CHẤT DẺO - XÁC ĐỊNH SỰ PHƠI NHIỄM BỨC XẠ TRONG PHÉP THỬ PHONG HÓA BẰNG THIẾT BỊ - HƯỚNG DẪN CHUNG VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ CƠ BẢN

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 9852:2013 ISO 9370:2009 CHẤT DẺO - XÁC ĐỊNH SỰ PHƠI NHIỄM BỨC XẠ TRONG PHÉP THỬ PHONG HÓA BẰNG THIẾT BỊ - HƯỚNG DẪN CHUNG VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ CƠ BẢN Plastics - Instrumental determination of radiant exposure in weathering tests - General guidance and basic test method Lời nói đầu TCVN 9852:2013 hồn tồn tương đương với ISO 9370:2009 TCVN 9852:2013 Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC61 Chất dẻo biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ công bố Lời giới thiệu Xác định chu kỳ phong hóa tự nhiên, phong hóa tự nhiên tăng tốc, phong hóa tăng tốc nhân tạo phơi nhiễm xạ tăng tốc nhân tạo liên quan đến thời gian, bỏ qua ảnh hưởng biến đổi xạ phổ nguồn sáng ảnh hưởng ẩm và/hoặc khác biệt nhiệt độ thử nghiệm phơi nhiễm khác Xác định thời kỳ phơi nhiễm phong hóa tự nhiên dạng tổng phơi nhiễm xạ mặt trời hữu ích việc so sánh kết phơi nhiễm tiến hành thời điểm khác nhau, địa điểm Tuy nhiên, quan trọng để kiểm soát phơi nhiễm xạ tia tử ngoại mặt trời phơi nhiễm phong hóa tự nhiên phơi nhiễm xạ tia tử ngoại phơi nhiễm xạ tăng tốc nhân tạo phong hóa tăng tốc nhân tạo Có hai phương thức tiếp cận để đo xạ tia tử ngoại sử dụng rộng rãi Phương pháp thứ sử dụng chuẩn vật lý, nghĩa phơi nhiễm mẫu chuẩn có thay đổi tính chất tỷ lệ với liều lượng xạ UV tới Phương pháp ưu tiên sử dụng thiết bị đo xạ để đo tia tử ngoại Tiêu chuẩn đề cập đến phương pháp tiếp cận Tiêu chuẩn giới thiệu đặc tính quan trọng thiết bị sử dụng hướng dẫn việc lựa chọn sử dụng thiết bị đo xạ CHẤT DẺO - XÁC ĐỊNH SỰ PHƠI NHIỄM BỨC XẠ TRONG PHÉP THỬ PHONG HÓA BẰNG THIẾT BỊ - HƯỚNG DẪN CHUNG VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ CƠ BẢN Plastics - Instrumental determination of radiant exposure in weathering tests - General guidance and basic test method Phạm vi áp dụng 1.1 Tiêu chuẩn quy định phương pháp xác định thiết bị xạ bề mặt phẳng Tiêu chuẩn bao gồm không xạ mặt trời tự nhiên mà xạ mặt trời tự nhiên tăng cường xạ tạo thành nguồn sáng thử nghiệm 1.2 Về việc đo xạ mặt trời phong hóa tự nhiên phong hóa tự nhiên tăng tốc, kỹ thuật đo thiết bị bao gồm đo liên tiếp tổng xạ (tia tử ngoại) phổ mặt trời tia tử ngoại mặt trời, mặt trời tích lũy tích hợp liệu tức thời nhằm cung cấp phơi nhiễm xạ 1.3 Đối với việc đo xạ phơi nhiễm xạ tăng tốc nhân tạo phong hóa tăng tốc nhân tạo, kỹ thuật sử dụng thiết bị bao gồm đo liên tiếp tổng dải bước sóng xác định xạ tia tử ngoại, xạ phổ nhìn thấy và/hoặc xạ phổ tia tử ngoại tích lũy tích hợp liệu tức thời nhằm cung cấp phơi nhiễm xạ 1.4 Tiêu chuẩn khơng quy định quy trình sử dụng chuẩn len-xanh (blue-wool), thiết bị đo quang hóa học định lượng màng polyme màng khác Tài liệu viện dẫn Các tài liệu viện dẫn sau cần thiết áp dụng tiêu chuẩn Đối với tài liệu viện dẫn ghi năm cơng bố áp dụng nêu Đối với tài liệu viện dẫn khơng ghi năm cơng bố áp dụng phiên nhất, bao gồm sửa đổi, bổ sung (nếu có) TCVN 9849-3 (ISO 877-3), Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm với xạ mặt trời - Phần 3: Sự phong hóa tăng cường xạ mặt trời tập trung ISO 9059, Solar energy - Calibration of field pyrheliometers by comparison to a reference pyrheliometer (Năng lượng mặt trời - Hiệu chuẩn trực xạ kế trường cách so sánh với trực xạ kế chuẩn) ISO 9060, Solar energy - Specification and classification of instruments for measuring hemispherical solar and direct solar radiation (Năng lượng mặt trời - Yêu cầu kỹ thuật phân loại thiết bị đo trực xạ mặt trời mặt trời bán cầu) ISO 9846, Solar energy - Calibration of a pyranometer using a pyrheliometer (Năng lượng mặt trời Hiệu chuẩn nhật xạ kế sử dụng trực xạ kế) ISO 9847, Solar energy - Calibration of field pyranometers by comparison to a reference pyranometer (Năng lượng mặt trời - Hiệu chuẩn nhật xạ kế trường cách so sánh với nhật xạ kế chuẩn) ASTM G 90, Standard Practice for Performing Accelerated Outdoor Weathering of Nonmetallic Materials Using Concentrated Natural Sunlight (Quy trình kỹ thuật tiêu chuẩn thực phong hóa ngồi trời tăng tốc vật liệu phi kim loại sử dụng ánh sáng mặt trời tự nhiên tập trung) ASTM G 130, Standard Test Method for Calibration of Narrow- and Broad-Band Ultraviolet Radiometers Using a Spectroradiometer (Phương pháp thử tiêu chuẩn việc hiệu chuẩn thiết bị đo xạ tia tử ngoại dải hẹp rộng sử dụng kính quang phổ) ASTM G 138, Standard Test Method for Calibration of a Spectroradiometer Using a Standard Source of Irradiance (Phương pháp thử tiêu chuẩn việc hiệu chuẩn kính quang phổ sử dụng nguồn chiếu xạ tiêu chuẩn) ASTM G 183, Standard Practice for Field Use of Pyranometers, Pyrheliometers and UV Radiometers (Quy trình kỹ thuật tiêu chuẩn việc sử dụng trường phạm vi nhật xạ kế, trực xạ kế thiết bị đo tia tử ngoại) Guide