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I E C 61 000-6-2 ® Edition 3.0 201 6-08 I N TE R N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TE R N ATI ON ALE El ectrom ag n eti c co m pati bi l i ty (E M C) – Part 6-2 : G en eri c stan d ard s – I m m u n i ty stan d ard for i n d u stri al en vi ron m en ts Com pati bi l i té él ectrom ag n éti q u e (CE M ) – Parti e 6-2: N o rm es g én éri q u es – N orm e d ' i m m u n i té po u r l es en vi ro n n em en ts IEC 61 000-6-2:201 6-08(en-fr) i n d u stri el s TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YR I G H T P R O TE C TE D C o p yri g h t © I E C , G e n e va , Sw i t z e rl a n d All rights reserved Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information Droits de reproduction réservés Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur Si vous avez des questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence IEC Central Office 3, rue de Varembé CH-1 21 Geneva 20 Switzerland Tel.: +41 22 91 02 1 Fax: +41 22 91 03 00 info@iec.ch www.iec.ch Abo u t th e I E C The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies Ab o u t I E C p u b l i c a t i o n s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published I EC C atal og u e - webstore i ec ch /catal o g u e E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org The stand-alone application for consulting the entire bibliographical information on IEC International Standards, Technical Specifications, Technical Reports and other documents Available for PC, Mac OS, Android Tablets and iPad The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing 20 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) online I EC pu bl i cati on s search - www i ec ch /search pu b I E C G l o ssary - s td i ec ch /g l ossary The advanced search enables to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…) It also gives information on projects, replaced and withdrawn publications 65 000 electrotechnical terminology entries in English and French extracted from the Terms and Definitions clause of IEC publications issued since 2002 Some entries have been collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and CISPR I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Stay up to date on all new IEC publications Just Published details all new publications released Available online and also once a month by email I E C Cu s to m er S ervi ce Cen tre - webstore i ec ch /csc If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csc@iec.ch A pro po s d e l ' I E C La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait l'électricité, l'électronique et aux technologies apparentées A pro po s d es p u bl i cati o n s I E C Le contenu technique des publications IEC est constamment revu Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié Catal o g u e I E C - webstore i ec ch /catal o g u e Application autonome pour consulter tous les renseignements bibliographiques sur les Normes internationales, Spécifications techniques, Rapports techniques et autres documents de l'IEC Disponible pour PC, Mac OS, tablettes Android et iPad R ech erch e d e pu bl i cati o n s I EC - www i ec ch /search p u b La recherche avancée permet de trouver des publications IEC en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, comité d’études,…) Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplacées ou retirées E l ectro ped i a - www el ectro ped i a org Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et électriques Il contient 20 000 termes et définitions en anglais et en franỗais, ainsi que les termes ộquivalents dans langues additionnelles Egalement appelé Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) en ligne G l o ss re I EC - std i ec ch /g l o ss ary 65 000 entrộes terminologiques ộlectrotechniques, en anglais et en franỗais, extraites des articles Termes et Définitions des publications IEC parues depuis 2002 Plus certaines entrées antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et CISPR de l'IEC I EC J u st Pu bl i s h ed - webstore i ec ch /j u stp u bl i s h ed Restez informé sur les nouvelles publications IEC Just Published détaille les nouvelles publications parues Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email Servi ce Cl i en ts - webstore i ec ch /csc Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions contactez-nous: csc@iec.ch I E C 61 000-6-2 ® Edition 3.0 201 6-08 I N TER N ATI ON AL STAN DAR D N OR M E I N TER N ATI ON ALE El ectro m ag n eti c com pati bi l i ty (EM C) – Part 6-2 : G en eri c stan d ard s – I m m u n i ty stan d ard fo r i n d u stri al en vi ro n m en ts Com pati bi l i té él ectrom ag n éti q u e (CE M ) – Parti e 6-2: N o rm es g én éri q u es – N o rm e d ' i m m u n i té po u r l es en vi ro n n em en ts i n d u stri el s INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE ICS 33.1 00.20 ISBN 978-2-8322-3566-9 Warn i n g ! M ake su re th at you obtai n ed th i s pu bl i cati on from an au th ori zed d i stri bu tor Atten ti on ! Veu i l l ez vou s assu rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri bu teu r ag réé ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale –2– I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 CONTENTS FOREWORD I N TRODU CTI ON Scope N ormati ve references Terms an d defin i tions Perform ance cri teria Condi ti ons du ri ng testin g Produ ct docu men tation Appl icabi li ty M easu remen t uncertain ty I mmu ni ty test requ iremen ts An nex A (i nformative) Gu idance for product comm ittees Bi bliog raph y Fi gu re – Equi pm en t ports Table – I mm u n ity requ iremen ts – Enclosu re ports Table – I mm u n ity requ iremen ts – Sig nal /control ports Table – I mm u n ity requ iremen ts – I npu t an d ou tpu t DC power ports Table – I mm u n ity requ iremen ts – I npu t an d ou tpu t AC power ports Table A – I m mu ni ty tests and test levels to be considered in fu ture or for particu lar produ ct fam ili es I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 –3– I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) – Part 6-2: Generic standards – Immunity standard for industrial environments FOREWORD ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) Th e obj ect of I EC i s to prom ote i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s cern i n g stan dard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds To th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s, Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC Pu bl i cati on (s) ”) Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I EC N ati on al Com m i ttee i n terested i n th e su bj ect d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on g overn m en tal org an i zati on s l i si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on I EC col l aborates cl osel y wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th d i ti on s d eterm i n ed by ag reem en t between th e two org an i zati on s 2) Th e form al d eci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l