NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 748-11 QC 790100 Première édition First edition 1990-12 Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides Semiconductor devices Integrated circuits Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits IEC• Numéro de référence Reference number CEI/IEC 748-11: 1990 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Numbering Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées partir de 60000 As from January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series Publications consolidées Consolidated publications Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles Par exemple, les numéros d'édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant l'amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements et Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment and the base publication incorporating amendments and Validité de la présente publication Validity of this publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue Les renseignements relatifs des questions l'étude et des travaux en cours entrepris par le comité technique qui a établi cette publication, ainsi que la liste des publications établies, se trouvent dans les documents cidessous: Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: ã ôSite webằ de la CEI* ã IEC web site* • Catalogue des publications de la CEI Publié annuellement et mis jour régulièrement (Catalogue en ligne)* • Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* • Bulletin de la CEI Disponible la fois au «site web» de la CEI* et comme périodique imprimé • IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminologie, symboles graphiques et littéraux Terminology, graphical and letter symbols En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Électrotechnique International (VEI) For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matériel Index, relevé et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schémas For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams * Voir adresse «site web» sur la page de titre * See web site address on title page LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Numéros des publications NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 748-11 QC 790100 Première édition First edition 1990-12 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides Semiconductor devices Integrated circuits Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits © CEI 1990 Droits de reproduction réservés — Aucune partie de cette publication ne peut étre reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans raccord écrit de l'éditeur Copyright - all rights reserved No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique Interna ti onale 3, rue de Varembé Genève Suisse IEC • Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Memayuapo iHaR 3neKrpoTexHH4ectiaR IiOMHccHA • CODE PRIX PRICE CODE V Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue —2— 748-11 © CEI SOMMAIRE Pages PRÉAMBULE PRÉFACE 4 Articles Domaine d'application Généralités Documents applicables 2.1 Valeurs recommandées de températures 2.2 Valeurs recommandées de tensions 2.3 Définitions relatives aux opérations de fabrication 2.4 8 8 12 Etape initiale de fabrication 12 4.1 4.2 Dispositifs bipolaires Dispositifs unipolaires Procédures d'assurance de la qualité Procédures d'homologation 5.1 Procédures d'agrément de savoir-faire 5.2 Procédures d'associativité Règles générales 6.1 Critères d'associativité spécifiques chaque essai – Tableau I 6.2 12 12 14 14 14 14 14 16 24 Groupes et sous-groupes – Groupe A: Contrôles lot par lot Tableau II Tableau III – Groupe B: Contrôles lot par lot Tableau IV – Groupe C: Contrôles périodiques Tableau V – Groupe D Sélection 24 26 28 30 30 32 Tableau VI – Sélection 34 Exigences pour les prélèvements Tableau VII – Exigences pour les prélèvements des essais du groupe A Tableau VIII – Exigences pour les prélèvements des essais des groupes B, C et D pour lesquels on doit utiliser les NQT 34 34 36 10 Identification des bornes 11 Informations supplémentaires (à l'étude) 12 Procédures d'essais et de mesures 12.1 Méthodes de mesures électriques 12.2 Méthodes d'essais mécaniques et climatiques 12.3 Essais d'endurance électrique Procédures d'essais accélérés 12.4 Mesures par corrélation 12.5 ANNEXE A – Guide et format pour la rédaction des spécifications particulières cadres 36 36 36 36 36 38 38 42 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Sous-traitance 748-11 © IEC —3— CONTENTS Page FOREWORD PREFACE 5 Clause General 9 9 13 2.1 2.2 2.3 2.4 Related documents Recommended values of temperatures Recommended values of voltages Definitions related to manufacturing operations Subcontracting 13 Primary stage of manufacture 4.1 4.2 13 13 Bipolar devices Unipolar devices 15 Quality assessment procedures 