to meteorological instruments and methods of observation, WMO Publication No.8, World Meteorological Organization, Geneva (Hướng dẫn thiết bị khí tượng phương pháp quan trắc, Ấn phẩm WMO số 8, Tổ chức khí tượng giới, Geneva) Thuật ngữ, định nghĩa Trong tiêu chuẩn áp dụng thuật ngữ định nghĩa sau: 3.1 Phong hóa tăng tốc nhân tạo (artificial accelerated weathering) Phơi nhiễm vật liệu thiết bị phong hóa phịng thử nghiệm đến điều kiện theo chu kỳ tuần hồn tăng cường so với điều kiện gặp phải mơi trường phơi nhiễm bên ngồi CHÚ THÍCH 1: Điều liên quan đến nguồn xạ thử nghiệm, nhiệt độ ẩm (dạng độ ẩm tương đối và/hoặc bụi nước, ngưng tụ ngâm) nhằm tạo thành cách nhanh chóng thay đổi mà thay đổi xảy phơi nhiễm bên dài hạn CHÚ THÍCH 2: Thiết bị bao gồm phương thức nhằm kiểm soát và/hoặc điều khiển nguồn sáng biến động phong hóa khác Nó bao gồm phơi nhiễm điều kiện đặc biệt bụi axit nhằm mô tác động khí cơng nghiệp 3.2 Chiếu xạ tăng tốc nhân tạo (artificial accelerated irradiation) Phơi nhiễm vật liệu nguồn xạ thử nghiệm có nghĩa mơ xạ mặt trời xuyên qua kính cửa sổ xạ từ nguồn sáng bên nơi mẫu tùy thuộc theo thay đổi nhiệt độ nhỏ tương đối độ ẩm tương đối nhằm tạo thành cách nhanh chóng thay đổi tương tự mà thay đổi xảy vật liệu sử dụng môi trường bên 3.3 Chặn xạ (blocking) Khả lọc ngăn cản khơng truyền bên ngồi dải phổ dự định, thường biểu thị phần phần trăm xạ tới 3.4 Dải rộng (broad-band) Thuật ngữ tương đối, nhìn chung áp dụng cho lọc thiết bị đo xạ mà FWHM (full width at half maximum - chiều rộng toàn phần bán cực đại) nằm khoảng 20 nm 70 nm, mô tả cách điển hình thiết bị đo xạ có lọc đo phạm vi 300 nm đến 400 nm 3.5 Bước sóng trung tâm (central wavelength) CW Bước sóng nằm điểm khoảng FWHM (chiều rộng tồn phần bán cực đại) (xem Hình 1) 3.6 Bộ phận thu nhận cosin (cosine receptor) Thiết bị truyền xạ mà luồng xạ mẫu phù hợp với cosin góc tới thiết bị thu thập tất xạ tới sử dụng 2 steradian (nghĩa bán cầu), ví dụ, mặt cầu hợp máy khuếch tán phẳng 3.7 Bước sóng cận (cut-off wavelength) Bước sóng mà tín hiệu truyền giảm đến % tín hiệu truyền đỉnh từ truyền đỉnh hướng đến vùng chặn xạ bước sóng dài (điểm C Hình 1) 3.8 Bước sóng cận (cut-on wavelength) Bước sóng tín hiệu truyền tăng đến % mức truyền đỉnh từ vùng chặn xạ bước sóng ngắn hướng đến vùng truyền (xem điểm B Hình 1) 3.9 Detector (detector) Bộ nhận ảnh, hình thành phần thiết bị đo xạ, chuyển đổi xạ tới thành tín hiệu điện nhằm mục đích xác định xạ bề mặt 3.10 Bức xạ mặt trời khuếch tán (diffuse solar radiation) Tổng xạ phản chiếu từ mặt đất bầu trời (nếu nằm trường quan sát) trường quan sát 2 steradian bề mặt phẳng, không bao gồm xạ từ góc khối 5° đến 6° đặt đĩa xạ mặt trời CHÚ THÍCH: xem 3.11, trực xạ CHÚ DẪN:  bước sóng, tính nm S tín hiệu phổ bình chuẩn hóa A bước sóng trung tâm (CW) B bước sóng cận C bước sóng cận D FWHM (chiều rộng tồn phần bán cực đại) Hình - Tín hiệu phổ thiết bị đo xạ UV 3.11 Trực xạ (direct radiation) Trực xạ mặt trời (direct solar radiation) Trực xạ chùm sáng (direct beam radiation) Bức xạ mặt trời bao gồm góc khối bị hạn chế (điển hình 5° đến 6°) đặt đĩa xạ mặt trời CHÚ THÍCH: Nếu xạ mặt trời thơng thường trực tiếp biết đến, trực xạ đĩa nghiêng tính cách nhân xạ mặt trời thơng thường trực tiếp với cosin góc xác định xạ thông thường đĩa đường từ chân xạ thông thường đến tâm đĩa xạ mặt trời 3.12 Bức xạ mặt trời vng góc trực tiếp (direct normal solar radiation) Trực xạ mặt trời tới mặt phẳng trực giao (vuông góc) với tia mặt trời CHÚ THÍCH: Bức xạ mặt trời vng góc trực tiếp đo trực xạ kế 3.13 Độ trôi (drift) Tỷ lệ thay đổi phản hồi thiết bị đo qua thời gian tính ổn định dựa thời gian thiết bị 3.14 Trường quan sát (field of view) Toàn góc nón mà xác định tâm bề mặt tiếp nhận đường biên góc mở tới hạn 3.15 Chiều rộng toàn phần bán cực đại (full width at haft maximum) FWHM Quãng dừng (trong dải truyền qua) bước sóng mà tín hiệu truyền đạt 50 % mức truyền cao nhất, thường đề cập “độ rộng dải” 3.16 Bức xạ mặt trời bán cầu (hemispherical solar radiation) (trên mặt phẳng nghiêng) tổng trực xạ mặt trời tới bề mặt phẳng với tất xạ phản chiếu mặt đất bầu trời trường quan sát bề mặt 2 steradian CHÚ THÍCH: Nếu độ nghiêng bề mặt phẳng 0° (nghĩa nằm đường nằm ngang/đường chân trời), xạ mặt trời bán cầu thường đề cập xạ mặt trời toàn cầu xạ đường chân trời toàn cầu 3.17 Bộ lọc giao thoa (interference filter) Bộ lọc xác định thành phần phổ xạ truyền qua tác động giao thoa CHÚ THÍCH: Hầu hết lọc giao thoa bao gồm lớp kim loại chất điện mơi, mang lại kết tín hiệu truyền cao qua dải quang phổ chọn lọc 3.18 Chiếu xạ (irradiation) E Luồng xạ đơn vị diện tích tia tới bề mặt, đo ốt mét vng (W.m -2) 3.19 Chiếu xạ mặt trời toàn cầu (global solar irradiation) Luồng xạ mặt trời, trực tiếp khuếch tán, tiếp nhận mặt phẳng nằm ngang đơn vị diện tích từ góc khối 2 steradian, đo oát mét vuông (W.m -2) 3.20 Chiếu xạ quang phổ (spectral irradiation) E Chiếu xạ quãng dừng bước sóng, ghi nhận đặc