CHƯƠNG 2: THỰC NGHIỆM
2.3.1Phương pháp phổ nhiễu xạ Rơnghen (X-ray difraction)
Theo lắ thuyết cấu tạo tinh thể, mạng tinh thể ựược xây dựng từ các nguyên tử hay các ion phân bốựều ựặn trong không gian theo một quy luật xác
ựịnh. Khi chiếu chùm tia rơnghen tới bề mặt tinh thể và ựi sâu vào bên trong mạng lưới thì mạng lưới này ựóng một vai trò như một cách tử nhiễu xạ ựặc biệt. Các nguyên tử, ion bị kắch thắch bởi chùm tia X sẽ thành các tâm phát ra tia phát xạ. Hơn nữa các nguyên tử, ion này ựược phân bố trên các mặt song song
Theo ựiều kiện giao thoa, ựể các sóng phát xạ trên 2 mặt phẳng cùng pha thì hiệu quang trình phải bằng số nguyên lần ựộ dài bước sóng (ở). Suy ra:
2d sinố = nở ( hệ thức Vulf - Bragg)
Căn cứ vào cực ựại nhiễu xạ trên giản ựồ (giá trị 2ố) có thể suy ra d theo biểu thức của V-B. So sánh giá trị d tìm ựược với ựường chuẩn sẽ xác ựịnh
ựược thành phần cấu trúc mạng tinh thể của chất cần nghiên cứu. Vì vậy phương pháp này ựược sử dụng rộng dãi trong nghiên cứu cấu trúc vi tinh thể
của vật chất.
đưa vào phổ X-ray cũng có thể xác ựịnh ựược ựộ tinh thể. đó là phần trăm tỉ lệ giữa cường ựộ pic ựặc trưng mẫu nghiên cứu so với cường ựộ pic ựặc trưng mẫu chuẩn.
Trong nghiên cứu ựặc trưng, giản ựồ nhiễu sạ Rơnghen XRD ựược ghi trên máy SIMENS D5005 khoa vật lắ chất rắn, trường đại học KHTN, với ống phát tia X bằng ựồng, Kỏ =1,5406, U=30 Kv, I=25A, nhiệt ựộ 25oC, góc quét 2ố (từ 1oựến 15o), tốc ựộ quét 0,2 ựộ /phút.