Phổ nhiễu xạ tia X là một kỹ thuật phổ biến để nghiên cứu cấu trúc tinh thể và khoảng cách giữa các nguyên tử.
Nhiễu xạ tia X dựa trên sự giao thoa của các tia đơn sắc trong vùng tia X và mẫu tinh thể phân tích. Sự tƣơng tác của tia tới với mẫu tạo ra tia phản xạ và tia nhiễu xạ.
Để tính khoảng cách (d) giữa các lớp hydrotalcite ta dùng phƣơng trình định luật Vulf-Bragg:
λ = 2dsinθ trong đó: λ là chiều dài bƣớc sóng của chùm tia X
d là khoảng cách giữa các mặt phản xạ
θ là góc giữa chùm tia phản xạ và mặt phản xạ.
Định luật này thể hiện quan hệ giữa bƣớc sóng của bức xạ điện từ với góc nhiễu xạ và khoảng cách trong một mẫu tinh thể. Những nhiễu xạ tia X sau đó đƣợc phát hiện, xử lý và tính toán. Bằng cách quét các mẫu thông qua một loạt các góc 2θ khác nhau, tất cả các hƣớng nhiễu xạ có thể có của mạng tinh thể cần phải đạt đƣợc do sự định hƣớng ngẫu nhiên của vật liệu dạng bột. Sự chuyển đổi các đỉnh nhiễu xạ đến các khoảng cách d
Luận văn Thạc sĩ Nguyễn Thị Thu Trang
cho phép xác định các khoáng chất hoặc các chất vô cơ vì chúng có một bộ duy nhất các khoảng cách d xác định. Thông thƣờng, đạt đƣợc bằng cách so sánh các khoảng cách d với các mẫu tham khảo tiêu chuẩn. Một yếu tố chủ chốt của tất cả các nhiễu xạ là góc giữa các tia tới và các tia nhiễu xạ.
Phổ nhiễu xạ tia X đƣợc đo trên máy SIEMEN D5000 của hãng Brucker – Đức với detector bằng đồng, bƣớc sóng = 1,5416 Å tại Viện Khoa học Vật liệu.