t accord d ’ autorisati on Les u til isateu rs d e cette norme sont expressément informés d u fai t q u e la d étermin ati on d e la vali di té d e tous d roi ts d e propriété i nd ustri el le, nsi q u e les risq u es qu ’im pli q u ent l a vi ol ation d e ces d roits, rel èvent enti èrement d e leu r seu le responsabi li té I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 ? I EC/I EEE 201 –7– Le présent amendement a été établi par le sous-comité 45A: Systèmes d’instrumentation, de contrôle-commande et électriques des installations nucléaires, du comité d'études 45 de l’I EC: I nstrumentation nucléaire, en coopération avec le «Nuclear Power Engineering Committee» de la «Power & Energy Society » de l'I EEE selon l'accord double logo I EC/I EEE entre l’IEC et l'I EEE La présente publication est une norme double logo I EC/I EEE Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: FDI S Rapport de vote 45A/1 054/FDI S 45A/1 067/RVD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cet amendement Le comité d'études de l'I EC et le comité d'études de l'IEEE ont décidé que le contenu de cet amendement et de la publication de base ne sera pas modifié avant la date de stabilité indiquée sur le site web de l’I EC sous "http: //webstore iec ch" dans les données relatives la publication recherchée A cette date, la publication sera ? ? ? ? reconduite, supprimée, remplacée par une édition révisée, ou amendée _ ————————— U ne liste des participants I EEE est d isponi ble l 'ad resse su ivante: /6 - - a m d - /6 - - a m d - _wg - p a rti ci pa n ts p d f h ttp : //sta n d a rd s i eee org /d own l o a d s/6 - –8– I EC/I EEE 62582-2: 201 /AMD1 : 201 ? I EC/I EEE 201 P ro c é d u re d e m e s u re I n s t ru m e n t a t i o n Remplacer la Figure existante par la nouvelle Figure suivante: Dimensions en millimètres 7, 5° ? R0, 0, 56 ? IEC F i g u re – G é o m é t ri e e t d i m e n s i o n s c o rre s p o n d a n t a u p ro fi l d e l ’ e x t ré m i t é d e l a s o n d e ( c ô n e t ro n q u é ) u t i l i s é e p o u r l e p o i n ỗ o n n e m e n t D é t e rm i n a t i o n d e l a va l e u r d u m o d u l e i n d e n te r Remplacer la Figure existante par la nouvelle Figure suivante et ajouter une note après la Figure comme suit: 10 Force (N ) d – d1 F2 – F1 0 0, 0, 0, 0, Dépl acement (mm) F i g u re – C a l c u l du 0, 0, IEC m o d u l e i n d e n te r N OTE Certains appareil s u til isés pou r l es mesu res i nden ter i nd i qu en t la valeu r d e la force en foncti on du temps (exprimée ? ? ? ? –1 ) La valeu r d u mod ule i nden ter expri mée ? ? ? ?? –1 est al ors cal cu lée comme l a valeu r ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? –1 ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? –1 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? I EC/I EEE 62582-2:201 /AMD1 :201 ? I EC/I EEE 201 –9– Annexe A (informative) A.1 Exemple de l’influence des différents types de construction et différentes dimensions d’équipement N on vieil li Force (N ) Force (N ) Remplacer la Figure A.1 existante par la nouvelle Figure A.1 suivante: Temps (s) ? Vi eil l i thermiq uement 008 h at 20 o C Temps (s) IEC N OTE La vi tesse d e la sonde éta ? ? ? ? ? et N en divi san t par 5, 60 –1 ? ? ? ? ?? ? ? –1 ? ? et les valeu rs d u mod u l e i nd enter on t été cal culées entre N ? Figure A.1 – Exemple de variation locale de la valeur du module indenter due la variation de dimension et de construction de l’équipement Annexe B (informative) Force (N ) Remplacer la Figure B.1 existante par la nouvelle Figure B.1 suivante: CSPE/EPDM Temps (s) IEC N OTE La valeu r d u mod u le ind enter a été cal cu lée en prenant la pente entre N et N et en di vi sant par ? ? ? ? ? ? –1 ? IEC ? Figure B.1 – Exemple de la force mesurée en fonction du temps I N TE RN ATI O N AL E LE CTRO TE CH N I CAL CO M M I S S I O N , ru e d e Va re m bé PO Box 31 CH -1 1 G e n e va S wi tze rl a n d Te l : + 41 F a x: + 22 91 02 1 22 91 03 00 i n fo @i e c ch www i e c ch