Bên cạnh pho XRD có thể dùng phổ IR để xác định cấu trúc pha tinh thể của Vật liệu. Phổ IR của các Vật liệu được xác định bằng kỹ thuật ép viên với KBr trên thiết bị của Viện Khoa học Vật liệu ứng dụng.
Các vạch hấp thụ trong vùng 200 - 1250 cm'1 có quan hệ với các dạng khác nhau của dao động liên kết (Si-Al)-04 trong bộ khung của zeolit. Theo cách phân loại của Flan-igen thì các vạch trong vùng quang pho hồng ngoại bao gồm hai dao động: dao động nội của tứ diện TO4 và dao động liên quan với liên kết bên ngoài giữa các tứ diện.
n Dao động của tứ diện (Si-Al)-04: 1250-950 em'1 720 - 650 cm’1 420 - 500 cm'1 n Dao động liên kết ngoại:
Đồ án tổt nghiệp GVHD : TS.Nguyễn Đình Thành
SVTH : Nguyễn Thị Hương Thảo Trang 32
650 - 500 cm'1 300 - 420 cm'1 750 - 820 cm'1 1050 - 1150 em '
Dao động thứ nhất thường không nhạy đối với sự thay đổi cấu trúc, trong khi đó thì dao động loại thứ hai thay đồi một cách rõ rệt khi cấu trúc bị biến đôi. Đối với zeolit loại A, sự phân loại này được biểu diễn như sau
Hình 4: Các dao động trong zeolit A
Đặc trung nhất đối với dao động của zeolit là vạch hấp thụ trong vùng 540 — 650 em '. Vạch này thường không có trong phổ hồng ngoại của alumosilicat vô định hình, cũng như các zeolit bị nung ở trên 1000°c.
Điều đáng quan tâm nhất là khi tăng tỷ lệ S1O2/AI2O3 trong cấu trúc mạng lưới zeolit vạch hấp thụ trong vùng 580 em'1 dịch chuyển về phía gía trị lớn.
Bên cạnh phương pháp XRD, phương pháp quang phố hồng ngoại cũng có thể được dùng để phân tích cấu trúc pha tinh thể của vật liệu.