Những thay đổi cận lâm sàng:

Một phần của tài liệu nghiên cứu các biểu hiện của mắt cận thị cao trên lâm sàng, cận lâm sàngsiêu âm, điện võng mạc và chụp cắt lớp võng mạc (Trang 27 - 29)

Trong nghiên cứu cho thấy có 81,73% số mắt có thay đổi điện võng mạc tổng thể, chỉ có 18,27% số mắt có điện võng mạc bình thường, điều đó chứng tỏ tổn hại của cấu trúc võng mạc khá nhiều, điều này sẽ ảnh hưởng đến kết quả sau mổ của bệnh nhân. Theo Zayle, chức năng điện võng mạc của tế bào nón tổn thương trước, về sau khi chức năng thị giác bị giảm sút thì điện võng mạc của cả hai tế bào nón và que đều bị ảnh hưởng. KÕt quả đo điện võng mạc này có thể giải thích tai sao kết quả sau mổ trong nghiên cứu của chúng tôi không được cao như một số báo cáo của các tác giả khác. Một số tác giả cho rằng giảm sóng B có liên quan đến mức độ cận thị. Chan HL khảo sát điện võng mạc nhiều điểm võng mạc cận thị cao thấy điện thế và hình dạng điện võng mạc ở vùng trung tâm (hậu cực) thay đổi trước, còn vùng ngoại vi bị tổn thương sau. So sánh với các tác giả nước ngoài, tỷ lệ tổn hại trên điện võng mạc trong nghiên cứu của chúng tôi cao hơn, mức độ nặng nề hơn.

4.2.2.2. Những lưu ý khám siêu âm mắt cận thị nặng

Do quá trình giãn lồi vùng hậu cực nhãn cầu trong mắt cận thị nặng mà trục nhãn cầu có thể kéo dài tới 50%, sự giãn lồi phần sau của nhãn cầu có thể không đều hai mắt gây ra mất đối xứng, nếu quá trình này xảy ra sớm sẽ gây nhược thị. Do giãn lồi quá mức vùng hậu cực làm sai lệch vị trí hoàng điểm gây khó khăn trong quá trình đo trục nhãn cầu bằng siêu âm A, các chùm tia siêu âm thường khó tập trung đến được hoàng điểm, phản hồi siêu âm không trở về đầu dò do đó không đo được trục nhãn cầu. Một hiện tượng sai số khác có thể xảy ra, khi chùm tia siêu âm đến bờ của vùng giãn lồi đã phản hồi âm trở lại đầu dò do đó làm sai lệch kết quả. Để tránh hiện tượng sai số này có thể kết hợp cả siêu âm A và B , khi kết quả của cả 2 loại chênh lệch > 1mm chóng ta phải làm lại lần nữa. Trong nghiên cứu của Pucci (2001) cho thấy kết quả khúc xạ sau mổ khá cao do sai sè khi đo siêu âm là 4%. Kể từ năm 1999, khi hãng Zeiss đưa ra thị trường máy đo công suất TTT (IOL Master) để đo trục nhãn cầu và tính công suất IOL với độ chính xác cao Ýt sai số, kết quả khúc xạ sau mổ cải thiện đáng kể. Vì vậy kết hợp hai loại siêu âm là rất cần thiết trên mắt cận thị cao thoái hóa nhiều võng mạc hậu cực.

4.2.2.3. OCT khảo sát võng mạc hậu cực:

Võng mạc hậu cực quan sát trên OCT rất chi tiét, chúng ta có thể xem xét rõ ràng các lớp của võng mạc vùng hoàng điểm, gai thị và võng mạc quanh gai thị hoàng điểm.

Có 51 mắt có ảnh hưởng võng mạc hậu cực biểu hiện giảm chiều dày võng mạc(49%), 24 mắt không thể đo được tín hiệu OCT do võng mạc giãn mỏng quá nhiều và do vùng hậu cực lồi lõm không đều nên không phản hồi được tín hiệu OCT. Chỉ có 29 mắt OCT bình thường, chiếm 27,9%. Nh vậy tỷ lệ mắt tổn hại võng mạc trên OCT khá cao 72,1%, ngoài dấu hiệu võng mạc giãn mỏng, chúng tôi cũng gặp các tổn thương phối hợp kèm theo nh là mất hố trung tâm hoàng điểm, giảm lớp sợi thần kinh quanh gai thị…

Một phần của tài liệu nghiên cứu các biểu hiện của mắt cận thị cao trên lâm sàng, cận lâm sàngsiêu âm, điện võng mạc và chụp cắt lớp võng mạc (Trang 27 - 29)