Tn x ray diffraction and characterization materials 2017 09

THỰC NGHIỆMC NGHIỆMM NHIỄU XẠ TIA X & CAC PHƯƠNG PHÁP U XẠ TIA X & CAC PHƯƠNG PHÁP TIA X & CAC PHƯƠNG PHÁP NG PHÁP NGHIÊN CƯU VẬT LIỆUT LIỆUU   TS Trần Văn Khảin Văn Khảii Khoa Công Nghệ Vật Liệu Vật Liệut Liệ Vật Liệuu Đại học Bách Khoa TpHCMi học Bách Khoa TpHCMc Bách Khoa TpHCM ĐT: 0120 3327675 Email: tvkhai1509@gmail.com NỘI DUNGI DUNG I MỤC ĐÍCHC ĐÍCH II LÝ THUYẾTT III TÍNH NĂNG THIẾTT BỊ IV THỰC HÀNH THÍ NGHIỆMC HÀNH THÍ NGHIỆUM V NỘI DUNGI DUNG BÁO CÁO X-Ray diffraction (XRD) ■ Diffraction: Bragg’s Law ■ Crystal Structure Determination Elements of X-Ray Diffraction B.D Cullity & S.R Stock Prentice Hall, Upper Saddle River (2001) X-Ray Diffraction: A Practical Approach C Suryanarayana & M Grant Norton Plenum Press, New York (1998) Why XRD ? • XRD is a nondestructive technique • To identify crystalline phases and orientation of a single crystal or grain • To determine structural properties: Lattice parameters (10-4Å), strain, grain size, expitaxy, phase composition, preferred orientation (Laue), order-disorder transformation, thermal expansion • Measure the average spacings between layers or rows of atoms • To measure thickness of thin films and multi-layers • To determine atomic arrangement • Find the crystal structure of an unknown materials • Detection limits: ~3% in a two phase mixture; can be ~ 0.1% with synchrotron radiation The Structure of Crystalline Solids (Hình dạng mạng sở) (Hệ tinh thể) (Lập phương-P) (Sáu phương-P) (Bố phương-P) (Quan hệ trục) (Quan hệ góc) The Structure of Crystalline Solids (Ba phương-P) (Trực thoi-P) (Một nghiêng-P) (Ba nghiêng-P) The 14 Crystal (Baravais) Lattices (Lập phương-P) (Sáu phương-P) (Bố phương-P) (Trực thoi-P) (Một nghiêng-P) (Ba phương-P) (Ba phương-P) ● Crystal geometry equations for XRD ● d-spacings and Miller indices Crystal geometry equations for XRD d-spacings and Miller indices What is X-ray Diffraction