CƠ KHÍ SỬ DỤNG KINECT V2
3.1. Hai phương pháp giảm ảnh hưởng của phản xạ bề mặt
3.1.1. Phương pháp tạo lớp phủ chống phản xạ bề mặt 3.1.1.1. Mô tả thí nghiệm
2.2.959 Lớp phủ bề mặt có thể được thực hiện bằng nhiều sản phẩm với thành phần
và phương pháp ứng dụng khác nhau. Điều quan trọng là phải biết làm thế nào lớp phủ bề mặt (cấu trúc và độ dày lớp phủ) ảnh hưởng đến chất lượng và độ chính xác của quá trình số hóa. Phát triển từ nghiên cứu ở tài liệu [51], trong luận án này, Developers sẽ được sử dụng để tạo lớp phủ chống phản xạ bề mặt ở bước thu thập thông tin hình học trong quá trình tái tạo hình học bề mặt các sản phẩm cơ khí sử dụng thiết bị Kinect v2.
2.2.960 Loại Developers được sử dụng trong thí nghiệm này là sản phẩm Mega check
của thương hiệu Nabakem, minh họa trong hình 3.1. Developers này là một hóa chất chuyên dùng để phát hiện các khuyết tật mối hàn không chứa chất gây ăn mòn vật liệu kim loại, cũng có thể sử dụng cho các vật liệu phi kim như nhựa
2.2.961
2.2.962 Hình 3.1: Developers dạng dung dịch Mega check
2.2.963 tổng hợp, sứ, thủy tinh. Mega check là sản phẩm ở dạng bình xịt một
chạm nên
rất dễ sử dụng và liên tục. Ngoài ra đây còn là sản phẩm thân thiện với người vận hành, tính di động cao và dễ dàng làm sạch sau khi sử dụng.
2.2.964 Tiến hành phun trực tiếp dung dịch Mega check Developers lên bề mặt của
các vật mẫu đã sử dụng trong thí nghiệm ở phần 2.4 trong chương 2. Với nỗ lực tạo ra một lớp phủ giới hạn lý tưởng, đủ dày để ngăn các phản xạ không mong muốn, nhưng không quá dày để tránh ảnh hưởng đến kích thước đối tượng đo được, người vận hành đã tiến hành phun theo hàng và cột từ trái sáng phải, từ trên xuống dưới, với khoảng cách từ đầu xịt đến bề mặt khoảng 25 — 30cm, tốc độ di chuyền gần như không đổi. Quá trình thực hiện được tiến hành trong điều kiện phòng thí nghiệm với nhiệt độ, độ ẩm không đổi và các cửa sổ cũng như cửa chính được đóng kín. Sau khoảng thời gian ba mươi phút, lớp sơn trên các bề mặt đã khô, bề mặt sau phủ của các vật mẫu có thể quan sát trong hình 3.2.
Riêng bề mặt của chi tiết vật liệu thép có màu nâu nhạt.
2.2.965
2.2.966 Để khảo sát quá trình tái tạo hình học bề mặt các sản phẩm cơ khí sử dụng
thiết bị Kinect v2 với các bề mặt có lớp phủ chống phản xạ bề mặt, cấu hình thí nghiệm được thiết lập tương tự như phần 2.4 trong chương 2. Các vị trí khảo sát vẫn là các vị trí đã xác định trong hình 2.25. Đồng thời, chương trình thu nhận đám mây điểm trong thí nghiệm trước cũng được sử dụng trong thí nghiệm này.