5.1 5.2 15 15 Qualification approval procedures Capability approval procedures 15 15 17 Structural similarity procedures 6.1 6.2 General rules Test dependent criteria for structural similarity – Table I Groups and sub-groups Table II – Group A: Lot by lot Table III – Group B: Lot by lot Table IV – Group C: Periodic tests Table V – Group D Screening 25 25 27 29 31 31 Table VI – Screening 33 Sampling requirements 35 Table VII – Sampling requirements for Group A tests Table VIII – Sampling requirements for Group B, C and D tests in which LTPD shall be used 35 35 10 Terminal identification 37 11 Additional information (under consideration) 37 12 Test and measurement procedures 37 12.1 Electrical measuring methods 12.2 Mechanical and climatic test methods Electrical endurance tests 12.3 12.4 Accelerated test procedures 12.5 Correlated measurements APPENDIX A – Guidance and format for drafting blank detail specifications 37 37 37 39 39 43 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Scope 748-11 © —4— CEI COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS CIRCUITS INTÉGRÉS Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides 1) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par des Comités d'Etudes où sont représentés tous les Comités nationaux s'intéressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examinés 2) Ces décisions constituent des recommandations internationales et sont agréées comme telles par les Comités nationaux 3) Dans le but d'encourager l'unification internationale, la CEI exprime le voeu que tous les Comités nationaux adoptent dans leurs règles nationales le texte de la recommandation de la CEI dans la mesure où les conditions nationales le permettent Toute divergence entre la recommandation de la CEI et la règle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, être indiquée en termes clairs dans cette dernière PRÉFACE La présente norme a été préparée par le Sous-Comité 47A: Circuits intégrés, et par le Comité d'Etudes N° 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs Cette norme est une spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs, l'exclusion des circuits hybrides, dans le domaine du Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Règle des Six mois Rapports de vote 47/47A(BC)1037/176 47/ 47A(BC)1049/173 47A(BC)204 47A(BC)208 47A(BC)196 47A(BC)197 47A(BC)231 47A(BC)236 Les rapports de vote indiqués dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de spécification dans le Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU PRÉAMBULE 748-11 © IEC —5— INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR DEVICES INTEGRATED CIRCUITS Part Il: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter PREFACE This standard has been prepared by IEC Sub-Committee 47A: Integrated Circuits, and IEC Technical Committee No 47: Semiconductor Devices This standard is a sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits in the field of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) The text of this standard is based on the following documents: Six Months' Rule Repo rt s on Voting 47/47A(CO)1037/176 47/47A(CO)1049/173 47A(CO)204 47A(CO)208 47A(CO)196 47A(CO)197 47A(CO)231 47A(CO)236 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Reports indicated in the above table The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU FOREWORD — — 748-11 © CEI Les publications suivantes de la CEI sont citées dans la présente norme: Publications Nos NOTE – La Publication 748-1 a été modifiée par les documents 47(BC)207 et 238 Ces documents annulent et remplacent l'article du chapitre VI (de l'édition 1984) et introduit le nouvel article 10 de ce même chapitre LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 68: Essais d'environnement 68-2-17 (1978): Deuxième partie: Essais – Essai Q: Etanchéité 191-2 (1966): Normalisation mécanique des dispositifs semi-conducteurs Deuxième partie: Dimensions 191-4 (1987): Quatrième partie: Système de codification et classification en formes des btiers pour dispositifs semiconducteurs 617-12 (1983): Symboles graphiques pour schémas, Douzième partie: Opérateurs logiques binaires 617-13 (1978): Treizième partie: Opérateurs analogiques 747-1 (1983): Dispositifs semiconducteurs Dispositifs discrets et circuits intégrés, Première partie: Généralités 747-10 (1984): Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés 748: Dispositifs semiconducteurs Circuits intégrés 748-1 (1984): Première partie: Généralités (Voir note) 748-2 (1985): Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux 748-3 (1986): Troisième partie: Circuits intégrés analogiques 748-4 (1987): Quatrième partie: Circuits intégrés d'interface 749 (1984): Dispositifs semiconducteurs Essais mécaniques et climatiques OC 001002 (1986): Règles de procédure du Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) 