i n terested I EC N ati on al Com m i ttees 3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al Com m i ttees i n th at sen se Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal ten t of I EC Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y m i si n terpretati on by an y en d u ser 4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s An y d i verg en ce between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n d i cated i n th e l atter 5) I EC i tsel f does n ot provi d e an y attestati on of form i ty I n d epen d en t certi fi cati on bod i es provi d e form i ty assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of form i ty I EC i s n ot respon si bl e for an y servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es 6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on 7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I EC or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi d u al experts an d m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I EC Pu bl i cati on s 8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on 9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of paten t ri g h ts I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts I n tern ati onal Standard I EC 61 000-6-2 h as been prepared by I EC techni cal com mittee 77: El ectromag netic compatibi li ty Th is thi rd edi tion cancel s an d repl aces the second edi tion published i n 2005 This edi tion consti tu tes a technical revisi on Th is edition i ncludes th e fol lowin g sig ni fican t tech nical chang es wi th respect to the previous edi tion : a) im provement of the en vironm en tal description ; b) extension of th e frequency rang e for th e radio-frequency el ectromag netic field test accordin g to I EC 61 000-4-3; c) amended test levels at particu lar frequ enci es for th e radio-frequ ency electrom ag n etic field test accordin g to I EC 61 000-4-3; –4– I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 d) chang e of th e repeti tion frequ ency for the fast transien ts i m mu n ity test accordin g to I EC 61 000-4-4; e) in troduction of requ irem ents according to I EC 61 000-4-34; f) revision of th e test levels; g ) consideration of measu remen t uncertain ty; h) addition of Annex A The text of th is standard is based on the foll owi ng docu men ts: FDI S Report on voti n g 77/521 /FDI S 77/523/RVD Fu ll i n formati on on the votin g for the approval of this standard can be fou nd in the report on votin g i ndicated i n the above table Th is pu blication has been drafted in accordance wi th the I SO/I EC Directi ves, Part A l i st of al l parts in th e I EC 61 000 seri es, pu blish ed un der th e g en eral title compatibility (EMC) , can be fou nd on th e I EC websi te Electromagnetic The com mi ttee h as decided that th e ten ts of th is pu bl icati on wi ll remain u nchan ged u n ti l th e stabil ity date i ndicated on the I EC websi te u nder "h ttp://webstore iec ch " in the data rel ated to the speci fic publ ication At th is date, the pu blication wil l be • • • • recon firmed, wi thdrawn , replaced by a revised edi ti on, or amended I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 –5– I NTRODUCTI ON I EC 61 000 is pu blished in separate parts accordin g to the following structu re: Part : General General considerations (i n troduction , fu ndamen tal principles) Defin itions, term inolog y Part 2: Environment Descri ption of the en viron men t Classi fication of the en vironm en t Compatibil i ty l evels Part 3: Limits Em ission limi ts I m mu ni ty lim i ts (insofar as th ese l im its not fal l u n der the responsibil i ty of the produ ct comm i ttees) Part 4: Testing and measurement techniques M easu remen t techn iqu es Testi ng techn iqu es Part 5: Installation and mitigation guidelines I nstal lation g u i deli nes M itig ati on methods and devices Part 6: Generic standards Part 9: Miscellaneous Each part is fu rther su bdivided in to several parts, pu blished ei ther as I nternational Standards or as Techn ical Specifications or Tech nical Reports, some of wh ich h ave already been pu blished as sections Oth ers wi ll be pu blished with th e part nu mber foll owed by a dash and a second nu mber iden ti fyin g the su bdivi sion (example: I EC 61 000-6-1 ) –6– I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) – Part 6-2: Generic standards – Immunity standard for industrial environments Scope Th is part of I EC 61 000 for EMC imm un i ty requ iremen ts applies to electrical and electron ic equ ipmen t intended for use in in dustrial locations, as described below I m mu ni ty requ iremen ts in the frequ ency rang e H z to 400 GH z are covered N o tests need to be performed at frequ encies where no requi remen ts are speci fied Th is g eneric EMC i mmu n ity stan dard is applicable if n o rel evan t dedicated product or produ ctfamily EM C im mu ni ty stan dard exists Th is stan dard applies to electrical and electronic equ ipmen t in tended to be operated in indu strial locations, as defined in 7, both indoor and ou tdoor This stan dard appl ies also to equ ipmen t intended to be directly connected to a DC distribu tion network or wh ich is battery operated, and in tended to be u sed in indu strial locations Th is standard defi nes the im mu n ity test requ iremen ts for equ i pment speci fi ed in the scope in relati on to tinu ous and transi en t, du cted and radi ated distu rbances, i nclu din g electrostatic discharg es The im mu nity requ iremen ts have been selected to ensu re an adequ ate level of im mu nity for equ ipmen t operating wi th in indu strial l ocations The levels not, however, cover extrem e cases, wh ich may occu r at an y l ocati on, bu t with an extremely low probabi li ty of occu rrence Not al l distu rbance ph enomena h ave been inclu ded for testing pu rposes in this stan dard, but onl y those consi dered as relevan t for the equ ipmen t covered by th is standard These test requ iremen ts represent essen tial electrom ag n etic com patibili ty im mun i ty requ iremen ts They are specified for each port considered N OTE I n form ati on on oth er d i stu rban ce ph en om en a i s g i ven i n I E C TR 61 000-4-1 N OTE Safety si d erati on s are n ot covered by th i s stan d ard N OTE I n speci al cases, si tu ati on s wi l l ari se wh ere th e l evel of d i stu rban ces m ay exceed th e l evel s speci fi ed i n th i s stan d ard , for exam pl e wh ere eq u i pm en t i s i n stal l ed i n proxi m i ty to i n d u stri al , sci en ti fi c an d m ed i cal eq u i pm en t as d efi n ed i n CI SPR 1 or wh ere a h an d -h el d tran sm i tter i s u sed i n cl ose proxi m i ty to eq u i pm en t I n th ese i n stan ces, speci al m i ti g ati on m easu res m ay h ave to be em pl oyed The in du strial en viron men t m ay be ch ang ed by speci al mi ti gation measures Where su ch measures can be shown to produce an electromagnetic en vi ron men t equ i valen t to the resi den tial, comm ercial or l ig h t-i ndustrial en viron ment, then