3.1.1.2. Kết quả và đánh giá
Mẫu thép Mẫu nhôm- Mẫu nhựa
Hình 3.2: Bề mặt vật mẫu có lớp phủ
2.2.967 Sau khi tiến hành thực nghiệm, kết quả sơ bộ cho thấy, lớp phủ bề mặt nhằm chống phản xạ bề mặt được tạo bởi dung dịch Mega check không có tác dụng làm giảm khả năng bị xuyên qua đối với vật mẫu vật liệu nhựa. Cụ thể, cùng khối lọc được sử dụng là 130mm X 130mm X 10mm, tất cả các vị trí đều không thu được đám mây điểm trong khu vực đã lọc. Khi sử dụng khối lọc130mm X
130mm X 30mm, số lượng điểm trong đám mây điểm trước khi phủ bề mặt và sau khi phủ bề mặt lần lượt là 1397 và 1406 điểm. Giá trị trung bình tọa độ z các điểm trong đám mây điểm thu được là 1262,6mm, gần bằng giá trị khoảng cách tham chiếu từ gốc tọa độ hệ trục tọa độ máy ảnh tới mặt phẳng tham chiếu.
2.2.968 Đầu tiên, kết quả các đám mây điểm thu được ở vị trí số 1 được minh họa
trong hình 3.3 đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu. Tuy nhiên, cả hai đám mây điểm vẫn tồn tại một số vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Đối với vật liệu nhôm, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1053, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1251,8mm tương ứng với độ lệch chuẩn là 1, 06mm. Đối với vật liệu thép, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1046, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1252,4mm 2.2.969tương ứng với độ lệch chuẩn là 1,01mm.
2.2.970 Tiếp theo tại vị trí khảo sát số 2, các đám mây điểm kết quả được mô
tả trong
hình 3.4. Cả hai đám mây điểm này đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu, cũng tương tự như ở vị trí 1, có một vài vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Đối với vật liệu nhôm, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1075, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1251,6mm tương ứng với độ lệch chuẩn là 1,08mm. Đối với vật liệu thép, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1066, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1251, 7mm tương ứng với độ lệch chuẩn là 1,11mm.
2.2.971 Tiếp đến các đám mây điểm thu được tại vị trí khảo sát số 3 được trình bày
180---1---1---1---1---1---1---
160 - ... .
140 :. ■;;■■■■■■ -
E' ■ ..’. ■ ■ ■ ■: : :
£,120- ...
X ’ ’ . . . . . .’
Q ... . . .... ...
2-I- ... . ...
100 - • • • • • ... ... . . -
80 - . : :. ■ ■ :: . ■ . -
60 - ...: ■ ■: ■ -
100 120 140 160 180 200 220
Trụcy (mm)
(a) Vật liệu nhôm
Hình 3.3: Đám mây điểm thu đượ
180---1---1---1---1---1---1---
160 - ’: ’.. -
140 - . :: ■ : ■ ■
? :I:I:::::::: 11::::::::: 11:::::: I
Ê120 - ; •..: . •: • • . •..
Xo ... ... ... ...
1= . ’í ■ ■
100 - ... ...
80 - .. ■ ■: . ■ ■: . ■::. -
60 - ... ::: .. ■ ■ ' ■ -
100 120 140 160 180 200 220
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép
ở vị trí khảo sát số 1 khi có lớp phủ
trong hình 3.5. Cũng tương tự như hai vị trí 1 và 2, cả hai đám mây điểm này đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu và có một vài vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Cụ thể với từng vật liệu, đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm có 1113 điểm, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1250, 3mm và độ lệch chuẩn của các giá trị độ sâu là 1,51mm.
2.2.972
2.2.973 Đám mây điểm thu được của vật liệu thép có 1137 điểm, giá trị trung
bình độ
sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1249,9mm và độ lệch chuẩn của các giá trị độ sâu là 1, 65mm.