trưng ốt mét vuông nano mét (W.m-2.nm-1) 3.21 Bộ lọc truyền dài (long-pass filter) Bộ lọc truyền bước sóng dài bước sóng cận loại bỏ bước sóng ngắn hơn, đặc trưng hóa việc chuyển đổi rõ ràng từ độ truyền qua từ tối thiểu đến tối đa 3.22 Dải hẹp (narrow-band) Thuật ngữ tương đương áp dụng lọc giao thoa có FWHM (Chiều rộng tồn phần bán cực đại) khơng lớn 20 nm CHÚ THÍCH: Trong lọc dải hẹp loại, độ tái lập bước sóng trung tâm FWHM thơng thường khoảng ± nm 3.23 Dải phổ (passband) (trong lọc dải phổ) quãng dừng bước sóng ngưỡng cận cận (xem Hình 1) 3.24 Bước sóng đỉnh (peak wavelength) Bước sóng mức truyền tối đa CHÚ THÍCH: Bước sóng đỉnh khơng cần thiết phải giống bước sóng trung tâm (xem Hình 1) 3.25 Nhật xạ kế (pyranometer) Thiết bị đo xạ sử dụng để đo xạ mặt trời toàn cầu (hoặc, bị nghiêng, xạ mặt trời bán cầu) 3.26 Trực xạ kế (pyrheliometer) Thiết bị đo xạ sử dụng để đo xạ mặt trời vuông góc trực tiếp 3.27 Phơi nhiễm xạ (radiant exposure) H Tích phân thời gian xạ, đo Jun mét vuông (J.m -2) 3.28 Thiết bị đo xạ (radiometer) Thiết bị để đo xạ điện từ, bao gồm detector, lọc cần thiết máy khuếch tán, thiết bị xử lý tín hiệu 3.29 Thiết bị đo xạ chuẩn (reference radiometer) Thiết bị sử dụng để thu giá trị đo chuẩn có liên quan đến thang đo xạ cơng nhận (ví dụ thang đo chiếu xạ phổ chuẩn xạ giới) có đường dẫn liên kết đến chuẩn công nhận độ không đảm bảo đo cơng bố CHÚ THÍCH: Thiết bị đo xạ chuẩn sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo xạ chuẩn khác cách so sánh, thay mối liên hệ trực tiếp khác 3.30 Thiết bị đo xạ trường (field radiometer) Thiết bị triển khai trường phạm vi thiết bị phong hóa tăng tốc phịng thử nghiệm để đo thông số xạ hàng ngày, với dụng cụ hiệu chuẩn liên kết với chuẩn công nhận, thông qua việc chuyển tỷ lệ so sánh, thay quan hệ trực tiếp khác với thiết bị đo xạ chuẩn 3.31 Bộ lọc sóng ngắn (short-pass filter) Bộ lọc truyền bước sóng ngắn bước sóng cận từ chối bước sóng dài đặc trưng hóa việc chuyển đổi rõ ràng từ độ truyền qua tối thiểu đến tối đa 3.32 Thiết bị đo xạ phổ (spectroradiometer) Thiết bị dùng để đo xạ phổ khoảng thời gian bước sóng hẹp vùng phổ đưa hàm bước sóng 3.33 Tính liên kết chuẩn (traceability) Khả liên hệ kết phép đo đặc tính chuẩn với chuẩn công bố, thông thường chuẩn quốc gia quốc tế, qua chuỗi so sánh liên tục, mà tất có độ không đảm bảo công bố 3.34 Dải rộng (wide-band) Thuật ngữ tương đối áp dụng lọc mà FWHM (chiều rộng toàn phần bán cực đại) 70 nm và, đặc trưng mơ tả thiết bị đo xạ lọc có dải phổ rộng, ví dụ, 300 nm đến 800 nm Ý nghĩa sử dụng 4.1 Các ý chung 4.1.1 Phơi nhiễm thiết bị sử dụng nguồn sáng phịng thử nghiệm đơi u cầu phép đo phơi nhiễm phát xạ xạ bước sóng xác định nhằm kiểm sốt và, yêu cầu, điều khiển chiếu xạ bề mặt phẳng và/hoặc để xác định định lượng giai đoạn phơi nhiễm mẫu phơi nhiễm Điển hình phép đo xạ dải 290 nm đến 420 nm, phép đo dải hẹp có bước sóng trung tâm, ví dụ, 340 nm 420 nm, yêu cầu Tuy nhiên, đối ngược với điều kiện phơi nhiễm tự nhiên, xạ bước sóng ngắn 300 nm diện nhiều nguồn sáng sử dụng thử nghiệm phòng thử nghiệm tăng tốc biết đến nguyên nhân gây phản ứng phân rã mà phản ứng không xảy môi trường phơi nhiễm bên Hơn nữa, xạ bước sóng dài quan trọng suy giảm sản phẩm, phai màu nhạy cảm polyme phân rã 4.1.2 Các thiết bị đo xạ lọc dải rộng khơng nhạy thay đổi xảy số vùng phổ cùa nguồn dải phổ thiết bị đo xạ 4.1.3 Thiết bị đo xạ lọc dải hẹp rộng không nhạy với thay đổi xảy vùng phổ nguồn dải phổ thiết bị đo xạ Bằng cách đo số phần phổ riêng rẽ nguồn xạ thời điểm, thay đổi cân phổ nhận 4.1.4 Các phép đo xạ tia nhìn thấy và/hoặc tia tử ngoại sử dụng thiết bị quy trình quy định tiêu chuẩn hỗ trợ việc so sánh kết từ phơi nhiễm chiếu xạ tăng tốc nhân tạo phong hóa tăng tốc nhân tạo với kết từ phơi nhiễm tự nhiên Khi thực việc này, cần thực so sánh số dải phổ So sánh xạ dải phổ UV bước sóng ngắn cần thiết nhằm đo mức khắc nghiệt tương đối phơi nhiễm nhằm đánh giá nguy thử nghiệm tăng tốc sinh phản ứng phân hủy, điều mà không xảy môi trường phơi nhiễm tự nhiên 4.1.5 Không thể so sánh trực tiếp kết phơi nhiễm dựa phơi nhiễm xạ tương đương áp dụng điều kiện sau đây: a) Hai phơi nhiễm khác phân bố phổ xạ chúng; b) Nhiệt độ khác hai phơi nhiễm; c) Các điều kiện ẩm khác hai phơi nhiễm Trong nhiều trường hợp, thiết bị đo xạ hữu ích để kiểm soát hoạt động nguồn sáng, tốt sử dụng thiết bị đo liều lượng 4.2 Sự phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm góc cố định hướng xích đạo 4.2.1 Phép đo tổng xạ mặt trời tia tử ngoại mặt trời phơi nhiễm phong hóa tự nhiên (loại hướng xích đạo góc cố định) sử dụng dụng cụ quy trình quy định tiêu chuẩn cải thiện khả so sánh thử nghiệm phơi nhiễm tiến hành thời điểm khác địa điểm đơn lẻ Nó cải thiện tính so sánh kết đạt địa điểm khác có khí hậu giống 4.2.2 Chiếu xạ mặt trời tồn cầu đo tổng dãy bước sóng mặt trời (300 nm đến 2500 nm) việc sử dụng nhật xạ kế tổng vùng bước sóng tia tử ngoại (300 nm đến 400 nm), vùng bước