5. Đối tượng và phạm vi nghiên cứu
2.2.2. Một số phương pháp phi tiêu chuẩn
2.2.2.1. Phương pháp phân tích thành phần hạt: Laser Particle Sizer
Thiết bị phân tích thành phần hạt sự dụng nguồn lazer có bước sóng 750nm để xác định các cỡ hạt có kích thước 0.4 - 2000µm bằng nguyên lý tán xạ ánh sáng.
Các nguồn lazer đi qua kính lọc không gian và thấu kính, sau đó đi qua khoang chứa mẫu. Ở khoảng này các hạt được phân tán lơ lửng trong chất mang. Ánh sáng tới bị tán xạ bởi các hạt, độ tán xạ phụ thuộc vào kích thước các hạt. Hạt có kích thước lớn thì góc tán xạ tù hơn. Detector thu nhận góc tán xạ và chuyển thành tín hiệu điện sau đó được phần mềm tính toán ghi lại và chuyển sang kích thước hạt tương ứng.
2.2.2.2. Phương pháp xác định lượng nước liên kết bằng phân tích nhiệt
Sau những khoảng thời gian hydrat hóa nhất định lấy đá XM – BĐV đi phân tích nhiệt. Sau đó đem một nhóm mẫu đi sấy và một nhóm mẫu đi nung. Mẫu được đem sấy ở nhiệt độ 110oC trong 24 giờ đến khối lượng không đổi, tính lượng mất khi sấy MKS. Một nhóm mẫu được nung tới nhiệt độ 480oC (lưu trong 2 giờ) và xác định lượng mất khi nung MKN. Tính lượng nước liên kết Nlk = MKN – MKS. Thông qua lượng nước liên kết, đánh giá mức độ thủy hóa và / hoặc lượng sản phẩm hydrat hóa.
2.2.2.3. Phương pháp phân tích nhiễu xạ tia X (XRD)
Theo lý thuyết cấu tạo tinh thể thì mạng tinh thể được xây dựng từ các nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một quy luật xác định. Khi chùm tia Rơnghen đi đến bề mặt tinh thể và đi vào bên trong của mạng lưới tinh thể thì mạng lưới này đóng vai trò như một cách tử nhiễu xạ đặc biệt. Các nguyên tử, ion bị kích thích bởi chùm tia Rơnghen sẽ trở thành tâm phát xạ ra các tia phản xạ. Các tia phản xạ sẽ giao thoa với nhau tạo thành các vân giao thoa.Tại các vị trí giao thoa cực đại thì các đại lượng như: bậc phản xạ (n), góc tới của tia Rơnghen (θ), bước sóng của chùm tia Rơnghen (λ) và khoảng cách giữa 2 mặt mạng (d) thỏa mãn phương trình Wulf – Bragg:
48
Như vậy nếu biết được n, θ, λ thì sẽ tính được d theo phương trình sau đây: n D 2sin
Giản đồ nhiễu xạ tia X là giản đồ biểu diễn toàn bộ các giá trị d đo được khi thay đổi góc tới θ. Tiến hành so sánh giữa giá trị d tìm được với d chuẩn sẽ xác định được sự có mặt của chất cần nghiên cứu.
Các mẫu xác định thành phần khoáng theo phương pháp XRD được thí nghiệm tại Trung tâm kiểm định, Viện Vật liệu xây dựng.