Các vết được đếm dưới m ột kính hiển VI quang học với ánh sáng truyên qua hay phản xạ. Bình thường m ẫu sẽ có rất nhiều vết nên cần sử dụng các lưới ô vuông (hình 4.1).
Để tính toán các vết trong nền thuỷ tinh cần m ột độ phóng đại 500 lần, với các vết nhỏ hơn cần độ phóng đai 1000 lần như với apatit, VỚI zircon cân 1600 lan. Vơi cac
khoáng vât dùng trong phương pháp detector n goài, cân phải có sự trung khít giưa be
m ặt của d etecto r và bề m ật của khoáng vật.
Đ ể thuận tiện cho việc đếm , người ta tao ra m ột hệ các ló chuân trực tiép tren T oflon và m u sco v it (hình 4.1). Hệ lỗ này được chuẩn trên kính hiển vi và sự dịch ch u y ển của nó có thể điều khiển bằng m áy vi tính.
Đ ối với phương pháp tập hợp, đòi hỏi ít nhất là m ộ t nghìn vêt tương ứng 50 hạt. Với các k h o á n s vật dùng tro n s phương pháp detector ngoài, thì càng nhiều vét là càng
tốt nhưng để có được tu ổ i cần 10 hạt trở lên. Cuối cùng, khi phân tích cần phân biệt các vết xước nhân tạo cũ n g như cần chú ý tới kích cỡ, dáng điệu và sự định hướng của chung. H ình 4.2 M inh ho a m ồt sô vêt phân hạch trong apatit.
■■ ■■■_■_________Ể í , - ' > \ , ' :ì * : - \ ••• * s ** • % . ì -as J - * r y Ị r - - r S i í i ắ , ^ : «r- . • • ' ị ỉ _ ■ • .. ; ■ X* . C>M 'V - - ■- •. - • - > - V ■" 4 ; •’ ■ -V.*' • . '*» .-ì * t i. ' V ■Í i í ■- ■ * ' . ; ì# :■ V ’ V , 5; .'■í* '»*■.. . ... ■ k. t _ .. - ì
H ình 4.2: V ết ph ân hạch của apatit, trong Teflon và trong detector (m uscovit).