sóng chọn lọc khác quang phổ mặt trời, cách sử dụng thiết bị đo xạ lọc thích hợp CHÚ THÍCH: Về mặt lịch sử, nhiều phép đo tổng xạ tia tử ngoại mặt trời thực sử dụng thiết bị đo xạ dải rộng có độ đáp ứng từ 295 nm đến 385 nm Các liệu xếp bảng cho thấy khác biệt điển hình thiết bị đo xạ tia tử ngoại với dải phổ khác biệt đưa Phụ lục A 4.3 Sự phong hóa tự nhiên tăng tốc - Các phơi nhiễm tập trung mặt trời sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel 4.3.1 Hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng loạt gương để hội tụ xạ mặt trời vào khu vực phơi nhiễm Các phép đo thành phần trực tiếp tổng xạ mặt trời tia tử ngoại mặt trời yêu cầu thực thử nghiệm phong hóa tự nhiên tăng tốc sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel phù hợp với chuẩn công nhận 4.3.2 Thành phần trực tiếp tổng xạ mặt trời đo trực xạ kế Thành phần trực tiếp xạ tia tử ngoại mặt trời đo cách sử dụng hai thiết bị đo xạ tia tử ngoại, số thích hợp với đĩa che nhằm ngăn cản xạ tia tử ngoại mặt trời trực tiếp Thành phần trực tiếp xác định chênh lệch số đọc từ hai thiết bị Trực xạ kế thiết bị đo xạ tia tử ngoại phải lắp thiết bị tự hiệu chỉnh mặt trời CHÚ THÍCH: Đối với phơi nhiễm tập trung mặt trời sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel, thành phần trực tiếp xạ mặt trời xạ mặt trời vng góc trực tiếp 4.3.3 Đối với yêu cầu tuân thủ tiêu chuẩn công nhận, điều quan trọng trường quan sát thiết bị đo xạ sử dụng xấp xỉ với trường quan sát hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel độ xác hiệu chỉnh hiệu chỉnh mặt trời tương đương tốt hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng 4.4 Sự phong hóa tăng tốc nhân tạo chiếu xạ tăng tốc nhân tạo 4.4.1 Đối với phơi nhiễm phong hóa tăng tốc nhân tạo chiếu xạ tăng tốc nhân tạo, phép đo xạ nhìn thấy tia tử ngoại sử dụng dụng cụ quy trình mơ tả tiêu chuẩn hỗ trợ cải thiện độ tái lập phơi nhiễm Tuy nhiên, kiểm soát chiếu xạ dải phổ đơn thường không đủ để phát tất khác biệt gây thay đổi loại lọc lọc bị hỏng chiếu sáng nhiều Các thay đổi xạ gây thay đổi lọc phát cách kiểm soát xạ lúc dải phổ bước sóng ngắn dải phổ bước sóng dài 4.4.2 Sự chiếu xạ đo vùng bước sóng quan tâm Do độ nhạy cao vật liệu polyme xạ tia tử ngoại, mục đích tiêu chuẩn nhấn mạnh phép đo chiếu xạ lượng xạ vùng tổng tia tử ngoại từ điểm cận bước sóng ngắn detector (ví dụ ~ 300 nm) đến bước sóng 400 nm, vùng chọn lọc tia tử ngoại dải phổ thấy 4.4.2.1 Khi đo xạ phát nguồn điểm, góc quan sát phận thu nhận detector bao gồm cung hoàn chỉnh, sợi đốt, đèn detector đặt vị trí dành cho phép đo nhằm đảm bảo phép đo xác 4.4.2.2 Khi nguồn sáng bao gồm số đèn, tốt nên sử dụng detector trang bị phận thu nhận cosin Hơn nữa, detector trang bị phận thu nhận cosin nên sử dụng đo xạ phát đèn riêng lẻ 4.4.3 Bộ nhận ảnh thiết bị đo xạ tốt nên đặt mặt phẳng mẫu Nếu nhận ảnh thiết bị đo xạ không đặt mặt phẳng mẫu, phải hiệu chuẩn để đo chiếu xạ mặt phẳng mẫu Thiết bị, dụng cụ 5.1 Yêu cầu chung 5.1.1 Tiêu chuẩn chia thiết bị đo xạ thành hai loại: a) Các thiết bị đo xạ không chọn lọc phổ (xem 5.2); b) Các thiết bị đo xạ chọn lọc phổ (xem 5.3) Các đặc tính tính thiết bị đo xạ chọn lọc phải phù hợp với điều kiện thích hợp liệt kê Bảng Bảng CHÚ THÍCH: Trong liệu hiệu suất dụng cụ mô tả Bảng xem quy định kỹ thuật, đặc biệt thiết bị đo tổng xạ mặt trời, dụng cụ có sẵn phép đo xạ tia tử ngoại mặt trời khơng đáp ứng tất đặc tính tính liệt kê 5.1.2 Nhìn chung, độ xác độ chụm phép đo thực thiết bị đo xạ bị ảnh hưởng mức độ không ổn định nhân tố môi trường nhiệt độ gió Cần thiết hiệu thiết bị tác động cách sử dụng hệ số đáp ứng hiệu nhà sản xuất, ví dụ nhiệt độ 5.1.3 Khi mong muốn diễn tả khoảng thời gian phơi nhiễm dạng phơi nhiễm xạ, thiết bị đo xạ phải có khả chiếu xạ tích hợp liên quan đến thời gian phơi nhiễm hiển thị kết khoảng thời gian định kỳ Bảng - Quy định kỹ thuật thiết bị đo xạ không chọn lọc quang phổ (được tham chiếu đến chiếu xạ 1000 W.m -2 đâu áp dụng được) Loại thiết bị Độ phân giải W.m-2 Độ ổn Nhiệt độ Độ nhạy Không Thời định phản quang tuyến tính gian (trên ứnga phổ phản % năm) ứng % % % s Phản ứng Phản ứng định độ nghiêng hướngb % % Trực xạ kế loại ±4 ±1 ±2 ±1 ± 0,5 < 20 - ± 0,5 Nhật xạ kế loại ±5 ± 1,5 ±2 ±5 ±1 < 30 ±2 ±2 Nhật xạ kế loại hai ± 10 ±5 ±4 ± 10 ±3 < 60 ±3 ±3 a khoảng 50 °C b dành cho thành phần trực tiếp (ví dụ chùm sáng) Bảng - Quy định kỹ thuật thiết bị đo xạ chọn lọc quang phổ Loại thiết bị chọn lọc Đặc điểm thiết bị Dải hẹp Dải rộng Dải rộng Thiết bị đo phổ xạ a a a a < 20 20 đến 70 > 70 - a a a a Độ nhạy cosin (0° đến 60° từ điểm cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng ±4 ±4 ±4 ±6 Độ nhạy cosin (60° đến 80° từ điểm cao nhất), % độ lệch so với lý tưởng ±7 ±7 ±7 ±8 Dãy quang phổ, nm Chiều rộng toàn phần bán cực đại (FWHM), nm Chặn xạ dải Độ phân giải 0,05 W.m-2 0,10 W.m-2 0,20 W.m-2 0,05 độ rộng độ rộng độ rộng dải W.m-2.nm-1b dải dải Dải nhiệt độ thành phần phơi nhiễm, trời, °C -30 đến +50c -30 đến +50c Dải nhiệt độ thành phần không phơi nhiễm, nhà, °C Hệ số nhiệt độ tối đa, % °C Khơng tuyến tính, tất dãy, % -30 đến +50c -30 đến +50c 25 đến 60 25 đến 60 25 đến 60 25 đến 60 0,1 0,1 0,1 2 2 Dải độ ẩm tương đối hoạt động, % đến 100 đến 100 đến 100 đến 100 CHÚ THÍCH: Thơng tin bổ sung hiệu cosin đưa EN 13032-1 Hiệu cosin cần thiết xạ xảy mẫu đến từ hướng khác a Điều xác định yêu cầu ứng dụng yêu cầu thử nghiệm phơi nhiễm Tham vấn với đại diện kỹ thuật nhà sản xuất thiết bị người có kiến thức phép đo xạ quang học Xem 5.3.4 chi tiết yêu cầu chặn xạ dải Khi thiết bị đo xạ chọn lọc quang phổ sử dụng, lọc chúng ngăn chặn tất xạ bên phép đo dải phổ để tránh xuất lỗi nghiêm trọng Tuy nhiên, rị rỉ ngồi dải chấp nhận nguồn sáng phịng thử nghiệm đo không tạo xạ bước sóng rị rỉ xảy b Đối với thiết bị đo xạ quang học, thuật ngữ thường gọi cách thích hợp độ phân dải quang học Các phép đo xạ kế quang học đáng tin cậy UVB mặt trời 303 nm đòi hỏi độ phân dải quang học W.m-2.nm-1 c Đối với nhiều thiết bị đo xạ, hệ số phản ứng nhiệt (COT) không nhà sản xuất bảo đảm dụng cụ sử dụng nhiệt độ 50 °C Nhiệt điện trở/điện trở phải thay để đạt mức thời gian sử dụng hữu ích nhiệt độ hoạt động lớn 50 °C (thông thường đạt đến 60 °C) 5.2 Các thiết bị đo xạ không chọn lọc (xem Bảng 1) 5.2.1 Nhật xạ kế: nên sử dụng nhật xạ kế phù hợp với Hướng dẫn WMO nhật xạ kế loại hai quy định ISO 9060 loại tốt 5.2.1.1 Khi phơi nhiễm xạ mặt trời yêu cầu phải đo góc phơi nhiễm định, điều quan trọng mặt phẳng nhận ảnh phải trì góc nghiêng mặt phẳng giá phơi nhiễm (ví dụ 45°, góc vĩ độ, 5°, nằm ngang theo hướng mặt trời sun-following) Để đánh giá xác xạ tới giá phơi nhiễm, góc nghiêng thiết bị đo xạ phải ± 2° góc giá phơi nhiễm Đồng thời, để đo xác tổng xạ mặt trời, điều quan trọng góc tiếp nhận trường quan sát thu quang thiết bị 2 steradian (nghĩa 180°) hiệu cosin để đạt vượt yêu cầu thiết bị loại hai ISO 9060 5.2.1.2 Các giá trị phơi nhiễm biểu thị đơn vị tuyệt đối Thiết bị đo xạ không chọn lọc quang phổ (nhật xạ kế) cần phải hiệu chuẩn cho hiệu chuẩn liên kết chuẩn xạ kế giới (WRR) Để biết thêm thông tin, tham khảo WMO Hướng dẫn thiết bị khí tượng phương pháp quan trắc 5.2.2 Trực xạ kế: nên sử dụng trực xạ kế quy định ISO 9060 trực xạ kế loại WMO 5.2.2.1 Khi phép đo xạ thực trực xạ kế, điều quan trọng thiết bị có trường quan sát 5° 7° phù hợp với yêu cầu dụng cụ loại WMO ISO 9060 Loại thiết bị yêu cầu để thực phép đo xạ tới thiết bị phong hóa tăng tốc bên ngồi hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel (xem TCVN 9849-3 (ISO 877-3) ASTM G 90) 5.2.2.2 Các giá trị phơi nhiễm phải biểu thị ốt mét vng chiếu xạ jun mét vuông tổng phơi nhiễm xạ Cần thiết trực xạ kế không chọn lọc quang phổ hiệu chuẩn cho hiệu chuẩn liên kết đến chuẩn xạ kế giới (WRR) 5.3 Các thiết bị đo xạ chọn lọc (UV) (xem Bảng 2) 5.3.1 Detector bao gồm cảm biến, lọc thích hợp yêu cầu, phận thu nhận cosin 5.3.2 Các lọc dải rộng có FWHM lớn 20 nm thường khơng vượt 70 nm 5.3.3 Các lọc dải hẹp nhận dạng CW chúng có FWHM nhỏ 20 nm 5.3.4 Tổng phản hồi detector hàm số chiếu xạ quang phổ nhận từ nguồn, với việc truyền quang phổ lọc phản hồi quang phổ detector Vì vậy, điều quan trọng xạ không mong muốn phải bị chặn xạ hoàn toàn Sự truyền lọc dải hẹp vùng chặn xạ (trong 40 nm bước sóng cận bước sóng cận dưới) không vượt 0,001 % phép đo UVB dải hẹp 0,01 % thiết bị đo xạ UVA dải rộng 5.3.5 Dải phổ kiểm sốt cách sử dụng việc kết hợp lọc Điều thực cách kết hợp lọc cho sóng ngắn sóng dài qua, nghĩa lọc cận cận FWHM chặn xạ xác định việc kết hợp lọc chọn lọc 5.4 Bộ phận ghi máy ghi liệu 5.4.1 Năng lượng xạ chuyển đổi detector thành tín hiệu điện khuếch đại, cần thiết, hiển thị thiết bị đo thích hợp mà hiệu chuẩn để tín hiệu tức thời (chiếu xạ) tín hiệu tích hợp (phơi nhiễm xạ) mà hiển thị khơng bắt buộc biểu đồ đồ thị Thơng thường, tín hiệu mạnh thích hợp thu sử dụng máy ghi liệu có số kênh cần thiết Phụ thuộc vào máy ghi liệu, tín hiệu xử lý máy ghi liệu nhằm cung cấp chiếu xạ phơi nhiễm xạ theo yêu cầu lưu giữ xử lý cho sử dụng bên ngồi, ví dụ, ứng dụng bảng tính 5.4.2 Trong trường hợp thiết bị đo xạ bị nghiêng lệch, phải cung cấp phương tiện để điều chỉnh “zero” khoảng chênh Hiệu chuẩn 6.1 Yêu cầu chung 6.1.1 Người vận hành phải thực thường xuyên kiểm tra hiệu chuẩn thiết bị đo xạ Đối với thiết bị đo xạ UV, thiết bị đo xạ phải nhà sản xuất phòng thử nghiệm hiệu chuẩn có lực hiệu chuẩn lần năm, tình trạng hiệu chuẩn thiết bị phải kiểm tra theo định kỳ so với thiết bị đo xạ chuẩn hiệu chuẩn mà chức thiết bị dùng để tham chiếu Đối với trực xạ kế nhật xạ kế loại hai loại WMO, hiệu chuẩn lại thực nhà sản xuất, phịng thử nghiệm hiệu chuẩn có lực sử dụng nội thiết bị đo xạ tiêu chuẩn phòng thử nghiệm phù hợp với ISO 9847 ASTM E 816 ASTM E 824 phải thực khoảng thời gian thích hợp CHÚ THÍCH: Trừ đòi hỏi việc hiệu chuẩn lại thường xuyên theo yêu cầu kiểm tra, trực xạ kế nhật xạ kế loại WMO ISO 9060 thường không