2.2.974 Tại vị trí khảo sát số 4, các đám mây điểm kết quả được minh họa
trong hình
3.6. Cả hai đám mây điểm này đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu và có các vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu, đặc biệt trong đám mây điểm của vật liệu nhôm xuất hiện một vùng trống dữ liệu ở phía trong và tạo thành hốc trên bề mặt được quét. Đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm có 944 điểm, còn đám mây điểm thu được của vật liệu thép có 1040 điểm. Với
2.2.975
60
40
20
0
-40
-60 Ẹ
-20
100 120 140 160 180 200 220
Trụcy (mm)
(a) Vật liệu nhôm
60
40
20
-40
-60 Ẹ
0
-20I-
100 120 140 160 180 200 220
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép
Hình 3.4: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 2 khi có lớp phủ
-60
-80
-100
-160
-180 Ẹ E-120
-140
100 120 140 160 180 200 220
Trục y (mm)
Vật liệu nhôm
-60
-80
-100
-140
-160
-180 E E -120
100 120 140 160 180 200 220
Trụcy (mm)
(b) Vật liệu thép (a)
Hình 3.5: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 3 khi có lớp phủ
2.2.976
2.2.977 Hình 3.6: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 4 khi có lớp phủ 2.2.978 thông số độ sâu, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm
vật liệu nhôm là 1252,6mm ứng với độ lệch chuẩn 1,06mm. Giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm vật liệu thép là 1252,0mm ứng với độ lệch chuẩn 1,17mm.
2.2.979 Kết quả tiếp theo tại vị trí số 5, các đám mây điểm được hiển thị trong hình
3.7. Số điểm thu được trong đám mây điểm lần lượt của vật liệu nhôm là 1045 và của vật liệu thép là 1087. Ở vị trí này, các đám mây điểm thu được cũng thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu, tuy nhiên vẫn có một số vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Về thông số độ sâu, giá trị độ sâu trung bình các điểm trong đám mây điểm của vật liệu nhôm là 1250, 7mm, ứng với độ lệch chuẩn là 1,1mm. Giá trị độ sâu trung bình các điểm trong đám mây điểm của vật liệu thép là 1250,6mm, ứng với độ lệch chuẩn là 1,29mm.
180
160
140
80
60 Ẹ£,120 X,1 1—100
-20 0 20 40 60 80 100
Trục y (min)
(a) Vật liệu nhôm
180
160
140
100
80
60 E 1,120 X
-20 0 20 40 60 80 100
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép
2.2.980
60
40
20
0
-20
-40
-60
(a)
Ẹ E.
20 40 60 80 100
Trụcy (mm)
Vật liệu nhôm
-20 0
60
40
20
-20
-40
-60 Ẹ
0
-20 0 20 40 60 80 100
Trụcy (mm)
(b) Vật liệu thép
Hình 3.7: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 5 khi có lớp phủ
2.2.981 Tiếp đến kết quả thực nghiệm tại vị trí số 6, các đám mây điểm được mô
tả trong hình 3.8. Số điểm thu được trong đám mây điểm lần lượt của vật liệu nhôm là 1093 và của vật liệu thép là 1102. ở vị trí này, các đám mây điểm thu được cũng thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu, tuy nhiên vẫn có một số vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Về thông số độ sâu, giá trị độ sâu trung bình các điểm trong đám mây điểm của vật liệu nhôm là 1250,6mm, ứng với độ lệch chuẩn là 1,22mm. Giá trị độ sâu trung bình các điểm trong đám mây điểm của vật liệu thép là 1250,6mm, ứng với độ lệch chuẩn là 1, 61mm.
2.2.982
2.2.983 Tiếp theo, các đám mây điểm thu được tại vị trí số 7 được thể hiện trong
hình 3.9. Cụ thể, đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm có 1088 điểm và của vật liệu thép là 1138 điểm. Cả hai đám mây điểm thu được đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu nhưng còn tồn tại vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Đối với thông số độ sâu, độ sâu trung bình đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm là 1251,0mm, với độ lệch chuẩn là 1,27mm. Độ sâu trung bình đám mây điểm thu được của vật liệu thép là 1249,9mm, với độ lệch chuẩn là 1,44mm.
