Xác định độ lệch chuẩn trong thử nghiệm thành thạo

Một phần của tài liệu Giáo trình xử lý số liệu và quy hoạch thực nghiệm hóa học p3 (Trang 25 - 28)

Độ lệch chuẩn trong đánh giá thử nghiệm thành thạo σpt có thể là một trong 5 trường hợp sau đây:

(1) 𝜎𝑝𝑡 là giá trị độ lệch chuẩn tính theo Horwitz: Khi C < 1.2 10–7, σpt= 0.22C

Khi 1.2 10–7 ≤ C ≤ 0.138, σpt= 0.02C0.8495

(2) 𝜎𝑝𝑡 là giá trị độ lệch chuẩn do Ban tổ chức thử nghiệm thành thạo quyết định và được lựa chọn

Trong trường hợp này, giá trị độ lệch chuẩn σpt cần phải biết thông tin về độ lặp lại và độ tái lặp của phương pháp phân tích.

(3) 𝜎𝑝𝑡 là giá trị độ lệch chuẩn thu được từ các kết quả nghiên cứu của một phương pháp có độ chính xác cao

σpt = √σR2 − σr2(1 − 1 𝑛⁄ ) (3.25)

Trong đó:

σR là độ lệch chuẩn tái lặp giữa các phòng thí nghiệm

σr là độ lệch chuẩn lặp lại trung bình của các phòng thí nghiệm n là số lần lặp của phòng thí nghiệm

(4) 𝜎𝑝𝑡 là giá trị độ lệch chuẩn từ tập hợp kết quả của các PTN tham gia (kỹ thuật phân tích dữ liệu Algorithm A)

Giá trị σpt có thể dễ dàng xác định được từ kết quả của đợt thử nghiệm thành thạo theo các công thức 3.18 – 3.23. Tuy nhiên, do mức độ tương đồng không cao giữa các đợt thử nghiệm thành thạo khác nhau dẫn tới các phòng thí nghiệm sẽ gặp khó khăn trong việc đánh giá xu hướng hoạt động của đơn vị mình khi so sánh giá trị Zscore ở các chương trình PT khác nhau. (5) 𝜎𝑝𝑡 được tính từ giá trị độ lệch chuẩn chung bằng kỹ thuật phân tích dữ liệu lớn Algorithm S

Để khắc phục hạn chế đã nêu trên của việc sử dụng σpt tính theo kỹ thuật phân tích Algorithm A. Giá trị σpt được tính từ độ lệch chuẩn của p đợt thử nghiệm thành thạo theo kỹ thuật phân tích Algorithm S với các bước sau:

Bước 1: Sắp xếp thứ tự từ nhỏ đến lớn các giá trị độ lệch chuẩn thử nghiệm thành thạo của p lần tổ chức khác nhau: w1; w2; w3; … ; wp

Bước 2: Gán giá trị ban đầu w∗cho phép lặp để tìm giá trị σpt, trong đó:

ψ = ηw∗ với η là hệ số giới hạn (3.27)

Bước 3: Thực hiện phép tính lặp để xác định giá trị xpt

Hiệu chỉnh lại các giá trị quá lớn hoặc quá nhỏ của tập theo quy tắc:

wi∗= {ψ nếu 𝑤𝑖 > ψ

𝑤𝑖 các trường hơp còn lại (3.28)

Tính các giá trị mới của w* theo công thức

w∗= ξ√∑p (wi∗)2 i=1

p với ξ là hệ số hiệu chỉnh (3.29)

Giá trị hệ số giới hạn η và hệ số hiệu chỉnh ξ phụ thuộc vào bậc tự do (p–1) và có giá trị như trong bảng 3.4

Thực hiện phép tính lặp theo các công thức từ 3.27–3.29 cho tới khi giá trị của hai lần tính không thay đổi ở chữ số khác 0 thứ 3 sau dấu phẩy. Giá trị w * cuối cùng chính là độ lệch chuẩn thử nghiệm thành thạo σpt. Giá trị này có thể được sử dụng cho các đợt thử nghiệm thành thạo khác nhau.

Bảng 3.4: Giá trị hệ số giới hạn và hệ số hiệu chỉnh khi xác định độ lệch

chuẩn thử nghiệm thành thảo bằng kỹ thuật phân tích dữ liệu Algorithm S

Bậc tự do Hệ số giới hạn (η) Hệ số hiệu chính (ξ) 1 1.645 1.097 2 1.517 1.054 3 1.444 1.039 4 1.395 1.032 5 1.359 1.027 6 1.332 1.024 7 1.31 1.021 8 1.292 1.019 9 1.277 1.018 10 1.264 1.017

Bt đu

Giá trị PT và độ không đảm bảo đo có được ấn định trước không? Kiểm tra phương

pháp, chuẩn bị mẫu

Sử dụng một trong các cách: - Giá trị vật liệu chuẩn - Giá trị chuẩn - Giá trị đối chiếu

không

có Độ lệch chuẩn PT có được xác định

trước không?

Sử dụng độ lệch chuẩn theo một cách: - Giá trị được công nhận

Một phần của tài liệu Giáo trình xử lý số liệu và quy hoạch thực nghiệm hóa học p3 (Trang 25 - 28)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(52 trang)