2.4.3.1. Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)
Sử dụng phương pháp đo kính hiển vi điện tử truyền qua JEM1010 Nhật Bản (TEM) tại Viện vệ sinh dịch tễ trung ương để đánh giá kích thước hạt và sự phân bố của các hạt nano điều chế được.
Phương pháp kính hiển vi điện tử truyền qua TEM sử dụng chùm tia electron năng lượng cao để quan sát các vật thể rất nhỏ. Từ phương pháp TEM có thểxác định hình dạng, kích thước hạt nano.
Phương pháp kính hiển truyền qua (TEM) được sử dụng để xác định chính xác kích thước hạt của vật liệu. Các mẫu nano được đo trên máy JEM1010 (JEOL – Nhật Bản) có hệ số phóng đại M = x50 - x600.000, độ phân giải δ = 3 A0, điện áp gia tốc U = 40 - 100kV.
2.4.3.2. Phương pháp kính hiển vi quét (SEM)
Phương pháp kính hiển vi quét (SEM) được sử dụng để xác định hình thái bề mặt của vật liệu. Các mẫu hạt nano được đo trên máy JSM 5410 - Nhật Bản tại Viện vệ sinh dịch tễ Trung ương.
2.4.3.3. Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD)
Phương pháp nhiễu xạtia X( XRD) được sử dụng đểxác định thành phần phần và kích thước hạt trung bình của các hạt sơ cấp trong sản phẩm điều chế được. Các mẫu nano sắt được do trên máy nhiễu xạ tia XD8 – Advance 5005 tại khoa Hóa, trường Đại học Khoa học Tự nhiên - Đại học Quốc Gia Hà Nội. Điều kiện ghi: Bức xạ K của anot Cu, nhiệt độ ghi phổ ở 25oC, góc 2: 10o – 70o, với tốc độ quét 0.030o/s.
2.4.3.4. Phương pháp phổ UV-Vis
UV-VIS (Ultraviolet–visible spectroscopy) là phương pháp phân tích sử dụng phổ hấp thụ hoặc phản xạ trong phạm vi vùng cực tím cho tới vùng ánh sáng nhìn thấy được.
Phổ UV – VIS được đo trên máy UH5300 UV/Vis tại Phòng Ứng dụng và chuyển giao công nghệ, Viện công nghệ môi trường
Do các thuộc tính quang học của dung dịch chứa hạt nano phụ thuộc vào hình dạng, kích thước và nồng độ của hạt, nên ta có thể sử dụng UV-VIS để xác định các thuộc tính trên.