748-11 © IEC - - The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos 68: 68-2-17 (1978): 191-2 (1966): 191-4 (1987) : 617-12 (1983): 617-13 (1978): 747-1 (1983): NOTE – IEC Publication 748-1 has been amended by documents 47(CO)207 and 238 These documents supersede clause in Chapter VI (1984 edition) and add a new clause 10 to the same chapter LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 747-10 (1984): 748: 748-1 (1984): 748-2 (1985): 748-3 (1986): 748-4 (1987): 749 (1984): QC 001002 (1986): Environmental testing Pa rt 2: Tests–Test Q: Sealing Mechanical standardization of semiconductor devices, Part 2: Dimensions Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor devices Graphical symbols for diagrams, Part 12: Binary logic elements Pa rt 13: Analogue elements Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits, Part 1: General Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits Semiconductor devices Integrated circuits Part 1: General (See note) Part 2: Digital integrated circuits Pa rt 3: Analogue integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) — 8— 748-11 © CEI DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS CIRCUITS INTÉGRÉS Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés semiconducteurs l'exclusion des circuits hybrides Domaine d'application La présente spécification intermédiaire s'applique aux circuits intégrés semiconducteurs en btier, y compris les circuits intégrés polylithiques, mais l'exclusion des circuits hybrides Généralités Cette spécification doit être lue conjointement avec la spécification générique laquelle elle se réfère; elle donne des détails sur les procédures d'assurance de la qualité, les exigences de contrôle, les séquences de sélection, les exigences pour les prélèvements, les essais et les mesures exigés pour tous les circuits intégrés semiconducteurs, comprenant les circuits digitaux, analogiques et d'interface Au lieu de la procédure d'homologation, on peut utiliser la procédure d'agrément de savoir-faire (voir les règles de procédure de la Publication QC 001002 de la CEI, paragraphe 11.7, mais les procédures d'agrément de savoir-faire pour les circuits intégrés sont actuellement l'étude) pour tous les dispositifs fabriqués selon un procédé défini Il est possible d'appliquer en outre les règles de contrôle de la conformité de la qualité (voir paragraphe 3.6 de la Publication 747-10 de la CEI et articles de la présente spécification) pour chaque modèle ou groupe de modèles produits selon ce procédé, si cela est exigé et réalisable techniquement Toutes les exigences de cette spécification demeurent valables, tant qu'elles ne seront pas modifiées par le nouvel article «Procédure d'agrément de savoir-faire» (à l'étude) 2.1 Documents applicables Publication 747-10/QC 700000 (1984) de la CEI 2.2 Valeurs recommandées de températures Voir la Publication 748-1 de la CEI, chapitre VI, article 2.3 Valeurs recommandées des tensions Voir la Publication 748-1 de la CEI, chapitre VI, article 2.4 Définitions relatives aux opérations de fabrication 2.4.1 Ligne de fabrication Une ligne de fabrication est définie comme un ensemble unique d'opérations de fabrication comprenant une ou plusieurs des phases de fabrication suivantes: 1) 2) 3) 4) 5) diffusion; préparation des pastilles; assemblage; finition et mesures électriques finales; sélection (si applicable) NOTE — Les procédures d'assurance de la qualité ne sont pas comprises dans ces phases LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU — 52 — 748-11 © CEI [Nom (adresse) de l'Organisme national habilité (ONH) responsable (et éventuellement de l'organisme auprès duquel la spécification peut être obtenue).] [1] [N° de la spécification particulière IECQ, plus numéro d'édition et/ou date.] [2] COMPOSANT ÉLECTRONIQUE DE QUALITÉ CONTRÔLÉE CONFORMÉMENT À: Spécification générique: Publication 747-10/QC 700000 Spécification intermédiaire: Publication 748-11/QC 790100 [3] [Numéro national de la spécification particulière.] [Cette case n'a pas besoin d'être utilisée si le numéro national est identique au numéro IECQ.] [4] [et références nationales si elles sont différentes.] Description mécanique [7] Brève description [5] [6] [Peut être transféré, ou donné avec plus de détails, l'article de cette spécification Application: Fonction: Construction typique: [Si, monolithique, bipolaire, MOS.] Encapsulation: [Btier avec ou sans cavité.] [Tableau comparatif des caractéristiques des différents produits.] PRÉCAUTIONS: dispositifs sensibles aux charges électrostatiques Identification des bornes Catégories d'assurance de la qualité Références d'encombrement: [La référence du btier normalisé doit être indiquée, numéro CEI (obligatoire si disponible) et/ou numéro national.] Dessin d'encombrement [Dessin indiquant l'emplacement des