yêu cầu hiệu chuẩn lại thường xuyên hai năm lần 6.1.2 Đối với nhiều loại thiết bị đo xạ sử dụng đo phơi nhiễm tự nhiên (ví dụ nhật xạ kế pin nhiệt điện ISO loại hai), hiệu chuẩn góc nghiêng mà dụng cụ sử dụng tốt Hiệu chuẩn góc nghiêng khơng quan trọng nhật xạ kế toàn cầu loại WMO (hoặc tốt hơn) ISO nhiều thiết bị đo xạ có lọc nhạy quang có độ xác % Đối với thiết bị đo xạ UV, độ nhạy cosin tốt quan trọng sai lệch nhỏ so với định luật cosin gây sai số hiệu chuẩn Hiệu chuẩn thiết bị đo xạ UV góc nghiêng khuyến nghị nhằm đạt phép đo xác Điều đặc biệt quan trọng chúng sử dụng điều kiện khí hậu mà có tỷ lệ tia tử ngoại khuếch tán cao xạ tia tử ngoại chùm 6.1.3 Đối với việc hiệu chuẩn thiết bị đo xạ sử dụng cho thử nghiệm phơi nhiễm phòng thử nghiệm, thiết bị đo xạ phải lắp đặt cho bề mặt nhận ảnh vng góc với trục quang học nguồn xạ Thiết bị đo xạ tốt nên hiệu chuẩn theo điều kiện xấp xỉ, gần với điều kiện phép đo phạm vi thực Có thể cần thiết sử dụng hệ số chuyển đổi phù hợp với khuyến nghị nhà sản xuất 6.2 Thiết bị đo xạ trường chuẩn 6.2.1 Hiệu chuẩn thiết bị đo xạ không chọn lọc quang phổ phải liên kết với Chuẩn xạ kế giới (WRR) 6.2.2 Hiệu chuẩn trực xạ kế theo ISO 9059 Hiệu chuẩn nhật xạ kế theo ISO 9846 Việc truyền hiệu chuẩn từ thiết bị đo xạ chuẩn sang thiết bị đo xạ sử dụng trường phải phù hợp với ISO 9847 CHÚ THÍCH: ASTM E 816, ASTM E 824 ASTM G 67 có quy trình hiệu chuẩn tương tự ISO 9059 ISO 9846, bao gồm thông tin bổ sung độ không đảm bảo đo hiệu chuẩn phép đo 6.3 Thiết bị đo xạ chuẩn chọn lọc 6.3.1 Trừ quy định khác, thiết bị đo xạ chuẩn chọn lọc quang phổ phải hiệu chuẩn phù hợp với ASTM G 130 cách so sánh tín hiệu chúng với phép đo chiếu xạ quang phổ tích hợp thực thiết bị đo xạ phổ Trừ quy định khác, thiết bị đo xạ phổ phải hiệu chuẩn phù hợp với ASTM G 138 Tích hợp liệu thiết bị đo xạ phổ dải phổ thiết bị đo xạ lọc Đối với thiết bị đo xạ có lọc sử dụng để đo xạ mặt trời, sử dụng mặt trời làm nguồn sáng Đối với thiết bị đo xạ có lọc sử dụng để đo nguồn sáng thử nghiệm, sử dụng loại kiểu nguồn sáng sử dụng thử nghiệm phơi nhiễm 6.3.2 Đối với thiết bị phong hóa tăng tốc phịng thử nghiệm, thiết bị đo xạ chuẩn sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo xạ trường phải hiệu chuẩn vùng phát xạ nguồn sáng sử dụng Trừ có quy định khác, hiệu chuẩn thiết bị đo xạ tia tử ngoại chuẩn dải hẹp rộng có thiết bị đo xạ phổ phải tiến hành phù hợp với ASTM G 130 Thiết bị đo xạ chuẩn phải hiệu chuẩn sử dụng nguồn sáng loại với nguồn sáng sử dụng để thử nghiệm, hiệu chuẩn phải tiến hành sử dụng buồng thử nghiệm có hình dạng tương tự (nghĩa đèn đến hướng khoảng cách mặt phẳng mẫu) sử dụng thiết bị đo xạ trường Hiệu chuẩn phải kiểm tra phù hợp với dẫn nhà sản xuất thiết bị đo xạ 6.3.3 Các quy trình hiệu chuẩn khác sử dụng chúng mang lại độ không đảm bảo nhỏ ± 10 % (tại mức độ tin cậy 95 %) vùng UV từ 300 nm đến 400 nm 6.3.4 Khi sử dụng với nguồn có phân bố xạ phổ khác, thiết bị đo xạ phải điều chỉnh nguồn 6.3.5 Để tính tốn số hiệu chuẩn (hoặc số độ nhạy), liệu chiếu xạ quang phổ nhận thiết bị đo phổ xạ phải tích hợp dải bước sóng thích hợp 6.3.6 Hiệu chuẩn tồn thiết bị đo xạ mà liên kết đến quan tiêu chuẩn xạ công nhận phải tiến hành năm lần Nên thực hiệu chuẩn thường xuyên CHÚ THÍCH: Tóm tắt kết từ so sánh quốc tế hệ số hiệu chuẩn đèn chiếu xạ phổ chuẩn quốc gia nêu tài liệu tham khảo [19] thư mục tài liệu tham khảo 6.4 Thiết bị đo xạ trường chọn lọc 6.4.1 Đối với phép đo xạ mặt trời, việc truyền hiệu chuẩn từ thiết bị đo xạ chuẩn chọn lọc quang phổ sang thiết bị đo xạ trường chọn lọc quang phổ phải thực phù hợp với ISO 9847 ASTM E 824 Khi hiệu chuẩn truyền sang thiết bị đo xạ trường, tốt sử dụng thiết bị đo xạ chuẩn nhà sản xuất, loại mẫu mã thiết bị đo xạ trường hiệu chuẩn điều quan trọng thiết bị đo xạ chuẩn có chức phân loại độ nhạy quang phổ độ nhạy cosin đồng chức thiết bị đo xạ trường hiệu chuẩn Đối với mục đích này, hàm độ nhạy quang phổ nhà sản xuất cung cấp thích hợp 6.4.2 Độ rộng dải quang phổ đặc tính độ nhạy thiết bị đo xạ phải xác định báo cáo 6.5 Các yêu cầu khác 6.5.1 Bằng quy trình hiệu chuẩn, thiết bị đo xạ phải biểu thị giá trị tuyệt đối chiếu xạ, tính W.m-2, tổng xạ bán cầu đo thiết bị đo xạ không chọn lọc quang phổ Đối với thiết bị đo xạ chọn lọc quang phổ, giá trị tuyệt đối chiếu xạ, tính W.m -2, phải đưa dải phổ quy định Hằng số hiệu chuẩn dạng W.m -2.V-1 dải quang phổ sử dụng 6.5.2 Độ nhạy cosin độ nhạy nhiệt độ tất thiết bị đo xạ sử dụng phải người sử dụng xác định (hoặc biết đến ghi lại) Các yêu cầu kỹ thuật nhà sản xuất luôn phù hợp với mục đích Cách tiến hành 7.1 Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm theo hướng xích đạo góc cố định 7.1.1 Lắp detector chắn cố định giá bàn, có mặt phẳng thu quang lắp mặt phẳng song song với mặt phẳng mẫu thử phơi nhiễm, ví dụ 0° (nằm ngang đường chân trời), 45°, góc vĩ độ số hướng thỏa thuận khác, với dung sai ± 2° Đảm bảo thiết bị đo xạ lắp độ cao mặt đất mà khơng