Phân tích hình thái bề mặt và kích thước qua ảnh TEM

Một phần của tài liệu Tổng hợp hạt nano từ Fe3O4@SiO2@Au cấu trúc lõi vỏ để ứng dụng trong y sinh học (Trang 54)

Các kết quả trên sẽ được kiểm chứng lần nửa bởi ảnh TEM.

(a) (b)

Hình 3.4: Ảnh TEM của mẫu bột F2.

Mẫu F2 được sấy khô và nghiền thành bột và sau hơn 1 tháng đem

của mẫu F2 ở hình 3.4 (a) cũng như ở thang đo nhỏ ở hình 3.4 (b) ta thấy rằng mẫu F2

ta thấy rằng các hạt trần Fe3O4 bị kết tụ dẫn đến khó nhìn thấy dạng cầu của hạt. Hiện

tượng kết tụ có thể được giải thích là do quá trình sấy làm bay hơi hết nước khiến các hạt kết tụ lại với nhau, và quá trình nghiền cũng như rung siêu âm khi phân tán lại trong chất lỏng vẫn không đủ để tách chúng ra. Mặc khác, cũng có thể do mẫu đã để quá lâu, chất lượng mẫu không còn tốt nữa. Chính vì vậy, chúng tôi đã tạo lại mẫu với cùng thông số như F2, và lần này, mẫu tạo thành được rửa hơn 10 lần bằng nước khử ion sau đó phân tán lại trong ethanol để bảo quản. Mẫu F2_L được gửi đi chụp TEM

sau vài ngày – kết quả ảnh TEM trên hình 3.5.

(a) (b)

Hình 3.5: Ảnh TEM của mẫu hạt trần F2_L.

Quan sát tổng quan hình 3.5 (a), ta thấy mẫu ít bị kết tụ và hạt đa số

có dạng cầu tương đối đồng đều. Kích thước hạt trung bình vào khoảng 10nm.

Đối với mẫu FS, ảnh TEM thể hiện trên hình 3.6. Quan sát ảnh TEM

ta thấy rất rõ cấu trúc lõi@vỏ của hạt Fe3O4@SiO2 cho thấy quá trình phủ SiO2 rất thành công. Hạt có dạng hình cầu với kích thước hạt trung bình khoảng 20 nm và tương đối đồng đều.

Hình 3.6: Ảnh TEM của hạt nano từ Fe3O4@SiO2(mẫu FS)

Một phần của tài liệu Tổng hợp hạt nano từ Fe3O4@SiO2@Au cấu trúc lõi vỏ để ứng dụng trong y sinh học (Trang 54)