trong đó I0 và I lần lượt là cường độ của chùm ánh sáng tới và chùm ánh sáng truyền qua, là hệ số hấp thụ phân tử, c và d lần lượt là nồng độ của mẫu và bề rộng của mẫu.
Hình 2.4: Sơ đồ nguyên lý của một máy đo phổ hấp thụ UV - vis
Các phép đo phổ hấp thụ của các mẫu chế tạo trong luận văn được thực hiện trên thiết bị đo Jasco 670 (Varian) đặt tại trường Đại học Công nghệ - Đại học Quốc gia Hà Nội.
2.2.4. Phổ huỳnh quang
Phổ huỳnh quang được quan sát thấy khi phân tử ở trạng thái kích thích trở về mức năng lượng thấp nhất thông qua các dịch chuyển không bức xạ (về trạng thái trung gian) và sau đó mới phát ra bức xạ khi dịch chuyển từ trạng thái trung gian về trạng thái thấp nhất. Phổ huỳnh quang thường được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc điện tử, phát hiện những sai hỏng và tạp chất, phát hiện dấu hiệu của các giếng thế hoặc rào thế ở mặt phân cách,... Sơ đồ khối của một hệ đo phổ huỳnh quang được trình bày trên hình 2.5. Tín hiệu huỳnh quang phát ra do quá trình hồi phục của điện tử được phân tích qua máy đơn sắc và được thu nhận qua đầu thu, biến đổi thành tín hiệu điện và đưa vào máy tính để vẽ đường cong sự phụ thuộc của cường độ huỳnh quang vào bước sóng phát xạ. Các phép đo phổ huỳnh quang của các mẫu chế tạo trong luận văn được tiến hành trên thiết bị đo phổ MicroSpec 2300i sử dụng laser He- Cd với bước sóng kích thích 325 nm.
Hình 2.5: Sơ đồ nguyên lý của một máy đo phổ huỳnh quang