the gen eric stan dard for this en vi ron men t, or the relevan t produ ct standard, may be applied Normative references The following docu men ts, in whole or in part, are n orm ati vel y referenced in thi s docu men t and are indispensabl e for i ts application For dated references, on l y the edition ci ted appl ies For u ndated references, th e latest edition of th e referenced docu men t (inclu ding an y amendm ents) appl ies I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 –7– I EC 60050-1 61 , International Electrotechnical Vocabulary – Part 161: Electromagnetic compatibility (avail able at: www electropedi a org ) I EC 61 000-4-2:2008, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-3: Testing and measurement techniques – Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test I EC 61 000-4-3:2006, I EC 61 000-4-3:2006/AMD1 :2007 I EC 61 000-4-3:2006/AMD2:201 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-4: Testing and measurement techniques – Electrical fast transient/burst immunity test I EC 61 000-4-4:201 2, I EC 61 000-4-5:201 4, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and measurement techniques – Surge immunity test Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and measurement techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields I EC 61 000-4-6:201 3, I EC 61 000-4-8:2009, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests I EC 61 000-4-1 :2004, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides I EC 61 000-4-20:201 0, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-21: Testing and measurement techniques – Reverberation chamber test methods I EC 61 000-4-21 :201 , I EC 61 000-4-22:201 0, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-22: Testing and measurement techniques – Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic rooms (FARs) Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-34: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains current more than 16 A per phase I EC 61 000-4-34:2005, I EC 61 000-4-34:2005/AM D1 :2009 Terms and definitions For the pu rposes of th is docu men t, th e terms and defin itions g iven in I EC 60050-1 61 as well as the fol lowing appl y N OTE Ad d i ti on al d efi n i ti on s rel ated to EM C an d to rel evan t ph en om en a are g i ven i n oth er I EC an d CI SPR pu bl i cati on s 3.1 port particu lar i n terface of the equ ipmen t wh ich cou ples th is equ ipment with or is in flu enced by th e external electromag netic en viron men t –8– I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 N ote to en try: Exam pl es of ports of i n terest are sh own i n Fi g u re Th e en cl osu re port i s th e ph ysi cal bou n d ary of th e eq u i pm en t (e g en cl osu re) Th e en cl osu re port provi d es for radi ated an d el ectrostati c d i sch arg e (ESD) en erg y tran sfer, wh ereas th e oth er ports provi d e for d u cted en erg y tran sfer, ei th er by d i rect i n j ecti on or by i n d u cti on Enclosure port AC power port Signal/control port EQUIPMENT DC power port IEC Figure – Equipment ports 3.2 enclosure port ph ysical bou ndary of the equ ipmen t throug h which electromagnetic fields m ay radiate or on which they may impin ge 3.3 signal/control port port at wh ich a du ctor or cable in tended to carry si gnals i s nected to the equ ipm en t EXAM PLE An al og i n pu ts, ou tpu ts an d trol l i n es; d ata bu ses; com m u n i cati on l i n es, etc 3.4 power port port at wh ich a conductor or cable, carryi ng the electrical i npu t/ou tpu t power needed for th e operati on (fu nctioni ng) , is connected to the equ ipm ent 3.5 long distance line li ne connected to a sign al/con trol port and whi ch inside a bu ildin g is lon ger than 30 m , or which leaves the bu ilding (i ncl uding a line installed ou tdoors) 3.6 DC distribution network local DC electricity supply n etwork in the in frastru cture of a certain si te or bu ildin g i ntended for fl exi bl e use by one or more di fferen t types of equ ipment and ensu rin g tinu ous power su ppl y i ndependen tl y from the condi ti ons of the pu bl ic mains n etwork N ote to en try: Con n ecti on to a rem ote l ocal battery i s n ot reg ard ed as a DC d i stri bu ti on n etwork, i f su ch a l i n k com pri ses on l y power su ppl y for a si n g l e pi ece of eq u i pm en t 3.7 industrial location location characterized by a separate power n etwork, supplied from a hi gh - or m edium -vol tag e transformer, dedicated for the su pply of the installation EXAM PLE M etal worki n g , pu l p an d paper, ch em i cal pl an ts, car prod u cti on , farm bu i l di n g , h i g h -vol tag e areas of rports N ote to en try: I n d u stri al l ocati on s can g en eral l y be d escri bed by th e exi sten ce of an i n stal l ati on wi th on e or m ore of th e fol l owi n g ch aracteri sti cs: – i tem s of eq u i pm en t i n stal l ed an d n ected tog eth er an d worki n g si m u l tan eou sl y; – si g n i fi can t am ou n t of el ectri cal power g en erated , tran sm i tted an d /or su m ed ; – freq u en t swi tch i n g of h eavy i n d u cti ve or capaci ti ve l oad s; – h i g h cu rren ts an d associ ated m ag n eti c fi el ds; – presen ce of i n du stri al , h i g h power sci en ti fi c an d m edi cal (I SM ) eq u i pm en t (for exam pl e, wel di n g m ach i n es) – 24 – I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) – Partie 6-2: Normes génériques – Norme d'immunité pour les environnements industriels Domaine d'application La présente partie de l’I EC 61 000 concernant l es exig ences d'immu n ité en mati ère de compatibil i té électrom ag n étique s'appl ique au x équ ipements électriqu es et électron iques desti nés être u ti lisés dans des si tes industriels, tels qu 'i ls sont décri ts ci -dessou s La présente partie cou vre les exig ences d’i mmu nité dans l a plage de fréqu ences de H z 400 GH z I l n’est pas n écessaire de réaliser des essais au x fréqu ences pou r lesqu elles aucu n e exigence n’est spéci fiée Cette norme génériqu e d'im mu n ité CEM s'appliqu e en l'absence de n orme d'i mmu ni té CEM applicable, spéci fiqu e u n produ it ou un e fam il le de produ its La présen te norme s'appl iqu e au x équ ipemen ts électriqu es et électron iqu es destin és être utilisés dans des sites industriels, com me défin i en 7, l a fois l'in térieu r et l'extérieu r La présen te norme s'appl iqu e ég al emen t au x équi pements destin és être directem en t connectés u n réseau de distribu tion en cou rant tinu ou al imen tés par pi les ou batteries et qu i son t destinés être u til isés dans des sites i ndu striels La présen te n orme défin it l es exig ences des essais d'im mu nité au x perturbations contin u es et transitoires, condu ites et rayon nées, y com pris au x décharg es électrostati qu es, pour les équ ipemen ts spéci fiés dans le domai ne d'applicati on Les exig ences d'immu nité on t été ch oisies pour assu rer u n n iveau adéqu at d'i mm u ni té pou r les équ ipemen ts u til isés dans des sites in dustriels Ces n iveau x