2.2.984 Kết quả tại vị trí khảo sát số 8, các đám mây điểm được minh họa
trong hình
3.10. Số điểm thu được trong đám mây điểm của vật liệu nhôm là 1126 và của vật liệu thép là 1117. Cả hai đám mây điểm thu được đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu, tuy nhiên có một số vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Với thông số độ sâu, giá trị độ sâu trung bình của các điểm trong đám mây điểm vật liệu nhôm là 1250,4mm và độ lệch chuẩn của các giá trị độ sâu là 1,27mm. Giá trị độ sâu trung bình của các điểm trong đám mây điểm vật liệu thép là 1250, 2mm và độ lệch chuẩn của các giá trị độ sâu là 1, 39mm.
-60
-80
-100
-140
-160
-180 Ẹ E -120
20 40 60 80 100
Trụcy (mm)
Vật liệu nhôm
-20 0
-60
-80
-100
-140
-160
-180 E£ -120
-20 0 20 40 60 80 100
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép (a)
Hình 3.8: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 6 khi có lớp phủ
2.2.985
2.2.986 Cuối cùng, kết quả đám mây điểm thu được tại vị trí khảo sát số 9
được mô
tả trong hình 3.11. Cả hai đám mây điểm này đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu, cũng tương tự như ở các vị trí khảo sát khác, có một vài vùng trống dữ liệu ở các cạnh của vật mẫu. Đối với vật liệu nhôm, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1184, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1248, 7mm tương ứng với độ lệch chuẩn là 1,74mm. Đối với vật liệu thép, tổng số điểm trong đám mây điểm là 1171, giá trị trung bình độ sâu của các điểm trong đám mây điểm là 1249,1mm tương ứng với độ lệch chuẩn là 1,64mm.
2.2.987 2.2.988
2.2.989 Hình 3.10: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 8 khi có lớp phủ
180
160
140
100 ẸE.120 X
80
60
-140 -120 -100 -80
Trục y (mm) -60 -40
(a) Vật liệu nhôm
180
160
140
Ể
E 120 ọ I—
100
80
60
-140 -120 -100 -80 -60 -40
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép
Hình 3.9: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 7 khi có lớp phủ
60
40
20
Ẹ X 0 Q 1—
-20
-40
-60
-140 -120 -100 -80 -60 -40
Trụcy (mm)
(a) Vật liệu nhôm
60
40
20
ẸE, 0 Xo ,2-I—
-20
-40
-60
-140 -120 -100 -80 -60 -40
Trục y (mm)
(b) Vật liệu thép
2.2.990 2.2.991
2.2.992 Hình 3.11: Đám mây điểm thu được ở vị trí khảo sát số 9 khi có lớp phủ
2.2.993 So sánh kết quả thực nghiệm đối với hai loại vật liệu, các đám mây
điểm thu
được khá tương đồng cho tất cả các vị trí khảo sát. Tuy còn tồn tại một số vùng trống dữ liệu ở cạnh của vật mẫu, tất cả các đám mây điểm đều thể hiện rõ hình dạng ban đầu của vật mẫu. Ngoài ra, mật độ điểm ở tất cả các đám mây điểm thu được, ngoại trừ đám mây điểm ở vị trí số 4 của vật liệu nhôm, cũng dao động không đáng kể từ 1040 điểm đến 1184 điểm. Điều đó cho thấy ảnh hưởng của độ phản xạ bề mặt đến việc thu thập dữ liệu hình học của quá trình số hóa trong quá trình tái tạo hình học bề mặt các sản phẩm cơ khí sử dụng thiết bị Kinect v2 đã giảm rõ rệt.
