C 6H12O6 2 2H5O H+ 2O Q
NHỮNG NGHIÊN CỨU THỰC NGHIỆM 2.1 NGUYÊN LIỆU
2.4.4. Phương pháp nhiễu xạ ti a
Phương pháp XRD được dùng để nghiên cứu cấu trúc tinh thể của vật liệu, có thế xác định nhanh, chính xác các pha tinh thể, định lượng pha tinh thể và kích thước hạt với độ tin cậy cao.
Nguyên lý của phương pháp là xác định cấu trúc tinh thể dựa vào hình ảnh khác nhau của kích thước tinh thể lên phổ nhiễu xạ. Mạng tinh thể nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một trật tự nhất định. Khoảng cách giữa các nút mạng vào khoảng vài ăngstron (A°) xấp xỉ với bước sóng của tia Rơnghen.
Một chùm electron đã được gia tốc, có năng lượng cao, đang chuyến động nhanh, bị hãm đột ngột bằng một vật cản, một phần năng lượng của chúng chuyến thành bức xạ sóng điện từ (tia X) gọi là bức xạ hãm.
Khi một chùm tia X có bước sóng X và cường độ I đi qua vật liệu, nếu tia tới thay đổi phương truyền và thay đổi năng lượng gọi là tán xạ không đàn hồi. Khi tia tới thay đối phương truyền nhưng không thay đối năng lượng gọi là tán xạ đàn hồi. Trường hợp vật liệu đang nghiên cứu có cấu trúc tinh thể thì hiện tượng tán xạ đàn hồi của tia X sẽ đưa đến hiện tượng nhiễu xạ tia X. Hiện tượng này chỉ xảy ra với ba điều kiện: vật liệu có cấu trúc tinh thể; có tán xạ đàn hồi; bước sóng của tia X (tia tới) có giá trị cùng bậc với khoảng cách giữa các nguyên tử trong mạng tinh thể.
Trong nghiên cứu này, phương pháp XRD được sử dụng để xác định độ kết tinh của cellulose. Mẫu được chụp XRD tại Viện Khoa học- Vật liệu, 18 Hoàng Quốc Việt, Quận Cầu Giấy, Hà Nội.