khoảng cách từ mặt đất đến nửa độ cao giá phơi nhiễm ± % 7.1.2 Tuân thủ quy trình mơ tả ASTM G 183 việc lắp đặt, thao tác bảo trì trực xạ kế, nhật xạ kế thiết bị đo xạ sử dụng để đo xạ mặt trời phơi nhiễm góc cố định 7.1.3 Ghi lại cộng dồn tổng chiếu xạ hàng ngày để thiết lập mức phơi nhiễm theo yêu cầu 7.2 Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng phơi nhiễm mặt trời tập trung 7.2.1 Thành phần trực tiếp tổng xạ mặt trời phải đo sử dụng trực xạ kế loại hiệu chuẩn phù hợp với tiêu chuẩn công nhận Các quy trình hiệu chuẩn nêu ISO 9059 ASTM E 816 Đo thành phần trực tiếp xạ tia tử ngoại mặt trời theo ASTM G 90 sử dụng cặp theo dõi thiết bị đo xạ tia tử ngoại, số liên tục che bóng để loại trừ thành phần trực tiếp Tính tốn thành phần trực tiếp chênh lệch số liệu thiết bị đo xạ tia tử ngoại che bóng khơng che Hiệu chuẩn thiết bị đo xạ tia tử ngoại theo ASTM G 130, có truyền hiệu chuẩn từ thiết bị đo xạ chuẩn đến thiết bị đo xạ trường phù hợp với ISO 9847 ASTM E 824 Ống so sánh nhật xạ kế có trường quan sát 6° sử dụng làm phần gắn kết với thiết bị đo xạ UV để hút giữ xạ khuếch tán (bầu trời), miễn tương đương tốt phương pháp dùng đĩa che 7.2.2 Điều quan trọng hai thiết bị đo xạ tia tử ngoại cung cấp giá trị chiếu xạ lắp bệ Vì vậy, chúng phải so sánh với sở hàng tháng phải hiệu chuẩn lại độ nhạy chúng chênh ± % 7.2.3 Kiểm tra chế đồng chỉnh khung nhật xạ kế hàng tuần nhằm đảm bảo trường quan sát thiết bị đo xạ đối diện xác với đĩa xạ mặt trời 7.3 Phong hóa tăng tốc nhân tạo chiếu xạ tăng tốc nhân tạo 7.3.1 Detector lắp bên cạnh mẫu thử thiết kế để hoạt động môi trường vậy, trường hợp cần phải lắp cho mặt phẳng phận tiếp nhận detector đồng phẳng với bề mặt mẫu thử nghiệm Nếu mặt phẳng phận thu nhận không nằm mặt phẳng song song với mặt phẳng mẫu thử nghiệm, độ nhạy thiết bị đo xạ phải điều chỉnh để báo chiếu xạ khoảng cách mẫu mặt phẳng mẫu 7.3.2 Cặn chất rắn bay hơi ẩm lọc đèn, bề mặt phản chiếu bề mặt phận thu nhận ảnh hưởng phép đo xạ Có thể cần thiết, đặc biệt thực nhiệt độ cao độ ẩm cao, làm bề mặt hàng ngày Làm bề mặt kính phận thu nhận miếng vải mềm (ví dụ vải muxơlin) làm ẩm cồn Đối với bề mặt khác (ví dụ bề mặt có tiêu chuẩn phản chiếu), sử dụng chất làm quy trình làm nhà sản xuất thiết bị khuyến nghị 7.3.3 Ghi lại chiếu xạ khoảng thời gian xác định theo thỏa thuận chung theo quy định quy trình phơi nhiễm, theo định kỳ hàng ngày Báo cáo phơi nhiễm Báo cáo phơi nhiễm phải bao gồm thông tin sau: a) Phơi nhiễm xạ phổ, tính jun mét vng nano mét dải phổ (J.m -2.nm-1), phơi nhiễm xạ, tính jun mét vng (J.m -2), dải bước sóng dài xác định; b) Chiếu xạ quang phổ, tính ốt mét vng nano mét dải phổ (W.m -2.nm-1), chiếu xạ, tính ốt mét vng (W.m -2), dãy bước sóng dài xác định sử dụng để điều khiển phơi nhiễm thử nghiệm phòng thử nghiệm; c) Thời gian trôi qua cần thiết để cộng dồn phơi nhiễm xạ; d) Ngày phơi nhiễm phong hóa tự nhiên phơi nhiễm tập trung mặt trời thực hiện; e) Nhà sản xuất thiết bị đo xạ sử dụng kiểu mẫu; f) Nếu yêu cầu, quy trình sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị đo xạ chuẩn chọn lọc; g) Nếu yêu cầu, quy trình sử dụng để hiệu chuẩn Thiết bị đo phổ xạ; h) Ngày hiệu chuẩn cuối Phụ lục A (Tham khảo) So sánh thiết bị đo xạ UV dải rộng điển hình Đối với mục đích thực tiễn, thiết bị đo xạ có phản hồi giống gauss có tính phản xạ thấp đáng kể bước sóng 295 nm khơng có khả phát thay đổi chiếu xạ quang phổ bước sóng 305 nm Tuy nhiên, thiết bị đo xạ hiệu chuẩn đến cận bước sóng dài 385 nm đo xấp xỉ 10 W.m-2 lượng tia tử ngoại thiết bị đo xạ có cận 400 nm điều kiện bầu trời quang vĩ độ trung bình, thời gian ban trưa tia tới vng góc mặt trời Bảng A.1 tổng chiếu xạ UV đo ghi lại sở ngày dao động tùy thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn thiết bị đo xạ sử dụng Bảng A.2 tổng chiếu xạ UV đo năm địa điểm dao động phụ thuộc vào bước sóng hiệu chuẩn thiết bị đo xạ sử dụng Bảng A.1 - Các phép đo chiếu xạ bán cầu, tính W.m-2, gần buổi trưa mặt trời sử dụng thiết bị đo xạ UV dải rộng khác Chiếu xạ (W.m-2) Thời gian mặt trời (ngày Julian) địa điểm X Y (295 nm đến (315 nm đến 385 nm) 400 nm) Z Tỷ lệ Tỷ lệ Tỷ lệ (300 nm đến 400 nm) Y/X Z/Y Z/X 12:58 (J51), New River, Arizona 41,95 52,86 53,97 1,260 1,021 1,287 11:00 (J52), West Phoenix, Arizona 39,97 50,50 51,61 1,263 1,022 1,291 13:11 (J176), New River, Arizona 49,35 60,46 62,29 1,225 1,030 1,258 Bảng A.2 - Phơi nhiễm xạ đo năm Phơi nhiễm xạ (MJ/m2) Địa điểm thời gian đo X Y Z Tỷ lệ (xấp xỉ 295 nm (xấp xỉ 315 nm (xấp xỉ 300 nm đến 385 nm) đến 400 nm) đến 400 nm) Choshi (Nhật Bản), 30° Nam, 1992 Choshi (Nhật Bản), đường chân trời, 2001 229,37 - 287,01 1,251 (Z/X) - 294,88 308,45 1,046 (Z/Y) CHÚ THÍCH: Các tín hiệu quang phổ khác thiết bị đo xạ dải rộng đo dải phổ sản sinh kết khác THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO [1] EN 13032-1, Light and lighting - Measurement and presentation of photometric data of lamps and luminaires - Measurement