bornes, y compris les symboles graphiques.] Marquage: [lettres et chiffres, ou code de couleur.] [La spécification particulière doit indiquer les informations marquer sur le dispositif s'il y a lieu.] [Voir le paragraphe 2.5 de la spécification générique et/ou le paragraphe 1.1 de cette spécification [8] [A choisir dans le paragraphe 2.6 de la spécification générique.] [9] Données de référence [Données de référence sur les propriétés les plus importantes pour permettre la comparaison des types de composants entre eux.] Se reporter la liste des produits homologs en vigueur pour conntre les fabricants dont les composants conformes cette spécification particulière sont homologués LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU SPÉCIFICATION PARTICULIÈRE POUR: [fonction principale] [Numéro(s) de type du ou des dispositifs.] Renseignements donner dans les commandes: voir paragraphe 1.2 de la présente spécification 748-11 © IEC — 53 — [Name (address) of responsible National Authorized Institution (NAI) (and possibly of body from which specification is available).] [1] [Number of IECQ detail specification, plus issue number and/or date.] [2] ELECTRONIC COMPONENT OF ASSESSED QUALITY IN ACCORDANCE WITH: Generic specification: Publication 747-10/QC 700000 Sectional Specification: Publication 748-11/QC 790100 [3] [National number of detail specification.] [This box needs not be used if national number repeats IECQ number.] [4] [and national references if different] Mechanical description [7] Outline references: [Standard package reference should be given, IEC number (mandatory if available) and/or national number.] Outline drawing Short desc ri ption [6] Application: Function: Typical construction: [Si, monolithic, bipolar, MOS.] Encapsulation: [Cavity or non-cavity.] [Comparison table of characteristics for variant products.] CAUTION: electrostatic sensitive devices [May be transferred to or given with more details in Clause of this specification Terminal identification Categories of assessed quality [Drawing showing pin assignments, including graphical symbols.] [From Subclause 2.6 of the generic specification.] Marking: [Letters and figures, or colour code.] [The detail specification shall prescribe the information to be marked on the device, if any.] [See Subclause 2.5 of the generic specification and/or Subclause 1.1 of this specification.] [8] [9] Reference data [Reference data on the most important properties to permit comparison between types.] Information about manufacturers who have components qualified to this detail specification is available in the current Qualified Products List LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [5] DETAIL SPECIFICATION FOR: [main function] [Type number(s) of the relevant device(s).] Ordering information: see Subclause 1.2 of this specification — 54 — 748-11 © CEI Marquage et renseignements donner dans les commandes 1.1 Marquage Se reporter au paragraphe 2.5 de la spécification générique La spécification particulière doit indiquer les renseignements marquer relatifs aux types, tels que lettres, chiffres et/ou codes Lorsque le marquage inclut des renseignements autres que ceux qui sont specifiés au paragraphe 2.5 de la spécification générique, par exemple des renseignements réservés l'usage interne du fabricant, ces renseignements doivent être différenciés Si tous les renseignements sont déjà indiqués dans la case [7] sur la première page, cela doit être indiqué – référence IECQ de la spécification particulière avec numéro d'édition et/ou date selon le cas; – catégorie d'assurance de la qualité définie dans l'article de la spécification intermédiaire et, si nécessaire, sélection définie dans l'article de la spécification intermédiaire; – emballage pour la livraison; – toute autre particularité Description relative l'application du dispositif (voir note page 6) But: Cet article a pour but d'expliquer l'application du dispositif Contenu: Cet article doit fournir un résumé des renseignements relatifs l'application du dispositif dans les équipements ou circuits et ses relations avec les dispositifs associés Se reporter au paragraphe 10.2 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI Spécification de la fonction But: Cet article a pour but d'identifier et de décrire la fonction du dispositif Contenu: Les renseignements donnés dans cet article doivent être choisis dans le nouveau paragraphe 10.3 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI Valeurs limites (voir note page 6) But: Cet article a pour but de définir les valeurs limites absolues du dispositif Cet article n'est pas applicable aux exigences de contrôle, mais l'utilisation du dispositif Contenu: Les renseignements donnés dans cet article doivent être choisis dans le nouveau paragraphe 10.4 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI Si les valeurs limites doivent être contrôlées, il faut se référer au chapitre VII de la Publication 748-1 de la CEI comprenant les méthodes de mesure Ces valeurs limites doivent être établies conformément aux nouveaux paragraphes 10.4.1 et 10.4.2 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1.2 Renseignements donner dans les commandes Sauf spécification contraire, les renseignements suivants constituent le minimum nécessaire pour passer commande d'un dispositif donné: – référence précise du modèle (et valeur de la tension nominale, si nécessaire); 748-11 © IEC — 55 — Marking and ordering information 1.1 Marking See Subclause 2.5 of the generic specification The detail specification shall prescribe the information marked for the relevant types such as letters, figures and/or codes When the marking contains marking other than that specified in Subclause 2.5 of the generic specification, such as used for manufacturer's internal use, it should be distinguished If all the information has already appeared in the box [7] of the front page, this shall be indicated 1.2 Ordering information – precise type reference (and nominal voltage value, if required); – IECQ reference of detail specification with issue number and/or date when relevant; – category of assessed quality as defined in Clause of the sectional specification and if required, screening sequence as defined in Clause of the sectional specification; – packaging for delivery; – any other particulars Application related description (see note page 7) Purpose : This clause is used to explain the application of the device Contents: Summary of information on its application in equipments or circuits and its relation to the associated devices shall be given here See new Subclause 10.2 of IEC Publication 748-1, Chapter VI Specification of the function Purpose: This clause is used to identify and describe the function of the device Contents: Items to be given here shall be selected from new Subclause 10.3 of IEC Publication 748-1, Chapter VI Limiting values (see note page 7) Purpose: This clause is used to define the absolute maximum ratings of the device This is not for inspection purposes, but for the suitable usage of the device Contents: Items to be given here shall be selected from new Subclause 10.4 of IEC Publication 748-1, Chapter VI If limiting values are to be inspected, reference shall be made to IEC Publication 748-1, Chapter VII including measurement test methods These values shall be written in accordance with new Subclauses 10.4.1 and 10.4.2 of IEC Publication 748-1, Chapter VI LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU The following minimum information is necessary to order a specific device, unless otherwise specified: — 56 — 748- I © CEI Conditions de fonctionnement (voir note page 6) But: Cet article a pour but d'indiquer les conditions de fonctionnement Ces conditions sont applicables aux exigences de contrôle Contenu: Les renseignements donnés dans cet article doivent être choisis dans les nouveaux paragraphes 10.5.1 10.5.9 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI en fonction de leur applicabilité au dispositif Caractéristiques électriques (voir note page 6) S'il y a lieu, des renseignements suffisants relatifs aux temps et capacités peuvent être exigés conformément aux nouveaux paragraphes 10.6.3 et 10.6.4 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI Programmation (voir note page 6) But: Cet article ne concerne que les dispositifs programmables Si le dispositif ne possède pas cette fonction, uniquement le numéro de l'article et la mention «non applicable» seront indiqués Le but principal de cet article est de définir la progammation appropriée du dispositif étant donné que la fiabilité finale du dispositif dépend en grande partie de celle-ci Contenu: Cet article doit indiquer tous les renseignements concernant les conditions de programmation, l'algorithme et la procédure de vérification Se reporter également au nouveau paragraphe 10.7 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI Valeurs limites, caractéristiques et données mécaniques et climatiques Cet article doit indiquer toutes les valeurs limites mécaniques et/ou climatiques spécifiques applicables, conformément au nouveau paragraphe 10.8 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI (se reporter également l'article du chapitre VI de la Publication 747-1 de la CEI) Renseignements supplémentaires (voir note page 6) Cet article indique des renseignements supplémentaires facultatifs qui ne doivent être donnés que dans la mesure où cela est nécessaire la spécification et l'utilisation du dispositif Ces renseignements ne sont pas applicables pour les exigences de contrôle Dans la spécification particulière cadre, on doit indiquer que les renseignements ne sont pas destinés au contrôle