2.2.994 Để đánh giá sâu hơn nữa ảnh hưởng của lớp phủ chống phản xạ bề mặt tới
việc thu thập dữ liệu hình học, các thông số liên quan đến độ sâu được sử dụng để đánh giá. Cụ thể, tại vị trí khảo sát số 5, giá trị độ sâu trung bình các điểm trong đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm trước khi có lớp phủ là 1251mm và sau khi có lớp phủ là 1250, 7mm, tương tự của vật liệu thép trước khi có lớp phủ là 1252, 3mm và sau khi có lớp phủ là 1250,6mm. Độ lệch chuẩn các giá trị độ sâu trong đám mây điểm thu được của vật liệu nhôm trước khi có lớp phủ là 1,84mm và sau khi có lớp phủ là 1,1mm, tương tự của vật liệu thép trước khi có lớp phủ là 1,49mm và sau khi có lớp phủ là 1,29mm. Qua đó cho thấy, khi bề mặt sử dụng lớp phủ chống phản xạ bề mặt, việc thu thập dữ liệu hình học của quá trình số hóa trong quá trình tái tạo hình học bề mặt các sản phẩm cơ khí sử dụng thiết bị Kinect v2 cho kết quả thông số hình học chính xác và ổn định hơn khi không có lớp phủ bề mặt.
-60
-80
-100
ẸỄ-120 Ko H-140
-160
-180
-140 -120 -100 -80 -60 -40
Trục y (mm)
(a) Vật liệu nhôm
-60
-80
-100
-140
-160
-180 E E,-120 X
-140 -120 -100 -80 -60 -40
Trụcy (mm)
(b) Vật liệu thép
2.2.995 Một lớp phủ bề mặt chống phản xạ bề mặt không đủ làm thay đổi đáng kể
hình dạng của bề mặt vật mẫu, nhưng cũng tác động đáng kể đến các phép đo hình học, ví dụ như độ phẳng, hình trụ hay độ nhám bề mặt. Ngoài ra, độ chính xác kết quả phép đo bị ảnh hưởng bởi độ dày và độ đồng đều của lớp phủ chốngphản xạ. Do đó, một hướng nghiên cứu khác làm giảm ảnh hưởng phản xạ bề mặt sẽ được khảo sát trong phần tiếp theo.
3.1.2. Phương pháp ghép đám mây điểm bù vùng trống dữ liệu 3.1.2.1. Cơ sở lý thuyết
2.2.996 Qua kết quả thực nghiệm ở phần 2.4 trong chương 2, đám mây điểm
thu được
của các vật liệu có hệ số phản xạ bề mặt lớn ví dụ như nhôm sẽ có những vùng không có dữ liệu. Có thể nhận thấy rằng, hệ số phản xạ bề mặt phụ thuộc vào rất nhiều tham số, trong đó có góc tới. Các vùng không có dữ liệu trên bề mặt thu được có liên quan đến góc giữa tia sáng IR chiếu từ nguồn sáng và góc thu của máy ảnh IR. Xuất phát từ thực tế, khi di chuyển đối tượng quét, máy ảnh Kinect v2 chụp được các vùng khác nhau của đối tượng như minh họa trong hình 3.12. Do đó, vùng trống dữ liệu do ảnh hưởng của phản xạ bề mặt của đám mây điểm này sẽ được bù với vùng có dữ liệu ở đám mây điểm khác. Sử dụng quá trình ghép đám mây điểm, các đám mây điểm trên sẽ được kết hợp với nhau thành đám mây hoàn chỉnh.
2.2.997 2.2.998
60 2.2.999
2.2.1000 2.2.1001
40
2.2.1002
2.2.1003 2.2.1004
20
2.2.1005
2.2.1006
2.2.1007
2.2.1008 Trụcx (mi
2.2.1009
2.2.1010 2.2.1011
-20 2.2.1012
2.2.1013 2.2.1014
-40
2.2.1015
2.2.1016 2.2.1017
-60
2.2.1018 2.2.1019
2.2.19
60
2.2.20 2.2.21
2.2.22
-20
2.2.23
-40
2.2.24
-60
2.2.25
Ẹ
2.2.26
0
2.2.27 -20 0 20 40 60 2.2.30 -20 0 20 40 60
2.2.1020 Hình 3.12: Đám mây điểm thu được khi khảo sát vùng trống dữ liệu
trong dịch
chuyển quay
2.2.1021 Khó khăn lớn nhất trong việc ghép các đám mây dữ liệu thu được
chính là
mỗi lần quét được thực hiện trên một hệ tọa độ khác nhau. Trong một số trường hợp, đối tượng được di chuyển đến các vị trí khác nhau trong suốt quá trình quét và được kiểm soát bởi máy tính. Khi đó yêu cầu kết quả thu được tại các vị trí quét khác nhau phải có cùng độ chính xác. Đây là trường hợp khi đối tượng đặt trên một bàn xoay hoặc dịch chuyển tịnh tiến và được điểu khiển bằng máy tính. Do đó, việc ghép hai đám mây điểm bù vùng trống dữ liệu chính là thực hiện một phép biến đổi hệ trục tọa độ tương đối của đám mây điểm này sang
2.2.1022 đám mây điểm khác và sau đó kết nối hai đám mây điểm với nhau.
Không mất
tính tổng quát, giả sử đám mây điểm ban đầu và đám mây điểm sau khi biến đổi hệ trục tọa độ của đám mây điểm dịch chuyển lần lượt được gọi là PM và PD. Công thức của phép biến đổi hệ trục tọa độ tương đối có thể được viết
2.2.1023 PD = RPM + T (3.1)
2.2.1024 trong đó R và T lần lượt là ma trận quay và ma trận tịnh tiến của phép biến
đổi hệ trục tọa độ.
2.2.1025 Quy trình thực hiện ghép đám mây điểm bù vùng phản xạ bao gồm các bước
dưới đây:
1.Xác định vùng trống dữ liệu trên đám mây điểm tham chiếu;
2.Lựa chọn dịch chuyển tương đối giữa đối tượng quét và thiết bị quét;
3. Tính toán các ma trận quay R và tịnh tiến T trong phép biến đổi hệ trục tọa độ tương đối;
4. Thực hiện chuyển đổi hệ tọa độ tương đối của đám mây điểm dịch chuyển theo công thức 3.1;
5. Hợp nhất đám mây điểm dịch chuyển vừa thu nhận được với đám mây điểm tham chiếu;
3.I.2.2. Mô tả thí nghiệm
2.2.1026 Cũng tương tự như thí nghiệm trong mục 3.1.1, mục đích của thí
nghiệm này
nhằm khảo sát khả năng của phương pháp ghép đám mây điểm bù vùng trống dữ liệu trong việc giảm ảnh hưởng của phản xạ bề mặt. Kết quả của thí nghiệm sẽ được đánh giá thông qua hai yếu tố, thứ nhất là hình dạng ban đầu của vật mẫu có được biểu diễn rõ ràng qua các điểm thu được hay không và thứ hai là mật độ điểm trong dữ liệu đám mây điểm bị ảnh hưởng như thế nào. Ngoài ra, các thông số liên quan đến độ sâu của các điểm trong đám mây điểm cũng được xem xét.
2.2.1027 Để thực hiện khảo sát ghép đám mây điểm bù vùng trống dữ liệu, chi tiết
vật liệu nhôm có kích thước 120////// X 120////// X 14////// được lựa chọn. Trong kết quả thực nghiệm ở thí nghiệm phần 2.4, các đám mây điểm của vật mẫu nhôm có rất nhiều vùng trống dữ liệu, cả trong vùng trung tâm cũng như ngoài cạnh của vật mẫu. Thí nghiệm đầu tiên trong phần này sẽ khảo sát dịch chuyển tịnh tiến. Cụ thể, sử dụng các điều kiện thí nghiệm tương tự như trong phần 2.4, vật mẫu sẽ được đặt ở các vị trí khảo sát 5, 6, 8, 9 như minh họa trong hình 2.25.
Khi dịch chuyển vật mẫu từ vị trí này sang vị trí khác, vật mẫu không thực hiện chuyển động quay.