and file format (Ánh sáng chiếu sáng - Phép đo trình bày liệu đo sáng đèn nguồn phát sáng - Phép đo định dạng tài liệu) [2] ASTM E816, Standard Test Method for Calibration of Pyrheliometers by Comparison to Reference Pyrheliometers (Phương pháp thử tiêu chuẩn hiệu chuẩn trực xạ kế so sánh với trực xạ kế chuẩn) [3] ASTM E824, Standard Test Method for Transfer of Calibration From Reference to Field Radiometers (Phương pháp thử tiêu chuẩn hiệu chuẩn từ tham chiếu đến thiết bị đo xạ trường phạm vi) [4] ASTM G7, Standard Practice for Atmospheric Environmental Exposure Testing of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành thử nghiệm phơi nhiễm mơi trường khí vật liệu phi kim loại) [5] ASTM G24, Standard Practice for Conducting Exposures to Daylight Filtered Through Glass (Tiêu chuẩn thực hành việc thực phơi nhiễm qua kính lọc ánh sáng ban ngày) [6] ASTM G113, Standard Terminology Relating to Natural and Artificial Weathering Tests of Nonmetallic Materials (Thuật ngữ tiêu chuẩn liên quan đến thử nghiệm phong hóa nhân tạo tự nhiên vật liệu phi kim loại) [7] ASTM G151, Standard Practice for Exposing Nonmetallic Materials in Accelerated Test Devices that Use Laboratory Light Sources (Tiêu chuẩn thực hành việc phơi nhiễm vật liệu phi kim loại thiết bị thử nghiệm tăng tốc sử dụng nguồn sáng phòng thử nghiệm) [8] ASTM G152, Standard Practice for Operating Open Flame Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành việc thao tác dụng cụ ánh sáng hình cung cácbon lửa mở phơi nhiễm vật liệu phi kim loại) [9] ASTM G153, Standard Practice for Operating Enclosed Carbon Arc Light Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành việc thao tác dụng cụ ánh sáng hình cung cácbon đóng phơi nhiễm vật liệu phi kim loại) [10] ASTM G154, Standard Practice for Operating Fluorescent Ultraviolet (UV) Lamp Apparatus for Exposure of Nonmetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành việc thao tác dụng cụ ánh sáng huỳnh quang phơi nhiễm UV vật liệu phi kim loại) [11] ASTM G155, Standard Practice for Operating Xenon Arc Light Apparatus for Exposure of NonMetallic Materials (Tiêu chuẩn thực hành việc thao tác dụng cụ ánh sáng hình cung phơi nhiễm vật liệu phi kim loại) [12] ASTM G167, Standard Test Method for Calibration of a Pyranometer Using a Pyrheliometer (Phương pháp thử tiêu chuẩn hiệu chuẩn nhật xạ kế sử dụng trực xạ kế) [13] ISO 4892-1, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 1: General guidance (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 1: Hướng dẫn chung) [14] ISO 4892-2, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 2: Xenon-arc lamps (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm nguồn sáng phòng thử nghiệm – Phần 2: Đèn cung xenon) [15] ISO 4892-3, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 3: Fluorescent UV lamps (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 3: Đèn UV huỳnh quang) [16] ISO 4892-4, Plastics - Methods of exposure to laboratory light sources - Part 4: Open- flame carbon-arc lamps (Chất dẻo - Phương pháp phơi nhiễm nguồn sáng phòng thử nghiệm - Phần 4: Đèn cung cácbon lửa mở) [17] ISO 11341, Paints and varnishes - Artificial weathering and exposure to artificial radiation Exposure to tiltered xenon-arc radiation (Sơn vécni - Phong hóa nhân tạo phơi nhiễm xạ nhân tạo - Phơi nhiễm với xạ hình cung xenon lọc) [18] ISO 11507, Paints and varnishes - Exposure of coatings to artificial weathering - Exposure to fluorescent UV lamps and water (Sơn vécni - Phơi nhiễm lớp phủ ngồi phong hóa nhân tạo - Phơi nhiễm với nước đèn UV huỳnh quang) [19] Woolliams, E.R., Fox, N.P., Cox, M.G., Harris, P.M Harrison, N.J., Final report on CCPR K1-a: Spectral irradiance from 250 nm to 500 nm (Báo cáo cuối CCPR K1-a: Chiếu xạ quang phổ từ 250 nm đến 2500 nm), Metrologia, 43 (2006), Tech Suppl., 02003 MỤC LỤC Lời nói đầu Lời giới thiệu Phạm vi áp dụng Tài liệu viện dẫn Thuật ngữ, định nghĩa Ý nghĩa sử dụng 4.1 Các ý chung 4.2 Sự phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm góc cố định hướng xích đạo 4.3 Sự phong hóa tự nhiên tăng tốc - Các phơi nhiễm tập trung mặt trời sử dụng hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel 4.4 Sự phong hóa tăng tốc nhân tạo chiếu xạ tăng tốc nhân tạo Thiết bị, dụng cụ 5.1 Yêu cầu chung 5.2 Các thiết bị đo xạ không chọn lọc (xem Bảng 1) 5.3 Các thiết bị đo xạ chọn lọc (UV) (xem Bảng 2) 5.4 Bộ phận ghi máy ghi liệu Hiệu chuẩn 6.1 Yêu cầu chung 6.2 Thiết bị đo xạ trường chuẩn 6.3 Thiết bị đo xạ chuẩn chọn lọc 6.4 Thiết bị đo xạ trường chọn lọc 6.5 Các yêu cầu khác Cách tiến hành 7.1 Phong hóa tự nhiên - Phơi nhiễm theo hướng xích đạo góc cố định 7.2 Phong hóa tự nhiên tăng tốc - Hệ gương hội tụ phản chiếu Fresnel sử dụng phơi nhiễm mặt trời tập trung 7.3 Phong hóa tăng tốc nhân tạo chiếu xạ tăng tốc nhân tạo Báo cáo phơi nhiễm Phụ lục A (Tham khảo) So sánh thiết bị đo xạ UV dải rộng điển hình Thư mục tài liệu tham khảo