12 34 2n+1Tr(γ γ γ γ γ ) =
3.3.2.So sánh tiết diện tán xạ Compton tính toán với NIST, MCNP5 và thực nghiệm của thép C
Bảng 3.5, bảng 3.6 so sánh giá trị tính toán theo công thức lý thuyết (2.59) với các giá trị lấy từ NIST, mô phỏng bằng MCNP5 và thực nghiệm ở các mức năng lượng thực nghiệm. Hình 3.6 được vẽ theo số liệu trong phần phụ lục bảng P.3 thể hiện các giá trị trong vùng năng lượng từ 0,25 MeV đến 2,6 MeV.
Bảng 3.5.Tiết diện tán xạ Compton tính toán theo lý thuyết, NIST, MCNP5 và thực nghiệm ở các mức năng lượng thực nghiệmcủa thép C45
E (MeV)
Tiết diện tán xạ Compton của thép C45 (barn)
σTT σNIST [16] MCNP5 Thực nghiệm σMCNP5 Sai số (%) σTN Sai số (%) 0,6617 6,54 6,52 6,67 0,43 6,29 1,05 1,1732 4,98 4,97 5,07 0,51 4,82 1,36 1,3325 4,66 4,66 4,73 0,56 4,60 1,40 1,7645 4,01 4,01 4,11 0,68 4,02 1,39
Bảng 3.6.Độ sai biệt về tiết diện tán xạ Compton tính toán theo lý thuyết so với các số liệu khác ở các mức năng lượng thực nghiệmcủa thép C45
E (MeV)
Độ sai biệt tiết diện tán xạ Compton của thép C45 tính theo lý thuyết so với các chương trình (%)
∆σTT/NIST ∆σTT/MCNP5 ∆σTT/TN
0,6617 0,30 2,04 3,72
1,1732 0,05 1,87 3,04
1,3325 0,01 1,41 1,37
Hình 3.11. So sánh tiết diện tán xạ Compton tính toán theo lý thuyết so với NIST, MCNP5 và thực nghiệm của thép C45
Ta thấy đối với thép C45, tiết diện tán xạ Compton tính toán theo lý thuyết có độ sai biệt thấp so với số liệu của NIST, MCNP5 và thực nghiệm. Ở các mức năng lượng thực nghiệm, độ sai biệt so với NIST thấp nhất ở gần mức năng lượng 1,3325 MeV (0,01%), cao nhất ở mức năng lượng 0,6617 MeV (0,30%). So với chương trình MCNP5, độ sai biệt thấp nhất ở mức năng lượng 1,3325 MeV (1,41%), cao nhất ở mức năng lượng 1,7645 MeV (2,52%). So với thực nghiệm, độ sai biệt thấp nhất ở mức năng lượng 1,7645 MeV (0,28%), cao nhất ở mức năng lượng 0,6617 MeV (3,72%).
3.3.3. So sánh tiết diện tán xạ Compton tính toán với NIST, MCNP5 và thựcnghiệm của thép CT3