et donner des exemples S'il y a lieu, se reporter au nouveau paragraphe 10.9 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI 10 Sélection Si besoin est, la spécification particulière cadre renverra l'article de la spécification intermédiaire et donnera, si nécessaire, les exigences techniques supplémentaires LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU But: Cet article a pour but de spécifier les caractéristiques électriques du dispositif et d'indiquer leur assurance Contenu: Les caractéristiques statiques et dynamiques ou en courant alternatif nécessaires et suffisantes pour l'assurance de la qualité doivent être choisies parmi les valeurs limites et caractéristiques essentielles du dispositif et être conformes aux nouveaux paragraphes 10.2 et 10.3 du chapitre VI de la Publication 748-1 de la CEI 748-11 © IEC — 57 — Operating conditions (see note page 7) Purpose: This clause is used to give the operating conditions These conditions may be used for inspection purposes Contents: Items to be given here shall be selected from new Subclauses 10.5.1 to 10.5.9 of IEC Publication 748-1, Chapter VI, as applicable to the device Electrical characteristics (see note page 7) Purpose: This clause is used to specify the electrical characteristics of the device and to indicate assurance of them Where appropriate, sufficient information for timing and capacitances may be required in accordance with new Subclauses 10.6.3 and 10.6.4 of IEC Publication 748-1, Chapter VI Programming (see note page 7) Purpose : This clause is necessary only for programmable devices If the device does not have this function, only the clause number and "Not applicable" shall be written The most important object of this clause is to define the correct programming of the device because final reliability is considerably affected by it Contents: In this clause, all information about programming conditions, algorithm and verification procedure shall be given See also new Subclause 10.7 of IEC Publication 748-1, Chapter VI Mechanical and environmental ratings, characteristics and data Any specific mechanical and/or environmental ratings applicable shall be required here in accordance with new Subclause 10.8 of IEC Publication 748-1, Chapter VI (see also IEC 747-1, Chapter VI, Clause 7) Additional information (see note page 7) In this clause, optionally additional information may be given only as far as necessary for the specification and use of the device The information given here is not for inspection purposes In the blank detail specification, state that this is not for inspection and show some examples which may be given here When necessary, see new Subclause 10.9 of IEC Publication 748-1, Chapter VI 10 Screening When required, the blank detail specification shall make reference to Clause of the sectional specification and, if necessary, give additional technical requirements LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Contents: Static and dynamic or a.c characteristics necessary and sufficient for quality assessment shall be selected from essential ratings and characteristics of the device and be in accordance with new Subclauses 10.2 and 10.3 of IEC Publication 748-1, Chapter VI — 58 — 748-11 © CEI 11 Procédures d'assurance de la qualité La spécification particulière cadre doit spécifier si l'on doit appliquer la procédure d'homologation ou la procédure d'agrément de savoir-faire 11.1 Procédure d'homologation Se reporter l'article de la spécification générique et au paragraphe 5.1 de la spécification intermédiaire 11.2 Procédure d'agrément de savoir-faire A l'étude 12 Procédures d'associativité 13 Conditions d'essai et exigences de contrôle 13.1 Généralités La spécification particulière cadre a pour but de maintenir l'uniformité de la présentation des essais dans les spécifications particulières Dans la mesure du possible, il faut faire référence aux documents d'ordre supérieur (spécification intermédiaire, spécification générique) Cela évite les répétitions et présente l'avantage de faire en sorte que les modifications apportées dans les documents d'ordre supérieur s'appliquent automatiquement toutes les spécifications particulières cadre (ce qui évite la mise jour de toutes les spécifications particulières cadre consécutive une modification des spécifications intermédiaires ou génériques) 13.2 Exigences d'échantillonnage et constitution des lots de contrôle En ce qui concerne les exigences d'échantillonnage, la spécification particulière cadre doit faire référence l'article de la spécification intermédiaire et au paragraphe 3.7 de la spécification générique La spécification particulière cadre doit spécifier que, pour le groupe A, le choix entre les systèmes NQA et LTPD doit être effectué dans la spécification particulière En ce qui concerne la constitution des lots de