ne cou vren t cepen dan t pas les cas extrêmes qu i peu ven t appartre, m ais avec u ne très faibl e probabilité, su r u n site qu elconqu e La présen te n orm e n e com porte pas, pou r les besoins des essais, tou s les phénom ènes pertu rbateu rs m ais u ni qu em en t ceu x qu i son t considérés com me appl icables au x équ ipem en ts cou verts par la n orm e Ces exi gences d'essai représen ten t les exi gences essentiell es de compatibi li té électrom ag nétiqu e concernan t l'i mm u n ité Ell es son t spéci fiées pou r chaqu e accès considéré N OTE Des i n form ati on s su r d ’ au tres ph én om èn es pertu rbateu rs son t fou rn i es d an s l 'I EC TR 61 000-4-1 N OTE La présen te n orm e n e trai te pas d es aspects d e sécu ri té N OTE Dan s d es cas spéci au x, d es si tu ati on s peu ven t apparai tre d an s l esq u el l es l es n i veau x d e pertu rbati on peu ven t d épasser l es n i veau x d ’ essai spéci fi és d an s l a présen te n orm e, par exem pl e l orsq u ’ u n éq u i pem en t est i n stal l é proxi m i té d ’ éq u i pem en ts i n d u stri el s, sci en ti fi q u es et m édi cau x tel qu e d éfi n i d an s l a CI SPR 1 ou l orsq u ’ u n ém etteu r portati f est u ti l i sé proxi m i té d’ u n éq u i pem en t Dan s ces ci rcon stan ces, d es m esu res parti cu l i ères d 'attén u ati on peu ven t d evoi r être em pl oyées L'en vironn em en t indu stri el peu t être modifié par des moyens spéciau x d'attén uation Lorsqu'i l peu t être dém on tré qu e ces moyens produ isen t un environnement électromag nétiqu e équ i valen t l 'en vironnem en t résiden tiel , com mercial ou l'environ nemen t pou r l 'in dustrie lég ère, la norme g énériqu e pou r cet en vironnem ent ou l a n orm e de produ i t applicabl e peu t être appliqu ée I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 – 25 – Références normatives Les docu men ts su i van ts son t ci tés en référence de m anière normati ve, en i n tégral ité ou en partie, dans le présen t docum en t et son t indispensabl es pou r son appl ication Pou r les références datées, seu le l ’édi tion ci tée s’appli qu e Pour l es références non datées, la dern ière édi tion du docu m en t de référence s’appli qu e (y compris les éven tu els dem en ts) Vocabulaire Électrotechnique International – Partie 161: Compatibilité électromagnétique (disponible sous: www electropedia org ) I EC 60050-1 61 , I EC 61 000-4-2:2008, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d'essai et de mesure – Essai d'immunité aux décharges électrostatiques I EC 61 000-4-3:2006, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d'essai et de mesure – Essai d’immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences radioélectriques I EC 61 000-4-3:2006/AMD1 :2007 I EC 61 000-4-3:2006/AMD2:201 I EC 61 000-4-4:201 , Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai et de mesure – Essai d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves I EC 61 000-4-5:201 4, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d'essai et de mesure –Essai d'immunité aux ondes de choc I EC 61 000-4-6:201 3, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d'essai et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs radioélectriques I EC 61 000-4-8:2009, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-8: Techniques d'essai et de mesure – Essai d'immunité au champ magnétique la fréquence du réseau I EC 61 000-4-1 :2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension I EC 61 000-4-20:201 0, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-20: Techniques d'essai et de mesure – Essais d’émission et d’immunité dans les guides d’onde TEM I EC 61 000-4-21 :201 , Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-21: Techniques d'essai et de mesure – Méthodes d'essai en chambre réverbérante I EC 61 000-4-22:201 0, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-22: Techniques d'essai et de mesure – Mesures de l'immunité et des émissions rayonnées dans des enceintes complètement anéchoïques (FAR) I EC 61 000-4-34:2005, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-34: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension pour matériel ayant un courant d’alimentation de plus de 16 A par phase I EC 61 000-4-34:2005/AM D1 :2009 Termes et définitions Pou r les besoins du présent docu men t, les termes l'I EC 60050-1 61 , ainsi qu e l es su i van ts, s’appli qu en t et défin iti ons donnés dans – 26 – I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 N OTE D’ au tres d éfi n i ti on s rel ati ves l a com pati bi l i té él ectrom ag n éti qu e (CEM ) et au x ph én om èn es q u i s’ y rattach en t fi g u ren t d an s d’ au tres pu bl i cati on s d e l 'I EC et d u CI SPR 3.1 accès in terface parti cu lière de l’équi pement qui cou ple cet équ ipemen t avec ou qu i est influ encé par l'en viron nemen t électromagnétiqu e externe N ote l ’ arti cl e: Des exem pl es d’ accès présen tan t u n i n térêt son t représen tés l a Fi g u re L’ accès par l 'en vel oppe est l a fron ti ère ph ysi q u e d e l ’ apparei l (par exem pl e l ’ en vel oppe) L'accès par l 'en vel oppe perm et u n tran sfert d 'én erg i e rayon n ée et d e d éch arg e él ectrostati qu e (DES) , al ors q u e l es au tres accès perm etten t u n tran sfert de l 'én erg i e d u i te, soi t par i n j ecti on di recte, soi t par i n d u cti on Accès de puissance courant alternatif Accès par l’enveloppe Accès signal/commande ÉQUIPEMENT Accès de puissance courant continu IEC Figure – Accès d’équipement 3.2 accès par l'enveloppe fron tière physiqu e du m atériel travers laqu el le des champs électromag nétiqu es peu ven t rayon ner ou laqu elle ils peu vent se h eu rter 3.3 accès signal/commande accès au quel u n condu cteu r ou u n câble destin é transporter des sig nau x est connecté l 'équ ipemen t EXEM PLE Les en trées an al og i q u es, sorti es et l i g n es d e com m an d e, l es bu s d e d on n ées et l es réseau x d e com m u n i cati on , etc 3.4 accès par les bornes de puissance poi n t auqu el u n conducteu r ou u n câbl e transportan t l 'énerg ie électri qu e d’en trée/de sortie nécessaire au fonctionnemen t est connecté l’équ ipemen t 3.5 ligne de grande longueur li gne raccordée un accès si g nal /comm ande et qu i l’intéri eu r d’u n bâtim en t est d’u ne lon gu eur supérieu re 30 m, ou qu i sort du bâti men t (y compris un e l ig ne installée l’extérieu r) 3.6 réseau de distribution en courant continu réseau d'alim entation électrique local en cou rant tinu dans l'i nfrastru cture d'u n site ou d'un bâtiment donné desti né u ne u ti lisati on flexible par u n ou plusieu rs types d’équ ipements et assu ran t u ne ali men tati on tinu e in dépendamm en t des condi ti ons du réseau pu blic d'al imen tation N ote l ’ arti cl e: La n exi on u n e batteri e l ocal e di stan te n 'est pas si d érée com m e u n réseau de d i stri bu ti on en cou ran t ti n u , si u n e tel l e l i son n e com pren d q u e l 'al i m en tati on pou r u n seu l équ i pem en t 3.7 site industriel site caractéri sé par u n réseau d'ali men tation séparé, alimen té par u n transformateu r h au te ou moyenne tension et dédi é l 'ali men tation de l 'installation I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 – 27 – EXEM PLE I n stal l ati on s si d éru rg i q u es, d e tran sform ati on d es pâtes et papi ers, ch i m i q u es, d e stru cti on au tom obi l e, ag ri col es et l es zon es h au te ten si on d es aéroports N ote l 'arti cl e: Les si tes i n d u stri el s peu ven t g én éral em en t être d écri ts par l 'exi sten ce d 'u n e i n stal l ati on avec u n e ou pl u si eu rs d es caractéri sti q u es su i van tes: – él ém en ts d 'équ i pem en ts i n stal l és et n ectés en sem bl e et fon cti on n an t en m êm e tem ps; – q u an ti té si g n i fi cati ve d e pu i ssan ce él ectri qu e g én érée, tran sm i se et/ou som m ée; – com m u tati on s fréq u en tes de fortes ch arg es i n d u cti ves ou capaci ti ves; – cou ran ts él evés et ch am ps m ag n éti q u es associ és; – présen ce d 'éq u i pem en ts i n d u stri el s, sci en ti fi q u es ou m éd i cau x (I SM ) (par exem pl e, m ach i n es d e sou d ag e) L'en vi ron n em en t él ectrom ag n éti qu e d 'u n si te i n d u stri el est pri n ci pal em en t prod u i t par l es éq u i pem en ts et l es i n stal l ati on s q u i se trou ven t su r l e si te I l exi ste certai n s types d ’ i n stal l ati on s i n d u stri el l es, d an s l esq u el s u n e parti e d es ph én om èn es él ectrom ag n éti qu es peu t avoi r u n n i veau pl u s él evé q u e d an s d 'au tres i n stal l ati on s N ote l 'arti cl e: Le l i en en tre si te et en vi ron n em en t él ectrom ag n éti qu e est don n é en 3.8 environnement électromagnétique ensemble des phénomèn es électrom ag nétiqu es existan t u n en droi t donné N ote l 'arti cl e: L’ en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e d épen d en g én éral d u tem ps et sa d escri pti on peu t exi g er u n e approch e stati sti qu e N ote l 'arti cl e: m êm e I l est très i m portan t d e n e pas fon d re l 'en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e avec l e si te l u i - [SOU RCE: I EC 60050-1 61 :1 990, 61 -01 -01 , modi fiée – N ote l 'article a été ajou tée ] 3.9 réseau public d'alimentation li gnes él ectriqu es au xqu el les tou tes l es catég ories de consom mateurs on t accès et qui son t rég ies par un org anisme assuran t la fou rn iture et/ou l a distribu tion d'én erg ie él ectrique Critères d’aptitude la fonction U ne descripti on fonctionn el le et u ne définition des cri tères spécifiqu es d’apti tu de l a fonction de l'équ ipem en t en essai (EU T ) , pendant ou l’issue des essais d'immu nité, doivent être fou rn ies par le fabrican t et consig nées dans l e rapport d'essai Ell es doivent être cohéren tes avec l'u n des critères g énérau x su i van ts pou r chaqu e essai , com me spécifié dans les Tableau x 4: a) Critère d’apti tu de A: L'EU T doi t conti nu er fonctionner com me prévu pendan t et après l 'essai Au cu ne dég radati on de l ’aptitu de ou perte de fonction n 'est au torisée au -dessou s d’u n ni veau d'aptitude spéci fié par le fabrican t lorsqu e l'EU T est u ti lisé comme prévu Si le n i veau d'aptitu de n 'est pas spéci fié par le fabrican t, il peu t être dédu it de la description et de la docum en tati on du produ i t et de ce qu e l 'u ti lisateu r est raisonnablem en t en droi t d'attendre de l ’équi pement s'il est u ti lisé com me prévu b) Cri tère d’apti tu de B: L'EU T doi t ti nu er foncti onn er comm e prévu après l'essai Au cu ne dégradation de l’aptitude ou perte de fonction n 'est au torisée au -dessous d’un n iveau d'aptitude spécifié par le fabrican t lorsque l'EU T est u ti l isé comm e prévu Le n iveau d'aptitu de peu t être remplacé par u ne perte d'aptitu de adm issible Tou tefois, si u ne dég radation de l’apti tude est au torisée pendant l'essai, au cu ne modi fication du mode de foncti onn ement réel ou des don nées mémorisées n 'est adm issible Si le n iveau m in i mal d'apti tu de ou l a perte d'apti tude adm issible n'est pas spécifi é par l e fabricant, ils peu ven t être dédu i ts de l a descri ption et de la docu men tation du produ i t et de ce qu e l'u til isateu r est raison nablement en droi t d'attendre de l ’équ ipem en t s'il est u ti lisé com me prévu _ EU T = equipment under test – 28 – I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 c) Cri tère d’aptitude C: U ne perte de fonction tem poraire est adm ise pendan t l 'essai , pou rvu que cette fonction soi t au torécu pérable ou puisse être rétabli e par u ne interven tion su r les comm andes Si l 'EU T devi en t dang ereu x ou présente des risqu es par su i te de l'application des essais définis dans l a présen te n orm e, il doit être considéré comm e n 'ayan t pas satisfait l'essai Conditions pendant l'essai L'équ ipement en essai (EU T) doit être sou mis au x essais dans l e m ode de fonction nemen t répu té condu ire la susceptibil i té la plu s g rande, iden ti fi é par exemple en réal isan t des essais prélimi naires l imi tés Ce mode doi t être cohéren t avec l es appli cations normales La fi g uration de l 'échanti llon d’essai doi t être choisie pour obten ir l a su scepti bi li té maximale correspondant au x appl ications et prati ques d'instal lation types La confi g u ration et l e mode de fonctionnement u til isés au cours des essais doiven t être consi gnés avec précision dans le rapport d'essai Si l ’équi pemen t fai t partie d'u n systèm e, ou peu t être raccordé des équ ipem ents au xiliai res, il doit être soum is l’essai en étant conn ecté l a fig uration représentative m ini male d’équ ipemen ts au xi liaires perm ettant l'essai au x accès Les équi pements au xi l iaires peu ven t être si mu lés Lorsqu e l a spécification du fabrican t exig e des dispositifs ou des mesu res de protection externes qu i son t cl airem en t spécifié(e) s dans le manu el u til isateu r, les exig ences d'essai de la présente n orm e doi ven t être appliquées avec les dispositifs ou les mesu res de protecti on extern es m is(es) en œuvre Si l’équ ipem en t possède u n g rand nombre d'accès an alog ues ou d'accès comportan t un g ran d nombre de connexi ons an al ogu es, u n nombre su ffisan t d'en tre eu x doi t être ch oisi pou r sim ul er les condi ti ons de foncti on nemen t réel les et pou r s'assurer qu e tou s les di fféren ts types d'accès son t cou verts La ju stification associée au ch oix des accès sou mis essai doi t être inclu se dans le rapport d'essai Les essais doi ven t être effectu és au ni veau d ’ u n ensemble u n iqu e de paramètres dans l es plages de fonctionnem en t de températu re, d ’ h u midité et de pression atmosphérique spéci fiées pou r le produ i t et la tensi on assig née d ’ al imentation , sau f indication traire dans la n orme de base Documentation du produit Si le fabrican t u tilise sa propre spéci fication de n i veau acceptable de com patibilité électrom ag nétique ou de dégradation , pen dan t ou après les essais exig és par la présente norm e, ce fait doit être i ndiqué dans la docu men tation desti née au x u til isateu rs Cette spécification doit être el le-même dispon ible su r dem ande Applicabilité L'applicati on des essais pour l'évalu ation de l'imm un i té dépend du type particu l ier d’équ ipemen t, de sa config u ration , de ses accès, de sa technolog ie et de ses ditions de fonctionnemen t Les essais doi ven t être appl iqu és au x accès appropriés de l’équ ipement formémen t au x Tableau x Ces essais ne doiven t être effectu és qu e lorsqu e l es accès correspondan ts existen t I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 – 29 – I l peu t être déterminé partir de l'étu de des caractéristiqu es électriques et de l'usage d’u n équ ipemen t particu lier qu e certains des essais son t inappropriés et, en conséqu ence i nu tiles Dans u n tel cas, la décision et la ju sti fication de ne pas effectu er l 'essai doi ven t être consig nées dans le rapport d'essai Incertitude de mesure Si des li gnes directrices pou r l'évalu ation de l'incerti tu de de l'instrumen tation d'u n essai d'im mu ni té son t spéci fi ées dans l'I EC TR 61 000-1 -6 ou dans la norme de base correspondan te, i l vi ent de les observer Exigences pour les essais d'immunité Les exigences pou r les essais d'imm u ni té pour l es équ ipem en ts cou verts par la présen te norm e sont indi qu ées accès par accès, et répertori ées dans l es Tableaux Les essais doi ven t être effectués selon une procédu re bien défin ie et reprodu cti bl e Les essais doi ven t être effectu és comme des essais indépendan ts les u ns des au tres Les essais peu ven t être réal isés dans n’i mporte qu el ordre Des u ni tés identiqu es peu ven t être u tilisées pou r des essais en parallèle et ces in form ati ons doivent être consig n ées dans le rapport d'essai La descri ption de l 'essai , les caractéristiqu es du gén érateu r, les méth odes appropriées et le mon tag e u tiliser sont donn és dans les normes de base m entionnées dans les Tableau x Le tenu de ces normes de base n’est pas répété ici ; cependan t des modifications ou des in formations complémentaires nécessaires l’appl ication pratiqu e des essais sont donn ées dans la présen te n orm e Tableau – Exigences d'immunité – Accès par l’enveloppe Phénomènes d’ en vironnem ent 1 Unités Ch am p m ag n éti q u e l a fréq u en ce du réseau 50, 60 Hz 30 A/m Ch am p él ectrom ag n éti q u e fréq u en ce rad i oél ectri q u e M od u l é en am pl i tu d e 80 000 MHz 80 % M A (1 kH z) Ch am p él ectrom ag n éti q u e fréq u en ce rad i oél ectri q u e M od u l é en am pl i tu d e , 6, GHz Déch arg e él ectrostati q u e 10 d d Normes de base I EC 61 000-4-8 Déch arg e au tact ± (ten si on de ch arg e) kV Déch arg e d an s l 'ai r ± (ten si on de ch arg e) kV Appl i cabl e u n i qu em en t au x équ i pem en ts com portan t d es d i sposi ti fs sen si bl es au x ch am ps m ag n éti q u es L'essai d oi t être effectu é d es fréq u en ces correspon d an t l a fréq u en ce d e l ’ al i m en tati on I l est n écessai re q u e l es éq u i pem en ts desti n és être u ti l i sés dan s d es zon es al i m en tées seu l em en t u n e d e ces fréqu en ces soi en t sou m i s l 'essai u n i q u em en t cette fréq u en ce A a, b, c Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r effi cace d e l a porteu se avan t m od u l ati on A I EC 61 000-4-3 a, b, c Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r effi cace d e l a porteu se avan t m od u l ati on A Voi r l a n orm e d e base pou r l 'appl i cabi l i té d es essai s d e d éch arg es au tact et/ou d es d éch arg es d an s l 'ai r B V/m % M A (1 kH z) Critère d’ aptitude I EC 61 000-4-3 V/m 80 Remarques I E C 61 000-4-2 B L'I EC 61 000-4-20 peu t être u ti l i sée pou r l es EU T d e peti te tai l l e d éfi n i s d an s l 'I EC 61 000-4-20 b U n e en cei n te com pl ètem en t an éch oïq u e (FAR) com m e d écri te d an s l 'I EC 61 000-4-22 peu t ég al em en t être u ti l i sée com m e si te d 'essai pou r l 'essai d 'i m m u n i té fréq u en ce rad i oél ectri q u e c U n e ch am bre réverbéran te (RVC) com m e d écri te d an s l 'I E C 61 000-4-21 peu t ég al em en t être u ti l i sée La pu i ssan ce i n ci d en te i n j ectée dan s u n e ch am bre réverbéran te P i n pu t est d on n ée par l 'i n ten si té d ’ essai exi g ée du ch am p él ectri q u e Etest com m e su i t:      où CLF(f) est l e facteu r d e ch arg e d e l ’ en cei n te (san s d i m en si on ) l a fréqu en ce f et val i dati on d e l ’ en cei n te vi de (voi r An n exes B et D d e l 'I EC 61 000-4-21 :201 ) d f E 24 or est l a m oyen n e d u ch am p E n orm al i sé (en (V/m ) /W 0, ) , obten u s parti r d e l a Pou r d es i n form ati on s rel ati ves d es si tu ati on s d an s l esq u el l es d es ém etteu rs m obi l es son t n om breu x, voi r par exem pl e l 'I EC TR 61 000-2-5: 201 , I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 a   Etest Pinput =  f × CLF ( f )  E 24or9  – 30 – Spécificati ons d’ essai Phénomènes d’ en vironnem ent 2 2 Fréq u en ce radi oél ectri q u e en m od e com m u n Spécificati ons d’ essai Uni tés MHz 10 V 80 % M A (1 kH z) On d es de ch oc , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s ph ase-terre ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) Tran si toi res rapi d es ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) 5/50 tr / t w n s ou 00 Fréqu en ce d e répéti ti on kH z Remarques Cri tère d’ apti tude I EC 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r effi cace d e l a porteu se avan t m od u l ati on a, b A I EC 61 000-4-5 c, d , e B I EC 61 000-4-4 U ti l i sati on d e l a pi n ce capaci ti ve b, f B a Le n i veau d ’ essai peu t ég al em en t être d éfi n i com m e étan t l e cou ran t éq u i val en t d an s u n e ch arg e d e 50 Ω b Appl i cabl e seu l em en t au x accès n ectés d es câbl es d on t l a l on g u eu r total e, sel on l es spéci fi cati on s fon cti on n el l es d on n ées par l e fabri can t, peu t d épasser m c Appl i cabl e seu l em en t au x accès n ectés d es l i g n es d e g ran d e l on g u eu r (voi r 5) d Lorsq u e l e fon cti on n em en t n orm al n e peu t pas être obten u en rai son d e l 'i m pact d u réseau d e cou pl ag e/d écou pl ag e (RCD) su r l 'équ i pem en t en essai (EU T) , l 'essai d oi t être effectu é avec l a fon cti on n al i té réd u i te Au qu el cas, u n e j u sti fi cati on d oi t être fou rn i e d an s l e rapport d 'essai Après l 'essai et après avoi r reti ré l e réseau d e cou pl ag e/d écou pl ag e, l a fon cti on n orm al e n e d oi t pas être affectée e Les accès par l es born es d e si g n au x d i rectem en t raccord és au réseau d e di stri bu ti on cou ran t al tern ati f d oi ven t être trai tés com m e d es accès par l es born es d e pu i ssan ce en cou ran t al tern ati f f L'essai peu t être réal i sé u n e seu l e ou au x d eu x fréq u en ces d e répéti ti on I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on d e kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e 00 kH z est pl u s proch e d e l a réal i té – 31 – 0, 80 Normes de base I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 Tableau – Exigences d'immunité – Accès signal/commande Tableau – Exigences d'immunité – Accès par les bornes de puissance d'entrée et de sortie en courant continu Phénomènes d’ envi ronnem ent 3 3 Spécifications d’ essai Unités 0, 80 MHz 10 V 80 % M A (1 kH z) On d es de ch oc , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s ph ase-terre ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) en tre ph ases ± 0, kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) Tran si toi res rapi d es ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) 5/50 tr / tw n s ou 00 Fréqu en ce d e répéti ti on kH z Remarques Critère d’ aptitude I EC 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r effi cace de l a porteu se avan t m od u l ati on a, g A I EC 61 000-4-5 b, e , f B I E C 61 000-4-4 c, d , h B Les accès en cou ran t ti n u n on d esti n és être raccord és u n réseau de d i stri bu ti on en cou ran t ti n u d oi ven t être sou m i s essai com m e d es accès par l es born es d e si g n au x a b c e f g h I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 d Le n i veau d’ essai peu t ég al em en t être d éfi n i com m e étan t l e cou ran t éq u i val en t d an s u n e ch arg e d e 50 Ω Appl i cabl e seu l em en t au x accès n ectés d es l i g n es de g ran d e l on g u eu r; n on appl i cabl e au x accès d ’ en trée d esti n és au raccord em en t u n e pi l e ou u n e batteri e rech arg eabl e, q u i d oi t être reti rée ou d écon n ectée d e l ’ éq u i pem en t pou r être rech arg ée N on appl i cabl e au x accès d ’ en trée d esti n és au raccord em en t u n e pi l e ou u n e batteri e rech arg eabl e, q u i d oi t être reti rée ou d écon n ectée d e l ’ éq u i pem en t pou r être rech arg ée Les éq u i pem en ts m u n i s d 'u n accès d’ en trée pou r cou ran t ti n u desti n és être u ti l i sés avec u n ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t ti n u d oi ven t être sou m i s l ’ essai su r l 'en trée en cou ran t al tern ati f de l 'adaptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t ti n u spéci fi é par l e fabri can t (voi r l e n i veau d'essai d u Tabl eau 4) Lorsq u ’ au cu n ad aptateu r n 'est spéci fi é, l 'essai doi t être effectu é su r l 'accès par l es born es de pu i ssan ce en cou ran t ti n u form ém en t au n i veau d 'essai d u Tabl eau Lorsq u ’ u n ad aptateu r est spéci fi é, l 'essai est appl i cabl e au x accès d ’ en trée pou r cou ran t ti n u seu l em en t l orsq u e ceu x-ci son t d esti n és être n ectés en perm an en ce d es câbl es don t l a l on g u eu r est su péri eu re m Dan s l e cas de ten si on s d 'al i m en tati on pou r l esq u el l es au cu n éq u i pem en t d 'essai n 'est di spon i bl e su r l e m arch é (par exem pl e, réseau x d e cou pl ag e/d écou pl ag e) , cet essai n 'est pas exi g é Les éq u i pem en ts m u n i s d 'u n accès d 'en trée pou r cou ran t ti n u d esti n és être u ti l i sés avec u n ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t ti n u d oi ven t être sou m i s l 'essai su r l 'en trée en cou ran t al tern ati f d e l 'ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t ti n u spéci fi é par l e fabri can t ou , l orsq u 'au cu n ad aptateu r n 'est spéci fi é, l 'essai d oi t être effectu é su r l 'accès par l es born es d e pu i ssan ce en cou ran t ti n u form ém en t au x n i veau x d 'essai d e ce tabl eau Appl i cabl e seu l em en t au x accès n ectés d es câbl es d on t l a l on g u eu r total e, sel on l es spéci fi cati on s fon cti on n el l es d on n ées par l e fabri can t, peu t d épasser m L'essai peu t être réal i sé u n e seu l e ou au x d eu x fréq u en ces d e répéti ti on I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on d e kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e 00 kH z est pl u s proch e d e l a réal i té – 32 – Fréq u en ce radi oél ectri q u e en m od e com m u n Normes de base Phénomènes d’ en vironnem ent 4 Spécificati ons d’ essai Fréq u en ce rad i oél ectri q u e en m od e com m u n 0, 80 MHz 10 V 80 % M A (1 kH z) Creu x d e ten si on ten si on rési du el l e % 4 a b c d e f Cou pu res d e ten si on cycl e 40 70 ten si on rési du el l e % 0/1 50 H z /60 H z 25/30 50 H z /60 H z cycl e ten si on rési du el l e % 250/300 50 H z/60 H z Normes de base Remarques Critère d’ apti tude I E C 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r effi cace d e l a porteu se avan t m odu l ati on a A I EC 61 000-4-1 I EC 61 000-4-34 La réd u cti on d e tensi on est effectu ée au x passag es zéro B c C c C c b, e cycl e I EC 61 000-4-1 I EC 61 000-4-34 La réd u cti on d e ten si on est effectu ée au x passag es zéro I EC 61 000-4-5 Voi r Arti cl e 5, al i n éa d e l a présen te n orm e d B I EC 61 000-4-4 f B On d es de ch oc , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s ph ase-terre ±2 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) en tre ph ases ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) Tran si toi res rapi d es ±2 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t ou vert) 5/50 tr / tw n s ou 00 Fréq u en ce d e répéti ti on kH z b, e Le n i veau d’ essai peu t ég al em en t être d éfi n i com m e étan t l e cou ran t éq u i val en t d an s u n e ch arg e d e 50 Ω Appl i cabl e u n i q u em en t au x accès d 'en trée Pou r l es verti sseu rs él ectron i q u es de pu i ssan ce, l e fon cti on n em en t d es d i sposi ti fs de protecti on (par exem pl e, protecti on m i n i m u m d e ten si on ) et l e cri tère d’ apti tu d e C son t ad m i s Dan s l e cas des ten si on s d 'al i m en tati on pou r l esq u el l es au cu n éq u i pem en t d 'essai n 'est di spon i bl e su r l e m arch é (par exem pl e, réseau x d e cou pl ag e/décou pl ag e) , cet essai n 'est pas exi g é L’ essai d oi t être effectu é d es fréq u en ces correspon d an t l a fréq u en ce de l ’ al i m en tati on I l est n écessai re q u e l es éq u i pem en ts d esti n és être u ti l i sés dan s des zon es où seu l e u n e d e ces fréq u en ces est appl i q u ée soi en t sou m i s l 'essai u n i q u em en t cette fréqu en ce spéci fi q u e L'essai peu t être réal i sé u n e seu l e ou au x d eu x fréq u en ces d e répéti ti on I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on d e kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e 00 kH z est pl u s proch e d e l a réal i té – 33 – 4 Unités I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 Tableau – Exigences d'immunité – Accès par les bornes de puissance d'entrée et de sortie en courant alternatif – 34 – I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 Annexe A (informative) Guide l’intention des comités de produits Con formémen t au Gu ide 07 de l ’I EC, les norm es g én ériqu es su r l'immu n ité spécifien t un ensemble d'exig ences, de procédu res d'essai et de critères d’aptitu de g én éral isés appl icables au x produ i ts ou systèmes destinés être u