b. Điều kiện phản ứng chuyển hóa n-hexan trên xúc tác Pt/Al-SBA-16-0
2.2.5. Kính hiển vi điện tử truyền qua (Transmission Electron Microscopy TEM)
TEM)
Kính hiển vi điện tử truyền qua (Transmission Electron Microscopy, viết tắt:
TEM) là một thiết bị nghiên cứu vi cấu trúc vật rắn, sử dụng chùm điện tử có năng
lượng cao chiếu xuyên qua mẫu vật rắn mỏng và sử dụng các thấu kính từ để tạo ảnh với độ phóng đại lớn (có thể tới hàng triệu lần), ảnh có thể tạo ra trên màn huỳnh quang, trên phim quang học, hay ghi nhận bằng các máy chụp kỹ thuật số.
TEM là một công nghệ ở đó dòng electron được tập trung trên mẫu để tạo ra
một hình ảnh rất nhỏ của cấu trúc. Đối lập với vi điện tử quang cổ điển, chùm
electron tương tác hầu hết bằng sự nhiễu xạ hoặc khuếch tán hơn là hấp thụ, mặc dù
cường độ của dòng truyền qua vẫnảnh hưởng bởi thể tích và mật độ của vật liệu mà
nó đi qua. Cường độ nhiễu xạ phụ thuộc vào hướng mặt phẳng của nguyên tử trong
tinh thể tương quan với chùm electron. Ở góc vuông chùm electron được nhiễu xạ
mạnh, đưa electron ra khỏi trục của chùm đến, trong khi các góc khác chùm
electron nhiễu xạ rộng. Trong trường hợp SBA-16 với cấu trúc Im3m lập phương
tâm khối các hướng nhiễu xạ là (100), (110), (111).
Từ ảnh TEM có thể xác định được sự có mặt, vị trí và hình dạng của các mao
quản của vật liệu MQTB. Độ phân giải của kính hiển vi điển tử chỉ bị hạn chế bởi bước sóng của electron, điều có thể dễ dàng thay đổi bằng cách điều chỉnh trường tăng tốc. Hiện tại HRTEM cho phép phân biệt ở thang nguyên tử (0.1 nm) [65].
Thực nghiệm:
Ảnh TEM được chụp tại Phòng kính hiển vi điện tử, Viện Vệ sinh dịch tễ trung ương, Yecxanh, Hà Nội.