2.4.1 .Khảo sát thời gian cân bằng hấp phụ của vật liệu
2.6. Các phƣơng pháp nghiên cứu
2.6.2. Phƣơng pháp hiển vi điện tử quét (SEM)
Nhờ khả năng phóng đại và tạo ảnh mẫu rất rõ nét và chi tiết, kính hiển vi điện tử quét (SEM) đƣợc ứng dụng để nghiên cứu hình thái của vật liệu, cho phép xác định kích thƣớc và hình dạng vật liệu.
Phƣơng pháp SEM có thể thu đƣợc những ảnh có chất lƣợng ba chiều cao, có sự rõ nét hơn và khơng địi hỏi sự phức tạp trong khâu chuẩn bị mẫu. Tuy nhiên phƣơng pháp này lại cho hình ảnh với độ phóng đại nhỏ hơn so với TEM. Phƣơng pháp SEM đặc biệt hữu dụng bởi vì nó cho độ phóng đại có thể thay đổi từ 10 đến 100 000 lần với hình ảnh rõ nét, hiển thị 3 chiều phù hợp cho việc phân tích hình dạng và phân tích cấu trúc. Chùm electron từ ống phóng đƣợc đi qua một vật kính và đƣợc tập trung thành một dịng hẹp. Vật kính chứa một số cuộn dây (cuộn lái electron) đƣợc cung cấp với điện thế không đổi, cuộn dây tạo nên một điện từ
trƣờng tác động lên chùm electron, từ đó chùm electron sẽ quét lên bề mặt mẫu tạo thành một vạch quét. Tín hiệu của cuộn lái cũng đƣợc chuyển đến ống catot để điều khiển quá trình quét ảnh trên màn hình đồng bộ với quá trình quét electron trên bề mặt mẫu. Khi chùm electron đập vào bề mặt mẫu tạo nên một tập hợp các hạt thứ cấp đi tới catot, tại đây nó đƣợc chuyển thành tín hiệu và đƣợc khuếch đại. Tín hiệu đƣợc gửi tới ống tia catot và đƣợc quét lên màn hình tạo nên ảnh. Độ nét của ảnh đƣợc xác định bởi số hạt thứ cấp vào ống tia catot, số hạt này lại phụ thuộc vào góc bắn ra của electron khỏi bề mặt mẫu, tức là phụ thuộc vào mức độ lồi lõm của bề mặt. Vì thế ảnh thu đƣợc sẽ phản ánh diện mạo của bề mặt vật liệu.
Ảnh hiển vi điện tử quét (SEM) của các mẫu vật liệu đƣợc chụp trên thiết bị JED-2300-Analysis station, JEOL, tại Khoa Vật lý, Trƣờng Đại học Khoa học Tự nhiên, ĐHQGHN.