til isés sur des sites présen tan t un environ nemen t électrom ag nétique propre La partie n orm ative du présen t docu men t défin it u n ensemble mi nimu m d'exig ences d'imm un i té pou r les équ ipem en ts u ti li sés su r certains si tes dans des en vi ron nemen ts i ndustriels Tou tefois, des phénom ènes électrom ag nétiqu es susceptibles de se produ ire ou d’au g men ter l'aven ir peu ven t être pertinents pou r des produ its, fam il les de produ its ou cas d'i nterférence spécifiqu es I l vient qu e les com i tés su r la compati bili té électromag nétiqu e (CEM) fou rn issen t des conseils au x comités de produ i ts et les aiden t défin ir les n i veau x d'im mu nité correspondants L'Ann exe A a pou r objet d'i ndiqu er les essais su sceptibles d’être u tiles pour des situ ations fu tu res ou pou r certains produ i ts ou fam il les de produi ts I l est deman dé au x com i tés de produ its de tenir compte des essais et des n i veaux d'essai don nés dans le Tabl eau A Dans la mesu re où ces essais n e sont pas form el lemen t ci tés en référence dans l a présente norme, ils ne son t pas nécessai res pou r démontrer la conform i té la présente norm e I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 – 35 – Tableau A.1 – Essais d'immunité et niveaux d'essai prendre en compte pour l'avenir ou pour des familles de produits particulières Phénomène électromag nétique On d e si n u soïdal e am orti e H arm on i q u es/ i n terharm on i q u es/ si g n al i sati on Pertu rbati on s d ui tes en m od e com m u n en d essou s d e 50 kH z On d e osci l l atoi re am orti e Pertu rbati on s d ui tes en m od e d i fféren ti el en d essou s d e 50 kH z Creu x d e ten si on , cou pu res brèves et vari ati on s d e ten si on su r l es accès de pu i ssan ce en cou ran t ti n u Pertu rbati on s l arg e ban d e a Norme de base Ni veaux d'essai conformément la norme de base I EC 61 000-4-1 I EC 61 000-4-1 I EC 61 000-4-1 I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts su scepti bl es d 'être exposés d es tran si toi res osci l l atoi res, i n d u i ts d an s d es câbl es basse ten si on en rai son d e l a com m u tati on des réseau x él ectri q u es, d es ch arg es réacti ves, d es d éfau ts et d e ru ptu re d 'i sol em en t des ci rcu i ts d 'al i m en tati on ou d e l a fou d re I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts présen tan t d es com m an d es d e ph ase ou d 'au tres tech n i q u es de d étecti on de passag e zéro I EC 61 000-4-1 I EC 61 000-4-1 Remarques I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts su scepti bl es d 'être exposés d es pertu rbati on s (par exem pl e, en cas de l on g câbl ag e) , h abi tu el l em en t g én érées par • l e systèm e d e d i stri bu ti on d 'al i m en tati on , avec sa fréq u en ce fon d am en tal e et ses h arm on i qu es et i n terh arm on i q u es i m portan ts; • l es éq u i pem en ts d’ él ectron i q u e d e pu i ssan ce (par exem pl e, verti sseu rs d e pu i ssan ce) , q u i peu ven t g én érer d es pertu rbati on s d an s l es d u cteu rs de terre et l es i n stal l ati on s d e m i se l a terre (à travers u n e capaci té parasi te ou d es fi l tres) , ou d an s l es l i g n es d e si g n al et d e com m an d e par i n d u cti on I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts présen ts d an s l es i n stal l ati on s i n d u stri el l es et exposés d es tran si toi res osci l l atoi res répéti ti fs g én érés par d es tran si toi res d e com m u tati on et par l 'i n j ecti on d e cou ran ts i m pu l si fs d an s l es réseau x él ectri q u es (réseau x et éq u i pem en ts él ectri q u es) I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts sen si bl es au x pertu rbati on s d e l 'al i m en tati on en cou ran t al tern ati f d an s l a pl ag e d e fréq u en ces d e kH z 50 kH z, g én érées par exem pl e par d es systèm es d e com m u n i cati on par cou ran ts porteu rs en l i g n e (CPL) ou d es éq u i pem en ts d ’ él ectron i q u e d e pu i ssan ce I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts sen si bl es ces ph én om èn es I EC 61 000-4-29 I EC 61 000-4-31 a Cette n orm e d e base est en cou rs d’ él aborati on I l vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es éq u i pem en ts sen si bl es au x pertu rbati on s d e l 'al i m en tati on en cou ran t al tern ati f d an s l a pl ag e d e fréq u en ces su péri eu res 50 kH z, g én érées par exem pl e par d es systèm es d e com m u n i cati on l arg e ban d e fon cti on n an t su r secteu r – 36 – I EC 61 000-6-2:201 © I EC 201 Bibliographie Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 1-6: General – Guide to the assessment of measurement uncertainty (dispon ible en ang lais seu lemen t) I EC TR 61 000-1 -6, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie Environnement – Description et classification des environnements électromagnétiques I EC TR 61 000-2-5:201 , 2-5: I EC 61 000-4-1 , Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-1: Techniques d’essai et de mesure – Vue d’ensemble de la série CEI 61000-4 I EC 61 000-4-1 2, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-12: Techniques d'essai et de mesure – Essai d'immunité l’onde sinusoïdale amortie I EC 61 000-4-1 3, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-13: Techniques d’essai et de mesure – Essais d’immunité basse fréquence aux harmoniques et inter-harmoniques incluant les signaux transmis sur le réseau électrique alternatif I EC 61 000-4-1 6, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-16: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux perturbations conduites en mode commun dans la gamme de fréquences de Hz 150 kHz I EC 61 000-4-1 8, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-18: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité l’onde oscillatoire amortie I EC 61 000-4-1 9, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-19: Techniques d’essai et de mesure – Essai pour l'immunité aux perturbations conduites en mode différentiel et la signalisation dans la gamme de fréquences de kHz 150 kHz, aux accès de puissance courant alternatif I EC 61 000-4-29, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-29: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension sur les accès d'alimentation en courant continu Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-31: Techniques d'essai et de mesure – Essai d'immunité aux perturbations conduites large bande sur les accès d'alimentation secteur en courant alternatif I EC 61 000-4-31 , CI SPR 1 :2009, Appareils industriels, scientifiques et médicaux – Caractéristiques de perturbations radioélectriques – Limites et méthodes de mesure Compatibilité électromagnétique – Guide pour la rédaction des publications sur la compatibilité électromagnétique Gui de 07 de l'I EC, _ _ A l 'étu d e I N TE RN ATI O N AL E LE C TR OTE C H N I C AL CO M M I S SI O N , ru e d e Vare m bé PO Box 31 CH -1 21 G e n e va S wi tze rl an d Te l : + 41 Fax: + 22 9 1 22 9 0 i n fo @ i e c ch www i e c ch