CHƯƠNG 3 : KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN
3.1. Hệ mẫu Cu2Se pha tạp Te
3.1.2. Phân tích hình thái bề mặt qua ảnh FE-SEM
Hình 3.2 Hình ảnh FE-SEM thể hiện hình thái học của các mẫu Cu2Se1-xTex (a) x = 0.1; (b) x = 0.2; (c) x = 0.25; (e) x = 0.3; và (d), (f) lần lượt là vùng
phóng đại của khu vực đánh dấu trên (c) và (e)
Hình 3.2 biểu diễn hình ảnh cấu trúc bề mặt của mẫu khối Cu2Se1-xTex ( x = 0.1, 0.2, 0.25, 0.3) thông qua kết quả khảo sát bằng kính hiển vi điện tử
quét phát xạ trường (FE-SEM). Hình thái của các mẫu khối với nồng độ pha tạp Te thấp (x = 0.1, 0.2) cho thấy ảnh hưởng của việc tăng nồng độ pha tạp lên cấu trúc của mẫu, các cấu trúc dạng phiến mỏng trở nên rõ ràng hơn. Trong khi đó, cấu trúc bề mặt của mẫu Cu2Se0.75Te0.25 và Cu2Se0.7Te0.3 cho
thấy hình thái khác biệt hồn tồn. Như có thể thấy trong hình 3.2(c) và hình 3.2(e), cấu trúc mẫu hình thành các vùng domain có cấu trúc giống các hạt (grain-like structure) với nhiều lớp có kích thước vài nanomet xếp chồng lên nhau. Dạng cấu trúc grain này có kích thước vi mơ trung bình 2,5 µm và 3,4 µm lần lượt đối với mẫu x = 0.25 và x = 0.3. Sự thay đổi hình thái này ở mẫu có nồng độ pha tạp lớn (x ≥ 0.25) là do sự hình thành của pha Cu2Te trong vật liệu, phù hợp với kết quả phân tích phổ XRD. Vật liệu cấu trúc lớp với
đặc điểm có các liên kết cộng hoá trị mạnh trong lớp và lực van der Waals yếu giữa các lớp nên đối với các mẫu pha tạp Te, hình thành cấu trúc dị thể
32 (Cu2Se – Cu2Te) và xuất hiện hình thái dạng lớp như vậy được kỳ vọng là cải thiện độ dẫn điện do các hạt tải điện dễ dàng di chuyển trong các lớp
trong khi các phonon phân tán đáng kể giữa các lớp sẽ cho giá trị độ dẫn nhiệt thấp [79].