contrôle, la spécification particulière cadre doit faire référence au paragraphe 5.1.1 de la spécification intermédiaire et au paragraphe 12.2 de la Publication QC 001002 de la CEI Si on doit appliquer la procédure relative aux dispositifs associables, la spécification particulière cadre doit faire référence l'article de la spécification intermédiaire et au paragraphe 8.5.3 de la Publication QC 001002 de la CEI Si pour les procédures d'homologation, il est permis d'utiliser la méthode a) de la Publication QC 001002 de la CEI, paragraphe 11.3.1, la spécification particulière cadre doit indiquer les exigences d'échantillonnage (se reporter également l'article de la spécification intermédiaire) 13.3 Tableaux de contrôle (séquences d'essais) La spécification particulière cadre doit utiliser le format suivant pour la présentation des essais: Tableau [I, II, III, IV] Groupe [A, B, C ou D] [Toute indication de nature générale] LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Se reporter l'article de la spécification intermédiaire — 59 — 748-11 © IEC 11 Quality assessment procedures The blank detail specification shall specify whether the qualification approval procedure or capability approval procedure is applicable 11.1 Qualification approval procedure See generic specification, Clause and sectional specification, Subclause 5.1 11.2 Capability approval procedure Under consideration 12 Structural similarity procedures 13 Test conditions and inspection requirements 13.1 General Blank detail specification is used to maintain a uniform presentation of tests in the detail specification Wherever possible, reference is made to higher-order documents (sectional specification, generic specification) This avoids duplication of text and has the advantage that modifications in the higher-order documents automatically apply to all the blank detail specifications (avoiding the subsequent updating of all blank detail specifications, following a modification in the sectional or generic specifications) 13.2 Sampling requirements and formation of inspection lots For the sampling requirements, the blank detail specification shall make reference to Clause of the sectional specification and to Subclause 3.7 of the generic specification The blank detail specification shall give the instruction that, for group A, the choice between the AQL and LTPD systems shall be made in the detail specification For the formation of inspection lots, the blank detail specification shall make reference to Subclause 5.1.1 of the sectional specification and to Subclause 12.2 of IEC Publication QC 001002 If the procedure for structurally similar devices is to be applied, the blank detail specification shall make reference to Clause of the sectional specification and to Subclause 8.5.3 of IEC Publication QC 001002 If for qualification approval it is permitted to use method a) of IEC Publication QC 001002, Subclause 11.3.1, the blank detail specification shall give the sampling requirements (see also Clause of the sectional specification) 13.3 Inspection tables The blank detail specification shall use the following format for the presentation of the tests: Table [I, II, III, IV] Group [A, B, C or D] [Any statement of a general nature] LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU See Clause of the sectional specification 748 - 11 © — 60 — Sous-groupe Réf Publication de la CEI Examen ou Essai CEI Limites Conditions d'essai Min Max La spécification particulière cadre doit classer les différents essais en sous-groupes en fonction des exigences de l'article de la spécification intermédiaire et du paragraphe 3.6.1 de la spécification générique Pour les essais, les références suivantes doivent être indiquées: paragraphe 4.2.1 de la spécification générique ou article du chapitre I de la Publication 749 de la CEI; – dimensions: paragraphe 4.2.2 de la spécification générique; – vérification de la fonction: article de la spécification particulière cadre; chapitre IV de la partie correspondante de la Publication 748 de – mesures électriques: la CEI; – mesures de corrélation (si autorisées): paragraphe 12.5 de la spécification intermédiaire; – esssais mécaniques et climatiques: paragraphe 12.2 de la spécification intermédiaire ou paragraphe 4.4 de la spécification générique ou Publication 749 de la CEI ou Publication 68 de la CEI; – essais d'endurance: paragraphes 12.3 et 12.4 de la spécification intermédiaire ou publication 748-1 de la CEI, chapitre VIII, section trois ou partie correspondante de la Publication 748 de la CEI, chapitre V, article La spécification particulière cadre doit indiquer si les mesures de corrélation sont autorisées et doit fournir les détails requis par la spécification intermédiaire Pour les essais d'endurance électrique, la spécification particulière cadre doit donner les détails sur: – le circuit électrique utiliser, – les conditions de polarisation (s'il y a lieu), – les signaux électriques appliquer (s'il y a lieu), ou stipulera que les détails doivent figurer dans la spécification particulière Pour les mesures effectuer après les essais d'endurance, la spécification particulière cadre doit faire référence la partie correspondante de l'article du chapitre V de la Publication 748 de la CEI Pour les essais des caractéristiques électriques du groupe A, la spécification particulière cadre doit faire référence aux caractéristiques électriques données dans l'article de cette spécification particulière cadre ou stipulera que le rédacteur de la spécification particulière doit le faire Le paragraphe ci-dessus s'applique également aux essais des caractéristiques électriques des groupes B et C, condition que ces essais ne soient pas effectués dans le groupe A, dans le cas contraire, on doit faire référence l'essai correspondant du groupe A Toutes les caractéristiques électriques répertoriées l'article de la spécification particulière cadre doivent faire l'objet d'essais dans les groupes A, B et/ou C Les sous-groupes dans lesquels les essais sur ces paramètres sont effectués doivent être indiqués LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU – examen visuel: 748-11 © IEC Sub-group — 61 — Reference IEC publication Examination or Test Limits Conditions of test Minimum Maximum The blank detail specification shall classify the various tests into sub-groups according to the requirements of Clause of the sectional specification and Subclause 3.6.1 of the generic specification For the tests, the following references shall be made: subclause 4.2.1 of the generic specification or Clause of Chapter I of IEC 749; – dimensions: subclause 4.2.2 of the generic specification; – verification of the function: subclause of the blank detail specification; chapter IV of the relevant Part of IEC Publication 748; – electrical measurements: – correlated measurements (if permitted) : subclause 12.5 of the sectional specification; – mechanical and climatic tests: subclause 12.2 of the sectional specification or subclause 4.4 of the generic specification or IEC Publication 749 or IEC Publication 68; – endurance tests: subclauses 12.3 and 12.4 of the sectional specification or IEC 748-1, Chapter VIII, Section or the relevant Part of IEC 748, Chapter V, Clause The blank detail specification shall state if correlated measurements are permitted and shall give the details as required by the sectional specification For electrical endurance tests, the blank detail specification shall give the details concerning: – the electrical circuit to be used, – the bias conditions (if appropriate), – the electrical signals to be applied (if appropriate), or shall require the detail specification to give details For measurements to be made after the endurance tests, the blank detail specification shall make reference to the relevant Part of IEC Publication 748, Chapter V, Clause For the tests of the electrical characteristics in Group A, the blank detail specification shall make reference to the electrical characteristics given in Clause of this blank detail specification or it shall instruct the detail specification writer to so The above paragraph also applies for the tests of electrical characteristics in Group B and Group C, provided that these tests are not performed in Group A Otherwise, reference to the relevant test in Group A shall be made All electrical characteristics listed in Clause of the blank detail specification shall be tested in Groups A, B and/or C The sub-groups in which these parameters are to be tested shall be indicated LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU – visual inspection: — 62 — 748-11 © CEI Les caractéristiques électriques qui ne sont pas contrôler doivent être indiquées l'article 9: Renseignements supplémentaires La spécification particulière (cadre) doit indiquer le caractère destructif (D) ou non destructif (ND) des essais 13.4 Livraison différée Sauf spécification contraire, se reporter au paragraphe 3.6.7 de la Publication 747-10 de la CEI 14 Méthode de mesure supplémentaire Se reporter au paragraphe 4.3.1.1 de la spécification générique LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 748-11 © IEC — 63 — Electrical characteristics which are not to be inspected shall be given in Clause 9: Additional information The (blank) detail specification shall indicate which tests are non-destructive (ND) and which are destructive (D) 13.4 Delayed delivery See IEC Publication 747-10, Subclause 3.6.7, unless otherwise specified 14 Additional measurement method See Subclause 4.3.1.1 of the generic specification LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU ICS 31.200 Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZERLAND