Hiệu chỉnh Profile cho buồng quang học thứ hai

Một phần của tài liệu Nghiên cứu nâng cao khả năng phân tích gang hợp kim cao cr trên máy phân tích phổ metal-lab 75-80j của italy (Trang 36 - 38)

II. Hiệu chuẩn thiết bị

1. Hiệu chuẩn Profile

1.3. Hiệu chỉnh Profile cho buồng quang học thứ hai

- Chuẩn bị mẫu theo mục (1.1). - Đặt mẫu lên đế phóng.

- Vào phần mềm Metal LAB

- Vào mục “Profile

Hình 16: Cửa sổ hiệu chuẩn Profile cho buồng quang học thứ hai

+ Chọn buồng quang học thứ hai ở mục “Optic” bằng cách đánh dấu vào ô số 2.

+ Chọn kênh phân tích ở mục “Channel”, th−ờng chọn kênh “Fe # 2739”. + Bấm vào biểu t−ợng “Start” để bắt đầu.

+ Một vài giây sau kim chỉ thị sẽ bắt đầu di chuyển t−ơng ứng với chỉ số c−ờng độ tia sáng ở d−ới.

+ Đợi cho đến khi c−ờng độ không tăng nữa ta bấm vào biểu t−ợng “Auto” để điều chỉnh độ phóng đại. Nếu độ phóng đại lớn quá sẽ xuất hiện lời cảnh báo “Out limit”, ta phải bấm vào biểu t−ợng “Auto” để giảm độ phóng đại.

+ Mở khoá núm xoay để điều chỉnh khe ánh sáng bằng cách gạt lẫy từ phải sang trái.

Khoá núm

Hình 17: Núm điều chỉnh vị trí khe sáng vào buồng quang học thứ hai + Xoay núm ng−ợc chiều kim đồng hồ cho đến khi kim chỉ thị giảm nhỏ hơn 2/3 giá trị ban đầu.

+ Xoay núm theo chiều kim đồng hồ cho đến khi kim chỉ thị chỉ đúng giữa, đọc giá trị ghi trên núm xoay và nhập vào ô số 1 trong mục “Reference number”.

+ Tiếp tục xoay núm theo chiều kim đồng hồ lúc đó kim chỉ thị sẽ tiếp tục tăng đến giá trị cực đại rồi giảm dần, đợi cho đến khi kim chỉ thị giảm đến vị trí chính giữa ta đọc giá trị ghi trên núm xoay và nhập vào ô số 2 trong mục “Reference number”.

+ Bấm vào biểu t−ợng “Stop” để kết thúc quá trình phóng. + Đọc giá trị ở mục “Average” và đặt giá trị này cho núm xoay. + Khoá núm xoay bằng cách gạt lẫy từ trái sang phải.

Chú ý:

Thời gian phóng điện liên tục trong quá trình hiệu chuẩn cho một buồng quang học không đ−ợc v−ợt quá 45 giây để tránh làm hỏng mạch điện. Nếu trong 45 giây mà ch−a hiệu chuẩn xong thì phải dừng việc hiệu chuẩn lại và tiến hành hiệu chuẩn lại từ đầu cho buồng quang học đó.

Sau mỗi lần phóng điện phải làm sạch điện cực và mẫu tr−ớc khi phóng lần tiếp theo.

Một phần của tài liệu Nghiên cứu nâng cao khả năng phân tích gang hợp kim cao cr trên máy phân tích phổ metal-lab 75-80j của italy (Trang 36 - 38)

Tải bản đầy đủ (PDF)

(46 trang)